现场X射线荧光分析(EDXRF)中,使用滤光片可以有效的降低或消除由原级谱在样品中散射背景,特征谱对待测元素的干扰.论文采用MCNP5程序模拟了加不同厚度Al、Cu、Ag、Kapton滤光片前后的原级谱分布.依据模拟结果,原级X射线谱的谱分布与滤光片的材质和厚度有关.能量低于5keV的射线对分析是无用的.在能量5～10 keV的能量谱段,选择Al滤光片较为合适;在能量10 ～25keV谱段范围,Ag滤光片相对于另外三种滤光片较为合适.从而为现场X荧光分析仪的研制提供技术支撑.