航天器的密封性能测试分为部组件级测试和系统级测试.系统级密封性能测试大多采取氦质谱非真空累积检漏法,由于收集室内氦气浓度分布不均匀,检漏仪读数不稳定,漏率初值或终值的读取可能不准确,进而造成测量误差.提出一种基于最小二乘法拟合的氦质谱非真空累积检漏方法,在非真空累积过程中,多次读取收集室内漏率值,并利用最小二乘法对漏率变化率进行拟合,进而求出被检件漏率.大量试验结果表明,与传统的氦质谱非真空累积检漏法相比,该方法可有效避免单次数据测量造成的测量误差,具有更高的数据可信度.