有机晶体存在裂纹、包裹体、位错和孔洞等缺陷,常引起杂质包藏、产品质量下降、光学和机械性能降低等问题.含有大量缺陷的晶体在产品后处理阶段和使用阶段均面临诸多困难,近年来已成为晶体学研究学者们关注的热点.针对在有机晶体缺陷研究中尚无综合性的报导,阐述了晶体缺陷的类型与形成机理,详细讨论了晶体缺陷的检测方法和表征手段,综述了减少有机晶体缺陷形成的调控手段以及晶体缺陷和晶体形态调控方法在炸药、非线性光学材料、半导体材料晶体性能改进等方面的应用.