EEPROM是电子擦除式存储器，具有非易失性的特点，被广泛使用在各种嵌入式系统中，但是由于其擦写寿命有限，约束了嵌入式系统的设计寿命。本文提出了一种延长EEPROM使用寿命的均匀磨损设计技术，通过分区存储、断点检测和参数反转，确保每个存储分区的使用次数保持基本一致，从而达到延长EEPROM使用寿命的目的。在3DEE4M08VS4145器件上进行了验证，试验结果验证了设计的可行性，可以将EEPROM的使用寿命延长约20倍。
EEPROM 均匀磨损 分区存储 断点检测 参数反转