采用MP2/cc-pVDZ和cc-pVTZ基组分别对复合物XH2S+…NCH2P和NCH2P…PyX(X=NH2,CH3,H,CN,F,Cl,Br)中的硫键和磷键进行了研究,讨论了键长、 键临界点的电荷密度(ρ)、 拉普拉斯密度(▽2ρ)、范德华表面穿透距离、二阶稳定化能和电荷转移量对硫键和磷键相互作用能的影响.结果表明,当取代基X为吸电子基团时,形成的硫键较强.当X为给电子基团时,形成的磷键较强.利用能量分解方法分析了取代基—CN导致硫键稳定性反常的可能原因.还进一步讨论了三元复合物H3 S+…NCH2 P…PyX(X=NH2,CH3,H,CN,F,Cl,Br)中硫键和磷键的协同相互作用以及取代基对复合物稳定性的影响.并通过对比相同的2种单体在三元复合物和二元复合物中的二阶稳定化能和相互作用能的差值,说明了硫键与磷键起到相互促进的正协同作用,增强了三元复合物的稳定性.
阳离子硫键 磷键 协同作用 键临界点