目的 为航天器用Kapton/A1薄膜材料的选用提供数据支撑和高性能Kapton/A1薄膜材料的研制提供理论支持.方法 用综合辐照试验装置对Kapton/A1薄膜材料进行电子辐照,用拉力试验机对Kapton/A1薄膜材料开展力学性能拉伸试验,用XPS对其成分和微观结构进行测试分析.结果 Kapton/A1薄膜材料的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加而降低,随着电子辐照注量的增加呈指数减小,在电子辐照下,薄膜材料分子键发生断裂和交联,C-CO和C-N键断裂发生脱氧和脱氮反应,C-H基团相对含量增大.结论 电子辐照将造成Kapton/A1薄膜材料力学性能降低,薄膜材料分子价健的断裂和交联是薄膜力学性能降低的主要原因.
薄膜材料 力学性能 电子辐照