通过硅光电转换器件的热平衡方程及其单指数模型,分析了温度改变对器件的实际测试精度的影响.基于数字源表和虚拟仪器平台LabVIEW,针对电压线性扫描测试过程中脉冲上升沿对测试时间的限制问题,设计了电压脉冲上升沿进行器件伏安特性测试方案,测试时间缩短为130μs,开路电压及光电转换效率均有1％～2％的提升.实验证明该方法能够实现对光电器件的伏安特性的快速测量及有效提高测试精度.
光电转换器件 LabVIEW 脉冲上升沿 伏安特性测试