在材料表面缺陷激光超声检测中，超声脉冲反射回波信号往往受到结构噪声的干扰，信噪比较低。为了提高激光超声检测信号的信噪比，提出了用分离谱技术处理检测到的声表面波信号。仿真实验信号，模拟了同等的信号，用分离谱技术处理含噪声的模拟信号，比较处理后信号的信噪比，选择最有效的分离谱技术处理激光超声实验数据。结果表明：使用该技术可以提高信噪比，且对含有不同深度表面缺陷信号的特征可以清晰提取，与理论公式推导的结果相符合。
忆阻器 记忆元件 材料 结构 技术机理 科技革命