利用241 Am发射的59.54 keV平行γ射线束对宽能BEGe探测器晶体进行扫描测量，通过晶体端面垂直扫描确定晶体直径，通过晶体侧面垂直扫描确定晶体高度。利用厂家提供的参数以及扫描得到的晶体参数建立蒙特卡罗计算模型，再通过点源和体源的实验测量值对晶体前端面及侧面死层厚度进行表征调节，使其与实验值符合，从而获得最佳理论计算模型。结果表明，获得的参数正确可靠，其点源探测效率的理论计算结果与实验测量值在2％内符合。该方法极大改善了蒙特卡罗计算BEGe晶体探测效率的精度，可应用于探测器的效率刻度及环境放射性调查。
扫描测量 蒙特卡罗模拟 晶体参数