以红巴梨为材料,利用HIOKI 3532-50型LCR测量仪和自制平行板铜电极,在100 Hz～5 MHz频率范围,对果实7 d货架期电学参数的变化进行无损伤测定,研究其与果实品质指标硬度、可溶性固形物含量的相关性,基于此找到与红巴梨果实成熟衰老相关的电学参数,并筛选出电指标最佳测试频率.结果表明,随着测试频率升高,果实阻抗和电感呈幂函数递减,电容和电导呈不规则变化.随着货架期延长,果实阻抗和电感显著下降(P=0.01),电容和电导呈上升趋势.100 Hz～1 MHz范围内,随测试频率升高,果实阻抗、电感和电容与果实硬度相关性逐渐增大,相关系数分别由100 Hz时的0.45、0.45、0.37升高到1 MHz时的0.84、0.83、0.73,高于1 MHz时相关性下降或变化不大.果实阻抗、电容和电感可以作为标志红巴梨果实成熟衰老的电学指标,1 MHz为最佳测试频率.
梨 电学参数 品质 无损检测