鉴于当前雪崩光电二极管(APD)测试平台存在设备冗杂、测试效率低等问题,设计了一套以现场可编程门阵列(FPGA)为控制核心,搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的APD性能测试系统,可实现APD性能参数的自动化测试.同时设计了一种稳定单光子脉冲信号输出方法,并提出了使用时间数字转换进行光子计数及数据处理、后脉冲参数计算的设计方案.通过实验验证,测试系统集成光源信号半峰全宽为46.6 ps,峰值幅度为304.4 mV,幅值抖动为3.7％,满足APD测试对输入单光子源的要求.该测试系统能够有效测试APD性能参数,测试效率得到了极大提升.
光电子学 性能测试系统 时间数字转换器 光子计数 单光子源 雪崩光电二极管