本文采用背散射电子衍射(EBSD)及透射电镜(TEM)技术对拉伸变形单晶铝([110]方向平行于拉伸轴)的显微组织进行了表征,直接对比了两种分析手段所得结果的异同. 结果发现,单晶铝形变显微组织中表现为明显的带状特征,TEM及EBSD技术的表征结果非常吻合,但EBSD不能完全反映出位错界面的分割特征;相对于TEM而言,EBSD技术所能分析的试样区域较大,其结果具有较好的统计意义.
单晶铝 形变显微组织 背散射电子衍射 透射电镜