在常压下使用烧结法制备了高有序的Bi4Si3O12晶体.利用X射线衍射(XRD)分析了生成晶体的物相,通过环境扫描电镜(ESEM)观察了Bi4Si3O12晶体的微观形貌.用单样本 Kolmogorov-Smirnov (K-S) 法分别对晶粒的尺寸和夹角进行了统计学检验.结果显示:生成物为eulytite结构的Bi4Si3O12晶相.Bi4Si3O12晶粒总是成对分布,并且排列成行,形成高度有序的晶列结构.每行每侧的晶粒尺寸分布都遵循正态分布.每行成对晶粒取向之间的夹角遵循正态分布,而且所有行中的成对晶粒取向之夹角也服从正态分布,其总体夹角的平均值为122.3°,标准差为11.1°.
Bi4Si3O12 晶列结构 晶粒尺寸 晶粒夹角 Kolmogorov-Smirnov检验