本文利用原子力显微镜对具有不同厚度Ni过渡层的Co 5.0nm/Cu 3.5nm/Co 5.0nm三明治在各个制备阶段样品的表面形貌进行了系统的研究,并结合X射线衍射的结果,发现Ni过渡层可以使Co/Cu/Co三明治的界面平整,并形成强的(111)织构,从而导致材料的巨磁电阻值增大和矫顽力减少.电阻率的分析则表明过厚的Ni过渡层由于分流效应的存在会削弱材料的巨磁电阻值.
微结构 原子力显微镜(AFM) 巨磁电阻效应 过渡层