基于IP的SoC设计能够有效提高设计效率,降低成本,是当前超大规模集成电路设计的主流解决方案.SerDes作为一种复杂数模混合IP,可实现高速数据的接收与发送.文中针对SoC芯片中SerDes的PAD测试问题,提供两种改进的边界扫描测试技术,包括利用SerDes自带的边界扫描测试电路将多个SerDes进行串行测试,以及将SerDes定义为一个PAD连接到顶层边界扫描链进行集成测试.文中基于SMIC 40 nm工艺,在一款自主设计的多核SoC芯片中,应用Synopsys公司BSD Compiler工具实现了上述技术的电路设计,网表级仿真结果证明该方案的可行性和有效性.
SerDes 边界扫描测试 串行测试 集成测试