基于Wollaston棱镜角剪切和Savart偏光镜横向剪切组合的静态差分偏振干涉成像光谱仪可同时获取二维目标的正交偏振组分的高光谱图像信息。依据干涉光谱学原理和实际探测器提出了该仪器的光学技术指标，并论证各关键偏光元件的光学设计方案。主要是利用波法线追迹法论证Savart偏光镜、Wollaston棱镜和Glan-Taylor棱镜等元件的参数选择依据。着重分析双折射元件色散特性对入射角、厚度及结构角的影响，并提出解决方案。为差分偏振干涉成像光谱仪的工程化提供理论指导。
成像光谱仪 干涉 偏振 双折射元件