Ag‐In‐Cd芯体的辐照肿胀规律是评价控制棒堆内运行安全性的基础。辐照后Ag‐In‐Cd芯体的成分变化是引起肿胀的主要物理原因，但目前尚未看到定量计算成分变化的研究报道。本文根据Ag‐In‐Cd芯体中各核素的嬗变反应方式和反应截面，建立描述芯体成分变化的微分方程组，编写该微分方程组的数值计算程序，计算预测芯体成分随热中子注量的变化规律。当热中子注量为1.5×1021～6.2×1021 cm －2时，芯体中各元素的含量与热中子注量之间呈较好的线性关系，而芯体表层Sn和Cd的含量会达到中心含量的2倍以上。
Ag-In-Cd芯体 堆内辐照 成分变化 计算