采用有限元方法,对压力容器内部缺陷的离面位移和离面位移导数径向分布等进行分析.结果表明,离面位移最大值在圆心处,且随半径增大逐渐减小;当缺陷直径与缺陷埋藏深度之比大于9时,缺陷处离面位移一阶导数最大值大于封头非缺陷处离面位移一阶导数最大值;离面位移一阶导数随着压力增加呈线性增大,这种关系不会随着压力增大而改变.此研究结果为基于数字散斑剪切干涉法的压力容器内部缺陷检测的试验顺利进行奠定基础.
有限元 压力容器 内部缺陷 离面位移