利用X射线衍射技术,提出了一种无需纯晶相作标样,仅根据玻璃相散射峰的强度数据确定微晶玻璃结晶度,然后利用标准卡片上的"参比强度"值计算各晶相含量的方法.采用该方法研究了不同烧结工艺制得的2组BaO-Al2O3-SiO2系微晶玻璃中各晶相的含量.该方法与Rietveld法测得的结晶度的偏差小于3.2%,测得的各晶相含量的偏差小于2.6%.利用所获得的各晶相质量分数,根据加和法则计算得到微晶玻璃样品的密度,它们与利用Archimedes排水法测得的密度值的相对偏差小于1.8%.提出的方法简便易行,准确性满足材料研究的要求.
微晶玻璃 结晶度 X射线衍射法 Rietveld法 密度 两相模型