光纤电压互感器中电光晶体BGO(Bi4Ge3O12)的缺陷、杂质及内部残余应力引起自然双折射,降低仪器的电压测量精度.从理论上分析了晶体在不同方向承受应力时不同通光方向上的双折射;又从热光效应的原理出发,推导出调制度的变化与温度、电压之间的定量关系,得出调制深度对温度的变化率与调制度本身成正比、与外施电压成正比的结论.因此,为提高仪器的温度稳定性,保证必要的灵敏度,必须使施加到电光晶体上的电压合理.BGO晶体的吸收和色散较小,对光纤电压互感器测量精度的影响不大.
光纤电压互感器 电光晶体 测量精度 电压测量 电光效应