目的:利用终端开路同轴反射法测算物质介电系数时,针对电小尺寸探头确定一种简单可靠的标校方法.方法:通过误差分析,针对电小尺寸探头提出了采用相位相消的标校思路；并在10～120MHz频段内建立终端开路同轴计算模型,就不同待测物进行仿真验证和物理模型验证,比较相位相消和常用标校方法得到的结果.结果:采用相位相消法标校后,测算介电系数误差小于5％,电导率误差小于1％,且测算结果抖动较小,优于常用方法标校后得到的结果.结论:利用终端开路同轴反射法测算物质介电系数时,针对电小尺寸探头采用相位相消法较常用标校方法更加简单可靠,更适用于实测.
终端开路同轴 介电系数 探头标校 相位相消