片上系统SoC作为集成了多种类型外设、面向特定用途的标准产品,对其进行全面测试是保证产品能够可靠工作的必要环节,然而由于工作受内核控制,不能通过施加简单激励来得到期望状态进行测试.故此提出一种基于自动测试设备的SoC电路自动测试方法.通过介绍自动测试程序的开发流程,对启动程序和自动测试程序进行设计,建立起自动测试的实现方案.以C8051F500-IQ电路为例,在UltraFLEX自动测试系统实现了自动测试,测试结果表明该方案能够完成对电路功能与性能的全面评价.
片上系统 内核 启动程序 自动测试