膜片钳技术是通过测量pA级细胞离子通道电流来研究各种离子通道及其调控机制,但测量对象和测量仪器本身引入的快电容(C-fast)和慢电容(C-slow)伪差信号,会改变动作电位的发放特性.本文首先讨论快电容伪差信号对膜电容以及膜电位的影响,并且通过对H-H模型中膜电位变化的分析,得出膜电位变化对动作电位发放特性的影响.在此基础上,主要通过对传统快电容补偿误差的分析,讨论其影响机制,并对电极电容形状对快电容的影响进行了重点讨论.通过这种方法不仅可以大大提高补偿速度,而且从电极形状上也可以尽量提高补偿的精度.
快电容 膜电容 膜电位 动作电位 电容补偿技术