与光刻胶工艺相比,染料聚合物工艺母盘刻录的光盘坑形有很大区别.在已知文献中对坑点形貌与读出信号关系的研究结果已不再有效.使用基于角谱分解的衍射理论,利用原子力显微镜得到的坑形,对两种工艺光盘的调制幅度参数进行了仿真.仿真结果表明,对染料聚合物工艺而言,在较小的深度和宽度下能获得与光刻胶工艺光盘相当的调制幅度.对实际光盘几何尺寸和电信号参数的测试结果证明了仿真结果的正确性.
光盘 染料聚合物母盘刻录 坑形 调制幅度 角谱分解