在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、 ZrO2、 Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布.测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致,并经TEM分析验证.证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的.与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比,该方法的特点是操作简单,成本较低,易于推广.目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度.
X射线小角散射 纳米粉末 粒度分布