X光机绝对光子数的测量在X射线计量中有着十分重要的意义,对其进行测量时需先将探测器的能量—道址函数进行刻度.本文使用放射源对HPGe探测器进行能量刻度,得到其能量—道址函数且其线性相关系数R2=0.999 84.论文结合了CT成像技术,对探测器进行平行光束探测效率的MC模拟,使建模更精确.模拟结果显示,探测效率曲线在11.0 keY处会出现吸收边,是因为Ge元素被激发产生KαKβ特征X射线发生逃逸,未被记录下来形成逃逸峰所致,这与实际实验情况相符.
HPGe探测器 X射线计量 MC模拟