熔炼制备Al-3Cu-1Li-xSc(x=0、0.1、0.3和0.5,wt％)合金,用原子发射光谱、X射线衍射和光学显微镜对其成分和显微组织进行测量和观察.在pH=2的硫酸溶液中,用电化学方法、X射线光电子能谱(XPS)和Mott-Schottky曲线研究Sc对该合金腐蚀行为和腐蚀产物膜的成分及内部缺陷的影响.结果表明:Sc未改变Al-3Cu-1Li合金的腐蚀机制和表面形成腐蚀产物膜具有的n型半导体特征;随Sc含量的增加,该合金自腐蚀电流密度增加,耐蚀性下降,与合金表面形成腐蚀产物膜的氧化程度降低及膜内氧空位浓度增加有关.
Al-3Cu-1Li-xSc合金 电化学阻抗谱 Mott-Schottky曲线 氧空位浓度 X射线光电子能谱 Sc