针对目前普遍存在的难以准确测定晶体组分的问题,提出一种以YAG晶体为标样、采用X射线荧光光谱分析法准确测定晶体组分的方法.测试样品分别为纯YAG晶体、生长原料掺杂浓度1.2 at％和2.0 at％Yb∶YAG 晶体,采用X射线荧光光谱分析法,对不同浓度的Yb∶YAG晶体的组分进行了无损、快速、准确的测定.以纯YAG晶体作为标准样品,标定主成分的含量,大幅提高了检测结果的准确度,主成分Y3+和Al3+的测试误差小于1％、掺杂Yb3+的测试误差小于5％.通过晶体放肩初始部位Yb3+的浓度测定结果,计算出Yb3+在两种待测晶体中的分凝系数分别为1.025和1.045,接近于1,有利于实现Yb∶YAG晶体的高浓度掺杂以及优质晶体生长.2.0 at％Yb∶YAG晶体的首尾掺杂浓度差小于5％,说明晶体等径部分掺杂浓度均匀性高.
材料 提拉法 Yb∶YAG晶体 X射线荧光光谱法 分凝系数