在同位素放射源检查或"孤儿源"处理中,为了能够及时、准确地处理放射源,需要现场快速估计放射源活度.但当屏蔽体厚度未知时,快速确定放射源活度存在困难.基于γ射线在物质中衰减系数与能量之间的关系,研究屏蔽下多特征能量点状γ射线源的活度估算方法,分别对测量目标特征γ射线能量选取原则,探测器位置偏差和统计涨落对活度定量结果的影响进行了讨论,总结了常见多特征能量γ射线源的可选射线能量与可分析的屏蔽厚度.实验验证结果表明:估算的屏蔽厚度与实际厚度的相对误差小于4％,估算活度与实际活度的相对误差小于5％.本文所提方法能够应用于放射源检查或者"孤儿源"处理.
辐射探测 活度估算 误差分析 蒙特卡罗模拟