基于全片层γ-TiAI基合金的微结构,通过细观力学的方法和位错发射机理建立了临界屈服载荷与片层夹角的定量关系.同时还从连续细观力学的角度给出了横向同性片层复合材料计算基体Mises等效应力的一种解析方法,并用于分析全片层γ-TiAl基合金材料的屈服.两种分析结果表明基于位错发射机理的方法与实验结果相吻合,这说明全片层γ-TiAl基合金的屈服载荷与片层夹角的变化关系是由γ相的次微结构中滑移系与载荷的夹角决定.
PST晶体 屈服 滑移