商业卫星的迅速发展,具备灵活性和可配置性的商用APSoC(All Programmable System-on-Chip)器件成为提高卫星性能、降低成本的重要途径之一.具备多种优点的APSoC器件受到国内外商业卫星领域广泛关注.但APSoC器件抗辐照能力较低.因此,针对单粒子翻转引发的软错误,本文提出面向商用APSoC器件的双核锁步机制,能够检测单粒子效应导致的软错误并纠正,提高APSoC应对单粒子翻转引发的软错误能力.
APSoC 双核锁步机制 Checker模块 检查点 回卷恢复