本文利用球差校正透射电子显微镜研究了异质界面结构对PbTiO3/La0.7 Sr0.3 MnO3/NdGaO3(110)O以及PbTiO3/NdGaO3(110)O超薄薄膜体系中铁电PbTiO3层四方性的影响.结果表明,在NdGaO3(110)O衬底上生长的具有化学价态不连续异质界面(La0.7 Sr0.3 MnO3/PbTiO3)的PbTiO3薄膜体系中四方性比直接在NdGaO3(110)O衬底上生长超薄PbTiO3薄膜的四方性明显增强,XPS谱分析显示出界面Mn元素价态发生了变价,探讨了界面处化学价态的变化对薄膜四方性的影响.
铁电薄膜 异质界面 四方性提高 球差校正透射电子显微镜