针对PCB板缺陷检测中的芯片极性检测问题,文中提出一种结合感兴趣区域提取,改进模板匹配以及像素相加法的芯片极性二级检测方法.该方法首先通过先验知识提取感兴趣区域,并提出改进模板匹配实现对芯片位置快速准确地定位,随后引入直方图匹配及中值滤波对芯片图像进行预处理,最后提出基于像素相加法的二级检测方法实现二值化芯片图像的极性判断.实验结果表明,文中提出的方法在芯片定位及极性检测方面都有更高的准确性.
缺陷检测 极性检测 改进模板匹配 像素相加法