分析了传统的X射线荧光镀锌板锌层测量法,提出了基于全反射X射线荧光分析技术的镀锌板锌层测量方法,并在MCNP中建立X射线全反射模型进行模拟仿真.X射线全反射发生时锌层将原级X射线几乎反射,并在镀锌板法向方向伴随产生少量X射线荧光.针对此特征X射线荧光直接进行分析有效地减少了X射线源的散射本底,提高了测量精度,并且降低了所需源X射线的能量.模拟结果验证了镀锌板上发生X射线全反射的可行性,为实际应用提供了理论依据.
X射线荧光分析 全反射X射线荧光分析 MCNP模拟 镀层测厚