源距与屏蔽体厚度是直接影响可控中子孔隙度测井仪器测量准确性的重要参数.源距不仅影响测井仪器的测量误差,还影响测井仪器对地层孔隙度的灵敏度.屏蔽体厚度是保障测井响应完全反映地层的重要参数.从灵敏度、屏蔽率以及误差3个方面确定可控中子孔隙度测井仪器的源距与屏蔽体厚度.研究结果表明:近探测器源距越小,测井仪器灵敏度越高;近远探测器的间距对测量误差的影响随间距的增大,先减小再增大;当屏蔽率在70％以上且屏蔽率随厚度的变化较为缓慢时的屏蔽体厚度可作为屏蔽体最低厚度.
可控中子源 中子孔隙度测井仪器 源距 屏蔽体厚度 灵敏度 屏蔽率