不同于传统的快中子成像系统,采用伴随粒子成像技术无需机械准直即可消除大部分γ射线和散射中子的干扰,实现对厚重物体的高对比度成像.角分辨是影响系统成像质量的一项重要参数.通过理论分析,研究了入射离子的初始动量、靶点尺寸和探测器空间分辨等多个因素对系统角分辨的影响.利用基于GEANT4的模拟程序,计算了不同参数下被标记中子出射角分布的二维图像.分析及模拟结果表明,靶点直径和α探测器空间分辨率是影响角分辨的重要因素.为满足系统角分辨小于1°的设计目标,入射离子的初始动量变化范围应较小,靶点直径应小于1 mm,同时α探测器的空间分辨率应小于0.5 mm.
伴随粒子 角分辨 快中子成像 α探测器