本文将超外差技术与嵌入式系统相结合设计了一款80～120 MHz频谱分析仪.方案以STM32为主控,搭载μC/OSIII操作系统.STM32通过SPI接口控制PLL锁相环模块进行扫频,本振源与输入信号混频后送入中频滤波器滤波,再经有效值检测模块将功率转换为电平信号进行AD采样与处理.系统具有实时显示频谱分析结果、频率扫描时间可控、自动捕捉最大频率分量等功能.调试结果表明,该方案满足各项设计指标且具有低成本、便携操控等特点.
频谱仪 超外差 STM32 ADL5801 μC/OSIII