提出一种满足电子控制器高可靠要求的片上调试结构.通过复用JTAG接口,可以消除冗余引脚带来的成本和体积开销,同时基于TAP控制器而设计的自定义指令,使得JTAG链路实现结构测试和功能调试的融合;针对调试命令与总线访问的协议转换需求,设计一种低开销与高效率的串并转换单元,实现全局地址空间的调试访问.实验结果表明,设计的调试结构使得调试时间平均缩短79.8％,面积开销下降16.73％,同时显著提高了调试链路的可靠性.
电子控制器 串并转换 仿真 JTAG TAP