随着半导体技术的发展，对半导体生产工艺的测量和评估的需求也在不断地提高。为此针对某半导体测量设备的实时测量需求，在Windows+RTX的平台下，设计并开发了具有强实时性的测量软件系统。系统的底层测量软件利用RTX提供的API和精确的时钟开发完成，其运行在RTX拓展系统中控制数据采集卡实时采集数据。上层用户界面使用MFC编制完成，并采用信号量机制与底层软件进行通信，通过共享内存传递测量数据。该软件系统开发完成后，部署在某测量设备上并进行实验，其实验数据表明该系统能很好地完成实时数据测量的任务。
RTX MFC 半导体测量 实时数据采集