本文研究了高频感应炉熔炼的Mg-Gd-Nd合金在200 ℃等温时效过程中晶界无析出带(PFZ)的形成和生长.通过透射电镜观察并结合能谱分析发现,晶界PFZ形成初期受空位损耗控制.随着时效时间的延长,晶界析出相粗化,晶界PFZ的宽度增加,PFZ的成长逐渐转变为受溶质损耗影响.当PFZ中稀土溶质原子浓度近似达到200 ℃合金中该元素的平衡含量时,PFZ宽度最终达到其极限值,约为275 nm.
Mg-Gd-Nd合金 电子显微结构 晶界无析出带 空位损耗 溶质损耗