为了克服多绕组的耦合效应，使变压器式可控电抗器(control able reactor of transformer type, CRT)安全、可靠、高效地工作，就必须得对CRT的结构进行优化设计。基于解耦磁集成技术，提出了一种适用于CRT解耦集成的磁芯结构，通过提供低磁阻磁路实现了各控制绕组的解耦。在CRT各绕组漏抗解析计算的基础上，建立了电容–回转器等效电路，并以此等效电路为基础对气隙大小的合理化选择进行了分析。通过在MATLAB平台下搭建的电路模型，完成了各绕组电流分布的仿真分析，验证了所提结构在一定程度上能够很好地消除控制绕组间的磁耦合并提高绕组容量利用率。
变压器式可控电抗器 磁集成 仿真 利用率