劳埃(Laue)型荧光X射线吸收精细结构(XAFS)探测器是一种新型的探测器,它具有能量分辨好、计数率高和接收面积较大等优点,对于高光通量场合的痕量元素XAFS实验具有很高的灵敏度,有很好的应用前景.本文介绍了该探测器的原理和结构,将Laue型荧光分析器与PIN型光电二极管组合成荧光XAFS探测器,在北京司步辐射装置(BSRF)的1W1B-XAFS实验站上研究了这种探测器的位置敏感性,并将其应用于浓度400μg/gZnO(混合ZrO2)/蔗糖的Zn的K边XAS测试,在Zn的K边XANES(0-50 eV)处,与Lytle探测器相比,显示出好的信噪比和能量分辨率,为该探测器在生命科学、环境科学的应用提供基础.
同步辐射 荧光 X射线吸收精细结构(XAFS) 探测器 劳埃