采用改进的柠檬酸盐法制备了不同In、Ta掺杂量的BaCeO3基质子导体粉体,干压成型后分别在1 150℃、1250℃和1350℃下进行烧结.采用X射线衍射仪、扫描电镜分别对质子导体的物相结构和微观形貌进行了表征,并采用电化学工作站测定了样品不同温度下的电导率.结果表明,1350℃烧结样品气孔率均小于10％,并且In掺杂量越高越容易烧结.样品在CO2和H2O中的化学稳定性测试结果表明,只掺杂In可以提高样品在水中的化学稳定性,但是对粉末样品高浓度CO2气氛下的稳定性影响不大.In、Ta共掺杂可以大幅度提高样品在CO2中的稳定性,且稳定性随着Ta掺杂量的增加而提高.但是样品在10％湿润氢气气氛下的电导率随着Ta含量的增加而降低,其中,BaCe0.7In0.25Ta0.05O3-δ在800℃时湿氢气下的电导率为1.16×10-3 S/cm.
BaCeO3 In掺杂 Ta掺杂 烧结活性 化学稳定性