为了压缩测试向量并降低芯片测试成本,本文提出了一种新的基于最小相关度扫描链的多捕获(Multi-capture)测试结构.通过构建具有最小相关度扫描链,使得多捕获测试在保证高故障覆盖率的同时降低所需ATE的存储容量.本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法.采用ISCAS'89基准电路的实验结果表明本文提出的结构和算法可以获得最高近90%的测试压缩比(大电路).
多捕获(Multi-capture)测试 扫描链 最小相关度