针对军品级SRAM型FPGA的单粒子效应特性,文中采用重离子加速设备,对Xilinx公司Virtex-Ⅱ系列可重复编程FPGA中一百万门的XQ2V1000进行辐射试验.试验中,被测FPGA单粒子翻转采用了静态与动态两种测试方式.并且通过单粒子功能中断的测试,研究了基于重配置的单粒子效应减缓方法.试验发现被测FPGA对单粒子翻转与功能中断都较为敏感,但是在注入粒子LET值达到42MeV?cm2/mg时仍然对单粒子锁定免疫.本文对翻转敏感度、测试方法与减缓技术进行了讨论,试验结果说明SRAM型FPGA对单粒子效应比较敏感,利用重配置技术的减缓方法能够有效降低敏感度,实现空间应用.
单粒子效应 FPGA 重离子 重配置 辐射