近20年来,为了解决结构日益复杂的电路测试问题,可测试性技术得到了迅速发展.在可测试性技术中,针对不同的测试对象,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化,降低总体代价,是非常重要且亟待解决的问题.本文应用图论对可测试性技术中的两类典型优化问题进行了描述,并讨论了其最优解的求解过程.鉴于最优解的求解过程过于复杂,为便于工程应用,本文基于"贪婪"策略,分别构造了求解两类问题快速解法,并通过简单实例予以了验证.
可测试性 优化 图论 算法