中子瞬发 γ 活化分析(Prompt Gamma Neutron Activation Analysis,PGNAA)是工业物料成分检测的最主要方法之一,该方法通过大体积NaI闪烁体探测器测量物料被中子活化后的瞬发 γ 能谱来分析物料成分.测量过程中,NaI晶体处于较强的快中子场中,该快中子场对晶体的辐照损伤是影响NaI探测器性能的最主要因素,而NaI探测器的稳定性直接决定了PGNAA整体设备的性能.本文基于中国工程物理研究院CFBR-II(China Fast Burst Reactor II)型反应堆,精确地测量了NaI闪烁体在裂变中子场的108 cm?2、109 cm?2、1010 cm?2、1011 cm?2、1012 cm?2、1013 cm?2、1014 cm?2共7个中子注量照射后,NaI闪烁体组装的闪烁体探测器的性能变化.测量结果表明,NaI探测器除有较强的中子活化效应外,能量分辨率未发生显著变化,这为PGNAA设备中探测器的中子屏蔽设计和寿命估计提供了重要参数.
中子瞬发γ活化分析 NaI 裂变中子 辐照损伤 能量分辨率