采用溶胶-凝胶法在SiO2基底上制备了Gd2SiWO8:Dy薄膜,用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)和荧光光谱仪对所得到的发光薄膜进行了表征.XRD的结果表明薄膜在1000℃完全结晶,并且与标准卡片符合得很好.AFM的结果表明薄膜表面均匀,没有裂痕,粒子致密,平均尺寸为120 nm,薄膜的厚度为660 nm.WO42-的吸收在280 nm处,以此为激发波长得到在Gd2SiWO8薄膜基质中,Dy3+离子表现出它的特征黄光发射,位于483 nm和575 nm,分别归属于Dy3+的4F9/2-6H15/2和4F9/2-6H13/2跃迁.
发光 薄膜 溶胶-凝胶 Gd2SiWO8