针对集成电路功能验证中覆盖率收敛较慢的问题,通过分析简单遗传算法(SGA)中精英个体的特征,提出了一种应用于功能验证的精英策略.将本代优秀个体和本代适应度高的历史优秀个体视为精英个体,给予额外交叉机会.基于本文策略的精英遗传算法(EGA)可得到覆盖率广、重复性低的验证向量,缩短功能验证的时间.采用互相关函数的硬件计算单元作为验证模型,在Matlab中模拟功能验证的过程,实验结果表明:与SGA相比,EGA使验证时间缩短了14.8％,功能覆盖率从93％提高到95％,有效地提高了功能验证效率.
集成电路验证 功能覆盖率 遗传算法 精英策略