在介质阻挡放电中,对放电丝结构从四边形向四边形格子态结构转变中的缺陷进行了研究.实验发现,在四边形向四边形格子态结构的转化中,存在两种缺陷:角缺陷及错位缺陷.为了研究缺陷的形成机理,实验测量了四边形格子态结构中不同放电丝的发光信号,结果发现八边形晶胞的中心放电丝发光强度强于边缘放电丝发光强度.通过引入准势场,研究了放电丝之间的相互作用及其对放电丝结构转变的影响,并由此分析了在转变过程中出现的缺陷,结果与实验符合得很好.
介质阻挡放电 角缺陷 错位缺陷 超四边格子态