针对LED灯具寿命受温度影响的问题,提出了一种较为完善的优化设计方法.通过对影响LED灯具寿命因素进行分析,指出温度是影响LED灯具寿命的关键.重点分析引起MOSFET发热严重的原因,并提出切实可行的优化方案,即对LED芯片串并联方式进行优化设计,并进行了试验.实验结果表明,通过改变LED芯片排列方式,可有效地将MOSFET的温度降低10℃左右,证明了该优化设计的可行性.
LED寿命 可靠性 温度 MOSFET