आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक यंत्र
[[चित्र:AFMimageRoughGlass20x20.png|thumb|right|250px|काचेच्या पृष्ठभागाचे स्थलाकृतिक]] प्रतिबिंब
आण्विक बळ सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Atomic force microscope, अटॉमिक फोर्स मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: AFM, एएफएम), अर्थात क्रमवीक्षण बळ सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Scanning force microscope, स्कॅनिंग फोर्स मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: SFM, एसएफएम), हे नॅनोमीटरपेक्षाही सूक्ष्म स्तर दाखवू शकणारे एक अति-विभेदनशील सूक्ष्मदर्शक आहे. प्रकाशिक सूक्ष्मदर्शकांच्या तुलनेने याची क्षमता १००० पट अधिक आहे. गेर्ड बिनिश आणि हाइनरिख रोहरर यांनी बनवलेल्या अवलोकन टनेलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्रापासून <ref name="अवलोकनटनेलिंग">अवलोकन टनेलिंग सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Scanning tunneling microscope, स्कॅनिंग टनेलिंग मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: STM, एसटीएम ;)</ref> आण्विक बळ सूक्ष्मदर्शक बनवला. त्यासाठी त्यांना इ.स. १९८६ साली नोबेल पुरस्कार मिळाला. बिनिश, कॅल्विन केट व क्रिस्तोफ गेर्बर यांनी इ.स. १९८६ साली पहिल्यांदा आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक बनवले. आज नॅनोस्तरावर प्रतिबिंबन, मापन व दक्षप्रयोग यांत हे यंत्र महत्त्वपूर्ण भूमिका निभावत आहे. खरे पाहता या यंत्राला सूक्ष्मदर्शक'' म्हणणे चपखल ठरत नाही, कारण हे यंत्र एका यांत्रिक अन्वेषिकेद्वारे  प्रतिबिंब बनवते.

संदर्भ व नोंदी 

मापन