Latent image
پوشیدہ شبیہہ ایک پوشیدہ شبیہہ ہے جو فوٹو حساس مواد جیسے فوٹو گرافی کی فلم کی روشنی کی نمائش سے پیدا ہوتی ہے۔ جب فوٹو گرافی کی فلم تیار کی جاتی ہے، تو جو علاقہ بے نقاب ہوا تھا وہ تاریک ہو جاتا ہے اور ایک مرئی تصویر بناتا ہے۔ فوٹو گرافی کے ابتدائی دنوں میں، فلم کی ایملشن کوٹنگ کے سلور ہالائڈ کرسٹل میں پوشیدہ تبدیلی کی نوعیت نامعلوم تھی، لہذا تصویر کو "پوشیدہ" کہا جاتا تھا جب تک کہ فلم کو فوٹو گرافی ڈویلپر کے ساتھ ٹریٹ نہیں کیا گیا۔ زیادہ جسمانی اصطلاحات میں، ایک پوشیدہ شبیہہ دھاتی چاندی کے ایٹموں کا ایک چھوٹا مجموعہ ہے جو فوٹو الیکٹرانوں (ایک فوٹوولائٹک سلور کلسٹر) کے ذریعہ انٹرسٹیشیل سلور آئنوں کی کمی کی وجہ سے سلور ہالائڈ کرسٹل میں یا اس پر تشکیل پاتا ہے۔ اگر شدید نمائش جاری رہتی ہے، تو اس طرح کے فوٹوولائٹک سلور کلسٹرز نظر آنے والے سائز تک بڑھ جاتے ہیں۔ اسے تصویر کی پرنٹنگ کہا جاتا ہے۔ دوسری طرف، فوٹو گرافی کے ڈویلپر کے عمل سے مرئی تصویر کی تشکیل کو تصویر کو تیار کرنا کہا جاتا ہے۔ پوشیدہ تصویر میں چاندی کے جھنڈ کا سائز چند چاندی کے ایٹموں جتنا چھوٹا ہو سکتا ہے۔ تاہم، ایک موثر پوشیدہ تصویری مرکز کے طور پر کام کرنے کے لیے، کم از کم چار چاندی کے ایٹم ضروری ہیں۔ دوسری طرف، ایک تیار شدہ چاندی کے دانے میں اربوں چاندی کے ایٹم ہو سکتے ہیں۔ لہذا، پوشیدہ تصویر پر کام کرنے والا فوٹو گرافی ڈویلپر ایک کیمیائی یمپلیفائر ہے جس میں کئی ارب تک کا فائدہ عنصر ہوتا ہے۔ ترقیاتی نظام سب سے اہم ٹیکنالوجی تھی جس نے فوٹو گرافی کی تاریخ میں فوٹو گرافی کی حساسیت میں اضافہ کیا۔ تشکیل کا طریقہ کار ایملشن کے اندر سلور ہالیڈ دانے پر روشنی کا عمل دانے میں دھاتی چاندی کے مقامات بناتا ہے۔ بنیادی طریقہ کار جس کے ذریعے یہ ہوتا ہے سب سے پہلے 1938 میں آر ڈبلیو گورنی اور این ایف موٹ نے تجویز کیا تھا۔ آنے والا فوٹون ایک الیکٹران کو، جسے فوٹو الیکٹران کہا جاتا ہے، سلور ہالائڈ کرسٹل سے آزاد کرتا ہے۔ فوٹو الیکٹران ایک اتلی الیکٹران ٹریپ سائٹ (ایک حساسیت سائٹ) کی طرف منتقل ہوتے ہیں، جہاں الیکٹران چاندی کے آئنوں کو کم کر کے دھاتی چاندی کا دھبہ بناتے ہیں۔ ایک مثبت سوراخ بھی پیدا ہونا چاہیے لیکن اسے بڑے پیمانے پر نظر انداز کر دیا جاتا ہے۔ اس کے بعد کے کام نے اس تصویر میں قدرے ترمیم کی ہے، تاکہ 'ہول' ٹریپنگ پر بھی غور کیا جائے (مچل، 1957)۔ تب سے، حساسیت اور پوشیدہ تصویر کی تشکیل کے طریقہ کار کی سمجھ میں بہت بہتری آئی ہے۔ ایک پوشیدہ تصویر اس وقت بنتی ہے جب روشنی سالمے میں چارج ایٹموں کو تبدیل کرتی ہے۔ اس مثال کے لیے برومین کو ہالائڈ کے طور پر لیتے ہوئے، جب روشنی سلور ہالائڈ مالیکیول سے ٹکراتی ہے، تو ہالائڈ کو منفی چارج سے غیر جانبدار چارج میں تبدیل کر دیا جاتا ہے، جس سے ایک الیکٹران خارج ہوتا ہے جو پھر چاندی کے چارج کو مثبت سے غیر جانبدار چارج میں تبدیل کر دیتا ہے۔ فوٹو گرافی کی حساسیت فوٹو گرافی کی حساسیت کو بڑھانے کا ایک بہت اہم طریقہ ہر کرسٹل میں الیکٹران ٹریپس کو جوڑنا ہے۔ ایک خالص، عیب سے پاک کرسٹل ناقص فوٹو گرافی کی حساسیت کو ظاہر کرتا ہے، کیونکہ اس میں اتلی الیکٹران ٹریپ کا فقدان ہے جو پوشیدہ شبیہہ کی تشکیل میں سہولت فراہم کرتا ہے۔ ایسی صورت میں، بہت سے فوٹو الیکٹران سلور ہالائڈ کرسٹل کے ساتھ دوبارہ مل جائیں گے اور ضائع ہو جائیں گے۔ شیلو الیکٹران ٹریپس سلفر کی حساسیت، کرسٹل لائن عیب (کنارے کی نقل مکانی) کے تعارف، اور غیر چاندی کے نمک کی ایک ٹریس مقدار کو ڈوپینٹ کے طور پر شامل کرنے سے پیدا ہوتے ہیں۔ اتلی پھندوں کے مقام، قسم اور تعداد کا اس کارکردگی پر بہت بڑا اثر پڑتا ہے جس کے ذریعے فوٹو الیکٹران پوشیدہ تصویری مراکز بناتے ہیں، اور اس کے نتیجے میں، فوٹو گرافی کی حساسیت پر۔ فوٹو گرافی کی حساسیت کو بڑھانے کا ایک اور اہم طریقہ یہ ہے کہ ترقی پذیر پوشیدہ تصاویر کے حد کے سائز کو کم کیا جائے۔ کوسلوسکی کی سونے کی حساسیت کرسٹل کی سطح پر دھاتی سونے کے دھبے پیدا کرتی ہے، جو خود کرسٹل کو قابل ترقی نہیں بناتی ہے۔ جب سونے کے دھبے کے ارد گرد ایک پوشیدہ شبیہہ بنتی ہے، تو سونے کی موجودگی کرسٹل کو قابل ترقی بنانے کے لیے ضروری دھاتی چاندی کے ایٹموں کی تعداد کو کم کرنے کے لیے جانی جاتی ہے۔ فوٹو گرافی کی حساسیت کو بڑھانے میں ایک اور اہم تصور فوٹو ہول کو فوٹو الیکٹرانوں اور حساسیت والی جگہوں سے الگ کرنا ہے۔ اس سے دوبارہ ملاپ کے امکانات کم ہونے چاہئیں۔ تخفیف حساسیت اس تصور کا ایک ممکنہ نفاذ ہے۔ حالیہ 2-الیکٹران حساسیت کی تکنیک اسی تصور پر بنائی گئی ہے۔ تاہم، فوٹو ہول کے رویے کی سائنسی تفہیم فوٹو الیکٹرانوں کے مقابلے میں زیادہ محدود ہے۔ دوسری طرف، ایک ڈیپ الیکٹران ٹریپ یا ایک ایسی سائٹ جو ریکومبینیشن کو آسان بناتی ہے فوٹو الیکٹرانوں کے لیے مقابلہ کرے گی اور اس وجہ سے حساسیت کو کم کرتی ہے۔ تاہم، ان ہیرا پھیری کا استعمال، مثال کے طور پر، ایملشن کے برعکس کو بڑھانے کے لیے کیا جاتا ہے۔ باہمی قانون ناکامی باہمی قانون کی ناکامی ایک ایسا رجحان ہے جہاں نمائش کی ایک ہی مقدار (تابکاری کو نمائش کی مدت سے ضرب) مختلف تصویر کی کثافت پیدا کرتی ہے جب تابکاری (اور اس طرح کی مدت) مختلف ہوتی ہے۔ باہمی ناکامی کی دو قسمیں ہیں۔ ان دونوں کا تعلق پوشیدہ تصویری مراکز بنانے کے لیے فوٹو الیکٹرانوں کے استعمال کی ناقص کارکردگی سے ہے۔ ہائی انٹیسیٹی ریسیکروٹی فیل (ایچ آئی آر ایف) ہائی انٹیسیٹی ریسیکروٹی فیل (ایچ آئی آر ایف) عام ہے جب کرسٹل کو تیز لیکن مختصر روشنی، جیسے فلیش ٹیوب سے بے نقاب کیا جاتا ہے۔ یہ فوٹو گرافی کی رفتار اور برعکس کو کم کرتا ہے۔ یہ پرانی ایملشن ٹیکنالوجی کا استعمال کرتے ہوئے طویل نمائش کے ساتھ سب سے زیادہ حساسیت کے لیے بہتر بنائے گئے ایملشن کے ساتھ عام ہے۔ ایچ آئی آر ایف بہت سی پوشیدہ ذیلی تصاویر کی تخلیق کی وجہ سے ہے جو چھوٹے سائز کی وجہ سے قابل ترقی نہیں ہیں۔ مختصر اور شدید نمائش کی وجہ سے، بہت سے فوٹو الیکٹران بیک وقت پیدا ہوتے ہیں۔ وہ ایک یا چند پوشیدہ تصاویر (جو کر سکتے ہیں) کے بجائے بہت سی پوشیدہ ذیلی تصاویر بناتے ہیں (جو کرسٹل کو قابل ترقی نہیں دے سکتے ہیں)۔ ایچ آئی آر ایف کو ڈوپینٹس کو شامل کرکے بہتر بنایا جا سکتا ہے جو عارضی گہرے الیکٹران ٹریپس بناتے ہیں، سلفر کی حساسیت کی ڈگری کو بہتر بناتے ہیں، کرسٹل لائن نقائص (کنارے کی نقل مکانی) متعارف کراتے ہیں۔ حالیہ برسوں میں، لیزر کی نمائش کو اسکین کرکے بہت سے فوٹو گرافی کے پرنٹ بنائے جاتے ہیں۔ فوٹو گرافی کے کاغذ پر ہر مقام کو ایک بہت ہی مختصر لیکن شدید لیزر کے ذریعے بے نقاب کیا جاتا ہے۔ ایچ آئی آر ایف کی وجہ سے مسائل اس طرح کی مصنوعات کی ترقی میں بڑا تکنیکی چیلنج تھے۔ رنگین فوٹو گرافی کے کاغذات عام طور پر سلور کلورائڈ (تقریبا 99 ٪) کے بہت زیادہ فیصد کے ساتھ بنائے جاتے ہیں اور باقی برومائڈ اور/یا آیوڈائڈ ہوتے ہیں۔ کلورائڈ ایملشن میں خاص طور پر ناقص ایچ آئی آر ایف ہوتا ہے اور عام طور پر ایل آئی آر ایف کا شکار ہوتا ہے۔ کاغذ بنانے والے اس نئی ایپلی کیشن کے لیے ایچ آئی آر ایف کو بہتر بنانے (عملی طور پر ختم کرنے کے لیے) ڈوپینٹ اور نقل مکانی کی جگہوں پر درست کنٹرول کا استعمال کرتے ہیں۔ کم شدت کی باہمی ناکامی (ایل آئی آر ایف) کم شدت کی باہمی ناکامی (ایل آئی آر ایف) اس وقت ہوتی ہے جب کرسٹل طویل مدت کی کمزور روشنی کے ساتھ بے نقاب ہوتا ہے، جیسے فلکیاتی فوٹو گرافی میں۔ ایل آئی آر ایف ایک پوشیدہ تصویر بنانے کی نااہلی کی وجہ سے ہے، اور اس سے فوٹو گرافی کی رفتار کم ہو جاتی ہے لیکن اس کے برعکس بڑھ جاتا ہے۔ کم سطح کی نمائش تابکاری (شدت) کی وجہ سے، ایک واحد کرسٹل کو کافی تعداد میں فوٹونوں کو جذب کرنے کے درمیان کافی وقت تک انتظار کرنا پڑ سکتا ہے۔ ایک مستحکم پوشیدہ تصویری مرکز بنانے کے عمل میں، ایک چھوٹا اور کم مستحکم چاندی کا دھبہ بنایا جاتا ہے۔ اس دھبے کو ایک بڑی، مستحکم، پوشیدہ شبیہہ تک بڑھانے کے لیے فوٹو الیکٹرانوں کی مزید نسل ضروری ہے۔ اس بات کا ایک محدود امکان ہے کہ یہ درمیانی غیر مستحکم دھبہ اگلے دستیاب فوٹو الیکٹرانوں کے اسے مستحکم کرنے سے پہلے سڑ جائے گا۔ یہ امکان تابکاری کی سطح میں کمی کے ساتھ بڑھتا ہے۔ لیٹنٹ سب امیج کے استحکام کو بہتر بنا کر، سلفر کی حساسیت کو بہتر بنا کر، اور کرسٹل لائن نقائص (کنارے کی نقل مکانی) کو متعارف کروا کر ایل آئی آر ایف کو بہتر بنایا جا سکتا ہے۔ پوشیدہ شبیہہ کا مقام سلور ہالائڈ کرسٹل پر منحصر ہے، پوشیدہ شبیہہ کرسٹل کے اندر یا باہر بن سکتی ہے۔ اس بات پر منحصر ہے کہ ایل آئی کہاں تشکیل پاتا ہے، فوٹو گرافی کی خصوصیات اور ڈویلپر کا ردعمل مختلف ہوتا ہے۔ موجودہ ایملشن ٹیکنالوجی کئی طریقوں سے اس عنصر کی بہت درست ہیرا پھیری کی اجازت دیتی ہے۔ ہر ایملشن میں ہر کرسٹل کے اندر ایک جگہ ہوتی ہے جہاں ایل آئی ترجیحی طور پر تشکیل پاتے ہیں۔ انہیں "حساسیت کے مراکز" کہا جاتا ہے۔ اندرونی حصے میں ایل آئی بنانے والے ایملشن کو اندرونی (لائ) حساس ایملشن کہا جاتا ہے، اور جو سطح پر ایل آئی بناتے ہیں انہیں سطح حساس ایملشن کہا جاتا ہے۔ حساسیت کی قسم بڑی حد تک بہت اتلی الیکٹران ٹریپس کی جگہ کی عکاسی کرتی ہے جو مؤثر طریقے سے پوشیدہ تصاویر بناتی ہیں۔ زیادہ تر، اگر سب نہیں تو، پرانی ٹیکنالوجی کے منفی فلم ایملشن میں اندرونی طور پر بہت سے غیر ارادی طور پر بنائے گئے کنارے کی نقل مکانی کے مقامات (اور دیگر کرسٹل لائن نقائص) تھے اور کرسٹل کی سطح پر سلفر کی حساسیت کا مظاہرہ کیا گیا تھا۔ چونکہ متعدد حساسیت کے مراکز موجود ہوتے ہیں، اس لیے ایملشن میں اندرونی اور سطح دونوں کی حساسیت ہوتی ہے۔ یعنی فوٹو الیکٹران حساسیت کے بہت سے مراکز میں سے کسی ایک میں منتقل ہو سکتے ہیں۔ اس طرح کے ایملشن کی زیادہ سے زیادہ حساسیت کا فائدہ اٹھانے کے لیے، عام طور پر یہ سمجھا جاتا ہے کہ اندرونی پوشیدہ تصویری سائٹوں کو قابل رسائی بنانے کے لیے ڈویلپر کے پاس کچھ سلور ہالائڈ سالوینٹ ایکشن ہونا ضروری ہے۔ بہت سے جدید منفی ایملشن کرسٹل کی سطح کے بالکل نیچے ایک پرت متعارف کراتے ہیں جہاں کافی تعداد میں کنارے کی بے ترتیبی جان بوجھ کر پیدا کی جاتی ہے، جبکہ کرسٹل کے اندرونی حصے کے بڑے حصے کو عیب سے پاک رکھتے ہیں۔ کیمیائی حساسیت (مثال کے طور پر سلفر اور سونے کی حساسیت) سطح پر لگائی جاتی ہے۔ نتیجے کے طور پر، فوٹو الیکٹران کرسٹل کی سطح پر یا اس کے بہت قریب چند حساسیت والی جگہوں پر مرکوز ہوتے ہیں، اس طرح اس کارکردگی میں بہت اضافہ ہوتا ہے جس کے ساتھ پوشیدہ تصویر تیار کی جاتی ہے۔ مختلف ڈھانچوں کے ساتھ ایملشن دیگر ایپلی کیشنز کے لیے بنائے گئے تھے، جیسے کہ براہ راست مثبت ایملشن۔ براہ راست مثبت ایملشن میں دھند کے مراکز ہوتے ہیں جو ایملشن کے مرکز میں بنائے جاتے ہیں، جو نمائش پر پیدا ہونے والے فوٹو ہول کے ذریعے بلیچ ہوتے ہیں۔ اس قسم کا ایملشن روایتی ڈویلپر میں ترقی کے بعد ایک مثبت شبیہہ پیدا کرتا ہے، بغیر ریورسل پروسیسنگ کے۔ سلور ہالائڈ کرسٹل کی ترقی ایک ڈویلپر حل سلور ہالائڈ کرسٹل کو دھاتی چاندی کے دانے میں تبدیل کرتا ہے، لیکن یہ صرف ان لوگوں پر کام کرتا ہے جن میں پوشیدہ تصویری مراکز ہوتے ہیں۔ (ایک حل جو تمام سلور ہالائڈ کرسٹل کو دھاتی سلور گرین میں تبدیل کرتا ہے اسے فوگنگ ڈویلپر کہا جاتا ہے اور اس طرح کا حل ریورسل پروسیسنگ کے دوسرے ڈویلپر میں استعمال ہوتا ہے۔) یہ تبدیلی برقی کیمیائی کمی کی وجہ سے ہوتی ہے، جس میں پوشیدہ تصویری مراکز ایک اتپریرک کے طور پر کام کرتے ہیں۔ ڈویلپر کی تخفیف کی صلاحیت ایک ڈویلپر حل میں تخفیف کی صلاحیت ہونی چاہیے جو کہ ایک پوشیدہ تصویری مرکز والے کافی حد تک بے نقاب سلور ہالائڈ کرسٹل تیار کرنے کے لیے کافی مضبوط ہو۔ ایک ہی وقت میں، ڈویلپر کے پاس کمی کی صلاحیت ہونی چاہیے جو اتنی کمزور ہو کہ غیر ظاہر شدہ سلور ہالائڈ کرسٹل کو کم نہ کرے۔ مناسب طریقے سے وضع کردہ ڈویلپر میں، الیکٹرانوں کو صرف سلور سپیک (لیٹنٹ امیج) کے ذریعے سلور ہالائڈ کرسٹل میں داخل کیا جاتا ہے۔ لہذا، یہ بہت ضروری ہے کہ ڈویلپر حل کی کیمیائی تخفیف صلاحیت (ترقی پذیر ایجنٹ کی معیاری تخفیف صلاحیت نہیں) چھوٹے دھاتی چاندی کے کلسٹرز (یعنی پوشیدہ شبیہہ) کی فرمی توانائی کی سطح سے کہیں زیادہ ہو لیکن غیر ظاہر شدہ سلور ہالائڈ کرسٹل کے کنڈکشن بینڈ سے بہت نیچے ہو۔ عام طور پر، کمزور بے نقاب کرسٹل میں چھوٹے سلور کلسٹر ہوتے ہیں۔ چھوٹے سائز کے سلور کلسٹرز میں فرمی کی سطح زیادہ ہوتی ہے، اور اس وجہ سے زیادہ کرسٹل تیار ہوتے ہیں کیونکہ ڈویلپر کی کمی کی صلاحیت میں اضافہ ہوتا ہے۔ تاہم، ایک بار پھر، ڈویلپر کی صلاحیت سلور ہالائڈ کرسٹل کے کنڈکشن بینڈ سے کافی نیچے ہونی چاہیے۔ اس طرح ڈویلپر کی صلاحیت کو بڑھا کر نظام کی فوٹو گرافی کی رفتار کو بڑھانے کی ایک حد ہے۔ اگر حل کی تخفیف کی صلاحیت چھوٹے سلور کلسٹر کو بروئے کار لانے کے لیے کافی زیادہ مقرر کی جاتی ہے، تو کسی وقت حل نمائش سے قطع نظر سلور ہالائڈ کرسٹل کو کم کرنا شروع کر دیتا ہے۔ اسے دھند کہا جاتا ہے، جو کہ دھاتی چاندی ہے جو سلور ہالائڈ کرسٹل کی غیر تخیلاتی (نمائش-غیر مخصوص) کمی سے بنی ہے۔ یہ بھی پایا گیا کہ، جب ڈویلپر حل کو بہتر طریقے سے وضع کیا جاتا ہے، تو زیادہ سے زیادہ فوٹو گرافی کی رفتار ڈویلپنگ ایجنٹ (جیمز 1945) کے انتخاب کے لیے غیر حساس ہوتی ہے، اور سلور کلسٹر کے سائز کی ایک حد موجود ہوتی ہے جسے تیار کیا جا سکتا ہے۔ اس مسئلے کو بہتر بنانے کا ایک طریقہ کوسلوسکی کی گولڈ سینسیٹائزیشن تکنیک کا استعمال ہے۔ ایک چھوٹا دھاتی سونے کا کلسٹر جس کی فرمی سطح کرسٹل کی نشوونما کو روکنے کے لیے کافی زیادہ ہے، دھاتی چاندی کے کلسٹر کے حد سائز کو کم کرنے کے لیے استعمال کیا جاتا ہے جو کرسٹل کو قابل ترقی بنا سکتا ہے۔ مزید بحث کے لیے تانی 1995 اور ہیملٹن 1988 کا حوالہ دیں۔ پوشیدہ شبیہہ کا استحکام عام حالات میں پوشیدہ شبیہہ، جو ہر ہالیڈ دانے پر دھاتی چاندی کے چند ایٹموں کی طرح چھوٹی ہو سکتی ہے، کئی مہینوں تک مستحکم رہتی ہے۔ اس کے بعد ہونے والی پیش رفت ایک مرئی دھاتی تصویر کو ظاہر کر سکتی ہے۔ پوشیدہ تصویر کے استحکام کی ایک مشہور مثال وہ تصاویر ہیں جو 1897 کی ایس اے اینڈری کی بدقسمت آرکٹک غبارے کی مہم میں فوٹو گرافر نیلز اسٹرینڈبرگ نے لی تھیں۔ مہم اور برف پر پھنسے غبارے کی تصاویر تقریبا 33 سال بعد تک دریافت اور تیار نہیں کی گئیں۔ فلم بیس ریفرنسز کو، برائن، 1976، دی برتھ آف فوٹو گرافی، ایش اینڈ گرانٹ بھی دیکھیں۔ مچل، جے ڈبلیو، 1957، فوٹوگرافک حساسیت، نمائندہ۔ پروگ۔ فز.، وال۔ 20، پی پی۔ 433-515۔ تانی، ٹی۔، 1995، فوٹوگرافک حساسیت، آکسفورڈ یونیورسٹی پریس۔، پی پی۔ 31-32، 84-85، 89-91۔ مچل، جے ڈبلیو، 1999، فوٹو گرافی کی حساسیت کے تصورات کا ارتقاء، جے امیج۔ سائنس. ٹیک۔، 43، 38-48۔ جیمز، ٹی۔ ایچ۔، 1945، ترقی پذیر ایجنٹ کے سلسلے میں زیادہ سے زیادہ ایملشن کی رفتار، جے فرینکلن انسٹ۔، 239، 41-50۔ فوٹوگرافی کی سائنس