Photon-Induced Near-field Electron Microscopy
فوٹون-انڈیوسڈ نیئر فیلڈ الیکٹران مائکروسکوپی (پنم) الٹرا فاسٹ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی تکنیک کی ایک قسم ہے اور یہ سطح یا نینو اسٹرکچر کی موجودگی میں الیکٹرانوں اور فوٹونوں کے درمیان غیر لچکدار جوڑے پر مبنی ہے۔ یہ طریقہ الیکٹران خوردبین میں وقت کے لحاظ سے مختلف نینو اسکیل برقی مقناطیسی شعبوں کی تحقیقات کرنے کی اجازت دیتا ہے۔ مرئی روشنی کے لیے، الیکٹرانوں اور روشنی کے درمیان اس طرح کا غیر لچکدار جوڑا، یعنی۔ فری اسپیس (ویکیوم) میں فوٹونوں کا براہ راست جذب یا اخراج ممنوع ہے کیونکہ بیک وقت توانائی اور رفتار دونوں کا تحفظ ممکن نہیں ہے۔ اس رکاوٹ کو اس وقت روکا جا سکتا ہے جب روشنی کے کسی سطح یا نینو اسٹرکچر سے جھلکنے یا بکھرے ہونے کے نتیجے میں فوٹون کی رفتار کو وسیع کیا جاتا ہے۔ اس کے بعد یہ عمل ایک وسیع رفتار کی تقسیم کے ساتھ قریب قریب محدود فیلڈز پیدا کرے گا، جو نینو کنفائنڈ اسپیس میں اعلی شدت تک پہنچ جائے گا اور اس طرح الیکٹران لائٹ جوڑے کے کراس سیکشن کو بھی فروغ دے گا۔ نظریاتی طور پر، اس رجحان کی تجزیاتی وضاحت پارک اور دیگر، گارسیا ڈی اباہو اور دیگر نے فراہم کی ہے۔ اور فیسٹ اور دیگر۔ ان کاموں میں مصنفین نے یہ مظاہرہ کیا کہ الیکٹران-روشنی کے تعامل کی طاقت الیکٹران کے پھیلاؤ کی سمت کے ساتھ برقی میدان کے پروجیکشن کے لکیری جوڑے پر منحصر ہے۔ خاص طور پر، فیسٹ اور دیگر۔ تجرباتی طور پر یہ بھی ظاہر کیا گیا کہ تعامل کے عمل کے نتیجے میں الیکٹران لہر پیکٹ کی مربوط اسپیکٹرل دوبارہ تقسیم ہوتی ہے جس سے ایک کثیر سطحی کوانٹم سیڑھی کے ربی ارتعاش پیدا ہوتے ہیں جس میں ریاستیں فوٹون توانائی سے الگ ہوتی ہیں۔ فوٹونکس کے اطلاق کے لیے خاص طور پر پرکشش حقیقت یہ ہے کہ اس طرح کے غیر لچکدار بکھرنے کے عمل کے تابع الیکٹرانوں کی سپیکٹرم، مقامی اور رفتار کی تقسیم کا الیکٹران-روشنی کے جوڑے میں ثالثی کرنے والے قریب فیلڈ کی تقسیم کے ساتھ سختی سے تعلق ہے۔ اس طرح مؤخر الذکر کو الٹرا فاسٹ الیکٹران مائکروسکوپی کے طریقوں سے خلا اور وقت میں نقشہ بنایا جا سکتا ہے، جو نینو اسٹرکچرز میں اور اس کے آس پاس نینو اسکیل فیلڈز کی فیمٹو سیکنڈ فلمیں فراہم کرتا ہے۔ مزید دلچسپ بات یہ ہے کہ پنم طریقہ کو مناسب طریقے سے تیار کردہ برقی مقناطیسی میدان کی ترتیب کا استعمال کرتے ہوئے الیکٹران بیم کی لہر کی خصوصیات کو متحرک طور پر جوڑنے کے لیے بھی استعمال کیا جا سکتا ہے۔ اس طرح، کوئی بھی طول البلد اور ٹرانسورس دونوں سمتوں کے ساتھ الیکٹران بیم کے طول و عرض اور مرحلے کو مربوط طور پر تبدیل کر سکتا ہے۔ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی الیکٹران انرجی لاس سپیکٹروسکوپی (ای ای ایل ایس) انرجی فلٹرڈ ٹرانسمیشن الیکٹران مائکروسکوپی (ای ایف ٹی ای ایم) حوالہ جات الیکٹران بیم الیکٹران مائکروسکوپی تکنیک سائنسی تکنیک کوانٹم الیکٹروڈائنامکس فوٹوونکس