SEM-XRF
SEM-XRF ایک اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ (SEM) میں (عام طور پر مائیکرو فوکس) ایکس رے جنریٹر (ایکس رے ماخذ) کو شامل کرنے کے لیے ایک قائم شدہ تکنیکی اصطلاح ہے۔ چھوٹے مقامات پر کم طاقت والے ایکس رے ٹیوبوں اور پولی کیپلری ایکس رے آپٹکس کے شعبوں میں تکنیکی ترقی نے کمپیکٹ مائیکرو فوکس ایکس رے ذرائع کی ترقی کو قابل بنایا ہے جنہیں توانائی پھیلانے والے ایکس رے سپیکٹروسکوپی (ای ڈی ایس، ای ڈی ایکس، ای ڈی ایکس ایس یا ایکس ای ڈی ایس) سے لیس ایس ای ایم سے منسلک کیا جا سکتا ہے۔ جیسا کہ دائیں طرف کی تصویر میں دکھایا گیا ہے، جب مائیکرو فوکس ایکس رے فلوروسینس (مائیکرو ایکس آر ایف) کو ایس ای ایم کے ساتھ انجام دیا جاتا ہے، تو میرٹ کے بنیادی تجزیہ تجزیاتی اعداد و شمار کو اس مقام تک بڑھایا جاتا ہے جہاں ٹریس لیول کی مقدار اور بلک تجزیہ ممکن ہے۔ الیکٹرانوں کے ساتھ اور بالترتیب فوٹونوں کے ساتھ پرجوش ایکس رے سپیکٹر سے حاصل کردہ تجزیاتی معلومات کو یکجا کرکے، کم اور اعلی جوہری نمبر کے اہم عناصر کے ساتھ ساتھ ٹریس عناصر کا تجزیہ کیا جا سکتا ہے-حالانکہ مختلف مقامی قراردادوں کے ساتھ۔ 1986 میں، سینڈیا اور لارنس لیورمور نیشنل لیبز نے ایکس رے مائیکرو فلوروسینس کو متاثر کرنے والے پیرامیٹرز کے بارے میں (کیوکس کارپوریشن کے ساتھ) ایک مقالہ تحریر کیا۔ 1988 میں ایک فالو اپ کے طور پر، کراس اینڈ چیری نے ایک ایکس رے مائیکرو فلوروسینس تجزیہ کار کو بیان کیا جو ایکس رے فلوروسینس کے غیر تباہ کن تجزیاتی طریقہ کو نسبتا چھوٹے مقامی امتیاز (50 مائیکرو میٹر سے کم) کے ساتھ جوڑتا ہے تاکہ ساخت (کیمسٹری)، موٹائی اور مائیکرو اسٹرکچرل پیمائش چند سیکنڈ میں مختلف قسم کے متنوع مواد پر کی جا سکے۔ یہ دکھایا گیا کہ ایکس-وائی مرحلے کے ساتھ نمونوں کو اسکین کرکے مقداری یا کوالٹی مائیکرو اسٹرکچرل معلومات اکٹھا کی جا سکتی ہیں۔ ان دونوں پیپرز نے ایس ای ایم کے ساتھ مائیکرو ایکس رے فلوروسینس کے آنے والے انضمام کا پیش نظارہ فراہم کیا۔ 1991 تک، پوزگائی نے ایک جائزہ مضمون شائع کیا جس میں ایس ای ایم کے تناظر میں ایکس رے مائیکرو فلوروسینس تجزیہ کرنے کے امکانات کی تفصیل دی گئی تھی۔ اہم طریقوں میں الیکٹران خوردبین کے الیکٹران آپٹیکل کالم کو ٹرانسمیشن ایکس رے ٹیوب میں تبدیل کرنا، مائیکرو فوکسنگ ایکس رے ٹیوبوں کا استعمال کرنا، ایکس رے ٹیوبوں کو کیپلری تکنیک کے ساتھ جوڑنا، نیز ایکس رے ٹیوبوں کو مونوکرومیٹرز کے ساتھ جوڑنا اور مطابقت پذیر تابکاری کا اطلاق شامل تھا۔ SEM-XRF کو پہلی بار مارچ 2005 میں IXRF سسٹمز (آسٹن، TX) نے تجارتی بنایا تھا۔ بروکر کارپوریشن (بلیریکا، ایم اے) نے اگست 2013 میں پیروی کی۔ حوالہ جات بیرونی لنک ایڈوانسڈ ایلیمینٹل اینالیسس کو ایس ای ایم پر ای ڈی-ای پی ایم اے، ڈبلیو ڈی-ای پی ایم اے اور ایم یو-ایکس آر ایف کے ساتھ جوڑتے ہیں۔ وی۔ ڈی۔ ہوڈوروبا، اور دیگر۔ مائکروسکوپی اور مائکروانالیسس 17:600-601، جولائی 2011۔ ایس ای ایم-ای ڈی ایس اور مائیکرو-ایکس آر ایف-ایس ای ایم کے ذریعے کاربن لیپت شیرڈ پر لوہے پر مبنی مٹی کے برتنوں کے روغن کا پتہ لگانے کا موازنہ کرنا۔ مائیکل پینڈلٹن، اور دیگر۔ ییل جرنل آف بائیولوجی اینڈ میڈیسن۔ 87 (1): 15-20، مارچ 2014۔ ایس ای ایم میں مائیکرو-ایکس آر ایف کی حوصلہ افزائی۔ ایم ہاشکے، ایف ایگرٹ اور ڈبلیو ٹی ایلم۔ ایکس رے سپیکٹرومیٹری۔ جلد۔ 36، نمبر۔ 4، پی۔ 254-259 (2007)۔ اسکیننگ الیکٹران خوردبین میں مائیکرو-ایکس آر ایف۔ مائیکل ہاشکے اور اسٹیفن بوہم۔ امیجنگ اور الیکٹران فزکس میں ترقی۔ جلد۔ 199، p 1-60، (2017)۔ لیبارٹری ذرائع کے ساتھ زاویے سے حل شدہ ایکس رے فلوروسینس سپیکٹرومیٹری کے لیے ایک لچکدار سیٹ اپ۔ ایم سپینیئر، سی ہرزوگ، ڈی گرٹزش، ایف کریمر، آئی منٹووالو، جے لوبیک، جے ویسر، سی اسٹریک، ڈبلیو مالزر، بی بیکوف، بی کانگیسر۔ سائنسی آلات کا جائزہ، جلد 87، نمبر 3، (035108)، (2016)۔ مائیکل ہاشکے، لیبارٹری مائیکرو-ایکس-رے فلوروسینس سپیکٹروسکوپی، جلد۔ 55 (2014)۔ خوردبین ایکس رے فلوروسینس کا استعمال کرتے ہوئے ماحولیاتی سائنس میں رجحانات۔ اروسولا الزبتھ ایڈرین فٹشین اور جیرالڈ فالکن برگ۔ سپیکٹروچیمیکا ایکٹا پارٹ بی: ایٹمک سپیکٹروسکوپی، جلد 66، نمبر 8، پی 567-580 (2011)۔ ایس ای ایم پر مائیکرو فوکس ایکس آر ایف کے لیے ایکس رے لینس کی حقیقی ترسیل کا تعین اسکیٹر سپیکٹر کے حساب کے ساتھ جوڑی کی پیمائش کے ذریعے۔ وی۔ ڈی۔ ہوڈوروآبا اور ایم۔ پروکوپ۔ ایکس رے سپیکٹرومیٹری، جلد 38، نمبر 3، پی 216-221، (2009)۔ ایس ای ایم پروکوپ، میتھیاس وغیرہ کے ساتھ ایکس آر ایف تجزیہ کے لیے مائیکرو فوکس ایکس رے ماخذ کی کم توانائی کی کارکردگی میں بہتری۔ ایکس رے سپیکٹرومیٹری: این انٹرنیشنل جرنل 38.4 (2009): 308-311۔ SEM میں بہتر ای ڈی ایس اور ایکس آر ایف تجزیہ کے لیے ایک مائیکرو فوکس ایکس رے ماخذ۔ پروکوپ، میتھیاس، ویسائل-ڈین ہوڈوروبا، اور ونیسا ریک وٹز۔ مائکروسکوپی اور تجزیہ/یورپی ایڈیشن۔ p 10-13 (مئی، 2011)۔ اسکیننگ الیکٹران خوردبین کے لیے ایک اضافی تجزیاتی طریقہ کے طور پر ایکس رے فلوروسینس۔ پروکوپ، ایم۔، ہوڈوروبا، وی۔ مائیکروچیم ایکٹا جلد 161، پی 413-419 (2008)۔ ایکس آر ایف تجزیہ میں کامپٹن سے ریلیگ شدت کے تناسب کے استحصال سے بہتر کیمیائی ساخت حاصل کرنا۔ ہوڈوروبا، ویسائل ڈین، اور ونیسا ریک وٹز۔ تجزیاتی کیمسٹری 86.14 (2014): 6858-6864۔ پینڈلٹن، ایم ڈبلیو، اور دیگر۔ ایس ای ایم-ای ڈی ایس اور مائیکرو-ایکس آر ایف-ایس ای ایم کے ذریعے روتھینیم لیپت آثار قدیمہ کے مٹی کے برتنوں پر لوہے پر مبنی روغنوں کا پتہ لگانا۔ خوردبین اور مائیکرو تجزیہ 20.S3 (2014): 2030-2031۔ ریک وٹز، ونیسا اور دیگر۔ آر او ایچ ایس متعلقہ عناصر کی مثال پر ٹریس تجزیہ کے لیے ایس ای ایم/ای ڈی ایس کے ساتھ ایم یو-ایکس آر ایف کی کارکردگی-پیمائش، اصلاح اور پتہ لگانے کی حدود کی پیش گوئی۔ جرنل آف اینالیٹیکل اٹامک سپیکٹرومیٹری 28.9 (2013): 1466-1474۔ سیبر، جان آر، اور ایڈم مورٹنسن۔ "اعلی وشوسنییتا ایپلی کیشنز میں سولڈر کے لیے ایکس آر ایف اور ایس ای ایم-ای ڈی ایس عنصر تجزیہ کے نتائج کی توثیق اور سراغ لگانا۔" ایکس رے سپیکٹرومیٹری 43.5 (2014): 259-268۔ مائیکرو ایکس آر ایف عنصر کے نقشے الیکٹران بیم سے کم ارتکاز پر عناصر کا پتہ لگانے کا ایک نیا طریقہ ہے۔ ایک گارنٹ شسٹ مثال۔ "مائکروسکوپی اور مائیکرو تجزیہ 15.S2 (2009): 34-35۔ تجارتی روابط دو تجارتی دکاندار یہ ٹیکنالوجی پیش کرتے ہیں: ایکس بی مائیکرو-ایکس آر ایف کوانٹیکس مائیکرو-ایکس آر ایف الیکٹران مائکروسکوپی تکنیک