Sheet resistance
شیٹ مزاحمت، مربع کے دو مخالف اطراف میں بنائے گئے رابطوں کے ساتھ ایک پتلی مواد کے مربع ٹکڑے کی مزاحمت ہے۔ یہ عام طور پر پتلی فلموں کی برقی مزاحمت کی پیمائش ہے جو موٹائی میں یکساں ہوتی ہیں۔ یہ عام طور پر سیمی کنڈکٹر ڈوپنگ، دھاتی جمع، مزاحم پیسٹ پرنٹنگ، اور شیشے کی کوٹنگ سے بنے مواد کی خصوصیت کے لیے استعمال ہوتا ہے۔ ان عملوں کی مثالیں یہ ہیں: ڈوپڈ سیمی کنڈکٹر ریجنز (مثال کے طور پر، سلکان یا پولی سلکان)، اور وہ مزاحم جو موٹی فلم ہائبرڈ مائیکرو سرکٹس کے سبسٹریٹس پر اسکرین پرنٹ ہوتے ہیں۔ مزاحمت یا مزاحمت کے برخلاف شیٹ مزاحمت کی افادیت یہ ہے کہ اسے براہ راست چار ٹرمینل سینسنگ پیمائش (جسے چار نکاتی تحقیقات پیمائش بھی کہا جاتا ہے) کا استعمال کرتے ہوئے ماپا جاتا ہے یا بالواسطہ طور پر غیر رابطہ ایڈی-کرنٹ پر مبنی ٹیسٹنگ ڈیوائس کا استعمال کرتے ہوئے۔ فلم کانٹیکٹ کی اسکیلنگ کے تحت شیٹ مزاحمت غیر متغیر ہے اور اس لیے ان آلات کی برقی خصوصیات کا موازنہ کرنے کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے جو سائز میں نمایاں طور پر مختلف ہیں۔ حساب کتاب شیٹ مزاحمت دو جہتی نظاموں پر لاگو ہوتی ہے جس میں پتلی فلموں کو دو جہتی وجود سمجھا جاتا ہے۔ جب شیٹ مزاحمت کی اصطلاح استعمال کی جاتی ہے، تو اس کا مطلب یہ ہوتا ہے کہ کرنٹ شیٹ کے سطح کے ساتھ ہوتا ہے، اس کے ساتھ عمودی نہیں ہوتا ہے۔ باقاعدہ تین جہتی موصل میں، مزاحمت کو اس طرح لکھا جا سکتا ہے کہ جہاں مادی مزاحمت ہے، لمبائی ہے، کراس سیکشنل ایریا ہے، جسے تقسیم کیا جا سکتا ہے: چوڑائی، موٹائی۔ موٹائی کے ساتھ مزاحمت کو یکجا کرنے کے بعد، مزاحمت کو اس طرح لکھا جا سکتا ہے کہ شیٹ مزاحمت کہاں ہے۔ اگر فلم کی موٹائی معلوم ہو تو، بلک مزاحمت (ω·m میں) کا حساب شیٹ کی مزاحمت کو فلم کی موٹائی سے m میں ضرب دے کر کیا جا سکتا ہے: یونٹ شیٹ مزاحمت یکساں شیٹ کی موٹائی کے لیے مزاحمت کا ایک خاص معاملہ ہے۔ عام طور پر، مزاحمت (جسے بلک مزاحمت، مخصوص برقی مزاحمت، یا حجم مزاحمت بھی کہا جاتا ہے) ω·m کی اکائیوں میں ہوتی ہے، جو ω·m2/m (ω· رقبہ/لمبائی) کی اکائیوں میں زیادہ مکمل طور پر بیان کی جاتی ہے۔ جب شیٹ کی موٹائی (m) سے تقسیم کیا جاتا ہے، تو یونٹس ω·m· (m/m)/m = ω ہوتے ہیں۔ اصطلاح "(m/m)" منسوخ ہو جاتی ہے، لیکن ایک خاص "مربع" صورتحال کی نمائندگی کرتی ہے جس کا جواب اوھم میں ملتا ہے۔ ایک متبادل، عام اکائی "اوھم مربع" (اشارہ شدہ "") یا "اوہم فی مربع" (اشارہ شدہ "ω/sq" یا "") ہے، جو جہتی طور پر اوہم کے برابر ہے، لیکن خصوصی طور پر شیٹ مزاحمت کے لیے استعمال ہوتا ہے۔ یہ ایک فائدہ ہے، کیونکہ 1 اوھم کی شیٹ مزاحمت کو سیاق و سباق سے باہر لیا جا سکتا ہے اور 1 اوھم کی بلک مزاحمت کے طور پر غلط تشریح کی جا سکتی ہے، جبکہ 1 اوھم/مربع کی شیٹ مزاحمت کی اس طرح غلط تشریح نہیں کی جا سکتی۔ "اوھم فی مربع" نام کی وجہ یہ ہے کہ شیٹ مزاحمت 10 اوھم/مربع والی مربع شیٹ میں مربع کے سائز سے قطع نظر 10 اوھم کی اصل مزاحمت ہوتی ہے۔ (مربع کے لیے، تو۔) اس اکائی کے بارے میں "اوھم ایسپیکٹ ریشو" کے طور پر سوچا جا سکتا ہے۔ مثال: مواد سے بنی ایک 3 یونٹ لمبی اور 1 یونٹ چوڑی (پہلو تناسب = 3) شیٹ جس کی شیٹ مزاحمت 21 ω/مربع ہے، 63 ω کی پیمائش کرے گی (کیونکہ یہ تین 1 یونٹ اور 1 یونٹ کے مربع پر مشتمل ہے)، اگر 1 یونٹ کے کناروں کو کسی اوھم میٹر سے منسلک کیا گیا ہو جس سے ہر کنارے پر مکمل طور پر رابطہ ہوتا ہے۔ سیمی کنڈکٹرز کے لیے ڈفیوژن یا سرفیس پیکڈ آئن امپلانٹیشن کے ذریعے ڈوپ کیے گئے سیمی کنڈکٹرز کے لیے ہم مواد کی اوسط مزاحمت کا استعمال کرتے ہوئے شیٹ مزاحمت کی وضاحت کرتے ہیں: جس کا تخمینہ اکثریت کیریئر کی خصوصیات والے مواد میں (اندرونی چارج کیریئرز کو نظر انداز کرتے ہوئے) لگایا جا سکتا ہے: جنکشن کی گہرائی کہاں ہے، اکثریت کیریئر کی نقل و حرکت ہے، کیریئر چارج ہے، اور گہرائی کے لحاظ سے خالص نجاست کا ارتکاز ہے۔ پس منظر کیریئر کے ارتکاز اور سطح کی نجاست کے ارتکاز کو جانتے ہوئے، شیٹ مزاحمت-جنکشن گہرائی پروڈکٹ کو ارون کے منحنی خطوط کا استعمال کرتے ہوئے پایا جا سکتا ہے، جو مذکورہ مساوات کے عددی حل ہیں۔ پیمائش رابطہ مزاحمت سے بچنے کے لیے چار نکاتی تحقیقات کا استعمال کیا جاتا ہے، جس کی شدت اکثر شیٹ مزاحمت کے برابر ہو سکتی ہے۔ عام طور پر دو تحقیقات پر ایک مستقل کرنٹ لگایا جاتا ہے، اور دیگر دو تحقیقات پر پوٹینشل کو ہائی امپیڈینس وولٹ میٹر سے ماپا جاتا ہے۔ جیومیٹری فیکٹر کو چار نکاتی صف کی شکل کے مطابق لاگو کرنے کی ضرورت ہے۔ دو عام صف مربع اور ان لائن ہیں۔ مزید تفصیلات کے لیے وان ڈیر پاؤ طریقہ دیکھیں۔ مربع (یا آئتاکار) نمونے کے مخالف کناروں پر ہائی کنڈکٹوٹی بس بار لگا کر بھی پیمائش کی جا سکتی ہے۔ مربع رقبے میں مزاحمت کی پیمائش ω/sq میں کی جائے گی۔ ایک مستطیل کے لیے ایک مناسب ہندسی عنصر شامل کیا جاتا ہے۔ بس باروں کو اوہمک رابطہ بنانا چاہیے۔ انڈکٹو پیمائش بھی استعمال کی جاتی ہے۔ یہ طریقہ ایڈی کرنٹس کے ذریعہ پیدا ہونے والے شیلڈنگ اثر کی پیمائش کرتا ہے۔ اس تکنیک کے ایک ورژن میں دو کنڈلوں کے درمیان ٹیسٹ کے تحت ایک کنڈکٹو شیٹ رکھی جاتی ہے۔ یہ غیر رابطہ شیٹ مزاحمت پیمائش کا طریقہ بھی کھردری سطحوں کے ساتھ منسلک پتلی فلموں یا فلموں کی خصوصیت کی اجازت دیتا ہے۔ ایک بہت ہی خام دو نکاتی تحقیقات کا طریقہ مزاحمت کی پیمائش کرنا ہے جس میں تحقیقات ایک دوسرے کے قریب ہوتی ہیں اور تحقیقات کے ساتھ مزاحمت بہت دور ہوتی ہے۔ ان دونوں مزاحمتوں کے درمیان فرق شیٹ مزاحمت کی شدت کی ترتیب کا ہوگا۔ عام ایپلی کیشنز شیٹ مزاحمت کی پیمائش کنڈکٹو یا سیمی کنڈکٹو کوٹنگز اور مواد کی یکسانیت کی خصوصیت کے لیے بہت عام ہیں، مثال کے طور پر۔ معیار کی یقین دہانی کے لیے۔ عام ایپلی کیشنز میں دھات، ٹی سی او، کنڈکٹو نینو میٹریلز یا آرکیٹیکچرل گلاس پر دیگر کوٹنگز، ویفرز، فلیٹ پینل ڈسپلے، پولیمر فوائلز، او ایل ای ڈی، سیرامکس وغیرہ کا ان لائن پروسیس کنٹرول شامل ہے۔ رابطہ کرنے والی چار نکاتی تحقیقات کا اطلاق اکثر سخت یا موٹے مواد کی واحد نکاتی پیمائش کے لیے کیا جاتا ہے۔ غیر رابطہ ایڈی کرنٹ سسٹم کا اطلاق حساس یا منسلک کوٹنگز، ان لائن پیمائش اور ہائی ریزولوشن میپنگ کے لیے کیا جاتا ہے۔ ای ایس ڈی مواد بھی دیکھیں حوالہ جات پیمائش شیٹ مزاحمت عمومی حوالہ جات پیمائش شیٹ مزاحمت سیمی کنڈکٹر برقی مزاحمت اور چالکتا