Squarewave voltammetry
اسکوائر ویو وولٹیمیٹری (ایس ڈبلیو وی) لکیری پوٹینشل سویپ وولٹیمیٹری کی ایک شکل ہے جو ایک مشترکہ مربع لہر اور سیڑھی کی صلاحیت کا استعمال کرتی ہے جو اسٹیشنری الیکٹروڈ پر لاگو ہوتی ہے۔ اس نے مختلف شعبوں میں متعدد استعمال پایا ہے، بشمول ادویاتی اور مختلف حسیاتی برادریوں میں۔ تاریخ جب 1957 میں بارکر نے پہلی بار اطلاع دی تو استعمال ہونے والا کام کرنے والا الیکٹروڈ بنیادی طور پر گرتا ہوا مرکری الیکٹروڈ (ڈی ایم ای) تھا۔ ڈی ایم ای کا استعمال کرتے وقت، مرکری ڈراپ کا سطحی رقبہ پورے تجربے کے دوران مسلسل تبدیل ہوتا رہتا ہے۔ اس وجہ سے، جمع شدہ الیکٹرو کیمیکل ڈیٹا کا تجزیہ کرنے کے لیے بعض اوقات پیچیدہ ریاضیاتی ماڈلنگ کی ضرورت ہوتی تھی۔ اسکوائر ویو وولٹیمیٹرک تکنیک نے مرکری کے ایک قطرے کے اندر مطلوبہ الیکٹرو کیمیکل ڈیٹا کو جمع کرنے کی اجازت دی، جس کا مطلب ہے کہ کام کرنے والے الیکٹروڈ کی سطح کے رقبے کو تبدیل کرنے کے لیے ریاضیاتی ماڈلنگ کی ضرورت نہیں تھی۔ مختصرا، اس تکنیک کے تعارف اور ترقی نے ڈی ایم ای یا ایس ڈی ایم ای کام کرنے والے الیکٹروڈ کا استعمال کرتے ہوئے قابل اعتماد اور آسانی سے دوبارہ پیش کیے جانے والے الیکٹرو کیمیکل ڈیٹا کو تیزی سے جمع کرنے کی اجازت دی۔ بہت سے الیکٹرو کیمسٹس (خاص طور پر آسٹریوانگز) کی مسلسل بہتریوں کے ساتھ، ایس ڈبلیو وی اب جدید پوٹینیوسٹیٹس پر دستیاب بنیادی وولٹیمیٹرک تکنیکوں میں سے ایک ہے۔ نظریہ مربع لہر وولٹامیٹرک تجربے میں، (عام طور پر اسٹیشنری) کام کرنے والے الیکٹروڈ پر کرنٹ کی پیمائش کی جاتی ہے جبکہ کام کرنے والے الیکٹروڈ اور حوالہ الیکٹروڈ کے درمیان صلاحیت کو مستقل تعدد پر آگے اور پیچھے دھڑکا جاتا ہے۔ ممکنہ لہر کی شکل کو ایک بنیادی سیڑھی پر باقاعدہ مربع لہر کی سپرپوزیشن کے طور پر دیکھا جا سکتا ہے (اوپر کی شکل دیکھیں) ؛ اس لحاظ سے، ایس ڈبلیو وی کو سیڑھی وولٹیمیٹری کی ترمیم سمجھا جا سکتا ہے۔ کرنٹ کا نمونہ دو بار لیا جاتا ہے-ایک بار فارورڈ پوٹینشیل پلس کے آخر میں اور پھر ریورس پوٹینشیل پلس کے آخر میں (دونوں صورتوں میں پوٹینشیل سمت کے الٹنے سے فورا پہلے)۔ اس موجودہ نمونے لینے کی تکنیک کے نتیجے میں، کیپسیٹیو (جسے بعض اوقات غیر فیراڈک یا چارجنگ کہا جاتا ہے) کرنٹ کے نتیجے میں موجودہ سگنل میں شراکت کم سے کم ہوتی ہے۔ فی مربع لہر چکر میں دو مختلف مثالوں پر موجودہ نمونے لینے کے نتیجے میں، دو موجودہ لہر کی شکلیں جمع کی جاتی ہیں-دونوں کی تشخیصی قدر ہوتی ہے، اور اس لیے محفوظ ہیں۔ جب الگ تھلگ دیکھا جاتا ہے، تو آگے اور الٹا موجودہ لہر کی شکلیں ایک چکور وولٹیموگرام کی ظاہری شکل کی نقل کرتی ہیں (جو انوڈک یا کیتھوڈک حصوں سے مطابقت رکھتی ہے، تاہم، تجرباتی حالات پر منحصر ہے)۔ فارورڈ اور ریورس دونوں کرنٹ ویوفارم کی تشخیصی قدر ہونے کے باوجود، ایس ڈبلیو وی میں پوٹینٹیوسٹیٹ سافٹ ویئر کے لیے یہ تقریبا ہمیشہ ہوتا ہے کہ وہ فارورڈ کرنٹ ویوفارم سے ریورس کرنٹ ویوفارم کو گھٹا کر حاصل کردہ تفریق کرنٹ ویوفارم کو پلاٹ کرے۔ اس تفریقی منحنی خطوط کو پھر قابل اطلاق صلاحیت کے خلاف پلاٹ کیا جاتا ہے۔ تفریق کرنٹ بمقابلہ اطلاق شدہ ممکنہ پلاٹ میں چوٹیاں ریڈوکس کے عمل کی نشاندہی کرتی ہیں، اور اس پلاٹ میں چوٹیوں کی شدت مختلف ریڈوکس فعال پرجاتیوں کے ارتکاز کے متناسب ہوتی ہے جس کے مطابق: جہاں δip تفریق موجودہ چوٹی کی قیمت ہے، A الیکٹروڈ کا سطحی رقبہ ہے، C0 * پرجاتیوں کا ارتکاز ہے، D0 پرجاتیوں کی تفریق ہے، tp پلس کی چوڑائی ہے، اور δχp ایک بے جہتی پیمانہ ہے جو عام پلس وولٹیمیٹری میں محدود ردعمل کے مقابلے میں ایس ڈبلیو وی میں چوٹی کی اونچائی کا اندازہ لگاتا ہے۔ پھیلاؤ پرت کی تجدید یہ نوٹ کرنا ضروری ہے کہ مربع لہر وولٹیمیٹرک تجزیے میں، ممکنہ چکروں کے درمیان پھیلاؤ پرت کی تجدید نہیں ہوتی ہے۔ اس طرح، ہر سائیکل کو الگ تھلگ دیکھنا ممکن/درست نہیں ہے ؛ ہر سائیکل کے لیے موجود حالات ایک پیچیدہ بازی کی پرت ہے جو تمام سابقہ ممکنہ چکروں کے ذریعے تیار ہوئی ہے۔ کسی خاص سائیکل کے لیے حالات بھی دیگر برقی کیمیائی تحفظات کے ساتھ الیکٹروڈ حرکیات کا ایک فعل ہیں۔ ایپلی کیشنز غیر فیراڈک کرنٹس کی کم سے کم شراکت کی وجہ سے، علیحدہ فارورڈ اور ریورس کرنٹ پلاٹس کے بجائے ایک تفریق کرنٹ پلاٹ کا استعمال، اور ممکنہ الٹ اور موجودہ نمونے لینے کے درمیان اہم وقت ارتقاء، ایس ڈبلیو وی کا استعمال کرتے ہوئے اعلی حساسیت کی اسکریننگ حاصل کی جا سکتی ہے۔ اس وجہ سے، اسکوائر ویو وولٹیمیٹری کو متعدد برقی کیمیائی پیمائشوں میں استعمال کیا گیا ہے اور اسے دیگر برقی تجزیاتی تکنیکوں میں بہتری کے طور پر دیکھا جا سکتا ہے۔ مثال کے طور پر، ایس ڈبلیو وی پس منظر کے دھاروں کو چکور وولٹیمیٹری کے مقابلے میں بہت زیادہ مؤثر طریقے سے دباتا ہے-اس وجہ سے، نینوملر پیمانے پر تجزیاتی ارتکاز کو سی وی پر ایس ڈبلیو وی کا استعمال کرتے ہوئے رجسٹر کیا جا سکتا ہے۔ ایس ڈبلیو وی تجزیہ کو حال ہی میں وولٹیمیٹرک کیٹیکول سینسر کی ترقی میں، بڑی تعداد میں دواسازی کے تجزیے میں، اور 2,4,6-TNT اور 2,4-DNT سینسر کی ترقی اور تعمیر میں استعمال کیا گیا ہے۔ آزاد تجزیے میں استعمال ہونے کے علاوہ، ایس ڈبلیو وی کو دیگر تجزیاتی تکنیکوں کے ساتھ بھی جوڑا گیا ہے، بشمول پتلی پرت کرومیٹوگرافی (TLC) اور ہائی پریشر مائع کرومیٹوگرافی تک محدود نہیں۔ وولٹیمیٹری الیکٹروانالیٹیکل طریقہ حوالہ جات الیکٹروانالیٹیکل طریقے بھی دیکھیں۔