Electrically detected magnetic resonance
برقی طور پر دریافت شدہ مقناطیسی گونج (ای ڈی ایم آر) ایک مواد کی خصوصیت کی تکنیک ہے جو الیکٹران اسپن گونج پر بہتر ہوتی ہے۔ اس میں مخصوص مائکروویو تعدد کے سامنے آنے پر نمونے کی برقی مزاحمت میں تبدیلی کی پیمائش شامل ہوتی ہے۔ اس کا استعمال سیمی کنڈکٹرز میں موجود نجاست کی بہت کم تعداد (چند سو ایٹموں تک) کی شناخت کے لیے کیا جا سکتا ہے۔ تکنیک کا خاکہ ایک پلسڈ ای ڈی ایم آر تجربہ انجام دینے کے لیے، نظام کو سب سے پہلے مقناطیسی میدان میں رکھ کر شروع کیا جاتا ہے۔ یہ مقناطیسی میدان کی سمت میں ڈونر اور قبولیت پر قابض الیکٹرانوں کے گھماؤ کو سمت دیتا ہے۔ عطیہ دہندہ کا مطالعہ کرنے کے لیے، ہم عطیہ دہندہ کی گونج تعدد پر ایک مائکروویو پلس (خاکہ میں "γ") لگاتے ہیں۔ یہ عطیہ دہندہ پر الیکٹران کی گردش کو پلٹ دیتا ہے۔ اس کے بعد ڈونر الیکٹران قبولیت توانائی کی حالت میں ختم ہو سکتا ہے (اسے پالی اخراج کے اصول کی وجہ سے پلٹنے سے پہلے ایسا کرنے سے منع کیا گیا تھا) اور وہاں سے ویلینس بینڈ میں، جہاں یہ ایک سوراخ کے ساتھ دوبارہ مل جاتا ہے۔ زیادہ ریکومبینیشن کے ساتھ، کنڈکشن بینڈ میں کم کنڈکشن الیکٹران ہوں گے اور مزاحمت میں اسی طرح کا اضافہ ہوگا، جس کی براہ راست پیمائش کی جا سکتی ہے۔ پورے تجربے میں اوپر والے بینڈ گیپ لائٹ کا استعمال کیا جاتا ہے تاکہ یہ یقینی بنایا جا سکے کہ کنڈکشن بینڈ میں بہت سے الیکٹران موجود ہیں۔ مائکروویو پلس کی تعدد کو اسکین کرکے، ہم یہ معلوم کر سکتے ہیں کہ کون سی تعدد گونجتی ہیں، اور مقناطیسی میدان کی طاقت کے علم کے ساتھ، ہم گونجتی تعدد اور زیمان اثر کے علم سے عطیہ دہندہ کی توانائی کی سطح کی شناخت کر سکتے ہیں۔ عطیہ دہندہ کی توانائی کی سطح 'فنگر پرنٹ' کے طور پر کام کرتی ہے جس کے ذریعے ہم عطیہ دہندہ اور اس کے مقامی الیکٹرانک ماحول کی شناخت کر سکتے ہیں۔ تعدد کو قدرے تبدیل کرکے، ہم اس کے بجائے قبولیت کا مطالعہ کر سکتے ہیں۔ حالیہ پیش رفت ای ڈی ایم آر کو کوانٹم ڈاٹ سے ایک واحد الیکٹران پر دکھایا گیا ہے۔ 100 سے کم عطیہ دہندگان کی پیمائش اور اس طرح کی پیمائش کے نظریاتی تجزیے شائع کیے گئے ہیں، جو قبول کنندہ کے طور پر کام کرنے کے لیے پی بی انٹرفیس کی خرابی پر انحصار کرتے ہیں۔ حوالہ جات کوانٹم الیکٹرانکس سپیکٹروسکوپی