Total absorption spectroscopy
மொத்த உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி என்பது ஒரு அளவீட்டு நுட்பமாகும், இது பீட்டா சிதைவு செயல்முறையின் மூலம் அதன் நிலையற்ற பெற்றோர் சிதைந்த பிறகு மகள் கருவில் நடக்கக்கூடிய வெவ்வேறு அணு காமா மாற்றங்களில் வெளிப்படும் காமா கதிர்வீச்சை அளவிட அனுமதிக்கிறது. நிலைத்தன்மைக்கு வெகு தொலைவில் உள்ள கருக்களுக்கான முழு சிதைவு ஆற்றல் சாளரத்திற்குள் பீட்டா ஊட்ட அளவீடுகள் தொடர்பான பீட்டா சிதைவு ஆய்வுகளுக்கு இந்த நுட்பத்தைப் பயன்படுத்தலாம். இது ஒரு சிறப்பு வகை டிடெக்டருடன் செயல்படுத்தப்படுகிறது, "மொத்த உறிஞ்சுதல் நிறமாலை" (டிஏஎஸ்), இது ஒரு சிண்டிலேட்டர் படிகத்தால் ஆனது, இது அளவிடப்பட வேண்டிய செயல்பாட்டை கிட்டத்தட்ட முழுமையாகச் சுற்றி, தோராயமாக 4π திட கோணத்தை உள்ளடக்கியது. மேலும், ஒரு சிறந்த விஷயத்தில், இது 100% க்கு அருகில் உச்ச செயல்திறனைக் கொண்டிருக்க போதுமான தடிமனாக இருக்க வேண்டும், இந்த வழியில் அதன் மொத்த செயல்திறனும் 100% க்கு மிக அருகில் உள்ளது (இது "மொத்த" உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி என்று அழைக்கப்படுவதற்கான காரணங்களில் ஒன்றாகும்). இறுதியாக, இது வேறு எந்த வகையான கதிர்வீச்சுக்கும் கண்மூடித்தனமாக இருக்க வேண்டும். ஆய்வின் கீழ் உள்ள சிதைவில் உற்பத்தி செய்யப்படும் காமா கதிர்கள் சிண்டிலேட்டர் பொருளுடன் இணைக்கப்பட்ட ஒளி பெருக்கிகளால் சேகரிக்கப்படுகின்றன. இந்த நுட்பம் பாண்டெமோனியம் விளைவின் சிக்கலை தீர்க்கக்கூடும். ஒரு டிஏஎஸ் மூலம் அளவிடும்போது தத்துவத்தில் மாற்றம் உள்ளது. தனிப்பட்ட காமா கதிர்களைக் கண்டறிவதற்குப் பதிலாக (உயர் தெளிவுத்திறன் கொண்ட கண்டறிதல்கள் செய்வது போல), இது சிதைவில் வெளிப்படும் காமா அடுக்குகளைக் கண்டறியும். பின்னர், இறுதி ஆற்றல் நிறமாலை வெவ்வேறு மாற்றங்களிலிருந்து வரும் வெவ்வேறு ஆற்றல் சிகரங்களின் தொகுப்பாக இருக்காது (ஒரு ஜெர்மானியம் டிடெக்டரின் விஷயத்தில் எதிர்பார்க்கப்படுவது போல), ஆனால் ஒரு ஆற்றலில் அமைந்துள்ள சிகரங்களின் தொகுப்பாக இருக்கும், இது ஒவ்வொரு மட்டத்திலிருந்தும் வெளிப்படும் அடுக்கின் அனைத்து காம்மாக்களின் வெவ்வேறு ஆற்றல்களின் கூட்டுத்தொகையாகும். இதன் பொருள் என்னவென்றால், ஒரு டிஏஎஸ் மூலம் அளவிடப்படும் ஆற்றல் நிறமாலை உண்மையில் கருக்களின் நிலைகளின் ஒரு நிறமாலையாக இருக்கும், அங்கு ஒவ்வொரு உச்சநிலையும் சிதைவில் உள்ள ஒரு மட்டமாகும். இந்த டிடெக்டர்களின் செயல்திறன் 100% க்கு அருகில் இருப்பதால், பொதுவாக உயர் தெளிவுத்திறன் கொண்ட டிடெக்டர்களால் பார்க்க முடியாத உயர் கிளர்ச்சி நிலைகளுக்கு உணவளிக்க முடியும். இது பீட்டா ஊட்டங்களை அளவிடுவதற்கும், சிக்கலான சிதைவு திட்டங்களுக்கு துல்லியமான பீட்டா தீவிரம் (ஐ. பி. ஏ) விநியோகங்களை வழங்குவதற்கும் மொத்த உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோப்பியை சிறந்த முறையாக ஆக்குகிறது. ஒரு சிறந்த வழக்கில், அளவிடப்பட்ட ஸ்பெக்ட்ரம் பீட்டா ஊட்டத்திற்கு (ஐ. பி. ஏ) விகிதாசாரமாக இருக்கும். ஆனால் ஒரு உண்மையான டிஏஎஸ் வரையறுக்கப்பட்ட செயல்திறன் மற்றும் தெளிவுத்திறனைக் கொண்டுள்ளது, மேலும் ஐ. பி. ஏ அளவிடப்பட்ட நிறமாலையிலிருந்து பிரித்தெடுக்கப்பட வேண்டும், இது ஸ்பெக்ட்ரோமீட்டர் பதிலைப் பொறுத்தது. டிஏஎஸ் தரவுகளின் பகுப்பாய்வு எளிதானது அல்லஃ அளவிடப்பட்ட தரவுகளிலிருந்து வலிமையைப் பெற, ஒரு டிகோன்வொல்யூஷன் செயல்முறை பயன்படுத்தப்பட வேண்டும். டிஏஎஸ் தரவுகளுக்கான பகுப்பாய்வு முறை டிஏஎஸ் மூலம் அளவிடப்படும் தரவுகளின் சிக்கலான பகுப்பாய்வு ஒரு நேரியல் சிக்கலின் தீர்வாகக் குறைக்கப்படலாம்ஃ டி = ரி இது அளவிடப்பட்ட தரவை (டி) பீட்டா தீவிரம் விநியோகம் ஐ. பி. ஏ பெறக்கூடிய ஊட்டங்களுடன் (ஐ) தொடர்புபடுத்துகிறது. ஆர் என்பது கண்டறிதலின் மறுமொழி அணி (அதாவது ஒரு குறிப்பிட்ட மட்டத்திற்கு ஊட்டமளிக்கும் ஒரு சிதைவு ஸ்பெக்ட்ரமின் குறிப்பிட்ட தொட்டியில் ஒரு எண்ணிக்கையை வழங்குவதற்கான நிகழ்தகவு). செயல்பாடு ஆர் டிடெக்டரைப் பொறுத்தது, ஆனால் அளவிடப்படும் குறிப்பிட்ட நிலை திட்டத்தையும் சார்ந்துள்ளது. தரவுகளிலிருந்து i இன் மதிப்பைப் பிரித்தெடுக்க சமன்பாடு தலைகீழாக இருக்க வேண்டும் (இந்த சமன்பாடு "தலைகீழ் சிக்கல்" என்றும் அழைக்கப்படுகிறது). துரதிர்ஷ்டவசமாக இதை எளிதில் செய்ய முடியாது, ஏனெனில் நிலை அடர்த்தி அதிகமாக இருக்கும்போது அதிக கிளர்ச்சி ஆற்றல்களில் இருக்கும்போது அருகிலுள்ள நிலைகளின் ஊட்டத்திற்கு ஒத்த பதில் உள்ளது. வேறு வார்த்தைகளில் கூறுவதானால், இது "தவறான நிலை" சிக்கல்கள் என்று அழைக்கப்படுபவற்றில் ஒன்றாகும், இதற்காக பல அளவுருக்கள் ஒரே தரவு தொகுப்பை நெருக்கமாக இனப்பெருக்கம் செய்ய முடியும். பின்னர், i ஐக் கண்டுபிடிக்க, கிளை விகிதங்கள் மற்றும் டிடெக்டரின் வடிவவியலின் துல்லியமான உருவகப்படுத்துதல் தேவைப்படும் பதிலைப் பெற வேண்டும். பயன்படுத்தப்படும் டிஏஎஸ்-இன் செயல்திறன் எவ்வளவு அதிகமாக இருக்கிறதோ, கிளை விகிதங்களில் பதிலின் சார்பு குறைவாக இருக்கும். பின்னர் அறியப்படாத கிளை விகிதங்களை ஒரு நம்பத்தகுந்த யூகத்திலிருந்து கையால் அறிமுகப்படுத்த முடியும். புள்ளியியல் மாதிரியின் மூலம் ஒரு நல்ல யூகத்தை கணக்கிட முடியும். பின்னர் ஊட்டங்களைக் கண்டுபிடிப்பதற்கான செயல்முறை மறுசுழற்சி ஆகும்ஃ தலைகீழ் சிக்கலைத் தீர்க்க எதிர்பார்ப்பு-அதிகபட்சமாக்கல் வழிமுறையைப் பயன்படுத்துதல், பின்னர் ஊட்டங்களைக் கண்டுபிடிப்பதற்கான செயல்முறை மறுசுழற்சி ஆகும்ஃ தலைகீழ் சிக்கலைத் தீர்க்க எதிர்பார்ப்பு-அதிகபட்சமாக்கல் வழிமுறையைப் பயன்படுத்துதல், ஊட்டங்கள் பிரித்தெடுக்கப்படுகின்றன; அவை சோதனைத் தரவை மீண்டும் உருவாக்கவில்லை என்றால், கிளை விகிதங்களின் ஆரம்ப யூகம் தவறானது மற்றும் மாற்றப்பட வேண்டும் (நிச்சயமாக, பகுப்பாய்வின் பிற அளவுருக்களுடன் விளையாட முடியும்). இந்த செயல்முறையை குறைந்த எண்ணிக்கையிலான படிகளில் மீண்டும் மீண்டும் செய்தால், தரவு இறுதியாக மீண்டும் உருவாக்கப்படுகிறது. கிளை விகிதக் கணக்கீடு இந்த சிக்கலைக் கையாள்வதற்கான சிறந்த வழி, குறைந்த கிளர்ச்சி ஆற்றல்களில் தனித்துவமான நிலைகளின் தொகுப்பையும், அதிக ஆற்றல்களில் பின் செய்யப்பட்ட நிலைகளின் தொகுப்பையும் வைத்திருப்பது ஆகும். குறைந்த ஆற்றல்களில் உள்ள தொகுப்பு அறியப்பட வேண்டும் மற்றும் தரவுத்தளங்களிலிருந்து எடுக்கப்படலாம் (எடுத்துக்காட்டாக, [ENSDF] தரவுத்தளம், இது ஏற்கனவே உயர் தெளிவுத்திறன் நுட்பத்துடன் அளவிடப்பட்ட தகவல்களிலிருந்து தகவல்களைக் கொண்டுள்ளது). அதிக ஆற்றல்களில் உள்ள தொகுப்பு தெரியவில்லை மற்றும் அறியப்பட்ட பகுதியுடன் ஒன்றுடன் ஒன்று இல்லை. இந்த கணக்கீட்டின் முடிவில், Q மதிப்பு சாளரத்திற்குள் உள்ள நிலைகளின் முழு பகுதியும் (அறியப்பட்ட மற்றும் அறியப்படாத) பிணைக்கப்பட்டுள்ளது. பகுப்பாய்வின் இந்த கட்டத்தில் அறியப்பட்ட நிலைகளை இணைக்கும் மாற்றங்களுக்கான உள் மாற்று குணகங்களை அறிந்து கொள்வது முக்கியம். உள் மாற்று குணகம் என்பது γ உமிழ்வு வழியாக ஈ-உமிழ்வு வழியாக ஏற்படும் தூண்டுதலின் எண்ணிக்கை என வரையறுக்கப்படுகிறது. உள் மாற்றம் நடந்தால், அணுக்கருவின் ஈ. எம் பல துருவ புலங்கள் ஒரு ஃபோட்டானின் உமிழ்வை ஏற்படுத்தாது, அதற்கு பதிலாக, புலங்கள் அணு எலக்ட்ரான்களுடன் தொடர்பு கொண்டு எலக்ட்ரான்களில் ஒன்றை அணுவிலிருந்து வெளியிடுகின்றன. பீட்டா சிதைவுக்குப் பிறகு வெளிப்படும் காமா தவறவிடப்பட்டு, அதற்கேற்ப γ தீவிரம் குறைகிறதுஃ IT = Iγ + Ie − = Iγ (1 + αe), எனவே இந்த நிகழ்வை கணக்கீட்டில் கணக்கில் எடுத்துக்கொள்ள வேண்டும். மேலும், எக்ஸ் கதிர்கள் எலக்ட்ரான் மாற்று செயல்முறையிலிருந்து வரும் கதிர்களால் மாசுபடும். எலக்ட்ரான் பிடிப்பு சிதைவில் இது முக்கியமானது, ஏனெனில் உள் மாற்றம் வலுவாக இருந்தால் எந்த எக்ஸ்ரே கேட்டட் ஸ்பெக்ட்ராவின் முடிவுகளையும் இது பாதிக்கலாம். குறைந்த ஆற்றல்கள் மற்றும் அதிக பன்முகத்தன்மைக்கு அதன் நிகழ்தகவு அதிகமாக உள்ளது. முழு கிளை விகித மேட்ரிக்ஸைப் பெறுவதற்கான வழிகளில் ஒன்று புள்ளியியல் அணு மாதிரியைப் பயன்படுத்துவதாகும். இந்த மாதிரி சராசரி நிலை அடர்த்தி மற்றும் சராசரி காமா வலிமை செயல்பாடுகளிலிருந்து ஒரு பின் செய்யப்பட்ட கிளை விகிதம் மேட்ரிக்ஸை உருவாக்குகிறது. அறியப்படாத பகுதிக்கு, சராசரி கிளை விகிதங்களைக் கணக்கிடலாம், இதற்காக பல அளவுருக்கள் தேர்ந்தெடுக்கப்படலாம், அதே நேரத்தில் அறியப்பட்ட பகுதிக்கு தரவுத்தளங்களில் உள்ள தகவல்கள் பயன்படுத்தப்படுகின்றன. ஒரு டிஏஎஸ் டிடெக்டரின் பதிலைத் துல்லியமாகக் கணக்கிடத் தேவையான அனைத்து ஆற்றல்களையும் வெளியிடும் காமா மூலங்களை உற்பத்தி செய்வது சாத்தியமில்லை. இந்த காரணத்திற்காக, பதிலின் மான்டேகார்லோ உருவகப்படுத்துதலைச் செய்வது நல்லது. இந்த உருவகப்படுத்துதல் நம்பகமானதாக இருக்க, சிதைவில் வெளிப்படும் அனைத்து துகள்களின் தொடர்புகளும் (γ, e−/e +, ஆகர் e, x கதிர்கள் போன்றவை) துல்லியமாக மாதிரியாக்கப்பட வேண்டும், மேலும் இந்த துகள்களின் வழியில் உள்ள வடிவியல் மற்றும் பொருட்கள் நன்கு இனப்பெருக்கம் செய்யப்பட வேண்டும். மேலும், சிண்டிலேட்டரின் ஒளி உற்பத்தி சேர்க்கப்பட வேண்டும். இந்த உருவகப்படுத்துதலைச் செய்வதற்கான வழி டி. கேனோ-ஓட் மற்றும் பலர் காகிதத்தில் விரிவாக விளக்கியுள்ளனர். GEANT3 மற்றும் GEANT4 இந்த வகையான உருவகப்படுத்துதல்களுக்கு மிகவும் பொருத்தமானவை. டிஏஎஸ் டிடெக்டரின் சிண்டிலேட்டர் பொருள் ஒளி உற்பத்தியில் விகிதாசாரமற்ற தன்மையால் பாதிக்கப்பட்டால், ஒரு அடுக்கால் உற்பத்தி செய்யப்படும் சிகரங்கள் பெருக்கத்தில் ஒவ்வொரு அதிகரிப்புக்கும் மேலும் இடம்பெயரும், மேலும் இந்த சிகரங்களின் அகலம் ஒரே ஆற்றலைக் கொண்ட ஒற்றை சிகரங்களின் அகலத்திலிருந்து வேறுபடும். இந்த விளைவை ஹைபர்போலிக் சிண்டிலேஷன் செயல்திறன் மூலம் உருவகப்படுத்துதலில் அறிமுகப்படுத்தலாம். ஒளி உற்பத்தியின் உருவகப்படுத்துதல் டிஏஎஸ் ஸ்பெக்ட்ரமின் சிகரங்களை விரிவுபடுத்தும்; இருப்பினும், இது இன்னும் சோதனை சிகரங்களின் உண்மையான அகலத்தை மீண்டும் உருவாக்கவில்லை. அளவீட்டின் போது ஆற்றல் சேகரிப்பை பாதிக்கும் கூடுதல் புள்ளிவிவர செயல்முறைகள் உள்ளன, அவை மான்டேகார்லோவில் சேர்க்கப்படவில்லை. இதன் விளைவு டிஏஎஸ் சோதனை சிகரங்களின் கூடுதல் அகலமாகும். மான்டேகார்லோவுடன் மறுஉருவாக்கம் செய்யப்பட்ட சிகரங்கள் சரியான அகலத்தைக் கொண்டிருக்கவில்லை என்பதால், உருவகப்படுத்தப்பட்ட பதிலுக்கு அனுபவபூர்வமான கருவி தெளிவுத்திறன் விநியோகத்துடன் ஒரு சுழற்சி பயன்படுத்தப்பட வேண்டும். இறுதியாக, பகுப்பாய்வு செய்யப்பட வேண்டிய தரவு எலக்ட்ரான் பிடிப்பு நிகழ்வுகளிலிருந்து வந்தால், பல ஆற்றல்களின் தனிப்பட்ட மோனோஎனர்ஜெடிக் γ கதிர்களுக்கு உருவகப்படுத்தப்பட்ட பதில்களைப் பயன்படுத்தி ஒரு உருவகப்படுத்தப்பட்ட காமா மறுமொழி அணி உருவாக்கப்பட வேண்டும். இந்த மேட்ரிக்ஸ் டிடெக்டரின் மீது மறுமொழி செயல்பாட்டின் சார்பு தொடர்பான தகவல்களைக் கொண்டுள்ளது. அளவிடப்படும் நிலை திட்டத்தின் மீதான சார்பையும் சேர்க்க, மேற்கூறிய மேட்ரிக்ஸ் முன்பு கணக்கிடப்பட்ட கிளை விகிதம் மேட்ரிக்ஸுடன் சுருக்கப்பட வேண்டும். இந்த வழியில், இறுதி உலகளாவிய பதில் ஆர் பெறப்படுகிறது. டிஏஎஸ் நுட்பத்தைப் பயன்படுத்தும் போது மனதில் கொள்ள வேண்டிய ஒரு முக்கியமான விஷயம் என்னவென்றால், குறுகிய அரை ஆயுளைக் கொண்ட கருக்கள் அளவிடப்பட்டால், ஆற்றல் நிறமாலை சிதைவுச் சங்கிலியில் உற்பத்தி செய்யப்படும் மகள் கருக்களின் காமா அடுக்குகளால் மாசுபடும். பொதுவாக டிஏஎஸ் டிடெக்டர்கள் எக்ஸ்-கதிர்கள், எலக்ட்ரான்கள் அல்லது பாசிட்ரான்கள் போன்ற இரண்டாம் நிலை கதிர்வீச்சை அளவிடுவதற்கு துணை டிடெக்டர்களை அவற்றின் உள்ளே வைக்க வாய்ப்பு உள்ளது. இந்த வழியில் பகுப்பாய்வின் போது சிதைவின் மற்ற கூறுகளைக் குறிக்க முடியும், இது அனைத்து வெவ்வேறு கருக்களிலிருந்தும் (ஐசோபாரிக் பிரிப்பு) வரும் பங்களிப்புகளைப் பிரிக்க அனுமதிக்கிறது. 1970 ஆம் ஆண்டில், 15 செமீ விட்டம் மற்றும் 10 செமீ நீளம் கொண்ட இரண்டு உருளை என். ஏ. ஐ டிடெக்டர்களைக் கொண்ட ஒரு ஸ்பெக்ட்ரோமீட்டர் ஐ. எஸ். ஓ. எல். டி. இல் பயன்படுத்தப்பட்டது. ஜிஎஸ்ஐயில் நிறுவப்பட்ட டிஏஎஸ் அளவீட்டு நிலையத்தில் ஒரு நாடா போக்குவரத்து அமைப்பு இருந்தது, இது பிரிப்பானிலிருந்து வெளிவரும் அயனிகளை சேகரிக்க அனுமதித்தது (அவை நாடா பொருத்தப்பட்டன), மேலும் அந்த அயனிகளை சேகரிக்கும் நிலையில் இருந்து டிஏஎஸ் மையத்திற்கு கொண்டு செல்வதற்காக (நாடா இயக்கத்தின் மூலம்). இந்த வசதியில் உள்ள டிஏஎஸ், சமச்சீர் அச்சின் திசையில் ஒரு செறிவூட்டப்பட்ட உருளை துளை கொண்ட ஒரு உருளை NaI படிகத்தால் ஆனது, இது φ = h = 35.6 செமீ ஆகும். இந்த துளை ஒரு பிளக் டிடெக்டரால் (4.7x15.0 செமீ) நிரப்பப்பட்டது, இது ஒரு வைத்திருப்புடன் துணை டிடெக்டர்கள் மற்றும் இரண்டு உருளைகளை ஒரு நாடா வைக்க அனுமதித்தது. லுக்ரெசியா அளவீட்டு நிலையம் இந்த அளவீட்டு நிலையம், ஐ. எஸ். ஓ. எல். டி. இ பீம்லைன்களில் ஒன்றின் முடிவில் நிறுவப்பட்டுள்ளது, இதில் ஒரு டி. ஏ. எஸ் மற்றும் ஒரு நாடா நிலையம் உள்ளது. இந்த நிலையத்தில், நாடா பிடிக்க ஒரு பீம் குழாய் பயன்படுத்தப்படுகிறது. கற்றை டிஏஎஸ்-க்கு வெளியே உள்ள நாடாவில் பொருத்தப்படுகிறது, பின்னர் இது அளவீட்டிற்காக டிடெக்டரின் மையத்திற்கு கொண்டு செல்லப்படுகிறது. இந்த நிலையத்தில் உருளைகளின் நிலையை மாற்றுவதன் மூலம், டிஏஎஸ் மையத்தில் நேரடியாக கற்றை பொருத்தவும் முடியும். பிந்தைய செயல்முறை மிகவும் குறுகிய அரை ஆயுளுடன் அதிக கவர்ச்சியான கருக்களை அளவிட அனுமதிக்கிறது. இந்த நிலையத்தில் லுக்ரெசியா டிஏஎஸ் ஆகும். இது φ = h = 38 செமீ (இதுவரை நம் அறிவுக்கு கட்டப்பட்ட மிகப்பெரியது) உருளை வடிவத்தில் உள்ள NaI (Tl) பொருளின் ஒரு துண்டால் ஆனது. இது 7,5 செமீ விட்டம் கொண்ட உருளை குழி கொண்டுள்ளது, இது அதன் சமச்சீர் அச்சுக்கு செங்குத்தாக செல்கிறது. இந்த துளையின் நோக்கம் பீம் குழாய் அளவீட்டு நிலையை அடைய அனுமதிப்பதாகும், இதனால் நாடா டிடெக்டரின் மையத்தில் வைக்கப்படலாம். இது டேப்பில் பொருத்தப்பட்ட செயல்பாட்டால் வெளிப்படும் பிற வகையான கதிர்வீச்சை அளவிடுவதற்கு எதிர் பக்கத்தில் துணை கண்டறிதல்களை வைக்க அனுமதிக்கிறது (x கதிர்கள், e−/e +, போன்றவை). இருப்பினும், இந்த துளை இருப்பது ஜிஎஸ்ஐ டிஏஎஸ் உடன் ஒப்பிடும்போது இந்த டிடெக்டரை குறைவான செயல்திறன் கொண்டதாக ஆக்குகிறது (லுக்ரெசியாவின் மொத்த செயல்திறன் 300 முதல் 3000 கேவி வரை 90 சதவீதம் ஆகும்). லுக்ரெசியாவின் ஒளி 8 ஒளி பெருக்கிகளால் சேகரிக்கப்படுகிறது. அளவீடுகளின் போது இரண்டாவது மற்றும் உயர் வரிசை குவியல் பங்களிப்புகளைத் தவிர்ப்பதற்காக லுக்ரெசியா 10 கிலோஹெர்ட்ஸ் க்கும் அதிகமாக இல்லாத மொத்த எண்ணிக்கை விகிதத்தில் அளவிடப்படுகிறது. டி. ஏ. எஸ்ஸைச் சுற்றி பாலிஎதிலீன், ஈயம், தாமிரம் மற்றும் அலுமினியம் ஆகிய நான்கு அடுக்குகளால் ஆன 19.2 செமீ தடிமனான ஒரு பாதுகாப்பு பெட்டி உள்ளது. இதன் நோக்கம் பெரும்பாலான வெளிப்புற கதிர்வீச்சை (நியூட்ரான்கள், அண்ட கதிர்கள் மற்றும் அறை பின்னணி) உறிஞ்சுவதாகும். மேலும் காண்க பாண்டெமோனியம் விளைவு சிண்டிலேஷன் கவுண்டர் குறிப்புகள் வெளிப்புற இணைப்புகள் ஆன்-லைன் ஐசோடோப் மாஸ் செபரேட்டர் சோதனை மண்டபம், அங்கு லுக்ரெசியா நிறுவப்பட்டுள்ளது. காமா ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி குழு, மொத்த உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி அளவீடுகளுக்கு அர்ப்பணிக்கப்பட்டுள்ளது. துகள் கண்டறிதல்கள் அணு இயற்பியல் ரேடியோஆக்டிவிட்டி சோதனை இயற்பியல்