Coherent microwave scattering
ஒத்திசைவான நுண்ணலை சிதறல் என்பது கிளாசிக்கல் மைக்ரோபிளாஸ்மாவின் குணாதிசயத்தில் பயன்படுத்தப்படும் ஒரு நோயறிதல் நுட்பமாகும். இந்த நுட்பத்தில், ஆய்வு செய்யப்பட வேண்டிய பிளாஸ்மா பிளாஸ்மாவின் சிறப்பியல்பு இடஞ்சார்ந்த பரிமாணங்களுடன் தொடர்புடைய நீண்ட அலைநீள மைக்ரோவேவ் புலத்துடன் கதிர்வீச்சு செய்யப்படுகிறது. போதுமான அளவு குறைந்த தோல் ஆழம் கொண்ட பிளாஸ்மாக்களுக்கு, இலக்கு அவ்வப்போது ஒரு சீரான பாணியில் துருவப்படுத்தப்படுகிறது, மேலும் சிதறிய புலத்தை அளவிடவும் பகுப்பாய்வு செய்யவும் முடியும். இந்த விஷயத்தில், உமிழப்படும் கதிர்வீச்சு அயனிகளைக் காட்டிலும் எலக்ட்ரான் பங்களிப்புகளால் முக்கியமாக தீர்மானிக்கப்படும் குறுகிய இருமுனையை ஒத்திருக்கிறது. சிதறல் அதற்கேற்ப ஆக்கபூர்வமான நெகிழ்ச்சி என்று குறிப்பிடப்படுகிறது. அளவிடப்பட்ட கதிர்வீச்சிலிருந்து மொத்த எலக்ட்ரான் எண்கள், எலக்ட்ரான் எண் அடர்த்திகள் (பிளாஸ்மா அளவு தெரிந்தால்), காந்தத்தால் தூண்டப்பட்ட டிபோலரைசேஷன் மூலம் உள்ளூர் காந்தப்புலங்கள் மற்றும் சிதறிய கட்டத்தின் மூலம் வேக பரிமாற்றத்திற்கான எலக்ட்ரான் மோதல் அதிர்வெண்கள் போன்ற பல்வேறு பண்புகளைப் பெறலாம். இந்த நுட்பத்தின் குறிப்பிடத்தக்க நன்மைகளில் உயர் உணர்திறன், மின்கடத்தா சிதறல் மாதிரியைப் பயன்படுத்தி அளவுத்திருத்தத்தின் எளிமை, நல்ல தற்காலிக தீர்மானம், குறைந்த ஷாட் சத்தம், ஊடுருவாத ஆய்வு, அதிர்வு-மேம்படுத்தப்பட்ட மல்டிஃபோட்டான் அயனியாக்கம் (ஆர். இ. எம். பி. ஐ) உடன் இணைந்தால் இனங்கள்-தேர்வு, ஒற்றை-ஷாட் கையகப்படுத்தல் மற்றும் தொடர்ச்சியான ஸ்கேனிங் காரணமாக நேர-கேட்டிங் திறன் ஆகியவை அடங்கும். ஆரம்பத்தில் பிரின்ஸ்டன் பல்கலைக்கழகத்தில் மைக்கேல் ஸ்னைடர் மற்றும் ரிச்சர்ட் மைல்ஸ் ஆகியோரால் வடிவமைக்கப்பட்ட வரலாறு, ஃபோட்டோ அயனியாக்கம் மற்றும் எலக்ட்ரான்-இழப்பு விகித அளவீடுகள் முதல் உயிரினங்களைக் கண்டறிதல், வாயு கலவை மற்றும் எதிர்வினை தன்மை, மூலக்கூறு ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி, எலக்ட்ரான் உந்துவிசை சாதன வகைப்பாடு, சிதறிய கட்டத்தின் வழியாக வேக பரிமாற்றத்திற்கான எலக்ட்ரான் மோதல் அதிர்வெண்களின் நிலைநிறுத்த அளவீடு மற்றும் காந்தத்தால் தூண்டப்பட்ட டிபோலரைசேஷன் மூலம் உள்ளூர் திசையன் காந்தப்புலங்களின் நிலைநிறுத்த அளவீடு வரையிலான பயன்பாடுகளில் ஒத்திசைவான நுண்ணலை சிதறல் ஒரு மதிப்புமிக்க நுட்பமாக மாறியுள்ளது. சிதறல் ஆட்சிகள் காந்த சிதைவு இல்லாத நிலையில் நேரியல்-துருவப்படுத்தப்பட்ட நுண்ணலை சிதறலின் எளிய உருவகத்திற்கு, சிதறல்களுக்கு இடையிலான தொடர்பு காரணமாக மூன்று ஆட்சிகள் ஏற்படலாம். தாம்சன் ஆட்சி என்பது சம்பவ நுண்ணலை புலத்துடன் கட்டத்திற்குள் ஊசலாடும் இலவச பிளாஸ்மா எலக்ட்ரான்களைக் குறிக்கிறது. ஒரு சுயாதீனமான எலக்ட்ரானின் மொத்த சிதறல் குறுக்குவெட்டு பின்னர் கிளாசிக்கல் தாம்சன் குறுக்குவெட்டுடன் ஒத்துப்போகிறது மற்றும் மைக்ரோவேவ் அலைநீளம் λ இலிருந்து சுயாதீனமாக உள்ளது. இரண்டாவதாக, ஸ்னைடர்-மைல்ஸ் சிதறல் (எஸ். எம்., பெரும்பாலும் மோதல் சிதறல் என்று குறிப்பிடப்படுகிறது) என்பது கதிர்வீச்சு புலத்தைப் பொறுத்தவரை 90 டிகிரி மாற்றப்பட்ட இடப்பெயர்ச்சி அலைவுகளுடன் மோதல் ஆதிக்கம் செலுத்தும் எலக்ட்ரான் இயக்கத்தைக் குறிக்கிறது. மொத்த சிதறல் குறுக்குவெட்டு அதற்கேற்ப ஒரு ω2 சார்புநிலையை வெளிப்படுத்துகிறது-துகள்களுக்கிடையேயான தொடர்புகள் மூலம் சாத்தியமான ஒரு தனித்துவமான ஆட்சி. இறுதியாக, ரேலே சிதறல் ஆட்சியைக் காணலாம், இது மீட்டெடுக்கும்-விசை-ஆதிக்கம் செலுத்தும் எலக்ட்ரான் இயக்கத்துடன் தொடர்புடையது மற்றும் அதன் அளவீட்டு துருவமுனைப்பு ஒளியியல் எதிர்ப்பாளருடன் ω4 சார்பைப் பகிர்ந்து கொள்கிறது. இந்த விஷயத்தில் "சிதறல் துகள்" என்பது முழு பிளாஸ்மா பொருளையும் குறிக்கிறது. எனவே, பிளாஸ்மா விரிவாக்கம் மை சிதறலை நோக்கி ஒரு மாற்றத்தை ஏற்படுத்தக்கூடும். ரேலே ஆட்சி என்பது கதிர்வீச்சின் இன்னும் பரந்த சிறிய-இருமுனை தோராயத்தை விட, இங்கே சிறிய துகள் ω4 சிதறலைக் குறிக்கிறது என்பதை நினைவில் கொள்க. குறிப்புகள் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி