Fingerprint Verification Competition
கைரேகை சரிபார்ப்பு போட்டி (எஃப். வி. சி) என்பது கைரேகை சரிபார்ப்பு வழிமுறைகளுக்கான ஒரு சர்வதேச போட்டியாகும், இது 2000 ஆம் ஆண்டில் பயோமெட்ரிக் சிஸ்டம் ஆய்வகம் (பொலோக்னா பல்கலைக்கழகம்), யு. எஸ். தேசிய பயோமெட்ரிக் சோதனை மையம் (சான் ஜோஸ் மாநில பல்கலைக்கழகம்) மற்றும் முறை அங்கீகாரம் மற்றும் பட செயலாக்க ஆய்வகம் (மிச்சிகன் மாநில பல்கலைக்கழகம்) ஆகியவற்றால் ஏற்பாடு செய்யப்பட்டது. முதல் பதிப்பின் (எஃப். வி. சி 2000) வெற்றிக்குப் பிறகு, ஒவ்வொரு இரண்டு வருடங்களுக்கும் மூன்று பதிப்புகள் (எஃப். வி. சி 2002, எஃப். வி. சி 2004 மற்றும் எஃப். வி. சி 2006) ஏற்பாடு செய்யப்பட்டன. இந்த நிகழ்வுகள் கல்வி மற்றும் தொழில்துறை பயோமெட்ரிக் சமூகங்களிடமிருந்து பெரும் கவனத்தை ஈர்த்தன. அவர்கள் ஒரு பொதுவான அளவுகோலை நிறுவினர், டெவலப்பர்கள் தங்கள் வழிமுறைகளை சந்தேகத்திற்கு இடமின்றி ஒப்பிட அனுமதித்தனர், மேலும் கைரேகை அங்கீகாரத்தில் அதிநவீனத்தைப் பற்றிய ஒரு கண்ணோட்டத்தை வழங்கினர். நான்காவது பதிப்பிற்குப் பிறகு, பயோமெட்ரிக்ஸ் சமூகத்தின் முந்தைய பதிப்புகளில் காட்டப்பட்ட ஆர்வம், கைரேகை சரிபார்ப்பு வழிமுறைகளுக்கு மட்டுமல்லாமல் ஒரு புதிய ஆன்லைன் மதிப்பீட்டு பிரச்சாரத்தை ஏற்பாடு செய்ய பயோமெட்ரிக் சிஸ்டம் ஆய்வகத்தை (போலோக்னா பல்கலைக்கழகம்) தூண்டியுள்ளதுஃ எஃப். வி. சி-ஆன் கோயிங். எஃப். வி. சி-ஆன் கோயிங், நன்கு அறியப்பட்ட செயல்திறன் குறிகாட்டிகள் மற்றும் அளவீடுகளைப் பயன்படுத்தி முடிவுகளைப் புகாரளிக்கும், வரிசைப்படுத்தப்பட்ட தரவுத்தொகுப்புகளின் தொகுப்பில் பயோமெட்ரிக் வழிமுறைகளின் வலை அடிப்படையிலான தானியங்கி மதிப்பீட்டை வழங்குகிறது. முந்தைய எஃப். வி. சி முன்முயற்சிகள் குறிப்பிட்ட அழைப்புகள் மற்றும் நிலையான காலக்கெடுவுடன் "போட்டிகளாக" ஏற்பாடு செய்யப்பட்டிருந்தாலும், எஃப். வி. சி-ஆன் கோயிங் என்பதுஃ புதிய பங்கேற்பாளர்களுக்கு எப்போதும் திறந்திருக்கும் ஒரு "தொடரும் போட்டி"; மதிப்பீட்டு அளவீடுகள் மற்றும் முடிவுகளின் வளர்ந்து வரும் ஆன்லைன் களஞ்சியம். குறிப்புகள் டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, ஆர். கேப்பெல்லி, ஜே. எல். வேமேன் மற்றும் ஏ. கே. ஜெயின், "எஃப். வி. சி 2000: கைரேகை சரிபார்ப்பு போட்டி", முறை பகுப்பாய்வு இயந்திர நுண்ணறிவு குறித்த ஐ. இ. இ. இ பரிவர்த்தனைகள், vol.24, எண். 3, pp.402-412, மார்ச் 2002. டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, ஆர். கேப்பெல்லி, ஜே. எல். வேமேன் மற்றும் ஏ. கே. ஜெயின், "எஃப். வி. சி. 2002: இரண்டாவது கைரேகை சரிபார்ப்பு போட்டி", நடைமுறைகளில் 16 வது சர்வதேச வடிவமைப்பு அங்கீகார மாநாடு (ஐ. சி. பி. ஆர். 2002), கியூபெக் சிட்டி, vol.3, pp.811-814, ஆகஸ்ட் 2002. டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, ஆர். கேப்பெல்லி, ஜே. எல். வேமேன் மற்றும் ஏ. கே. ஜெயின், "எஃப். வி. சி. 2004: மூன்றாம் கைரேகை சரிபார்ப்பு போட்டி", நடவடிக்கைகளில் பயோமெட்ரிக் அங்கீகாரம் குறித்த சர்வதேச மாநாடு (ஐ. சி. பி. ஏ. 04), ஹாங்காங், pp.1-7, ஜூலை 2004. ஆர். கேப்பெல்லி, டி. மாயோ மற்றும் டி. மால்டோனி, "கைரேகை அடிப்படையிலான பயோமெட்ரிக் அமைப்புகளின் தொழில்நுட்ப மதிப்பீடுகள்", 12 வது ஐரோப்பிய சிக்னல் செயலாக்க மாநாட்டில் (EUSIPCO2004), வியன்னா, ஆஸ்திரியா, pp.1405-1408, செப்டம்பர் 2004. டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, ஆர். கேப்பெல்லி, ஜே. எல். வேமேன் மற்றும் ஏ. கே. ஜெயின், "கைரேகை சரிபார்ப்பு வழிமுறைகளின் தொழில்நுட்ப மதிப்பீடு", ஜே. எல். வேமான், ஏ. கே. ஜெயின், டி. மால்டோனி, டி. மாயோ, பயோமெட்ரிக் சிஸ்டம்ஸ்-தொழில்நுட்பம், வடிவமைப்பு மற்றும் செயல்திறன் மதிப்பீடு, ஸ்ப்ரிங்கர், 2005. ஆர். கேப்பெல்லி, டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, ஜேஎல். வேமேன் மற்றும் ஏ. கே. ஜெயின், "கைரேகை சரிபார்ப்பு அமைப்புகளின் செயல்திறன் மதிப்பீடு", முறை பகுப்பாய்வு இயந்திர நுண்ணறிவு குறித்த IEEE பரிவர்த்தனைகள், vol.28, எண் 1, pp.3-18, ஜனவரி 2006. ஆர். கேப்பெல்லி, எம். ஃபெராரா, ஏ. பிராங்கோ மற்றும் டி. மால்டோனி, "கைரேகை சரிபார்ப்பு போட்டி 2006", பயோமெட்ரிக் டெக்னாலஜி டுடே, vol.15, no.7-8, pp.7-9, ஆகஸ்ட் 2007. டோரிஸி, ஆர். கேப்பெல்லி, எம். ஃபெராரா, டி. மாயோ, டி. மால்டோனி, என். ஹூமானி, எஸ். கார்சியா-சாலிசெட்டி மற்றும் ஏ. மாயோ, "கைரேகை மற்றும் ஆன்-லைன் கையொப்ப சரிபார்ப்பு போட்டிகள் ஐசிபி 2009 இல்", பயோமெட்ரிக்ஸ் (ஐசிபி) குறித்த சர்வதேச மாநாட்டில், அல்கெரோ, இத்தாலி, pp.725-732, ஜூன் 2009. வெளிப்புற இணைப்புகள் எஃப். வி. சி 2000 எஃப். வி. சி 2002 எஃப். வி. சி 2004 எஃப். வி. சி 2006 எஃப். வி. சி நடந்து வரும் பயோமெட்ரிக்ஸ் கைரேகைகள்