Z-HIT
இசட்-ஹிட், இசட்-ஹிட்-அல்காரிதம் அல்லது இசட்-ஹிட்-அப்ராக்ஸிமேஷன் என்றும் குறிக்கப்படுகிறது, இது இருதரப்பு கணித உறவாகும், இது எந்தவொரு சிக்கலான செயல்பாட்டின் இரண்டு பகுதிகளையும் இணைக்கிறது, அதாவது. உண்மையான மற்றும் கற்பனையான பகுதி. நடைமுறை மின்மறுப்பு அளவீடுகளைப் பொறுத்தவரை மற்றும் கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளுக்கு மாறாக, உண்மையான பகுதியை கற்பனையான பகுதியிலிருந்து (அல்லது நேர்மாறாகவும்) கணக்கிட முடியும், Z-HIT இல் மின்மறுப்பு மாடுலஸ் கட்ட கோணத்தின் போக்கில் கணக்கிடப்படுகிறது. கூடுதலாக, கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளைப் பயன்படுத்தி சிக்கலான செயல்பாட்டின் ஒரு கூறுகளை மற்றொன்றிலிருந்து கணக்கிடுவதற்கான கோண அதிர்வெண் (ω) எல்லைகள், ω = 0 மற்றும் ω = φ ஆகும்; இந்த எல்லைகளுக்கு அளவிடப்பட்ட மின்மறுப்பு நிறமாலையின் எக்ஸ்ட்ராபோலேஷன் நடைமுறைகள் தேவைப்படுகின்றன. இருப்பினும், ZHIT ஐப் பொறுத்தவரை, கட்ட மாற்றத்தின் போக்கில் இருந்து மின்மறுப்பு மாடுலஸின் போக்கைக் கணக்கிடுவது அளவிடப்பட்ட அதிர்வெண் வரம்பிற்குள், எக்ஸ்ட்ராபோலேஷன் தேவையில்லாமல் செய்யப்படலாம். மின்மறுப்பு நிறமாலையை வரையறுக்கப்பட்ட அதிர்வெண் வரம்பில் மட்டுமே அளவிட முடியும் என்பதிலிருந்து எழக்கூடிய சிக்கல்களை இது தவிர்க்கிறது. எனவே, Z-HIT-அல்காரிதம் அளவிடப்பட்ட சோதனை பொருளின் நிலைத்தன்மையை சரிபார்க்கவும், கட்டத் தரவைப் பயன்படுத்தி மின்மறுப்பு மதிப்புகளைக் கணக்கிடவும் அனுமதிக்கிறது. மின்மறுப்பு நிறமாலையில் சறுக்கல் விளைவுகள் இருக்கும்போது பிந்தைய பண்பு முக்கியமானது, இது நிறமாலையை பகுப்பாய்வு செய்யும் போது மற்றும்/அல்லது விளக்கும் போது கண்டறியப்பட வேண்டும் அல்லது அகற்றப்பட வேண்டும். Z-HIT இன் ஒரு முக்கியமான பயன்பாடு கலைப்பொருட்களுக்கான சோதனை மின்மறுப்பு நிறமாலையை ஆராய்வதாகும். அளவீட்டின் போது பரிசோதிக்கப்பட்ட பொருட்களின் மாற்றங்களுக்கு உட்படும் போக்கு காரணமாக EIS தொடர் அளவீடுகளின் பரிசோதனை பெரும்பாலும் கடினமாக உள்ளது. வெளியேற்றத்தின் போது எரிபொருள் செல்கள் அல்லது மின்கலன்களின் மதிப்பீடு போன்ற பல நிலையான EIS பயன்பாடுகளில் இது ஏற்படலாம். மேலும் எடுத்துக்காட்டுகளில் ஒளியின் கீழ் ஒளி-உணர்திறன் அமைப்புகளின் ஆய்வு அடங்கும் (எ. கா. ஒளி மின் வேதியியல்) அல்லது உலோக மேற்பரப்புகளில் அரக்கு நீர் உறிஞ்சும் பகுப்பாய்வு (எ. கா. அரிப்பு-பாதுகாப்பு). ஒரு நிலையற்ற அமைப்புக்கு ஒரு விளக்கமான எடுத்துக்காட்டு லித்தியம்-அயன் பேட்டரி ஆகும். சுழற்சி அல்லது வெளியேற்றத்தின் கீழ், பேட்டரியில் உள்ள சார்ஜ் அளவு காலப்போக்கில் மாறுகிறது. சார்ஜ் மாற்றம் ஒரு இரசாயன ரெடாக்ஸ் எதிர்வினையுடன் இணைக்கப்பட்டுள்ளது, இது சம்பந்தப்பட்ட பொருட்களின் செறிவுகளில் மாற்றத்திற்கு மாற்றப்படுகிறது. இது சரியான EIS அளவீடுகளுக்கான முன்நிபந்தனைகளான நிலைத்தன்மை மற்றும் காரணத்தன்மை ஆகியவற்றின் கொள்கைகளை மீறுகிறது. கோட்பாட்டில், இது சரியான மதிப்பீட்டில் இருந்து சறுக்கல் பாதிக்கப்பட்ட மாதிரிகளை விலக்கும். ZHIT-வழிமுறையைப் பயன்படுத்தி, இவை மற்றும் ஒத்த கலைப்பொருட்களை அடையாளம் காண முடியும் மற்றும் காரணத்தைப் பின்தொடரும் நிறமாலையை கூட புனரமைக்க முடியும், அவை கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளுடன் ஒத்துப்போகின்றன, இதன் மூலம் பகுப்பாய்விற்கு செல்லுபடியாகும். கணித சூத்திரம் Z-HIT என்பது ஹில்பர்ட் உருமாற்றத்தின் ஒரு சிறப்பு வழக்கு மற்றும் கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளின் கட்டுப்பாடு மூலம் இது ஒரு-துறைமுக-அமைப்புகளுக்கு பெறப்படலாம். மின்மறுப்பு மற்றும் கட்ட கோணத்திற்கு இடையிலான அதிர்வெண் சார்ந்த உறவை மின்மறுப்பு நிறமாலையின் போட் பிளாட்டில் காணலாம். சமன்பாடு (1) மின்மறுப்பு மாடுலஸ் மற்றும் கட்ட மாற்றத்திற்கு இடையிலான தொடர்பின் பொதுவான தீர்வாக பெறப்படுகிறது. சமன்பாடு (1) ஒரு குறிப்பிட்ட அதிர்வெண்ணில் மின்மறுப்பு () இன் மடக்கை () இன் நிலையான மதிப்பு வரை கணக்கிட முடியும் என்பதைக் குறிக்கிறது, கட்ட மாற்றம் வட்டி அதிர்வெண் புள்ளி வரை ஒருங்கிணைக்கப்பட்டால், அதே நேரத்தில் ஒருங்கிணைப்பின் தொடக்க மதிப்பு சுதந்திரமாக தேர்ந்தெடுக்கப்படலாம். கணக்கீட்டிற்கு ஒரு கூடுதல் பங்களிப்பாக, புள்ளியில் கட்ட மாற்றத்தின் ஒற்றைப்படை-எண் வழித்தோன்றல்கள் சேர்க்கப்பட வேண்டும், காரணிகளுடன் எடைபோடப்பட வேண்டும். காரணிகளை சமன்பாடு (2) இன் படி கணக்கிடலாம், இதில் ரீமன் ζ-செயல்பாட்டைக் குறிக்கிறது. நடைமுறையில் பயன்படுத்தப்படும் Z-HIT தோராயமானது சமன்பாடு (1) இலிருந்து உயர் வழித்தோன்றல்களை (சமன்பாடு (3)) புறக்கணித்து கட்ட மாற்றத்தின் முதல் வழித்தோன்றலுக்கு வரம்பிடுவதன் மூலம் பெறப்படுகிறது, இதில் C ஒரு மாறிலியைக் குறிக்கிறது. ZHIT வழிமுறையில் ஒருங்கிணைப்பு எல்லைகளின் இலவச தேர்வு கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளைப் பற்றிய ஒரு அடிப்படை வேறுபாடாகும்; ZHIT இல் ஒருங்கிணைப்பு எல்லைகள் und ஆகும். ZHIT இன் நன்மை என்னவென்றால், இரண்டு ஒருங்கிணைப்பு எல்லைகளும் அளவிடப்பட்ட நிறமாலைக்குள் தேர்ந்தெடுக்கப்படலாம், (உண்மையான) அதிர்வெண்கள் 0 மற்றும் அதற்கு எதிரான கிராமர்ஸ்-க்ரோனிக் உறவுகளைப் போல அல்ல, இதற்கு அமைப்பின் அதிர்வெண் நடத்தை தெளிவாக அறியப்படாத ஒரு எக்ஸ்ட்ராபோலேஷன் செயல்முறை தேவைப்படுகிறது. Z-HIT தோராயத்தின் நடைமுறை செயல்படுத்தல் படம் 1 இல் திட்டவட்டமாக காட்டப்பட்டுள்ளது. அளவிடப்பட்ட தரவு புள்ளிகளிலிருந்து மென்மையாக்குவதன் மூலம் (படம் (1 இல் பகுதி 1)) இரண்டு சுயாதீனமான அளவிடப்பட்ட அளவுகள் (மின்மறுப்பு மற்றும் கட்டம்) ஒவ்வொன்றிற்கும் ஒரு தொடர்ச்சியான வளைவு (ஸ்ப்லைன்) உருவாக்கப்படுகிறது. கட்ட மாற்றத்திற்கான ஸ்ப்லைனின் உதவியுடன், மின்மறுப்புக்கான மதிப்புகள் இப்போது கணக்கிடப்படுகின்றன. முதலாவதாக, கட்ட மாற்றத்தின் ஒருங்கிணைப்பு தொடர்புடைய அதிர்வெண் வரை கணக்கிடப்படுகிறது, அங்கு (பொருத்தமாக இருந்தால்) மிக உயர்ந்த அளவிடப்பட்ட அதிர்வெண் ஒருங்கிணைப்புக்கான தொடக்க புள்ளியாக தேர்ந்தெடுக்கப்படுகிறது-c. f. படம் (1) இல் பகுதி 2. கட்ட மாற்றத்தின் பிளவிலிருந்து, அதன் சாய்வை (படம் (1) இல் பகுதி 3) இல் கணக்கிடலாம். இதன் மூலம், மின்மறுப்பின் மறுசீரமைக்கப்பட்ட வளைவு பெறப்படுகிறது, இது (சிறந்த விஷயத்தில்) அளவிடப்பட்ட வளைவைப் பொறுத்தவரை இணையாக மட்டுமே மாற்றப்படுகிறது. Z-HIT சமன்பாட்டில் மாறிலி C ஐ தீர்மானிக்க பல சாத்தியக்கூறுகள் உள்ளன (படம் (1) இல் பகுதி 4), அவற்றில் ஒன்று கலைப்பொருட்களால் பாதிக்கப்படாத அதிர்வெண் வரம்பில் புனரமைக்கப்பட்ட மின்மறுப்பின் இணையான மாற்றத்தைக் கொண்டுள்ளது (குறிப்புகளைப் பார்க்கவும்). இந்த மாற்றம் ஒரு நேரியல் பின்னடைவு செயல்முறை மூலம் செய்யப்படுகிறது. இதன் விளைவாக மறுசீரமைக்கப்பட்ட மின்மறுப்பு வளைவை அளவிடப்பட்ட தரவுகளுடன் (அல்லது மின்மறுப்பின் பிளவுகளுடன்) ஒப்பிடுகையில், கலைப்பொருட்களை எளிதில் கண்டறிய முடியும். இவை பொதுவாக உயர் அதிர்வெண் வரம்பில் (தூண்டல் அல்லது பரஸ்பர தூண்டல் காரணமாக, குறிப்பாக குறைந்த மின்மறுப்பு அமைப்புகள் ஆராயப்படும்போது) அல்லது குறைந்த அதிர்வெண் வரம்பில் (அளவீட்டின் போது அமைப்பின் மாற்றத்தால் ஏற்படுகிறது (= சறுக்கல்)) அமைந்துள்ளன. குறிப்புகள் (அளவீட்டின் போது நேரத் தேவைகள்) ஒற்றை மின்மறுப்பு அளவீட்டு புள்ளிக்குத் தேவையான அளவீட்டு நேரம் வட்டியின் அதிர்வெண்ணைப் பொறுத்தது. சுமார் 1 ஹெர்ட்ஸுக்கு மேல் உள்ள அதிர்வெண்களை விநாடிகளுக்குள் அளவிட முடியும் என்றாலும், அளவீட்டு நேரம் குறைந்த அதிர்வெண் வரம்பில் அதிவேகமாக அதிகரிக்கிறது. ஒரு முழுமையான மின்மறுப்பு நிறமாலையை அளவிடுவதற்கான சரியான காலம் அளவீட்டு சாதனம் மற்றும் உள் அமைப்புகளைப் பொறுத்தது என்றாலும், அதிர்வெண் அளவீட்டு புள்ளிகளை தொடர்ச்சியாக அளவிடும்போது பின்வரும் அளவீட்டு நேரங்களை கட்டைவிரல் விதிகளாகக் கருதலாம், மேல் அதிர்வெண் 100 கிலோஹெர்ட்ஸ் அல்லது 1 மெகா ஹெர்ட்ஸ் என கருதப்படுகிறதுஃ தோராயமாக கீழே. 1 ஹெர்ட்ஸ், அளவீட்டு நேரம் தோராயமாக உள்ளது. 1 நிமிடம் கீழே 0.01 ஹெர்ட்ஸ் தோராயமாக. 5 நிமிடங்கள் கீழே 0.05 ஹெர்ட்ஸ் தோராயமாக. 10 நிமிடங்கள் கீழே 0.02 ஹெர்ட்ஸ் தோராயமாக. 15 நிமிடங்கள் கீழே 0.01 ஹெர்ட்ஸ் தோராயமாக. 30 நிமிடங்கள் 0.01 ஹெர்ட்ஸ் அல்லது அதற்குக் கீழே உள்ள அளவீடுகள் பொதுவாக பல மணிநேர வரம்பில் அளவீட்டு நேரங்களுடன் தொடர்புடையவை. எனவே, கலைப்பொருட்களின் நிகழ்வைப் பொறுத்தவரை ஒரு நிறமாலையை தோராயமாக மூன்று துணை வரம்புகளாகப் பிரிக்கலாம்ஃ உயர் அதிர்வெண் களத்தில் (தோராயமாக. > 100 முதல் 1000 ஹெர்ட்ஸ்), தூண்டல் அல்லது பரஸ்பர தூண்டல் ஆதிக்கம் செலுத்தலாம். குறைந்த அதிர்வெண் பகுதியில் (<1 ஹெர்ட்ஸ்), அமைப்பில் குறிப்பிடத்தக்க மாற்றம் காரணமாக சறுக்கல் ஏற்படலாம். சுமார் 1 ஹெர்ட்ஸ் மற்றும் 1000 ஹெர்ட்ஸ் இடையேயான வரம்பு பொதுவாக உயர் அல்லது குறைந்த அதிர்வெண் கலைப்பொருட்களால் பாதிக்கப்படுவதில்லை. இருப்பினும், மெயின்ஸ் அதிர்வெண் (50/60 Hz) இந்த பிராந்தியத்தில் சிதைக்கும் கலைப்பொருளாக செயல்படக்கூடும். குறிப்புகள் (பயன்பாட்டு நடைமுறை) கட்ட மாற்றத்திலிருந்து மின்மறுப்பை மறுசீரமைப்பதைத் தவிர, தலைகீழ் அணுகுமுறையும் சாத்தியமாகும். இருப்பினும், இங்கு வழங்கப்பட்ட செயல்முறை பல நன்மைகளைக் கொண்டுள்ளதுஃ மின்மறுப்பிலிருந்து கட்ட மாற்றத்தைக் கணக்கிடும்போது, கோண அதிர்வெண் ω இன் செயல்பாடு செயல்பாட்டிற்கு வருகிறது, இது சமன்பாடு (3) இல் உள்ள மாறிலி C உடன் ஒப்பிடும்போது தீர்மானிப்பது மிகவும் கடினம். பொதுவாக, கட்ட மாற்றம் மின்மறுப்பை விட நிலையானது. இது மின்மறுப்பு கூறுகளுக்கு (இன்னும் துல்லியமாகஃ நிலையான கட்ட உறுப்பு, CPE) மின்மறுப்பின் மதிப்பு கடுமையாக மாறினாலும் "கட்ட மாற்றம்" என்ற பண்பு நிலையாக உள்ளது என்ற உண்மையை அடிப்படையாகக் கொண்டது. இத்தகைய நிலையான கட்ட-கூறுகள் வழக்கமான மின்னணு கூறுகளாகும், அவற்றில் மின் மின்தடை, மின்தேக்கி மற்றும் சுருள் போன்றவை அடங்கும். எடுத்துக்காட்டுக்கு, படம் 2 அளவீட்டின் போது வெப்பமடையும் ஒரு என். டி. சி மின்தடையின் மின்மறுப்பு நிறமாலையைக் காட்டுகிறது (1 கிலோஹெர்ட்ஸ் முதல் 10 கிலோஹெர்ட்ஸ் வரை தொடங்கி குறைந்த அதிர்வெண்கள் வரை). மின்மறுப்பின் (சிவப்பு வளைவு) மதிப்பு வெப்பநிலையுடன் மாறுகிறது என்பதை தெளிவாகக் காணலாம், அதே நேரத்தில் கட்ட மாற்றம் (நீல வளைவு) நிலையாக உள்ளது. வேறு வார்த்தைகளில் கூறுவதானால், "ஒரு மின்தடை ஒரு மின்தடையாகவே உள்ளது". கட்ட மாற்றத்திலிருந்து மின்மறுப்பை மறுசீரமைப்பது இந்த இரண்டு அளவுகளுக்கும் இடையிலான "உள் (= சிக்கலான)" உறவை மேலும் மீட்டெடுக்கிறது. மின்மறுப்பு மற்றும் கட்டத்திற்கான துணைப் புள்ளி ஸ்ப்லைன்களின் சுயாதீனமான கட்டுமானத்தால் இந்த உறவு இழக்கப்படுகிறது (படம் 1). விசாரணையின் கீழ் உள்ள அமைப்பைப் பொறுத்து, இந்த மீட்டெடுக்கப்பட்ட தொடர்பு-கலைப்பொருட்கள் இல்லாவிட்டாலும் கூட-ஸ்பெக்ட்ராவின் மேம்பட்ட மதிப்பீட்டிற்கு வழிவகுக்கும். இத்தகைய சந்தர்ப்பங்களில், சிக்கலான மின்மறுப்பின் புனரமைப்பின் காரணமாக துல்லியத்தின் ஆதாயம் சமன்பாடு (3) இன் படி தோராயமான பிழையை விட அதிகமாக உள்ளது, இது உயர் வழித்தோன்றல்களின் எதிர்மறையின் விளைவாகும். பயன்பாடுகள் படம் 3 நீர் உறிஞ்சும் போது வர்ணம் பூசப்பட்ட எஃகு மாதிரியின் அளவீட்டுத் தொடரின் மின்மறுப்பு நிறமாலையைக் காட்டுகிறது (படம் 3 இல் மேல் பகுதி). வரைபடத்தில் உள்ள குறியீடுகள் அளவீட்டின் இடைக்கணிப்பு புள்ளிகளை (முனைகள்) குறிக்கின்றன, அதே நேரத்தில் திடமான கோடுகள் பொருத்தமான மாதிரியின் படி உருவகப்படுத்தப்பட்ட தத்துவார்த்த மதிப்புகளைக் குறிக்கின்றன. மின்மறுப்புக்கான இடைக்கணிப்பு புள்ளிகள் கட்ட மாற்றத்தின் Z-HIT புனரமைப்பால் பெறப்பட்டன. படம் 3 இன் கீழ் பகுதி மின்மறுப்பின் இயல்பாக்கப்பட்ட பிழையை (ZZHIT − Zsmoth)/ZZHIT · 100 ஐ சித்தரிக்கிறது. பிழைக் கணக்கீட்டிற்கு, "எக்ஸ்ட்ராபோலேட்டட் மின்மறுப்பு மதிப்புகளை" தீர்மானிக்க இரண்டு வெவ்வேறு நடைமுறைகள் பயன்படுத்தப்படுகின்றனஃ "எக்ஸ்ட்ராபோலேட்டட் மின்மறுப்பு மதிப்புகள்" மின்மறுப்பின் (மெஜந்தா) "ஸ்ப்ளைன்ட் (= இசட்ஸ்மூத்)" தரவுகளிலிருந்து கணக்கிடப்படலாம், மின்மறுப்பு மதிப்புகள் (நீலம்) கட்ட மாற்றத்தின் ஸ்ப்லைனைப் பயன்படுத்தி இசட்-ஹிட் (= இசட்-ஹிட்) மூலம் மறுகட்டமைக்கப்படலாம். தொடர்புடைய எஞ்சியவை கணக்கிடப்பட்டு படம் (3) இல் உள்ள வரைபடத்தின் கீழ் பகுதியில் சித்தரிக்கப்பட்டுள்ளன. குறிப்புஃ படம் (3) இல் உள்ள மெஜந்தா கீழ் வரைபடத்தில் காட்டப்பட்டுள்ளபடி பிழை வடிவங்கள் பொருத்துதல் பிழையைக் குறைக்க கூடுதல் கூறுகளால் ஏற்கனவே உள்ள மாதிரியை நீட்டிக்க உந்துதலாக இருக்கலாம். இருப்பினும், இது எல்லா சந்தர்ப்பங்களிலும் சாத்தியமில்லை. மின்மறுப்பு நிறமாலையில் உள்ள சறுக்கல் முக்கியமாக அளவீட்டின் போது மாறிவரும் அமைப்பின் மூலம் குறைந்த அதிர்வெண் பகுதியை பாதிக்கிறது. படம் 3 இல் உள்ள ஸ்பெக்ட்ரம் அரக்கு துளைகளில் நீர் ஊடுருவுவதால் ஏற்படுகிறது, இது பூச்சுகளின் மின்மறுப்பை (எதிர்ப்பு) குறைக்கிறது. எனவே, ஒவ்வொரு குறைந்த அதிர்வெண் அளவீட்டு புள்ளியிலும் பூச்சு எதிர்ப்பானது நீர் உறிஞ்சுதல் காரணமாக மேலும் சிறிய எதிர்ப்பால் மாற்றப்பட்டது போல் அமைப்பு செயல்படுகிறது. இருப்பினும், அத்தகைய நடத்தையை வெளிப்படுத்தும் மின்மறுப்பு உறுப்பு எதுவும் இல்லை. எனவே, மாதிரியின் எந்த நீட்டிப்பும் பிழையைக் குறைக்காமல் ஒரு பரந்த அதிர்வெண் வரம்பில் பிழையின் "ஸ்மியரிங்" மட்டுமே விளைவிக்கும். Z-HIT ஐப் பயன்படுத்தி மின்மறுப்பை மறுசீரமைப்பதன் மூலம் சறுக்கலை அகற்றுவது மட்டுமே அளவீட்டிற்கும் மாதிரிக்கும் இடையில் கணிசமாக சிறந்த பொருந்தக்கூடிய தன்மைக்கு வழிவகுக்கிறது. படம் 4 ஒரு மின்மறுப்பு தொடர் அளவீட்டின் ஒரு போட் பிளாட்டைக் காட்டுகிறது, இது ஒரு எரிபொருள் கலத்தில் நிகழ்த்தப்படுகிறது, அங்கு எரிபொருள் வாயுவின் ஹைட்ரஜன் கார்பன் மோனாக்சைடு சேர்ப்பதன் மூலம் வேண்டுமென்றே விஷம் பூசப்பட்டது. நச்சு காரணமாக, பிளாட்டினம் வினையூக்கியின் செயலில் உள்ள மையங்கள் தடுக்கப்படுகின்றன, இது எரிபொருள் கலத்தின் செயல்திறனை கடுமையாக பாதிக்கிறது. இதன் மூலம், வினையூக்கியைத் தடுப்பது ஆற்றலைப் பொறுத்தது, இதன் விளைவாக உயிரணுக்குள் உள்ள வினையூக்கி மேற்பரப்பில் கார்பன் மோனாக்சைடு மாறி மாறி உறிஞ்சப்படுகிறது மற்றும் உறிஞ்சப்படுகிறது. செயலில் உள்ள வினையூக்கி மேற்பரப்பின் இந்த சுழற்சி மாற்றம் போலி-தூண்டல் நடத்தைக்கு மொழிபெயர்க்கப்பட்டுள்ளது, இது படம் 4 இன் மின்மறுப்பு நிறமாலையில் குறைந்த அதிர்வெண்களில் (<3 ஹெர்ட்ஸ்) காணலாம். மின்மறுப்பு வளைவு Z-HIT ஆல் புனரமைக்கப்பட்டது மற்றும் ஊதா கோடு மூலம் குறிக்கப்படுகிறது, அதே நேரத்தில் முதலில் அளவிடப்பட்ட மதிப்புகள் நீல வட்டங்களால் குறிக்கப்படுகின்றன. அளவீட்டின் குறைந்த அதிர்வெண் பகுதியில் உள்ள விலகல்களை தெளிவாகக் காணலாம். அசல் தரவுகளுக்குப் பதிலாக புனரமைக்கப்பட்ட Z-HIT மின்மறுப்புகள் பயன்படுத்தப்பட்டால், ஸ்பெக்ட்ராவின் மதிப்பீடு மாதிரி மற்றும் அளவீட்டிற்கு இடையே குறிப்பிடத்தக்க சிறந்த உடன்பாட்டைக் காட்டுகிறது. குறிப்புகள் அசல் படைப்புஃ டபிள்யூ. எம், ஆர். கவுஸ், சி. ஏ. ஷில்லர், டபிள்யூ. ஸ்ட்ரன்ஸ்ஃ இசட்-ஹிட்-மின்மறுப்பு மாடுலஸ் மற்றும் கட்ட கோணத்திற்கு இடையிலான எளிய உறவு. எலக்ட்ரோ கெமிக்கல் இம்பிடன்ஸ் ஸ்பெக்ட்ராவின் சரிபார்ப்புக்கு ஒரு புதிய வழியை வழங்குதல். இல்ஃ எஃப். மான்ஸ்ஃபீல்ட், எஃப். ஹியூட், ஓ. ஆர். மேட்டோஸ் (எச்ஆர்எஸ்ஜி. ): எலக்ட்ரோ கெமிக்கல் இம்பிடன்ஸ் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி மற்றும் எலக்ட்ரோ கெமிக்கல் சத்தம் பகுப்பாய்வில் புதிய போக்குகள். எலக்ட்ரோ கெமிக்கல் சொசைட்டி இன்க்., பென்னிங்டன், என். ஜே., 2001, தொகுதி. 2000-24, S. 1-10. ஆண்ட்ரேஜ் லாஸியாஃ இசட்-ஹிட் டிரான்ஸ்ஃபார்ம். இல்ஃ எலக்ட்ரோகெமிக்கல் இம்பிடன்ஸ் ஸ்பெக்ட்ரோஸ்கோபி மற்றும் அதன் பயன்பாடு. ஸ்ப்ரிங்கர் நியூயார்க் ஹைடெல்பெர்க் டோர்ட்ரெக்ட் லண்டன், 2014, எஸ். 299. குறிப்புகள் மின் வேதியியல்