Strain scanning
भौतिकी में, तनाव स्कैनिंग विभिन्न तकनीकों का सामान्य नाम है जिसका उद्देश्य एक्स-रे और न्यूट्रॉन के विवर्तन पर इसके प्रभाव के माध्यम से एक क्रिस्टलीय सामग्री में तनाव को मापना है। इन विधियों में सामग्री का उपयोग स्वयं स्ट्रेन गेज के रूप में किया जाता है। विभिन्न विधियों को पाउडर विवर्तन से प्राप्त किया जाता है लेकिन विवर्तन स्पेक्ट्रम में छोटे बदलावों की तलाश करें जो अज्ञात संरचनात्मक जानकारी प्राप्त करने की कोशिश करने के बजाय जाली पैरामीटर में परिवर्तन का संकेत देते हैं। जाली पैरामीटर की तुलना एक ज्ञात संदर्भ मूल्य से करके इसका निर्धारण करना संभव है। यदि विभिन्न दिशाओं में पर्याप्त माप किए जाते हैं तो तनाव टेंसर प्राप्त करना संभव है। यदि सामग्री के लोचदार गुण ज्ञात हैं, तो तनाव टेंसर की गणना की जा सकती है। सिद्धांत अपने सबसे बुनियादी स्तर पर स्ट्रेन स्कैनिंग स्ट्रेन को निर्धारित करने के लिए ब्रैग विवर्तन शिखरों में बदलाव का उपयोग करता है। तनाव को लंबाई में परिवर्तन (जाली पैरामीटर में बदलाव, डी) मूल लंबाई (अनियंत्रित जाली पैरामीटर, डी0) से विभाजित के रूप में परिभाषित किया गया है। विवर्तन आधारित तनाव स्कैनिंग में यह मूल स्थिति से विभाजित शिखर स्थिति में परिवर्तन बन जाता है। सटीक समीकरण को विवर्तन कोण, ऊर्जा, या-अपेक्षाकृत धीमी गति से चलने वाले न्यूट्रॉन के लिए-उड़ान के समय के संदर्भ में प्रस्तुत किया जाता हैः विधियाँ तकनीक का विवरण प्रयोग किए जाने वाले विकिरण के प्रकार से बहुत अधिक प्रभावित होता है क्योंकि प्रयोगशाला एक्स-रे, सिंक्रोट्रॉन एक्स-रे और न्यूट्रॉन में बहुत अलग गुण होते हैं। फिर भी, विभिन्न विधियों के बीच काफी ओवरलैप है। संदर्भ विवर्तन विरूपण (यांत्रिकी)