Nicolson–Ross–Weir method
निकोलसन-रॉस-वेयर विधि सूक्ष्म तरंग आवृत्तियों के लिए सामग्री के नमूनों की जटिल पारगम्यताओं और पारगम्यताओं के निर्धारण के लिए एक माप तकनीक है। विधि एक वेवगाइड के अंदर एक ज्ञात मोटाई के साथ एक सामग्री के नमूने के सम्मिलन पर आधारित है, जैसे कि एक समाक्षीय केबल या एक आयताकार वेवगाइड, जिसके बाद परिणामी प्रकीर्णन मापदंडों से फैलाव डेटा निकाला जाता है। विधि का नाम ए. एम. निकोलसन और जी. एफ. रॉस और डब्ल्यू. बी. वीर के नाम पर रखा गया है, जिन्होंने क्रमशः 1970 और 1974 में दृष्टिकोण विकसित किया था। तकनीक माइक्रोवेव इंजीनियरिंग में सामग्री लक्षण वर्णन के लिए सबसे आम प्रक्रियाओं में से एक है। विधि एक वेवगाइड में एम्बेडेड सामग्री के नमूने के स्कैटरिंग मापदंडों का उपयोग करती है, अर्थात्, पारगम्यता और पारगम्यता डेटा की गणना करने के लिए। और नमूने के संचयी परावर्तन और संचरण गुणांक के अनुरूप जो क्रमशः प्रत्येक नमूने के अंत में संदर्भित होते हैंः ये मापदंड नमूने के अंदर कई आंतरिक परावर्तनों के लिए जिम्मेदार होते हैं, जिनकी मोटाई माना जाता है। थोक नमूने का परावर्तन गुणांक हैः जहाँ परावर्तन गुणांक के लिए मूल का संकेत इसकी निष्क्रियता () सुनिश्चित करने के लिए उचित रूप से चुना जाता है। इसी तरह, थोक नमूने के संचरण गुणांक को इस प्रकार लिखा जा सकता हैः इस प्रकार, सामग्री की प्रभावी पारगम्यता () और पारगम्यता () को इस प्रकार लिखा जा सकता हैः मुक्त-स्थान तरंग दैर्ध्य कहाँ और कहाँ है। अपूर्ण संचरण लाइन की निर्देशित मोड तरंग दैर्ध्य है। अपूर्ण संचरण रेखा की कटऑफ तरंग दैर्ध्य है जटिल लघुगणक की शाखाओं के कारण अनंत संख्या में समाधानों को स्वीकार करने के लिए संरचनात्मक संबंध। इसके परिणाम के बारे में अस्पष्टता को समूह की देरी को ध्यान में रखते हुए हल किया जा सकता है। सीमाएँ और विस्तार कम सामग्री हानि के मामले में, निकोलसन-रॉस-वेयर विधि अनुनाद घटना के कारण एक आधे तरंग दैर्ध्य के पूर्णांक गुणकों पर नमूना मोटाई के लिए अस्थिर होने के लिए जानी जाती है। इस प्रभाव को कम करने के लिए इंजीनियरिंग साहित्य में मानक एल्गोरिदम में सुधार प्रस्तुत किए गए हैं। इसके अलावा, नमूना सामग्री के साथ एक वेवगाइड को पूरी तरह से भरना एक विशेष चुनौती पेश कर सकता हैः वेवगाइड खंड को भरने के दौरान अंतराल की उपस्थिति उच्च-क्रम मोड को उत्तेजित करेगी, जिससे स्कैटरिंग पैरामीटर परिणामों में त्रुटियां हो सकती हैं। ऐसे मामलों में, आंशिक रूप से भरे हुए वेवगाइड या अनुकूलन विधियों के कठोर मोडल विश्लेषण के आधार पर अधिक उन्नत विधियों का उपयोग किया जा सकता है। एकल-बंदरगाह माप के लिए विधि में संशोधन की भी सूचना दी गई थी। सजातीय पदार्थों के अलावा, समस्थानिक और द्वस्थानिक समस्थानिकों के संरचनात्मक मापदंडों को प्राप्त करने के लिए विधि का विस्तार विकसित किया गया था। फ़ोरियर-ट्रांसफ़ॉर्म स्पेक्ट्रोस्कोपी माइक्रोवेव रेडियोमीटर रिफ्लेक्शन सीस्मोलॉजी स्पेक्ट्रोस्कोपी टाइम-डोमेन रिफ्लेक्टोमीटर वेक्टर नेटवर्क विश्लेषक संदर्भ आगे पढ़ने के लिए माइक्रोवेव प्रौद्योगिकी स्पेक्ट्रोस्कोपी पदार्थ में विद्युत और चुंबकीय क्षेत्र