Correlated double sampling
सहसंबद्ध दोहरा नमूनाकरण (सी. डी. एस.) विद्युत मूल्यों जैसे वोल्टेज या धाराओं को मापने की एक विधि है जो एक अवांछित ऑफसेट को हटाने की अनुमति देती है। इसका उपयोग अक्सर संवेदक आउटपुट को मापते समय किया जाता है। संवेदक के उत्पादन को दो बार मापा जाता हैः एक बार ज्ञात स्थिति में और एक बार अज्ञात स्थिति में। ज्ञात स्थिति से मापा गया मान तब मापा जा रहा भौतिक मात्रा के ज्ञात संबंध के साथ एक मूल्य उत्पन्न करने के लिए अज्ञात स्थिति से घटाया जाता है। यह आमतौर पर स्विच्ड-कैपेसिटर ऑपरेशनल एम्पलीफायरों में उपयोग किया जाता है ताकि एक अतिरिक्त चरण को जोड़ते हुए चार्ज शेयरिंग ओपैम्प के लाभ को प्रभावी ढंग से दोगुना किया जा सके। जब इमेजर में उपयोग किया जाता है, तो सहसंबद्ध दोहरा नमूनाकरण एक शोर कम करने की तकनीक है जिसमें पिक्सेल के संदर्भ वोल्टेज (यानी, इसे रीसेट करने के बाद पिक्सेल का वोल्टेज) को प्रत्येक एकीकरण अवधि के अंत में पिक्सेल के संकेत वोल्टेज (यानी एकीकरण के अंत में पिक्सेल का वोल्टेज) से घटाया जाता है, ताकि केटीसी शोर (संवेदक के धारिता से जुड़े तापीय शोर) को रद्द किया जा सके। डार्क-फ्रेम घटाव संदर्भ बिजली मापन छवि शोर कम करने की तकनीकें भी देखें।