Near-field scanner
विद्युत चुम्बकीय निकट-क्षेत्र स्कैनर (एन. एफ. एस.) एक माप प्रणाली है जो परीक्षण के तहत एक उपकरण के निकट-क्षेत्र क्षेत्र में प्राप्त एकल या कई क्षेत्र जांचों द्वारा प्रदान की गई विद्युत मात्रा के स्थानिक वितरण को निर्धारित करने के लिए संभवतः संबंधित संख्यात्मक पोस्ट-प्रोसेसिंग विधियों के साथ मापी गई मात्रा को विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र में परिवर्तित करने में सक्षम बनाती है। जांच संकेत का पता लगाने वाले संकेत प्राप्तकर्ता के आधार पर, समय या आवृत्ति के कार्य के रूप में वोल्टेज एक विशिष्ट मापी गई मात्रा है। यह रेखांकित किया जाना चाहिए कि चूंकि डी. यू. टी. को जानबूझकर या अनजाने में विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र ऊर्जा का विकिरण या भंडारण करने वाली कोई भी वस्तु माना जा सकता है, उदाहरण के लिए। एंटीना विकिरण अपनी अनुनाद आवृत्ति से परे उत्तेजित होता है। वोल्टेज पैटर्न को आमतौर पर समतल, बेलनाकार या गोलाकार ज्यामितीय सतहों पर स्थानिक नमूनों की एक सीमित संख्या के संग्रह के रूप में मैप किया जाता है। एंटीना नियर-फील्ड स्कैनर पहला स्कैनर 1950 के दशक में माइक्रोवेव एंटीना के सामने जांच संकेत भिन्नताओं को मैप करने के लिए बनाया गया था। एक दूर-क्षेत्र विकिरण पैटर्न का निर्धारण निकट-क्षेत्र स्कैनरों के एंटीना के प्राथमिक अनुप्रयोग का गठन करता है। इस नवीन तकनीक ने एक इनडोर, नियंत्रित और सभी मौसम क्षमता वातावरण में उच्च लाभ, विद्युत रूप से बड़े एंटेना या एंटीना सरणी (लाभ> 20 डीबीआई, व्यास> 5λ) के माप के लिए पारंपरिक खुले क्षेत्र परीक्षण स्थलों के लिए एक आकर्षक विकल्प प्रदान किया। निकट-क्षेत्र मापों की अच्छी तरह से मान्यता प्राप्त और विश्लेषण की गई त्रुटियों में, परीक्षण के तहत एक एंटीना (ए. यू. टी.) और एक विद्युत चुम्बकीय रूप से गैर-पारदर्शी क्षेत्र का पता लगाने वाली प्रणाली (स्कैटरर) के बीच कई प्रतिबिंब सबसे अधिक योगदान देने वाली त्रुटियों से संबंधित हैं जब ए. यू. टी. का उच्च लाभ होता है। इसलिए, स्कैनिंग सतह को ए. यू. टी. के प्रतिक्रियाशील निकट-क्षेत्र क्षेत्र के बाहर स्थित होने की सिफारिश की जाती है। ई. एम. आई. नियर-फील्ड स्कैनर ई. एम. आई. अनुप्रयोगों में, स्कैनर प्रणाली का मुख्य ध्यान परीक्षण के तहत एक उपकरण, डी. यू. टी. में वितरित वास्तविक विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप (ई. एम. आई.) स्रोतों का पता लगाने पर होता है। तदनुसार, स्कैनिंग सतह डी. यू. टी. के अत्यधिक प्रतिक्रियाशील क्षेत्र में स्थित है ताकि विद्युत आवेशों और वर्तमान सतह घनत्वों का सटीक स्थानिक स्थानीयकरण सीधे जांच संकेतों के मानचित्रित पैटर्न से किया जा सके। आमतौर पर स्कैनिंग सतह और डी. यू. टी. के बीच का अलगाव डी. यू. टी. के सबसे बड़े भौतिक आयाम की तुलना में बहुत छोटा होता है। पी. सी. बी. की स्कैनिंग के लिए विशिष्ट दूरी 1 मि. मी. और डाई स्तर पर इंटीग्रेटेड सर्किट की स्कैनिंग के लिए 30 माइक्रोन है। आवृत्ति क्षेत्र में क्षेत्र उत्सर्जन को जल्दी से स्थानीयकृत करने के लिए, तेजी से फूरियर परिवर्तन पर आधारित संकेत प्रसंस्करण के साथ समय क्षेत्र का पता लगाने की तकनीकों को नियोजित किया जा सकता है, जैसे। सिग्नल रिसीवर के रूप में डिजिटल भंडारण ऑसिलोस्कोप का उपयोग करना। आगे पढ़ने के लिए संदर्भ मापने वाले उपकरण विद्युत चुम्बकीय विकिरण मीटर