Photon-Induced Near-field Electron Microscopy
फोटॉन-प्रेरित नियर-फील्ड इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (पिनम) अल्ट्राफास्ट ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी तकनीक का एक प्रकार है और यह एक सतह या नैनोस्ट्रक्चर की उपस्थिति में इलेक्ट्रॉनों और फोटॉनों के बीच अस्थिर युग्मन पर आधारित है। यह विधि एक इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी में समय-परिवर्तनशील नैनोस्केल विद्युत चुम्बकीय क्षेत्रों की जांच करने की अनुमति देती है। दृश्य प्रकाश के लिए, इलेक्ट्रॉनों और प्रकाश के बीच इस तरह के अस्थिर युग्मन, अर्थात। मुक्त स्थान (निर्वात) में फोटॉनों का प्रत्यक्ष अवशोषण या उत्सर्जन निषिद्ध है क्योंकि ऊर्जा और संवेग दोनों का एक साथ संरक्षण करना संभव नहीं है। इस बाधा को तब दरकिनार किया जा सकता है जब प्रकाश के परावर्तित होने या सतह या नैनोस्ट्रक्चर से बिखरे होने के परिणामस्वरूप फोटॉन संवेग को बढ़ाया जाता है। यह प्रक्रिया तब एक व्यापक संवेग वितरण के साथ अप्रत्यक्ष रूप से सीमित निकट-क्षेत्रों को उत्पन्न करेगी, जो एक नैनोकंफाइन स्थान में उच्च तीव्रता तक पहुंच जाएगी और इस प्रकार इलेक्ट्रॉन-प्रकाश युग्मन के क्रॉस सेक्शन को भी बढ़ावा देगी। सैद्धांतिक रूप से, इस घटना का विश्लेषणात्मक विवरण पार्क एट अल, गार्सिया डी अबाजो एट अल द्वारा प्रदान किया गया है। और फीस्ट एट अल। इन कार्यों में लेखकों ने प्रदर्शित किया कि इलेक्ट्रॉन-प्रकाश अंतःक्रिया की ताकत इलेक्ट्रॉन प्रसार दिशा के साथ विद्युत क्षेत्र प्रक्षेपण के लिए रैखिक युग्मन पर निर्भर करती है। विशेष रूप से, फीस्ट एट अल। प्रायोगिक रूप से यह भी प्रदर्शित किया गया कि अंतःक्रिया प्रक्रिया के परिणामस्वरूप इलेक्ट्रॉन तरंग पैकेट का एक सुसंगत वर्णक्रमीय पुनर्वितरण होता है जो एक बहु-स्तरीय क्वांटम सीढ़ी के रबी दोलनों का उत्पादन करता है जिसमें अवस्थाएँ फोटॉन ऊर्जा द्वारा अलग की जाती हैं। फोटोनिक्स अनुप्रयोग के लिए विशेष रूप से आकर्षक तथ्य यह है कि इस तरह की अस्थिर प्रकीर्णन प्रक्रिया के अधीन इलेक्ट्रॉनों के वर्णक्रमीय, स्थानिक और संवेग वितरण इलेक्ट्रॉन-प्रकाश युग्मन की मध्यस्थता करने वाले निकट-क्षेत्र वितरण के साथ सख्ती से सहसंबद्ध हैं। इस प्रकार बाद वाले को अल्ट्राफास्ट इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी विधियों के साथ अंतरिक्ष और समय में मैप किया जा सकता है, जो नैनोस्ट्रक्चर में और उसके आसपास नैनोस्केल क्षेत्रों की फेमटोसेकंड फिल्में प्रदान करता है। अधिक दिलचस्प रूप से, पिनम विधि का उपयोग उपयुक्त रूप से तैयार विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र विन्यास का उपयोग करके इलेक्ट्रॉन बीम के तरंग गुणों को गतिशील रूप से हेरफेर करने के लिए भी किया जा सकता है। इस तरह से, कोई भी अनुदैर्ध्य और अनुप्रस्थ दोनों दिशाओं के साथ इलेक्ट्रॉन किरण के आयाम और चरण को सुसंगत रूप से संशोधित कर सकता है। यह भी देखें संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी इलेक्ट्रॉन ऊर्जा हानि स्पेक्ट्रोस्कोपी (ई. ई. एल. एस.) ऊर्जा फ़िल्टर संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी (ई. एफ. टी. ई. एम.) संदर्भ इलेक्ट्रॉन किरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी तकनीक वैज्ञानिक तकनीक क्वांटम इलेक्ट्रोडायनामिक्स फोटोनिक्स