Electron magnetic circular dichroism
इलेक्ट्रॉन मैग्नेटिक सर्कुलर डाइक्रोइज्म (ई. एम. सी. डी.) (जिसे इलेक्ट्रॉन ऊर्जा-हानि चुंबकीय कायरल डाइक्रोइज्म के रूप में भी जाना जाता है) एक्स. एम. सी. डी. के बराबर ई. ई. एल. एस. है। प्रभाव को पहली बार 2003 में प्रस्तावित किया गया था और 2006 में वियना प्रौद्योगिकी विश्वविद्यालय में प्रो. पीटर स्कैट्श्नाइडर के समूह द्वारा प्रयोगात्मक रूप से पुष्टि की गई थी। इसी तरह एक्स. एम. सी. डी. के लिए, ई. एम. सी. डी. दो ई. ई. एल. एस. स्पेक्ट्रा का एक अंतर स्पेक्ट्रम है जो एक चुंबकीय क्षेत्र में विपरीत हेलिसिटी के साथ लिया जाता है। उपयुक्त प्रकीर्णन स्थितियों में विशिष्ट गोलाकार ध्रुवीकरण वाले आभासी फोटॉनों को अवशोषित किया जा सकता है, जिससे वर्णक्रमीय अंतर पैदा होते हैं। सबसे बड़ा अंतर उस मामले के बीच अपेक्षित है जहां बाएं गोलाकार ध्रुवीकरण के साथ एक आभासी फोटॉन और दाएं गोलाकार ध्रुवीकरण के साथ एक अवशोषित होता है। ई. एम. सी. डी. स्पेक्ट्रम में अंतर का बारीकी से विश्लेषण करके, परमाणु के चुंबकीय गुणों पर जानकारी प्राप्त की जा सकती है, जैसे कि इसका स्पिन और कक्षीय चुंबकीय क्षण। लोहा, कोबाल्ट और निकल जैसी संक्रमण धातुओं के मामले में, ई. एम. सी. डी. के लिए अवशोषण स्पेक्ट्रा को आमतौर पर एल-एज पर मापा जाता है। यह आयनीकरण ऊर्जा प्रदान करने वाले आभासी फोटॉन के अवशोषण द्वारा 2p इलेक्ट्रॉन के 3d अवस्था में उत्तेजना के अनुरूप है। अवशोषण इलेक्ट्रॉन ऊर्जा हानि वर्णक्रम (ई. ई. एल. एस.) में एक वर्णक्रमीय विशेषता के रूप में दिखाई देता है। चूँकि 3डी इलेक्ट्रॉन अवस्थाएँ तत्वों के चुंबकीय गुणों की उत्पत्ति हैं, इसलिए स्पेक्ट्रा में चुंबकीय गुणों के बारे में जानकारी होती है। इसके अलावा, चूंकि प्रत्येक संक्रमण की ऊर्जा परमाणु संख्या पर निर्भर करती है, इसलिए प्राप्त जानकारी तत्व विशिष्ट है, यानी, किसी दिए गए तत्व के चुंबकीय गुणों को उसकी विशिष्ट ऊर्जा (लोहे के लिए 708 ई. वी.) पर ई. एम. सी. डी. स्पेक्ट्रम की जांच करके अलग करना संभव है। चूँकि ई. एम. सी. डी. और एक्स. एम. सी. डी. दोनों में एक ही इलेक्ट्रॉनिक संक्रमण की जांच की जाती है, इसलिए प्राप्त जानकारी समान होती है। हालाँकि ई. एम. सी. डी. में अपने एक्स-रे समकक्ष की तुलना में उच्च स्थानिक संकल्प और गहराई संवेदनशीलता होती है। इसके अलावा, ई. एम. सी. डी. को ई. ई. एल. एस. डिटेक्टर से लैस किसी भी टी. ई. एम. पर मापा जा सकता है, जबकि एक्स. एम. सी. डी. को आम तौर पर केवल समर्पित सिंक्रोट्रॉन बीमलाइन पर मापा जाता है। अपने मूल अवतार में ई. एम. सी. डी. का एक नुकसान इसकी मोटाई और अभिविन्यास के साथ क्रिस्टलीय सामग्री की आवश्यकता है जो ई. एम. सी. डी. के लिए आवश्यक सही 90 डिग्री चरण बदलाव देता है। हालांकि, एक नई विधि ने हाल ही में प्रदर्शित किया है कि मूल प्रक्रिया की ज्यामितीय बाधाओं के बिना ई. एम. सी. डी. को मापने के लिए इलेक्ट्रॉन भंवर किरणों का भी उपयोग किया जा सकता है। मैग्नेटिक सर्कुलर डाइक्रोइज्म फैराडे प्रभाव XMCD संदर्भ स्पेक्ट्रोस्कोपी भी देखें।