Nanosensors (company)
नैनोसेंसर एक ऐसी कंपनी है जो परमाणु बल सूक्ष्मदर्शी (ए. एफ. एम.) और स्कैनिंग प्रोब सूक्ष्मदर्शी (एस. पी. एम.) में उपयोग के लिए जांच का निर्माण करती है। नैनोसेंसर की स्थापना 1990 में "नैनोप्रोब" के रूप में की गई थी, जो थोक माइक्रो मशीनिंग का उपयोग करके सिलिकॉन ए. एफ. एम. जांच के बैच प्रसंस्करण के लिए आवश्यक मौलिक तकनीकों पर आई. बी. एम. सिंडेलफिंजेन में किए गए शोध पर आधारित है। 1993 में, नैनोसेंसर ने दुनिया भर में एस. पी. एम. और ए. एफ. एम. जांच का व्यावसायीकरण किया। ए. एफ. एम. जांच के उत्पादन के लिए बैच प्रसंस्करण प्रौद्योगिकियों में उनके विकास ने उस समय के उद्योग में परमाणु बल सूक्ष्मदर्शी को पेश करने में योगदान दिया। इस उपलब्धि की मान्यता में, नैनोसेंसर ने जर्मन राज्य बेडेन-वुर्टेमबर्ग के Dr.-Rudolf-Eberle नवाचार पुरस्कार और 1995 में जर्मन उद्योग के नवाचार पुरस्कार और Förderkreis für die Mikroelektronik e. V. का नवाचार पुरस्कार प्राप्त किया। 1999 में। 2002 में, नैनोसेंसर को स्विट्जरलैंड स्थित नैनोवर्ल्ड द्वारा अधिग्रहित और एकीकृत किया गया था। यह अभी भी एक स्वतंत्र व्यावसायिक इकाई है। महत्वपूर्ण शोधकर्ताओं ने स्कैनिंग प्रोब माइक्रोस्कोपी और परमाणु बल माइक्रोस्कोपी के लिए संचालन विधियों और विधियों की एक श्रृंखला विकसित की है। ऐसी विधियों के उपयोग और अनुप्रयोग के लिए विधि-विशिष्ट एस. पी. एम. या ए. एफ. एम. जांच से लैस एस. पी. एम. या ए. एफ. एम. उपकरणों की आवश्यकता होती है। नैनोसेंसर दुनिया भर में एस. पी. एम. या ए. एफ. एम. उपयोगकर्ताओं को इस तरह की विधि-विशिष्ट एस. पी. एम. या ए. एफ. एम. जांच की एक श्रृंखला प्रदान करता है। उत्पाद ए. एफ. एम. प्रोब श्रृंखला प्वाइंटप्रोबप्लस प्वाइंटप्रोबप्लस श्रृंखला सीधे 1993 में नैनोसेंसर द्वारा मूल रूप से विकसित और व्यावसायीकरण की गई तकनीक पर आधारित है। मूल प्वाइंटप्रोब तकनीक को 2004 में प्वाइंटप्रोबप्लस तकनीक में उन्नत किया गया है जिससे नोक के आकार में कमी आई है और छवियों की प्रजनन क्षमता में वृद्धि हुई है। यह अत्यधिक डोप्ड मोनो-क्रिस्टलीय सिलिकॉन से निर्मित होता है। नोक <100> क्रिस्टल दिशा की ओर इशारा कर रही है। प्वाइंटप्रोबप्लस एक्सवाई-संरेखण श्रृंखला और संरेखण चिप प्वाइंटप्रोबप्लस सिलिकॉन एम. एफ. एम. प्रोब श्रृंखला सुपरशार्पसिलिकॉन उच्च पहलू अनुपात ए. एफ. एम. जांच उन्नत टी. ई. सी. उन्नत टी. ई. सी. ए. एफ. एम. जांच श्रृंखला की नोक कैंटिलीवर के अंत से निकलती है और परमाणु बल सूक्ष्मदर्शी की ऑप्टिकल प्रणाली के माध्यम से दिखाई देती है। ऊपर से यह दृश्यता सूक्ष्मदर्शी के प्रचालक को इस ए. एफ. एम. जांच की नोक को रुचि के बिंदु पर रखने की अनुमति देती है। अकियामा-प्रोब अनुप्रयोग गैर-संपर्क मोड/टैपिंग मोड माइक्रोस्कोपी बल मॉड्यूलेशन माइक्रोस्कोपी संपर्क मोड इलेक्ट्रोस्टैटिक बल माइक्रोस्कोपी, विद्युत माप चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी पार्श्व बल माइक्रोस्कोपी ट्रेंच माप नैनोइंडेंटेशन डायनेमिक मोड परमाणु बल माइक्रोस्कोपी (ए. एफ. एम.) के लिए सेल्फ-सेंसिंग और सेल्फ-एक्चुएटिंग अकियामा प्रोब (ए-प्रोब) जांच संशोधन के लिए टिपलेस कैंटिलीवर सहायक उपकरण स्थानांतरण मानक अंशांकन मानकों संरेखण चिप संदर्भ नैनो प्रौद्योगिकी कंपनियों को जोड़ते हैं न्यूचाटेल में स्थित स्विट्जरलैंड की कंपनियों की स्विट्जरलैंड विनिर्माण कंपनियों की प्रौद्योगिकी कंपनियां