Scanning near-field ultrasound holography
स्कैनिंग नियर-फील्ड अल्ट्रासाउंड होलोग्राफी (एस. एन. एफ. यू. एच.) दफन और एम्बेडेड संरचनाओं की गैर-विनाशकारी नैनो-स्केल उच्च-रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग करने के लिए एक विधि है। एस. एन. एफ. यू. एच. सामग्री, संरचनाओं और घटनाओं के विश्लेषण के लिए महत्वपूर्ण है क्योंकि वे सूक्ष्म/नैनो पैमाने पर सिकुड़ते रहते हैं। एस. एन. एफ. यू. एच. एक प्रकार की स्कैनिंग प्रोब माइक्रोस्कोपी (एस. पी. एम.) तकनीक है जो 10 से 100 एन. एम. पैमाने पर गहराई की जानकारी के साथ-साथ स्थानिक संकल्प प्रदान करती है। नॉर्थवेस्टर्न यूनिवर्सिटी (इवानस्टन, आई. एल., यू. एस. ए.) के गजेंद्र एस. शेखावत और विनायक पी. द्रविड़ ने 2005 में एस. एन. एफ. यू. एच. विकसित किया। एक अपारदर्शी सामग्री में एक शून्य के तांबे के दमास्कीन संरचनाओं का अवलोकन इस तकनीक से संभव हुआ। निकट-क्षेत्र अल्ट्रासाउंड होलोग्राफी तकनीक स्कैनिंग परमाणु बल ध्वनिक सूक्ष्मदर्शी और अल्ट्रासोनिक बल सूक्ष्मदर्शी को जोड़ती है। उच्च आवृत्ति उत्पन्न करने वाले दो ट्रांसड्यूसरों का उपयोग किया जाता है। आम तौर पर आवृत्ति कैंटिलीवर की अनुनाद आवृत्ति से अधिक होती है। एक ट्रांसड्यूसर को नमूने के नीचे रखा जाता है और दूसरा कैंटिलीवर से जुड़ा होता है। कैंटिलीवर को एस. पी. एम. ध्वनिक एंटीना कहा जा सकता है जो ट्रांसड्यूसर द्वारा भेजी गई ध्वनिक तरंगों के हस्तक्षेप को महसूस करता है। इन तरंगों का हस्तक्षेप सतह ध्वनिक स्थायी तरंगों का निर्माण करता है। लहर की आवृत्तियाँ थोड़ी अलग होती हैं। सतह ध्वनिक स्थायी तरंग के चरण और आयाम में गड़बड़ी की स्थानीय रूप से लॉक-इन दृष्टिकोण और एस. पी. एम. इलेक्ट्रॉनिक मॉड्यूल के माध्यम से एंटीना द्वारा निगरानी की जाती है। इस इलेक्ट्रॉनिक मॉड्यूल को शेखावत और द्रविड़ ने विकसित किया था। इसे रेडियो फ्रीक्वेंसी (आर. एफ.) लॉक इन दृष्टिकोण के साथ लागू किया गया था। दो विधियों का उपयोग किया जाता हैः सॉफ्ट कॉन्टैक्ट मोड कठोर संरचनाओं के लिए है। निकट संपर्क मोड में, नोक को पहले सतह को छूने के लिए बनाया जाता है और फिर जैविक नमूनों के लिए एफ 2-5 एनएम का उपयोग किया जाता है। अन्य एस. पी. एम. तकनीकों पर लाभ यह तकनीक आंतरिक उप-संरचनाओं की नैनोस्केल रिज़ॉल्यूशन छवियों का उत्पादन करने के लिए बिखरे हुए अल्ट्रासाउंड तरंगों के चरण और आयाम दोनों का लाभ उठाती है। यह गैर-विनाशकारी है और वास्तविक अंतरिक्ष इमेजिंग, गहराई की जानकारी, सामग्री में छिपी जानकारी, 10-100 एनएम पैमाने पर स्थानिक संकल्प प्रदान करता है और विभिन्न सामग्री प्रणालियों का अध्ययन कर सकता है। ध्वनिक सूक्ष्मदर्शी स्कैनिंग ध्वनिक सूक्ष्मदर्शी संदर्भ होलोग्राफी भी देखें।