Nicolson–Ross–Weir method
નિકોલસન-રોસ-વેયર પદ્ધતિ એ માઇક્રોવેવ આવર્તન માટે સામગ્રીના નમૂનાઓની જટિલ પારગમ્યતાઓ અને પારગમ્યતાઓ નક્કી કરવા માટેની એક માપન તકનીક છે. આ પદ્ધતિ વેવગાઇડની અંદર જાણીતી જાડાઈ સાથે સામગ્રીના નમૂનાને દાખલ કરવા પર આધારિત છે, જેમ કે કોએક્સિયલ કેબલ અથવા લંબચોરસ વેવગાઇડ, જેના પછી પરિણામી સ્કેટરિંગ પરિમાણોમાંથી ડિસ્પર્શન ડેટા કાઢવામાં આવે છે. આ પદ્ધતિનું નામ એ. એમ. નિકોલસન અને જી. એફ. રોસ અને ડબલ્યુ. બી. વેયરના નામ પરથી રાખવામાં આવ્યું છે, જેમણે અનુક્રમે 1970 અને 1974માં આ અભિગમ વિકસાવ્યો હતો. આ તકનીક માઇક્રોવેવ ઇજનેરીમાં સામગ્રીની લાક્ષણિકતા માટેની સૌથી સામાન્ય પ્રક્રિયાઓમાંની એક છે. પદ્ધતિ આ પદ્ધતિ વેવગાઇડમાં જડિત સામગ્રીના નમૂનાના સ્કેટરિંગ પરિમાણોનો ઉપયોગ કરે છે, એટલે કે, પારગમ્યતા અને પારગમ્યતા ડેટાની ગણતરી કરવા માટે. અને નમૂનાના સંચિત પ્રતિબિંબ અને પ્રસારણ ગુણાંકને અનુરૂપ છે જે અનુક્રમે દરેક નમૂનાના અંતને સંદર્ભિત કરવામાં આવે છેઃ આ પરિમાણો નમૂનાની અંદર બહુવિધ આંતરિક પ્રતિબિંબ માટે જવાબદાર છે, જેની જાડાઈ માનવામાં આવે છે. જથ્થાબંધ નમૂનાનો પ્રતિબિંબ ગુણાંક છેઃ જ્યાં પ્રતિબિંબ ગુણાંક માટે મૂળની નિશાની તેની નિષ્ક્રિયતા () સુનિશ્ચિત કરવા માટે યોગ્ય રીતે પસંદ કરવામાં આવે છે. તેવી જ રીતે, જથ્થાબંધ નમૂનાના પ્રસારણ ગુણાંકને આ રીતે લખી શકાય છેઃ આમ, સામગ્રીની અસરકારક પારગમ્યતા () અને પારગમ્યતા () ને આ રીતે લખી શકાય છેઃ મુક્ત-અવકાશ તરંગલંબાઇ ક્યાં અને ક્યાં છે. તે ખાલી ટ્રાન્સમિશન લાઇનની માર્ગદર્શિત મોડ તરંગલંબાઇ છે. અપૂર્ણ પ્રસારણ રેખાની કટઓફ તરંગલંબાઇ એ જટિલ લઘુગણકની શાખાઓને કારણે અનંત સંખ્યામાં ઉકેલો સ્વીકારવા માટેનો રચનાત્મક સંબંધ છે. તેના પરિણામ અંગેની અસ્પષ્ટતા જૂથ વિલંબને ધ્યાનમાં લઈને ઉકેલી શકાય છે. મર્યાદાઓ અને વિસ્તરણ ઓછી સામગ્રીના નુકસાનના કિસ્સામાં, પ્રતિધ્વનિની ઘટનાને કારણે અડધા તરંગલંબાઇના પૂર્ણાંક ગુણાંક પર નમૂનાની જાડાઈ માટે નિકોલસન-રોસ-વેયર પદ્ધતિ અસ્થિર હોવાનું જાણીતું છે. આ અસરને ઘટાડવા માટે ઇજનેરી સાહિત્યમાં પ્રમાણભૂત અલ્ગોરિધમ પર સુધારાઓ રજૂ કરવામાં આવ્યા છે. વધુમાં, નમૂના સામગ્રી સાથે વેવગાઇડનું સંપૂર્ણ ભરણ એક ચોક્કસ પડકાર ઊભો કરી શકે છેઃ વેવગાઇડ વિભાગને ભરવા દરમિયાન અંતરાયની હાજરી ઉચ્ચ-ક્રમની સ્થિતિઓને ઉત્તેજિત કરશે, જે સ્કેટરિંગ પરિમાણ પરિણામોમાં ભૂલો પેદા કરી શકે છે. આવા કિસ્સાઓમાં, આંશિક રીતે ભરેલા વેવગાઇડ અથવા ઓપ્ટિમાઇઝેશન પદ્ધતિઓના સખત મોડલ વિશ્લેષણ પર આધારિત વધુ અદ્યતન પદ્ધતિઓનો ઉપયોગ કરી શકાય છે. સિંગલ-પોર્ટ માપન માટેની પદ્ધતિમાં ફેરફારની પણ જાણ કરવામાં આવી હતી. સજાતીય પદાર્થો ઉપરાંત, આઇસોટ્રોપિક અને બાયાનિસોટ્રોપિક મેટામેટ્રિયલ્સના રચનાત્મક પરિમાણો મેળવવા માટે પદ્ધતિનું વિસ્તરણ વિકસાવવામાં આવ્યું હતું. ફોરિયર-ટ્રાન્સફોર્મ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી માઇક્રોવેવ રેડિયોમીટર રિફ્લેક્શન સિસ્મોલોજી સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી ટાઇમ-ડોમેન રિફ્લેક્ટોમીટર વેક્ટર નેટવર્ક એનાલાઇઝર સંદર્ભો વધુ વાંચન માઇક્રોવેવ ટેકનોલોજી સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી દ્રવ્યમાં વિદ્યુત અને ચુંબકીય ક્ષેત્રો