Test point
પરીક્ષણ બિંદુ એ ઇલેક્ટ્રોનિક સર્કિટની અંદરનું સ્થાન છે જેનો ઉપયોગ સર્કિટરીની સ્થિતિનું નિરીક્ષણ કરવા અથવા પરીક્ષણ સંકેતોને દાખલ કરવા માટે થાય છે. પરીક્ષણ બિંદુઓના બે પ્રાથમિક ઉપયોગો છેઃ ઉત્પાદન દરમિયાન તેનો ઉપયોગ એ ચકાસવા માટે કરવામાં આવે છે કે નવું એસેમ્બલ કરેલું ઉપકરણ યોગ્ય રીતે કામ કરી રહ્યું છે. કોઈપણ ઉપકરણ કે જે આ પરીક્ષણમાં નિષ્ફળ જાય છે તે કાં તો કાઢી નાખવામાં આવે છે અથવા ઉત્પાદનની ખામીઓને સુધારવાનો પ્રયાસ કરવા માટે પુનઃકાર્ય કેન્દ્રમાં મોકલવામાં આવે છે. ગ્રાહકને ઉપકરણનું વેચાણ કર્યા પછી, જો ઉપકરણમાં ખામી હોય અથવા ઘટકો બદલ્યા પછી ઉપકરણને ફરીથી માપાંકિત કરવાની જરૂર હોય તો તેને સુધારવા માટે પછીથી પરીક્ષણ બિંદુઓનો ઉપયોગ કરી શકાય છે. પરીક્ષણ બિંદુઓને લેબલ કરી શકાય છે અને તેમાં મગરની ક્લિપ્સને જોડવા માટે પિન શામેલ હોઈ શકે છે અથવા પરીક્ષણ ક્લિપ્સ માટે સંપૂર્ણ કનેક્ટર્સ હોઈ શકે છે. આધુનિક લઘુચિત્ર સપાટી-માઉન્ટ ઇલેક્ટ્રોનિક્સમાં ઘણીવાર ફક્ત લેબલ વગરના, ટીનવાળા સોલ્ડર પેડ્સની પંક્તિ હોય છે. ઉપકરણને એક ટેસ્ટ ફિક્સ્ચરમાં મૂકવામાં આવે છે જે ઉપકરણને સુરક્ષિત રીતે રાખે છે, અને એક ખાસ સપાટી-સંપર્ક કનેક્ટર પ્લેટને સોલ્ડર પેડ પર દબાવવામાં આવે છે જેથી તે બધાને જૂથ તરીકે જોડવામાં આવે. ઇલેક્ટ્રોનિક્સ ઉત્પાદન