Electron magnetic circular dichroism
ઇલેક્ટ્રોન મેગ્નેટિક સર્ક્યુલર ડિક્રોઇઝમ (EMCD) (જેને ઇલેક્ટ્રોન એનર્જી-લોસ મેગ્નેટિક કાયરલ ડિક્રોઇઝમ તરીકે પણ ઓળખવામાં આવે છે) એ XMCDની સમકક્ષ EELS છે. આ અસર સૌપ્રથમ 2003 માં પ્રસ્તાવિત કરવામાં આવી હતી અને 2006 માં વિયેના યુનિવર્સિટી ઓફ ટેક્નોલોજીના પ્રોફેસર પીટર શેટશ્નાઇડરના જૂથ દ્વારા પ્રાયોગિક રીતે પુષ્ટિ કરવામાં આવી હતી. એ જ રીતે XMCD માટે, EMCD એ બે EELS વર્ણપટનો તફાવત વર્ણપટ છે જે ચુંબકીય ક્ષેત્રમાં વિરુદ્ધ હેલિસિટી સાથે લેવામાં આવે છે. યોગ્ય સ્કેટરિંગ પરિસ્થિતિઓમાં ચોક્કસ ગોળાકાર ધ્રુવીકરણ સાથેના વર્ચ્યુઅલ ફોટોનને શોષી શકાય છે, જે વર્ણપટ તફાવતોને જન્મ આપે છે. જ્યાં ડાબા ગોળાકાર ધ્રુવીકરણ સાથેનો એક વર્ચ્યુઅલ ફોટોન અને જમણા ગોળાકાર ધ્રુવીકરણ સાથેનો એક ફોટોન શોષાય છે તે કેસ વચ્ચે સૌથી મોટો તફાવત અપેક્ષિત છે. EMCD સ્પેક્ટ્રમમાં તફાવતનું નજીકથી વિશ્લેષણ કરીને, અણુના ચુંબકીય ગુણધર્મો પર માહિતી મેળવી શકાય છે, જેમ કે તેની સ્પિન અને ઓર્બિટલ ચુંબકીય ક્ષણ. આયર્ન, કોબાલ્ટ અને નિકલ જેવી સંક્રમણ ધાતુઓના કિસ્સામાં, EMCD માટે શોષણ વર્ણપટ સામાન્ય રીતે L-ધાર પર માપવામાં આવે છે. આ આયનીકરણ ઊર્જા પૂરી પાડતા વર્ચ્યુઅલ ફોટોનના શોષણ દ્વારા 2p ઇલેક્ટ્રોનના 3d સ્થિતિમાં ઉત્તેજનાને અનુરૂપ છે. આ શોષણ ઇલેક્ટ્રોન એનર્જી લોસ સ્પેક્ટ્રમ (EELS) માં વર્ણપટના લક્ષણ તરીકે દેખાય છે. કારણ કે 3 ડી ઇલેક્ટ્રોન સ્થિતિઓ તત્વોના ચુંબકીય ગુણધર્મોનું મૂળ છે, સ્પેક્ટ્રા ચુંબકીય ગુણધર્મો પરની માહિતી ધરાવે છે. વધુમાં, દરેક સંક્રમણની ઊર્જા અણુ સંખ્યા પર આધાર રાખે છે, તેથી પ્રાપ્ત માહિતી તત્વ વિશિષ્ટ છે, એટલે કે, EMCD વર્ણપટની તેની લાક્ષણિક ઊર્જા (લોખંડ માટે 708 eV) પર તપાસ કરીને આપેલ તત્વના ચુંબકીય ગુણધર્મોને અલગ પાડવાનું શક્ય છે. EMCD અને XMCD બંનેમાં સમાન ઇલેક્ટ્રોનિક સંક્રમણોની તપાસ કરવામાં આવે છે, તેથી મેળવેલી માહિતી સમાન છે. જો કે EMCD તેના એક્સ-રે સમકક્ષ કરતાં ઉચ્ચ અવકાશી રીઝોલ્યુશન અને ઊંડાઈ સંવેદનશીલતા ધરાવે છે. વધુમાં, EMCD ને EELS ડિટેક્ટરથી સજ્જ કોઈપણ TEM પર માપી શકાય છે, જ્યારે XMCD સામાન્ય રીતે માત્ર સમર્પિત સિંક્રોટ્રોન બીમલાઈન પર માપવામાં આવે છે. તેના મૂળ અવતારમાં ઇ. એમ. સી. ડી. નો ગેરલાભ એ છે કે તેની જાડાઈ અને દિશા સાથે સ્ફટિકીય સામગ્રીની જરૂરિયાત છે જે ચોક્કસપણે ઇ. એમ. સી. ડી. માટે જરૂરી યોગ્ય 90 ડિગ્રી ફેઝ શિફ્ટ આપે છે. જો કે, એક નવી પદ્ધતિએ તાજેતરમાં દર્શાવ્યું છે કે મૂળ પ્રક્રિયાના ભૌમિતિક અવરોધો વિના EMCD ને માપવા માટે ઇલેક્ટ્રોન વમળ બીમનો પણ ઉપયોગ કરી શકાય છે. મેગ્નેટિક સર્ક્યુલર ડિક્રોઇઝમ ફેરાડે ઇફેક્ટ XMCD રેફરન્સ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી પણ જુઓ.