Scanning near-field ultrasound holography
નજીકના ક્ષેત્રની અલ્ટ્રાસાઉન્ડ હોલોગ્રાફી (એસ. એન. એફ. યુ. એચ.) નું સ્કેનિંગ એ દફનાવવામાં આવેલા અને જડિત માળખાઓનું બિન-વિનાશક નેનો-સ્કેલ ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન ઇમેજિંગ કરવા માટેની એક પદ્ધતિ છે. એસ. એન. એફ. યુ. એચ. સામગ્રી, માળખા અને ઘટનાઓના વિશ્લેષણ માટે મહત્વપૂર્ણ છે કારણ કે તે સૂક્ષ્મ/નેનો સ્કેલ પર સંકોચાય છે. એસ. એન. એફ. યુ. એચ. એ સ્કેનીંગ પ્રોબ માઇક્રોસ્કોપી (એસ. પી. એમ.) તકનીકનો એક પ્રકાર છે જે 10 થી 100 એનએમ સ્કેલ પર ઊંડાણની માહિતી તેમજ અવકાશી રીઝોલ્યુશન પ્રદાન કરે છે. નોર્થવેસ્ટર્ન યુનિવર્સિટી (ઇવાન્સ્ટન, આઈએલ, યુએસએ) ના ગજેન્દ્ર એસ. શેખાવત અને વિનાયક પી. દ્રવિડે 2005માં એસએનએફયુએચ વિકસાવ્યું હતું. અપારદર્શક સામગ્રીમાં શૂન્યની તાંબાની દમાસ્કીન રચનાઓનું નિરીક્ષણ આ તકનીક દ્વારા શક્ય બન્યું હતું. ટેકનીક નજીકના ક્ષેત્રની અલ્ટ્રાસાઉન્ડ હોલોગ્રાફી એટોમિક ફોર્સ એકોસ્ટિક માઇક્રોસ્કોપી અને અલ્ટ્રાસોનિક ફોર્સ માઇક્રોસ્કોપીને જોડે છે. ઉચ્ચ આવૃત્તિઓ ઉત્પન્ન કરતા બે ટ્રાન્સડ્યુસરનો ઉપયોગ થાય છે. સામાન્ય રીતે આવર્તન કેન્ટિલીવરની પ્રતિધ્વનિત આવર્તન કરતાં વધારે હોય છે. એક ટ્રાન્સડ્યુસર નમૂનાની નીચે મૂકવામાં આવે છે અને બીજું કેન્ટિલીવર સાથે જોડાયેલું હોય છે. કેન્ટિલીવરને એસ. પી. એમ. એકોસ્ટિક એન્ટેના તરીકે ઓળખાવી શકાય છે જે ટ્રાન્સડ્યુસર્સ દ્વારા મોકલવામાં આવેલા એકોસ્ટિક તરંગોના હસ્તક્ષેપને અનુભવે છે. આ તરંગોની દખલ સપાટીના ધ્વનિ સ્થાયી તરંગો બનાવે છે. તરંગની આવર્તન થોડી અલગ હોય છે. લોક-ઇન અભિગમ અને એસ. પી. એમ. ઇલેક્ટ્રોનિક મોડ્યુલ દ્વારા એન્ટેના દ્વારા સપાટીના એકોસ્ટિક સ્થાયી તરંગના તબક્કા અને કંપનવિસ્તારની વિક્ષેપની સ્થાનિક રીતે દેખરેખ રાખવામાં આવે છે. આ ઇલેક્ટ્રોનિક મોડ્યુલ શેખાવત અને દ્રવિડ દ્વારા વિકસાવવામાં આવ્યું હતું. તેનો અમલ રેડિયો ફ્રિક્વન્સી (આર. એફ.) લોક ઇન અભિગમ સાથે કરવામાં આવ્યો હતો. બે સ્થિતિઓનો ઉપયોગ થાય છેઃ સોફ્ટ કોન્ટેક્ટ સ્થિતિ સખત રચનાઓ માટે છે. નજીકના સંપર્ક સ્થિતિમાં, ટોચને પહેલા સપાટીને સ્પર્શ કરવા માટે બનાવવામાં આવે છે અને પછી જૈવિક નમૂનાઓ માટે એફ 2-5 એનએમ લિફ્ટનો ઉપયોગ કરવામાં આવે છે. અન્ય એસ. પી. એમ. તકનીકો પર ફાયદા આ તકનીક આંતરિક સબસ્ટ્રક્ચર્સની નેનોસ્કેલ રિઝોલ્યુશન છબીઓ બનાવવા માટે વેરવિખેર અલ્ટ્રાસાઉન્ડ તરંગોના તબક્કા અને કંપનવિસ્તાર બંનેનો લાભ લે છે. તે બિન-વિનાશક છે અને વાસ્તવિક સ્પેસ ઇમેજિંગ, ઊંડાઈની માહિતી, સામગ્રીમાં છુપાયેલી માહિતી, 10-100 એનએમ સ્કેલ પર અવકાશી રીઝોલ્યુશન પ્રદાન કરે છે અને વિવિધ સામગ્રી પ્રણાલીઓનો અભ્યાસ કરી શકે છે. એકોસ્ટિક માઇક્રોસ્કોપી સ્કેનિંગ એકોસ્ટિક માઇક્રોસ્કોપ સંદર્ભો હોલોગ્રાફી પણ જુઓ.