CrysTBox
CrysTBox (ક્રિસ્ટલોગ્રાફિક ટૂલ બોક્સ) એ કમ્પ્યુટર ટૂલ્સનો એક સમૂહ છે જે અત્યંત સચોટ સ્વચાલિત વિશ્લેષણ અને ઇન્ટરેક્ટિવ વિઝ્યુલાઇઝેશન દ્વારા ટ્રાન્સમિશન ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ છબીઓ પર આધારિત સામગ્રી સંશોધનને વેગ આપવા માટે રચાયેલ છે. કૃત્રિમ બુદ્ધિ અને કમ્પ્યુટર દ્રષ્ટિ પર આધાર રાખીને, CrysTBox નિયમિત સ્ફટિકશાસ્ત્રીય વિશ્લેષણને માનવ મૂલ્યાંકનકારોની તુલનામાં સરળ, ઝડપી અને વધુ સચોટ બનાવે છે. સબ-પિક્સેલ ચોકસાઇ અને ઇન્ટરેક્ટિવ વિઝ્યુલાઇઝેશન સાથે ઓટોમેશનનું ઉચ્ચ સ્તર આંતરશાખાકીય સંશોધન માટે પરવાનગી આપતા બિન-સ્ફટિકશાસ્ત્રીઓ માટે પણ માત્રાત્મક સ્ફટિકશાસ્ત્રીય વિશ્લેષણને સુલભ બનાવે છે. સાથે સાથે, અનુભવી ભૌતિક વૈજ્ઞાનિકો વ્યાપક વિશ્લેષણ માટે અદ્યતન કાર્યક્ષમતાનો લાભ લઈ શકે છે. CrysTBox ચેક એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસના ઇન્સ્ટિટ્યૂટ ઓફ ફિઝિક્સ ખાતે ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપીની પ્રયોગશાળામાં વિકસાવવામાં આવી રહ્યું છે. શૈક્ષણિક હેતુઓ માટે, તે મફતમાં ઉપલબ્ધ છે. 2022 સુધીમાં, આ સ્યુટ ETH ઝુરિચ, લોરેન્સ બર્કલે નેશનલ લેબોરેટરી, મેક્સ પ્લેન્ક ઇન્સ્ટિટ્યુટ, ચાઇનીઝ એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસ, ફ્રાઉનહોફર ઇન્સ્ટિટ્યુટ અથવા ઓક્સફર્ડ યુનિવર્સિટીના સંશોધનને ટેકો આપતા 90 થી વધુ દેશોમાં સંશોધન અને શૈક્ષણિક સુવિધાઓમાં તૈનાત કરવામાં આવ્યો છે. સ્યુટ એક વૈજ્ઞાનિક સાધન તરીકે, CrysTBox સ્યુટ શૈક્ષણિક હેતુઓ માટે મુક્તપણે ઉપલબ્ધ છે, તે સમુદાયમાં વ્યાપકપણે ઉપયોગમાં લેવાતા ફાઇલ બંધારણોને ટેકો આપે છે અને અન્ય વૈજ્ઞાનિક સોફ્ટવેર સાથે આંતર જોડાણ પ્રદાન કરે છે. ઉપલબ્ધતા CrysTBox બિન-વ્યાવસાયિક વિષયો દ્વારા બિન-વ્યાવસાયિક ઉપયોગની માંગ પર મુક્તપણે ઉપલબ્ધ છે. CrysTBox ઇન્સ્ટોલર્સ ડાઉનલોડ કરવાની એકમાત્ર સલામત રીત સત્તાવાર વેબસાઇટ પર વિનંતી ફોર્મ દ્વારા છે. CrysTBox સંકલન માટે ઉપયોગમાં લેવાતા MATLAB ના લાઇસન્સને કારણે વ્યાવસાયિક ઉપયોગની મંજૂરી નથી. નોંધપાત્ર સંશોધન અને વપરાશકર્તાઓ શિક્ષણ ઉપરાંત, CrysTBox નો ઉપયોગ મુખ્યત્વે પરમાણુ સંશોધનથી લઈને પુરાતત્વ અને પેલિયોન્ટોલોજી સુધીના ઉપયોગના ક્ષેત્રો સાથેના સંશોધનમાં થાય છે. અન્યમાં, આ સ્યુટનો ઉપયોગ એડિટિવ મેન્યુફેક્ચરિંગ (3ડી પ્રિન્ટેડ બાયોડિગ્રેડેબલ એલોય, મેટાલિક ગ્લાસ અથવા હાઇ-એન્ટ્રોપી એલોય સહિત), પ્રતિરોધક કોટિંગ્સ, લેસર શોક પીનિંગ, પાણીની સફાઈ તકનીકો અથવા 5 કરોડ વર્ષ જૂની ચકમકની લાક્ષણિકતાઓના વિકાસમાં કરવામાં આવ્યો હતો. જે સંસ્થાઓના સંશોધનને CrysTBox દ્વારા ટેકો આપવામાં આવ્યો હતો તેમાં ETH ઝુરિચ, યુનિવર્સિટી ઓફ કેલિફોર્નિયા, ઉપ્સાલા યુનિવર્સિટી, ઓક્સફર્ડ યુનિવર્સિટી, યુનિવર્સિટી ઓફ વોટરલૂ, ઇન્ડિયન ઇન્સ્ટિટ્યૂટ ઓફ ટેકનોલોજી, નાનયાંગ ટેકનોલોજીકલ યુનિવર્સિટી અથવા યુનિવર્સિટી ઓફ ટોક્યો જેવી શૈક્ષણિક સુવિધાઓ તેમજ મેક્સ પ્લેન્ક ઇન્સ્ટિટ્યૂટ, ચાઇનીઝ એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસ, ફ્રાઉનહોફર ઇન્સ્ટિટ્યૂટ અથવા યુએસ નેશનલ લેબોરેટરીઝ (એનએલ) જેવી કે ઓક રિજ એનએલ, લોરેન્સ બર્કલે એનએલ, ઇડાહો એનએલ અને લોરેન્સ લિવરમોર એનએલ જેવી સંશોધન સંસ્થાઓનો સમાવેશ થાય છે. મર્યાદાઓ અને ગેરફાયદાઓ CrysTBox ને MATLAB કમ્પાઇલરનો ઉપયોગ કરીને એકલા સ્થાપકો સાથે સંકલિત કરવામાં આવે છે. તેથી, ટૂલબોક્સ સાથે 1-2 જીબી MATLAB લાઈબ્રેરીઓ સ્થાપિત કરવામાં આવે છે. સેલવ્યૂઅરમાં વપરાતું વિવર્તન સિમ્યુલેશન કાઇનેમેટિક વિવર્તન સિદ્ધાંત પર આધારિત છે. આ વપરાશકર્તાની ક્રિયાપ્રતિક્રિયાને વાસ્તવિક-સમયની પ્રતિક્રિયા માટે પરવાનગી આપે છે, પરંતુ તે ગતિશીલ વિવર્તન સિદ્ધાંત દ્વારા આવરી લેવામાં આવેલા બેવડા વિવર્તન જેવી અદ્યતન વિવર્તન સુવિધાઓને આવરી લેતું નથી, તેમ છતાં બહુવિધ ઇલેક્ટ્રોન-બાબતની ક્રિયાપ્રતિક્રિયાઓને કારણે થતી કેટલીક ઘટનાઓને CrysTBox દ્વારા જોવામાં આવે છે-ઉદાહરણ તરીકે કિકુચી રેખાઓ. વિશ્લેષણાત્મક સાધનો સ્કેલ કેલિબ્રેશન અપૂર્ણતાઓ માટે સુધારણા પ્રદાન કરે છે, પરંતુ લંબગોળ વિકૃતિ જેવી છબી વિકૃતિઓ માટે ગોઠવણ પ્રદાન કરતું નથી. જો ઉચ્ચ-ચોકસાઈ માપનની જરૂર હોય અથવા જો વિકૃતિ પ્રમાણભૂત સ્તરો કરતાં વધી જાય, તો વિશ્લેષણ પહેલાં યોગ્ય સાધનો લાગુ કરવા જોઈએ. ક્રિસ્ટલોગ્રાફિક વિઝ્યુલાઇઝેશન ટૂલ્સ કાર્યાત્મક સંબંધોની કલ્પના કરવા અને પ્રાયોગિક ડેટાની વધુ સારી સમજણ પ્રદાન કરવા માટે, ગ્રાફિકલ ઇન્ટરફેસ વપરાશકર્તા આંતરક્રિયાશીલતા અને કાર્યાત્મક આંતર જોડાણ પર ભાર મૂકે છે. સ્યુટમાં બે વિઝ્યુલાઇઝેશન ટૂલ્સ છેઃ એક એક જ સામગ્રીને દર્શાવે છે જ્યારે અન્ય બે અલગ-અલગ સામગ્રીના આંતર-વિકાસ પર કેન્દ્રિત છે. સેલવ્યૂઅર-સિંગલ ક્રિસ્ટલ વિઝ્યુલાઇઝેશન સેલવ્યૂઅર સામગ્રી સંશોધનમાં વ્યાપકપણે ઉપયોગમાં લેવાતા ચાર પ્રકારોમાં નમૂના સામગ્રીને વિઝ્યુલાઇઝ કરવાની મંજૂરી આપે છેઃ અણુ બંધારણનું 3D મોડેલ (સીધી જગ્યા), સિમ્યુલેટેડ વિવર્તન પેટર્ન (પારસ્પરિક જગ્યા), સ્ટીરિયોગ્રાફિક પ્રક્ષેપણ (સ્ફટિકીય વિમાનોની 3D જગ્યાનું પ્રક્ષેપણ અને 2D તરફની દિશાઓ), વ્યસ્ત ધ્રુવ આકૃતિ (સ્ટીરિયોગ્રાફિક પ્રક્ષેપણનો વ્યાખ્યાયિત ભાગ). ગ્રાફિકલ યુઝર ઇન્ટરફેસ વપરાશકર્તાને સાથે સાથે બે ઇન્ટરેક્ટિવ દૃશ્યો પ્રદાન કરે છે. આ દૃશ્યો તેમના પરસ્પર સંબંધોને સમજવા માટે ઉપરોક્ત ચાર વિઝ્યુલાઇઝેશન સ્થિતિઓનું મનસ્વી સંયોજન પ્રદર્શિત કરી શકે છે. દાખલા તરીકે, સીધા અવકાશમાં અણુ માળખાનું પરિભ્રમણ (જો સેટ કરેલું હોય તો) સિમ્યુલેટેડ વિવર્તન પેટર્નના ત્વરિત સુધારા તરફ દોરી જાય છે. જો કોઈ વિવર્તન સ્થળ પસંદ કરવામાં આવે, તો અનુરૂપ સ્ફટિકીય સમતલ એકમ કોષ વગેરેમાં દર્શાવવામાં આવે છે. આવા આંતરજોડાણો ચાર ઉપલબ્ધ વિઝ્યુલાઇઝેશન સ્થિતિઓમાંથી દરેક જોડી માટે લાગુ કરવામાં આવે છે. ઇલેક્ટ્રોનિક વિઝ્યુલાઇઝેશન વ્યાપકપણે ઉપયોગમાં લેવાતી સમજને સરળ બનાવવાની મંજૂરી આપે છે, તેમ છતાં ઊલટું ધ્રુવ આકૃતિ જેવી ઓછી સાહજિક રજૂઆતો. દાખલા તરીકે, વ્યુત્ક્રમ ધ્રુવ આકૃતિની રંગીન ત્રિકોણને સ્ટીરિયોગ્રાફિક પ્રક્ષેપણમાં અથવા વધુ સાહજિક 3D અણુ માળખામાં દોરીને. - ઇન્ટરગ્રોથ વિઝ્યુલાઇઝેશન બે ખોટી લક્ષી સામગ્રી અને તેમના ઇન્ટરફેસ જેમ કે સ્ફટિક જોડિયા અથવા અનાજ સીમાઓના વિઝ્યુલાઇઝેશન માટે પરવાનગી આપે છે. વપરાશકર્તા ઇન્ટરફેસ ત્રણ દૃશ્યો પ્રદાન કરે છેઃ બે નાના દૃશ્યો, દરેક પસંદ કરેલી સામગ્રી અને દિશાના એક એકમ કોષને દર્શાવે છે, અને બે માળખાઓના યોગ્ય ઇન્ટરફેસને દર્શાવતું મોટું દૃશ્ય. ઇન્ટરફેસને ચાર સ્થિતિઓમાં જોઈ શકાય છેઃ બંને એકમ કોષોનું 3D મોડેલ, બંને એકમ કોષોનું વાયર-ફ્રેમ મોડેલ, ઇન્ટરફેસનું ક્રોસ સેક્શન, જથ્થાબંધ પ્રતિનિધિત્વ (સેંકડો અણુઓ સુધી). વપરાશકર્તા ઈન્ટરફેસમાં ત્રણેય દૃશ્યો કાર્યાત્મક રીતે એકબીજા સાથે જોડાયેલા છે. જો એક દૃશ્યની સામગ્રી વપરાશકર્તા દ્વારા ફેરવવામાં આવે છે, તો અન્ય દૃશ્યો અનુસરે છે. જો સ્ફટિકીય સમતલ અથવા દિશા એક દૃશ્યમાં પસંદ કરવામાં આવે, તો તે અન્ય દૃશ્યોમાં દર્શાવવામાં આવે છે અને અનુરૂપ સ્ફટિકીય સૂચકાંકો દર્શાવવામાં આવે છે. આ સાધન સંયોગ સ્થળની જાળીને પ્રકાશિત કરવા અથવા વિમાનો અને દિશાઓની સૂચિની ગણતરી કરવાની પણ મંજૂરી આપે છે જે બે ખોટી દિશા ધરાવતી સામગ્રીમાં સમાંતર અથવા લગભગ સમાંતર હોય છે. TEM છબીઓનું સ્વચાલિત વિશ્લેષણ CrysTBox વિવર્તન પેટર્ન અને ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન ટ્રાન્સમિશન ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ છબીઓની સ્વચાલિત પ્રક્રિયા માટે સાધનો પ્રદાન કરે છે. સાધનો આર્ટિફિશિયલ ઇન્ટેલિજન્સ અને કમ્પ્યુટર વિઝનના અલ્ગોરિધમ્સનો ઉપયોગ કરે છે, તેથી તેઓ મેન્યુઅલ મૂલ્યાંકનની તુલનામાં વધુ ચોકસાઈ પૂરી પાડતા ન્યૂનતમ ઓપરેટર પ્રયાસની જરૂર પડે તે રીતે ડિઝાઇન કરવામાં આવ્યા છે. ચાર વિશ્લેષણાત્મક સાધનોનો ઉપયોગ અનુક્રમણિકા વિવર્તન પેટર્ન, જાળીના અચળાંકો (અંતર અને ખૂણા), નમૂનાની જાડાઈ વગેરે માપવા માટે થઈ શકે છે. ઓટોમેશનનું ઉચ્ચ સ્તર હોવા છતાં, વપરાશકર્તા સમગ્ર પ્રક્રિયાને નિયંત્રિત કરી શકે છે અને જો જરૂરી હોય તો જાતે વ્યક્તિગત પગલાંઓ કરી શકે છે. ડિફ્રાક્ટજીયુઆઈ-એચઆરટીઈએમ અને ડિફ્રાક્શન પ્રોસેસિંગ ડિફ્રાક્ટજીયુઆઈ ડિફ્રાક્શન પેટર્ન અને સિંગલ ક્રિસ્ટલ અથવા મર્યાદિત સંખ્યામાં સ્ફટિકોની ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન છબીઓનું સ્વચાલિત વિશ્લેષણ કરવાની મંજૂરી આપે છે. તે સ્ફટિક દિશા, અનુક્રમણિકા વ્યક્તિગત વિવર્તન સ્થળો નક્કી કરવામાં અને પિકોમેટ્રિક ચોકસાઇમાં આંતર-સમતલ ખૂણાઓ અને અંતરને માપવામાં સક્ષમ છે. ઇનપુટ છબી દર્શાવી શકે છેઃ પસંદ કરેલ વિસ્તાર વિવર્તન પેટર્ન, ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન છબી, નેનોડિફ્રેક્શન પેટર્ન અથવા કન્વર્જન્ટ બીમ ઇલેક્ટ્રોન વિવર્તન. ઇનપુટ ઈમેજ પર નીચેના પગલાંઓમાં પ્રક્રિયા કરવામાં આવે છેઃ સેટિંગ્સ અને ઈમેજ પ્રકૃતિ અનુસાર પ્રીપ્રોસેસિંગ (રિઝોલ્યુશન અને ઘોંઘાટમાં ઘટાડો, ડાયરેક્ટ સ્પેસ ઈમેજ માટે ફોરિયર ટ્રાન્સફોર્મ વગેરે). વિવિધ સ્કેલ પર વિવર્તન પ્રતિબિંબની શોધ (સામાન્ય રીતે સ્પોટ ડિટેક્શન માટે ઉપયોગમાં લેવાતા ગૌસીયનનો તફાવત, સીબીઈડી ડિસ્ક ડિટેક્શન માટે હોફ ટ્રાન્સફોર્મ). સ્કેલ સ્પેસમાં સૌથી મજબૂત શોધ પસંદ કરવામાં આવે છે. આર. એ. એન. એસ. એ. સી. અલ્ગોરિધમનો ઉપયોગ કરીને સૌથી મજબૂત તપાસના સમૂહ માટે નિયમિત જાળી યોગ્ય છે. જાળી આધારિત વેક્ટરની લંબાઈ અને ખૂણા માપવામાં આવે છે. સ્ફટિક જાળીની દિશા નક્કી કરવામાં આવે છે અને નમૂના સામગ્રીના સૈદ્ધાંતિક પરિમાણોનો ઉપયોગ કરીને વિવર્તન પ્રતિબિંબને ઓળખવામાં આવે છે. માનવ મૂલ્યાંકનની તુલનામાં, એક જ સમયે દસ અથવા તો સેંકડો વિવર્તન સ્થળોને ધ્યાનમાં લે છે અને તેથી, પેટા-પિક્સેલ ચોકસાઇ સાથે પેટર્નને સ્થાનિક બનાવી શકે છે. રીંગજીયુઆઈ-રીંગ વિવર્તન વિશ્લેષણ રીંગજીયુઆઈ પોલિક્રિસ્ટલાઇન અથવા પાવડર નમૂનાઓની રીંગ વિવર્તન છબીઓની સ્વચાલિત પ્રક્રિયાને મંજૂરી આપે છે. તેનો ઉપયોગ વિવર્તન રિંગ્સને ઓળખવા, ઇન્ટરપ્લેનર અંતરને માપવા અને આમ નમૂનાની સામગ્રીને લાક્ષણિકતા આપવા અથવા ઓળખવા માટે થઈ શકે છે. જાણીતી સામગ્રી સાથે, તે માઇક્રોસ્કોપ કેલિબ્રેશનમાં મદદ કરી શકે છે. ઇનપુટ ઇમેજની પ્રક્રિયા નીચે મુજબ કરવામાં આવે છેઃ બીમ-સ્ટોપર ડિટેક્શન, રિંગ સેન્ટરનું સ્થાનિકીકરણ, વિવર્તન પ્રોફાઇલનું પ્રમાણ અને તેની પૃષ્ઠભૂમિ તીવ્રતાનું અંદાજ, છબીમાં રિંગ્સની ઓળખ (પ્રોફાઇલમાં શિખરો). પરિણામોને વધુ પ્રક્રિયા કરી શકાય છે અને બે ઇન્ટરેક્ટિવ, કાર્યાત્મક રીતે એકબીજા સાથે જોડાયેલા ગ્રાફિકલ ઘટકોમાં જોઈ શકાય છેઃ ઇન્ટરેક્ટિવ વિવર્તન છબી-વપરાશકર્તાને બીમ-સ્ટોપરને દૂર કરીને, પૃષ્ઠભૂમિને બાદ કરીને, અસ્પષ્ટ અથવા સ્પોટી રિંગ્સને છતી કરીને અથવા દર્શાવેલ રિંગ્સની સ્ફટિકીય ઓળખ દ્વારા વિવર્તન છબીની વાંચનીયતામાં સુધારો કરવાની મંજૂરી આપે છે. વિવર્તન રૂપરેખા-છબીની તીવ્રતાની ગોળાકાર સરેરાશ રિંગ્સને અનુરૂપ શિખરો દર્શાવે છે અને આપેલ નમૂના સામગ્રી માટે જાણીતા સૈદ્ધાંતિક મૂલ્યો સાથે તેમની મેળ ખાય છે. ડિફ્રેક્શન ઇમેજ તેમજ ડિફ્રેક્શન પ્રોફાઇલ બંનેનો ઉપયોગ માઉસ ક્લિક સાથે ડિફ્રેક્શન રિંગ્સ પસંદ કરવા માટે થઈ શકે છે. અનુરૂપ રીંગ પછી ગ્રાફિકલ રજૂઆતો અને વિગતો બંનેમાં પ્રકાશિત થાય છે. બે બીમજીયુઆઈ-નમૂનાની જાડાઈનો અંદાજ બે બીમ અંદાજમાં કન્વર્જન્ટ બીમ ઇલેક્ટ્રોન વિવર્તન પેટર્ન (સીબીઈડી) માંથી બે બીમજીયુઆઈનો ઉપયોગ કરીને નમૂનાની જાડાઈનો અંદાજ લગાવી શકાય છે. આ પ્રક્રિયા ડિફ્રેક્ટેડ ડિસ્કમાં ઇન્ટેન્સિટી પ્રોફાઇલના સ્વચાલિત નિષ્કર્ષણ પર આધારિત છેઃ ડિફ્રેક્શન ડિસ્ક ત્રિજ્યા મલ્ટી-સ્કેલ હોફ ટ્રાન્સફોર્મનો ઉપયોગ કરીને નક્કી કરવામાં આવે છે, ટ્રાન્સમિટેડ અને ડિફ્રેક્ટેડ ડિસ્કનું સ્થાનિકીકરણ કરવામાં આવે છે અને રિફ્લેક્શન અનુક્રમિત કરવામાં આવે છે, ડિસ્ક આડી રીતે ગોઠવાયેલી હોય છે, કાપવામાં આવે છે અને પ્રોફાઇલ્સને ડિસ્કમાં માપવામાં આવે છે, ડિફ્રેક્ટેડ ડિસ્કની પ્રોફાઇલ આપેલ સામગ્રી, પ્રતિબિંબ અને ચોક્કસ જાડાઈ શ્રેણી માટે આપમેળે સિમ્યુલેટેડ પ્રોફાઇલ્સની શ્રેણી સાથે મેળ ખાય છે. એકવાર પ્રક્રિયા પૂર્ણ થઈ જાય પછી, માપેલી રૂપરેખા અને સૌથી સમાન સિમ્યુલેટેડ રૂપરેખા પૃષ્ઠભૂમિ પર વિસર્જિત ડિસ્ક સાથે પ્રદર્શિત થાય છે. આ વપરાશકર્તાને સ્વચાલિત અંદાજની ચોકસાઈ ચકાસવા અને ચોક્કસ જાડાઈની શ્રેણીમાં અન્ય તીવ્રતા રૂપરેખાઓની સમાનતા સરળતાથી તપાસવાની મંજૂરી આપે છે. જી. પી. એ. જી. યુ. આઈ.-ભૌમિતિક તબક્કા વિશ્લેષણ જી. પી. એ. જી. યુ. આઈ. નામનું સાધન ભૌમિતિક તબક્કા વિશ્લેષણ માટે ઇન્ટરેક્ટિવ ઇન્ટરફેસ પ્રદાન કરે છે. તે ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન છબીઓનો ઉપયોગ કરીને વિવિધ સ્ફટિકીય જથ્થાના 2D નકશા બનાવવાની મંજૂરી આપે છે. ભૌમિતિક તબક્કાનું વિશ્લેષણ આવર્તન ક્ષેત્રમાં કરવામાં આવે છે, તેથી ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશનની છબીને ફોરિયર ટ્રાન્સફોર્મનો ઉપયોગ કરીને વારંવારની રજૂઆતમાં રૂપાંતરિત કરવાની જરૂર છે. ગાણિતિક રીતે, વારંવાર આવતી છબી એ એક જટિલ મેટ્રિક્સ છે જેનું કદ મૂળ છબી જેટલું છે. સ્ફટિકીય રીતે, તેને મૂળ છબીની કૃત્રિમ વિવર્તન પેટર્ન તરીકે જોઈ શકાય છે જે મૂળ છબીમાં હાજર સ્ફટિકીય વિમાનોને અનુરૂપ તીવ્રતાના શિખરોને દર્શાવે છે. ઇચ્છિત ગણતરીઓ કર્યા પછી, ઇન્વર્સ ફોરિયર ટ્રાન્સફોર્મનો ઉપયોગ કરીને ફ્રીક્વેન્શલ રજૂઆતને મૂળ અવકાશી ક્ષેત્રમાં પાછા રૂપાંતરિત કરી શકાય છે. વારંવારની છબીનો ઉપયોગ કરીને વિવિધ સ્ફટિકીય વિશ્લેષણ કરી શકાય છે. જો તેને ફિલ્ટર કરવામાં આવે જેથી માત્ર ચોક્કસ વિવર્તન સ્થળની નજીકના પ્રદેશની માહિતીનો ઉપયોગ કરવામાં આવે (બાકીની માહિતી શૂન્ય પર સેટ કરવામાં આવે છે), તો ઇન્વર્સ ફોરિયર ટ્રાન્સફોર્મ દ્વારા મેળવેલ ફિલ્ટર કરેલ સીધી છબી પછી ફક્ત પસંદ કરેલા વિવર્તન સ્થળને અનુરૂપ પ્લેનને દર્શાવે છે. વધુમાં, તેની જટિલ પ્રકૃતિને કારણે, વારંવારની છબીનો ઉપયોગ કંપનવિસ્તાર અને તબક્કાની ગણતરી કરવા માટે થઈ શકે છે. છબીમાં દર્શાવવામાં આવેલા એક સ્ફટિકીય સમતલના વેક્ટર સાથે મળીને, તેનો ઉપયોગ આપેલ સમતલનું 2D નકશા આંતર-સમતલ અંતર પેદા કરવા માટે થઈ શકે છે. જો બિન-સમાંતર સમતલના બે વાહક જાણીતા હોય, તો પદ્ધતિનો ઉપયોગ તાણ અને વિસ્થાપનના નકશા બનાવવા માટે થઈ શકે છે. જી. પી. એ. જી. યુ. આઈ. નું ગ્રાફિકલ યુઝર ઇન્ટરફેસ ઊભી રીતે બે ભાગમાં વહેંચાયેલું છે, જેમાંના દરેકમાં નીચેનાનો સમાવેશ થાય છેઃ ડિફ્રેક્ટોગ્રામ પૂર્વાવલોકન જે સ્ફટિકીય સમતલને અનુરૂપ એક વિવર્તન સ્થળ પસંદ કરવાની મંજૂરી આપે છે. પસંદ કરેલ જથ્થાનું વિઝ્યુલાઇઝેશન (ઇનપુટ ઇમેજ, ફિલ્ટર કરેલ ઇમેજ અથવા ઉપર ઉલ્લેખિત નકશામાંથી એક) વધુ વિશ્લેષણ માટે રસના બિંદુ અથવા રસના પ્રદેશને પસંદ કરવાની મંજૂરી આપે છે. બિંદુ અથવા રસના ક્ષેત્રના વિગતવાર વિશ્લેષણના પરિણામો. બિંદુ વિશ્લેષણ વપરાશકર્તાને ચોક્કસ પિક્સેલ અને તેના નજીકના પડોશના ચોક્કસ મૂલ્યો જોવા માટે વિઝ્યુઅલાઈઝ્ડ નકશાના કોઈપણ પિક્સેલને પસંદ કરવાની મંજૂરી આપે છે. જો વ્યાપક વિસ્તારનું વિશ્લેષણ જરૂરી હોય, તો બહુકોણીય પ્રદેશને નકશામાં રેખાંકિત કરી શકાય છે, જે તેની આંકડાકીય વિગતોની ગણતરી કરવા માટે પરવાનગી આપે છેઃ સરેરાશ, પ્રમાણભૂત વિચલન, મધ્ય, લઘુત્તમ, મહત્તમ અને બહુકોણનો કુલ વિસ્તાર. ઇન્ટરફેસનો દરેક અડધો ભાગ એક સ્ફટિકીય સમતલને સ્પષ્ટ કરવાની મંજૂરી આપે છે, તેથી જી. પી. એ. જી. યુ. આઈ. ઉપરોક્ત તમામ સ્ફટિકીય જથ્થાની ગણતરી કરવાની મંજૂરી આપે છે, જેમાં બે વેક્ટરની જરૂર પડે છે. સમગ્ર વિશ્લેષણની ચોકસાઈ અને પુનરાવર્તનીયતા વિવર્તન શિખર સ્થાનિકીકરણની ચોકસાઈ પર આધાર રાખે છે. મેન્યુઅલ પીક લોકલાઇઝેશનની અચોક્કસતાને દૂર કરવા માટે (માઉસ ક્લિક સાથે), જી. પી. એ. જી. યુ. આઈ. શિખરોને સચોટ રીતે સ્થાનિકીકરણ અને અનુક્રમણિકા કરવા માટે ઇનપુટ ઈમેજ પર પ્રક્રિયા કરવાની સંભાવના પ્રદાન કરે છે. આ પણ જુઓ ટ્રાન્સમિશન ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ પસંદ કરેલ વિસ્તાર વિવર્તન કન્વર્જન્ટ બીમ ઇલેક્ટ્રોન વિવર્તન ઉચ્ચ-રીઝોલ્યુશન ટ્રાન્સમિશન ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપી ભૌમિતિક તબક્કા વિશ્લેષણ ઇલેક્ટ્રોન ક્રિસ્ટલોગ્રાફી સ્ફટિક માળખું કમ્પ્યુટર વિઝન આર્ટિફિશિયલ ઇન્ટેલિજન્સ ફોરિયર ટ્રાન્સફોર્મ ગૌસિયન્સનો તફાવત હોફ ટ્રાન્સફોર્મ આર. એ. એન. એસ. એ. સી. ચેક એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસ નોંધો સંદર્ભો બાહ્ય કડીઓ CrysTBox ચેક એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસ ઇન્સ્ટિટ્યૂટ ઓફ ફિઝિક્સ ઓફ ચેક એકેડેમી ઓફ સાયન્સિસ ક્રિસ્ટલોગ્રાફી ઓપન ડેટાબેઝ અકાર્બનિક ક્રિસ્ટલ સ્ટ્રક્ચર ડેટાબેઝ ક્રિસ્ટલોગ્રાફી વિજ્ઞાન શિક્ષણ સોફ્ટવેર ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપી કમ્પ્યુટર વિઝન સોફ્ટવેર વિઝ્યુલાઇઝેશન સોફ્ટવેર