SEM-XRF
SEM-XRF એ સ્કેનીંગ ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ (SEM) માં (સામાન્ય રીતે માઇક્રો-ફોકસ) એક્સ-રે જનરેટર (એક્સ-રે સ્રોત) ઉમેરવા માટેનો એક સ્થાપિત તકનીકી શબ્દ છે. સ્મોલ-સ્પોટ લો-પાવર એક્સ-રે ટ્યુબ્સ અને પોલીકેપિલરી એક્સ-રે ઓપ્ટિક્સના ક્ષેત્રોમાં ટેકનોલોજીકલ પ્રગતિએ કોમ્પેક્ટ માઇક્રો-ફોકસ એક્સ-રે સ્રોતોના વિકાસને સક્ષમ બનાવ્યો છે જે ઊર્જા-પ્રસારક એક્સ-રે સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી (ઈડીએસ, ઈડીએક્સ, ઈડીએક્સએસ અથવા એક્સઈડીએસ) માટે સજ્જ એસઈએમ સાથે જોડી શકાય છે. જમણી બાજુની છબીમાં બતાવ્યા પ્રમાણે, જ્યારે માઇક્રો-ફોકસ એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સ (માઇક્રોએક્સઆરએફ) એસઇએમ સાથે કરવામાં આવે છે, ત્યારે યોગ્યતાના મૂળભૂત વિશ્લેષણાત્મક વિશ્લેષણાત્મક આંકડાઓ તે બિંદુ સુધી વિસ્તૃત કરવામાં આવે છે જ્યાં ટ્રેસ લેવલ ક્વોન્ટિફિકેશન અને બલ્ક એનાલિસિસ શક્ય છે. ઇલેક્ટ્રોન સાથે અને ફોટોન સાથે અનુક્રમે ઉત્તેજિત એક્સ-રે સ્પેક્ટ્રાથી મેળવેલી વિશ્લેષણાત્મક માહિતીને જોડીને, નીચા અને ઉચ્ચ અણુ સંખ્યાના મુખ્ય ઘટકો તેમજ ટ્રેસ તત્વોનું વિશ્લેષણ કરી શકાય છે-જોકે વિવિધ અવકાશી ઠરાવો સાથે. 1986માં, સેન્ડિયા અને લોરેન્સ લિવરમોર નેશનલ લેબ્સે એક્સ-રે માઇક્રો-ફ્લોરોસન્સને અસર કરતા પરિમાણો અંગે (કેવેક્સ કોર્પોરેશન સાથે) એક પેપરનું સહલેખન કર્યું હતું. 1988 માં અનુવર્તી તરીકે, ક્રોસ એન્ડ વેરીએ એક્સ-રે માઇક્રો-ફ્લોરોસન્સ વિશ્લેષકનું વર્ણન કર્યું હતું, જે પ્રમાણમાં નાના અવકાશી ભેદભાવ (50 માઇક્રોનથી ઓછા) સાથે એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સની બિન-વિનાશક વિશ્લેષણાત્મક પદ્ધતિને જોડે છે, જેમ કે રચના (રસાયણશાસ્ત્ર), જાડાઈ અને સૂક્ષ્મ-માળખાકીય માપન થોડા સેકન્ડોમાં વિવિધ પ્રકારની વિજાતીય સામગ્રી પર કરી શકાય છે. એવું દર્શાવવામાં આવ્યું હતું કે, X-Y તબક્કા સાથે નમૂનાઓને સ્કેન કરીને, માત્રાત્મક અથવા ગુણાત્મક સૂક્ષ્મ-માળખાકીય માહિતી એકત્રિત કરી શકાય છે. આ બંને કાગળોએ SEM સાથે માઇક્રો-એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સના આગામી એકીકરણનું પૂર્વાવલોકન પૂરું પાડ્યું હતું. 1991 સુધીમાં, પોઝ્ગાઇએ એક સમીક્ષા લેખ પ્રકાશિત કર્યો હતો જેમાં SEM સંદર્ભમાં એક્સ-રે માઇક્રો-ફ્લોરોસન્સ વિશ્લેષણ હાથ ધરવાની શક્યતાઓનું વિગતવાર વર્ણન કરવામાં આવ્યું હતું. મુખ્ય અભિગમોમાં ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપના ઇલેક્ટ્રોન ઓપ્ટિકલ સ્તંભને ટ્રાન્સમિશન એક્સ-રે ટ્યુબમાં રૂપાંતરિત કરવું, માઇક્રો-કેન્દ્રિત એક્સ-રે ટ્યુબનો ઉપયોગ કરવો, કેશિલરી તકનીકો સાથે એક્સ-રે ટ્યુબને જોડવી, તેમજ મોનોક્રોમેટર સાથે એક્સ-રે ટ્યુબને જોડવી અને સિંક્રોટ્રોન રેડિયેશન લાગુ કરવું સામેલ છે. SEM-XRFનું સૌપ્રથમ વ્યાપારીકરણ માર્ચ 2005માં IXRF સિસ્ટમ્સ (ઓસ્ટિન, TX) દ્વારા કરવામાં આવ્યું હતું. બ્રુકર કોર્પોરેશન (બિલેરિકા, એમએ) ઓગસ્ટ 2013 માં અનુસર્યું. સંદર્ભો બાહ્ય SEM પર ED-EPMA, WD-EPMA અને μ-XRF સાથે એડવાન્સ્ડ એલિમેન્ટલ એનાલિસિસને જોડે છે. વી. ડી. હોડોરોબા, એટ અલ. માઇક્રોસ્કોપી અને માઇક્રોએનાલિસિસ 17:600-601, જુલાઈ 2011. SEM-EDS અને માઇક્રો-XRF-SEM દ્વારા કાર્બન-કોટેડ શેર્ડ પર આયર્ન-આધારિત માટીકામ રંગદ્રવ્યની શોધની સરખામણી. માઈકલ પેન્ડલટન, એટ અલ. યેલ જર્નલ ઓફ બાયોલોજી એન્ડ મેડિસિન. 87 (1): 15-20, માર્ચ 2014. SEMમાં માઇક્રો-XRF ઉત્તેજના. એમ. હેશ્કે, એફ. એગર્ટ અને ડબ્લ્યુ. ટી. એલમ. એક્સ-રે સ્પેક્ટ્રોમેટ્રી. વોલ્યુમ. 36, નં. 4, પૃ. 254-259 (2007). સ્કેનીંગ ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપમાં માઇક્રો-એક્સઆરએફ. માઈકલ હેશ્કે અને સ્ટીફન બોહેમ. ઇમેજિંગ અને ઇલેક્ટ્રોન ભૌતિકશાસ્ત્રમાં પ્રગતિ. વોલ્યુમ. 199, પી 1-60, (2017). પ્રયોગશાળાના સ્રોતો સાથે એંગલ-રિઝોલ્વ્ડ એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સ સ્પેક્ટ્રોમેટ્રી માટે લવચીક સેટઅપ. એમ. સ્પાનિયર, સી. હર્ઝોગ, ડી. ગ્રોટ્ઝશ, એફ. ક્રેમર, આઈ. માન્ટોવાલોઉ, જે. લ્યુબેક, જે. વેસર, સી. સ્ટ્રીક, ડબલ્યુ. માલઝર, બી. બેખોફ, બી. કાન્ગીઝર. વૈજ્ઞાનિક સાધનોની સમીક્ષા, વોલ્યુમ 87, નંબર 3, (035108), (2016). માઈકલ હેશ્કે, લેબોરેટરી માઇક્રો-એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી, વોલ્યુમ. 55 (2014). માઇક્રોસ્કોપિક એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સનો ઉપયોગ કરીને પર્યાવરણીય વિજ્ઞાનમાં વલણો. ઉર્સુલા એલિઝાબેથ એડ્રિયન ફિટ્સચેન અને ગેરાલ્ડ ફાલ્કેનબર્ગ. સ્પેક્ટ્રોચિમિકા એક્ટા ભાગ બીઃ અણુ સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી, વોલ્યુમ 66, નંબર 8, પી 567-580 (2011). સ્કેટર સ્પેક્ટ્રાની ગણતરી સાથે જોડાણ માપન દ્વારા SEM પર માઇક્રો-ફોકસ XRF માટે X-રે લેન્સના વાસ્તવિક પ્રસારણનું નિર્ધારણ. વી.-ડી. હોડોરોબા અને એમ. પ્રોકોપ. એક્સ-રે સ્પેક્ટ્રોમેટ્રી, વોલ્યુમ 38, નંબર 3, પી 216-221, (2009). SEM પ્રોકોપ, માથિયાસ વગેરે સાથે XRF વિશ્લેષણ માટે માઇક્રો-ફોકસ એક્સ-રે સ્રોતની ઓછી ઊર્જાની કામગીરીમાં સુધારો. એક્સ-રે સ્પેક્ટ્રોમેટ્રીઃ એન ઇન્ટરનેશનલ જર્નલ 38.4 (2009): 308-311. SEMમાં સુધારેલા EDS અને XRF વિશ્લેષણ માટે માઇક્રોફોકસ એક્સ-રે સ્રોત. પ્રોકોપ, મેથિયાસ, વેસિલે-ડેન હોડોરોબા અને વેનેસા રેકવિટ્ઝ. માઇક્રોસ્કોપી અને વિશ્લેષણ/યુરોપિયન આવૃત્તિ. પી 10-13 (મે, 2011). સ્કેનીંગ ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપ માટે વધારાની વિશ્લેષણાત્મક પદ્ધતિ તરીકે એક્સ-રે ફ્લોરોસન્સ. પ્રોકોપ, એમ., હોડોરોબા, વી. માઇક્રોચિમ એક્ટા વોલ્યુમ 161, પી 413-419 (2008). એક્સ. આર. એફ. વિશ્લેષણમાં કોમ્પટન-થી-રેલે તીવ્રતા ગુણોત્તરના ઉપયોગ દ્વારા સુધારેલ રાસાયણિક રચના પ્રાપ્ત કરવી. હોડોરોબા, વેસિલે-ડેન અને વેનેસા રેકવિટ્ઝ. વિશ્લેષણાત્મક રસાયણશાસ્ત્ર 86.14 (2014): 6858-6864. પેન્ડલટન, એમ. ડબલ્યુ., વગેરે. SEM-EDS અને માઇક્રો-XRF-SEM દ્વારા રુથેનિયમ-કોટેડ પુરાતત્વીય માટીકામ પર આયર્ન આધારિત રંજકદ્રવ્યોની શોધ કરવી. માઇક્રોસ્કોપી અને માઇક્રોએનાલિસિસ 20.S3 (2014): 2030-2031. રેકવિટ્ઝ, વેનેસા, વગેરે. આરઓએચએસ સંબંધિત ઘટકોના ઉદાહરણ પર ટ્રેસ વિશ્લેષણ માટે એસઇએમ/ઇડીએસ સાથે એમયુ-એક્સઆરએફનું પ્રદર્શન-માપન, ઓપ્ટિમાઇઝેશન અને શોધ મર્યાદાની આગાહી. જર્નલ ઓફ એનાલિટીકલ એટોમિક સ્પેક્ટ્રોમેટ્રી 28.9 (2013): 1466-1474. સીબર, જ્હોન આર. અને એડમ મોર્ટેનસન. "ઉચ્ચ-વિશ્વસનીયતા એપ્લિકેશન્સમાં સોલ્ડર માટે XRF અને SEM-EDS મૂળભૂત વિશ્લેષણ પરિણામોની માન્યતા અને ટ્રેસેબિલિટી". X-રે સ્પેક્ટ્રોમેટ્રી 43.5 (2014): 259-268. માઇક્રો એક્સ. આર. એફ. એલિમેન્ટ નકશા એ ઇલેક્ટ્રોન બીમ પેદા કરતા ઓછી સાંદ્રતામાં તત્વોને શોધવાની નવી પદ્ધતિ છે કોરોલેરીઃ એક ગાર્નેટ શિસ્ટ ઉદાહરણ. "માઇક્રોસ્કોપી અને માઇક્રોએનાલિસિસ 15.S2 (2009): 34-35. બે વ્યાપારી વિક્રેતાઓ આ તકનીક પ્રદાન કરે છેઃ Xb માઇક્રો-XRF ક્વાન્ટાક્સ માઇક્રો-XRF ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપી તકનીકો