Coherent microwave scattering
সুসঙ্গত মাইক্রোওয়েভ বিচ্ছুরণ একটি ডায়াগনস্টিক কৌশল যা ধ্রুপদী মাইক্রোপ্লাজমার বৈশিষ্ট্যকরণে ব্যবহৃত হয়। এই কৌশলে, অধ্যয়নরত প্লাজমাকে প্লাজমার বৈশিষ্ট্যগত স্থানিক মাত্রার তুলনায় দীর্ঘ তরঙ্গদৈর্ঘ্যের মাইক্রোওয়েভ ক্ষেত্র দিয়ে বিকিরণ করা হয়। যথেষ্ট কম ত্বকের গভীরতা সহ প্লাজমার জন্য, লক্ষ্যটি পর্যায়ক্রমে একটি অভিন্ন পদ্ধতিতে মেরুকৃত হয় এবং ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকা ক্ষেত্রটি পরিমাপ ও বিশ্লেষণ করা যায়। এই ক্ষেত্রে, নির্গত বিকিরণটি মূলত আয়নগুলির পরিবর্তে ইলেক্ট্রন অবদান দ্বারা নির্ধারিত একটি স্বল্প-দ্বিমেরু-র অনুরূপ। বিক্ষেপণকে অনুরূপভাবে গঠনমূলক স্থিতিস্থাপক হিসাবে উল্লেখ করা হয়। পরিমাপ করা বিকিরণ থেকে বিভিন্ন বৈশিষ্ট্য পাওয়া যায় যেমন মোট ইলেক্ট্রন সংখ্যা, ইলেক্ট্রন সংখ্যার ঘনত্ব (যদি প্লাজমার আয়তন জানা থাকে), চৌম্বকীয়-প্ররোচিত ডিপোলারাইজেশনের মাধ্যমে স্থানীয় চৌম্বক ক্ষেত্র এবং ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকা পর্যায়ে ভরবেগ স্থানান্তরের জন্য ইলেক্ট্রন সংঘর্ষের ফ্রিকোয়েন্সি। কৌশলটির উল্লেখযোগ্য সুবিধাগুলির মধ্যে রয়েছে উচ্চ সংবেদনশীলতা, একটি অস্তরক বিচ্ছুরণ নমুনা ব্যবহার করে ক্রমাঙ্কন সহজতর করা, ভাল অস্থায়ী রেজোলিউশন, কম শট শব্দ, অ-অনুপ্রবেশকারী অনুসন্ধান, প্রজাতি-নির্বাচন যখন অনুরণন-বর্ধিত মাল্টিপোটন আয়নীকরণের (আরইএমপিআই) সাথে মিলিত হয়, একক-শট অধিগ্রহণ এবং অবিচ্ছিন্ন স্ক্যানিংয়ের কারণে সময়-গেটিংয়ের ক্ষমতা। ইতিহাস প্রাথমিকভাবে প্রিন্সটন বিশ্ববিদ্যালয়ে মিখাইল স্নাইডার এবং রিচার্ড মাইলস দ্বারা উদ্ভাবিত, সুসংগত মাইক্রোওয়েভ বিচ্ছুরণ ফটোঅয়নাইজেশন এবং ইলেক্ট্রন-ক্ষতির হার পরিমাপ থেকে শুরু করে প্রজাতি সনাক্তকরণ, বায়বীয় মিশ্রণ এবং প্রতিক্রিয়া বৈশিষ্ট্যকরণ, আণবিক স্পেকট্রোস্কোপি, ইলেক্ট্রন প্রপালশন ডিভাইস বৈশিষ্ট্যকরণ, বিক্ষিপ্ত পর্যায়ের মধ্য দিয়ে গতিবেগ স্থানান্তরের জন্য ইলেক্ট্রন সংঘর্ষের ফ্রিকোয়েন্সিগুলির স্ট্যান্ডঅফ পরিমাপ এবং চৌম্বকীয়ভাবে-প্ররোচিত ডিপোলারাইজেশনের মাধ্যমে স্থানীয় ভেক্টর চৌম্বকীয় ক্ষেত্রগুলির স্ট্যান্ডঅফ পরিমাপের ক্ষেত্রে একটি মূল্যবান কৌশল হয়ে উঠেছে। বিচ্ছুরণ ব্যবস্থা চৌম্বকীয় ডিপোলারাইজেশনের অনুপস্থিতিতে রৈখিক-মেরুকৃত মাইক্রোওয়েভ বিচ্ছুরণের সহজতম মূর্তির জন্য, বিচ্ছুরকগুলির মধ্যে পারস্পরিক সম্পর্কের কারণে তিনটি ব্যবস্থা দেখা দিতে পারে। থমসন শাসন বলতে মুক্ত প্লাজমা ইলেকট্রনগুলিকে বোঝায় যা আপতিত মাইক্রোওয়েভ ক্ষেত্রের সাথে পর্যায়ক্রমে দোলন করে। একটি স্বাধীন ইলেক্ট্রনের মোট বিচ্ছুরণ ক্রস-সেকশন তারপর ধ্রুপদী থমসন ক্রস সেকশনের সাথে মিলে যায় এবং মাইক্রোওয়েভ তরঙ্গদৈর্ঘ্য λ থেকে স্বাধীন। দ্বিতীয়ত, স্নাইডার-মাইলস বিচ্ছুরণ (এসএম, প্রায়শই সংঘর্ষমূলক বিচ্ছুরণ হিসাবে উল্লেখ করা হয়) বিকিরণ ক্ষেত্রের সাপেক্ষে 90 ডিগ্রি স্থানান্তরিত স্থানচ্যুতি দোলন সহ সংঘর্ষ-অধ্যুষিত ইলেক্ট্রন গতিকে বোঝায়। মোট বিচ্ছুরণ ক্রস-সেকশন অনুরূপভাবে একটি ω2 নির্ভরতা প্রদর্শন করে-একটি অনন্য ব্যবস্থা যা আন্তঃকণিকার মিথস্ক্রিয়ার মাধ্যমে সম্ভব হয়েছে। পরিশেষে, রেলেইগ বিচ্ছুরণ ব্যবস্থা পর্যবেক্ষণ করা যেতে পারে যা পুনরুদ্ধার-বল-অধ্যুষিত ইলেক্ট্রন গতির সাথে যুক্ত এবং এর ভলিউমেট্রিক মেরুকরণযোগ্য অপটিক্যাল প্রতিরূপের সাথে একটি ω4 নির্ভরতা ভাগ করে। এই ক্ষেত্রে "বিচ্ছুরণ কণা" সমগ্র প্লাজমা বস্তুটিকে বোঝায়। এইভাবে, প্লাজমা সম্প্রসারণ মাই বিচ্ছুরণের দিকে একটি রূপান্তর ঘটাতে পারে। লক্ষ্য করুন যে রেলে শাসন এখানে বিকিরণের আরও বিস্তৃত ছোট-দ্বিমেরু আনুমানিকতার পরিবর্তে ছোট কণা ω4 বিচ্ছুরণকে বোঝায়। রেফারেন্স স্পেকট্রোস্কোপি