Time-dependent gate oxide breakdown
সময়-নির্ভর গেট অক্সাইড ভাঙ্গন (বা সময়-নির্ভর অস্তরক ভাঙ্গন, টি. ডি. ডি. বি) হল এক ধরনের ট্রানজিস্টর বার্ধক্য, এম. ও. এস. এফ. ই. টি-তে একটি ব্যর্থ প্রক্রিয়া, যখন তুলনামূলকভাবে কম বৈদ্যুতিক ক্ষেত্রের দীর্ঘমেয়াদী প্রয়োগের ফলে গেট অক্সাইড ভেঙে যায় (তাৎক্ষণিক ভাঙ্গনের বিপরীতে, যা শক্তিশালী বৈদ্যুতিক ক্ষেত্রের কারণে ঘটে)। ইলেক্ট্রন টানেলিং কারেন্টের কারণে গেট অক্সাইডের মধ্য দিয়ে সাবস্ট্রেটে একটি পরিবাহী পথ গঠনের কারণে এই ভাঙ্গন ঘটে, যখন এম. ও. এস. এফ. ই. টিগুলি তাদের নির্দিষ্ট অপারেটিং ভোল্টেজের কাছাকাছি বা তার বাইরে পরিচালিত হয়। মডেল অস্তরক তড়িৎপ্রবাহে ত্রুটির সৃষ্টি একটি অপ্রচলিত প্রক্রিয়া। ভাঙনের দুটি পদ্ধতি রয়েছে, অভ্যন্তরীণ এবং বাহ্যিক। অভ্যন্তরীণ ভাঙ্গন বৈদ্যুতিক চাপ প্ররোচিত ত্রুটি উৎপাদনের কারণে ঘটে। উৎপাদন প্রক্রিয়া দ্বারা প্ররোচিত ত্রুটির কারণে বাহ্যিক ভাঙ্গন ঘটে। ইন্টিগ্রেটেড সার্কিটের জন্য, ভাঙ্গনের সময় নির্ভর করে অস্তরক (গেট অক্সাইড)-এর পুরুত্বের উপর এবং উপাদানের প্রকারের উপর, যা উৎপাদন প্রক্রিয়া নোডের উপর নির্ভরশীল। গেট অক্সাইড পুরুত্ব> 4এনএম সহ পুরানো প্রজন্মের পণ্যগুলি সিওও2-এর উপর ভিত্তি করে এবং গেট অক্সাইড <4এনএম সহ উন্নত প্রক্রিয়া নোডগুলি উচ্চ-কে ডাইলেক্ট্রিক উপকরণের উপর ভিত্তি করে। বিভিন্ন ব্রেকডাউন মডেল রয়েছে এবং গেট অক্সাইডের পুরুত্ব মডেলটির বৈধতা নির্ধারণ করে। ই মডেল, 1/ই মডেল এবং পাওয়ার ল এক্সপোনেনশিয়াল মডেল হল সাধারণ মডেল যা ব্রেকডাউন আচরণকে চিত্রিত করে। ইন্টিগ্রেটেড সার্কিট (আইসি) উপাদানগুলির ব্যর্থতার ধরণগুলি ক্লাসিক বাথ টব বক্ররেখা অনুসরণ করে। শিশু মৃত্যুহার রয়েছে, যা সাধারণত উৎপাদন ত্রুটির কারণে ব্যর্থতার হার হ্রাস করছে। একটি কম ধ্রুবক ব্যর্থতার হার যা এলোমেলো প্রকৃতির। বার্ধক্যজনিত সেমিকন্ডাক্টর অবক্ষয় পদ্ধতির কারণে পরিধান ব্যর্থতা ব্যর্থতা বৃদ্ধি করছে। টিডিডিবি হল অভ্যন্তরীণ ক্ষয়প্রাপ্ত ব্যর্থতা প্রক্রিয়াগুলির মধ্যে একটি। যে কোনও অপারেটিং অবস্থার জন্য টিডিডিবি সহ সেমিকন্ডাক্টর ওয়ার আউট পদ্ধতির জন্য আইসি উপাদানগুলির কার্যকারিতা মূল্যায়ন করা যেতে পারে। উপরে উল্লিখিত ব্রেকডাউন মডেলগুলি সময় নির্ভর ডাইলেক্ট্রিক ব্রেকডাউন (টিডিডিবি)-এর কারণে উপাদানটির ব্যর্থ হওয়ার সময়ের পূর্বাভাস দিতে ব্যবহার করা যেতে পারে। পরীক্ষা পদ্ধতি টিডিডিবি আচরণের তদন্তের জন্য সর্বাধিক ব্যবহৃত পরীক্ষা হল "ধ্রুবক চাপ"। ধ্রুবক চাপ পরীক্ষা ধ্রুবক ভোল্টেজ চাপ (সিভিএস) বা ধ্রুবক বর্তমান চাপের আকারে প্রয়োগ করা যেতে পারে। প্রথমটিতে, একটি ভোল্টেজ (যা প্রায়শই অক্সাইডের ব্রেকডাউন ভোল্টেজের চেয়ে কম) গেটে প্রয়োগ করা হয়, যখন এর ফুটো স্রোত পর্যবেক্ষণ করা হচ্ছে। এই ধ্রুবক প্রয়োগকৃত ভোল্টেজের অধীনে অক্সাইডটি ভেঙে যেতে যে সময় লাগবে তাকে টাইম-টু-ব্যর্থতা বলা হয়। সময়-থেকে-ব্যর্থতার বন্টন পেতে পরীক্ষাটি বেশ কয়েকবার পুনরাবৃত্তি করা হয়। এই বিতরণগুলি নির্ভরযোগ্যতার প্লট তৈরি করতে এবং অন্যান্য ভোল্টেজে অক্সাইডের টিডিডিবি আচরণের পূর্বাভাস দিতে ব্যবহৃত হয়। আরও দেখুন কিউবিডি উচ্চ-তাপমাত্রার অপারেটিং লাইফ রেফারেন্স সেমিকন্ডাক্টর যন্ত্রের ত্রুটি