Photon-Induced Near-field Electron Microscopy
ফোটন-ইনডিউসড নিয়ার-ফিল্ড ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (পি. আই. এন. ই. এম) আল্ট্রাফাস্ট ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি কৌশলের একটি রূপ এবং এটি একটি পৃষ্ঠ বা ন্যানোস্ট্রাকচারের উপস্থিতিতে ইলেক্ট্রন এবং ফোটনের মধ্যে স্থিতিস্থাপক সংযোগের উপর ভিত্তি করে তৈরি। এই পদ্ধতিটি একজনকে একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে সময়-পরিবর্তিত ন্যানোস্কেল বৈদ্যুতিন চৌম্বকীয় ক্ষেত্র অনুসন্ধান করার অনুমতি দেয়। দৃশ্যমান আলোর জন্য, যেমন ইলেকট্রন এবং আলোর মধ্যে স্থিতিস্থাপক সংযোগ, অর্থাৎ। মুক্ত স্থানে (ভ্যাকুয়াম) ফোটনগুলির সরাসরি শোষণ বা নির্গমন নিষিদ্ধ কারণ একই সাথে শক্তি এবং ভরবেগ উভয়ই সংরক্ষণ করা সম্ভব নয়। কোনও পৃষ্ঠ বা ন্যানোস্ট্রাকচার থেকে আলো প্রতিফলিত বা ছড়িয়ে পড়ার ফলে ফোটন ভরবেগ প্রসারিত হলে এই সীমাবদ্ধতাকে অতিক্রম করা যেতে পারে। এই প্রক্রিয়াটি তখন একটি বিস্তৃত ভরবেগ বণ্টনের সাথে অস্পষ্টভাবে সীমাবদ্ধ ক্ষেত্র তৈরি করবে, একটি ন্যানোকনফাইন্ড স্পেসে উচ্চ তীব্রতায় পৌঁছাবে এবং এইভাবে ইলেক্ট্রন-লাইট কাপলিংয়ের ক্রস সেকশনকেও বাড়িয়ে তুলবে। তাত্ত্বিকভাবে, পার্ক এট আল, গার্সিয়া ডি আবাজো এট আল এই ঘটনার বিশ্লেষণাত্মক বিবরণ প্রদান করেছেন। এবং ফেইস্ট এট আল। এই কাজগুলিতে লেখকরা দেখিয়েছেন যে ইলেক্ট্রন-আলোর মিথস্ক্রিয়ার শক্তি নির্ভর করে ইলেক্ট্রন প্রসারণের দিক বরাবর বৈদ্যুতিক ক্ষেত্রের অভিক্ষেপের সাথে রৈখিক সংযোগের উপর। বিশেষ করে, ফেইস্ট এবং অন্যান্যরা। এছাড়াও পরীক্ষামূলকভাবে প্রদর্শিত হয়েছে যে মিথস্ক্রিয়া প্রক্রিয়ার ফলে ইলেক্ট্রন তরঙ্গ প্যাকেটের একটি সুসঙ্গত বর্ণালী পুনর্বণ্টন ঘটে যা একটি বহু-স্তরের কোয়ান্টাম মইয়ের রবি দোলন তৈরি করে যেখানে ফোটন শক্তি দ্বারা রাজ্যগুলি পৃথক করা হয়। ফটোনিক্স প্রয়োগের জন্য বিশেষভাবে আকর্ষণীয় হল যে এই ধরনের অস্থিতিশীল বিচ্ছুরণ প্রক্রিয়ার অধীনে থাকা ইলেকট্রনগুলির বর্ণালী, স্থানিক এবং ভরবেগ বিতরণগুলি ইলেক্ট্রন-আলো সংযোগের মধ্যস্থতাকারী নিকট-ক্ষেত্র বিতরণের সাথে কঠোরভাবে সম্পর্কযুক্ত। পরেরটিকে অতিস্বনক ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপি পদ্ধতির সাহায্যে স্থান এবং সময়ে ম্যাপ করা যেতে পারে, যা ন্যানোস্ট্রাকচার এবং তার আশেপাশের ন্যানোস্কেল ক্ষেত্রের ফেমটোসেকেন্ড চলচ্চিত্র সরবরাহ করে। আরও মজার বিষয় হল, উপযুক্তভাবে প্রস্তুত বৈদ্যুতিন চৌম্বকীয় ক্ষেত্রের বিন্যাস ব্যবহার করে বৈদ্যুতিন রশ্মির তরঙ্গ বৈশিষ্ট্যগুলিকে গতিশীলভাবে পরিচালনা করতেও পি. আই. এন. ই. এম পদ্ধতি ব্যবহার করা যেতে পারে। এইভাবে, কেউ অনুদৈর্ঘ্য এবং আড়াআড়ি উভয় দিক বরাবর ইলেক্ট্রন রশ্মির প্রশস্ততা এবং পর্যায়কে সুসঙ্গতভাবে সংশোধন করতে পারে। আরও দেখুন ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি ইলেক্ট্রন এনার্জি লস স্পেকট্রোস্কোপি (ই. ই. এল. এস) এনার্জি ফিল্টারড ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (ই. এফ. টি. ই. এম) রেফারেন্স ইলেক্ট্রন বিম ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি কৌশল বৈজ্ঞানিক কৌশল কোয়ান্টাম ইলেক্ট্রোডায়নামিক্স ফটোনিক্স