Structured Illumination Light Sheet Microscopy
স্ট্রাকচার্ড ইলুমিনেশন লাইট শীট মাইক্রোস্কোপি (এসআই-এলএসএম) একটি অপটিক্যাল ইমেজিং কৌশল যা তিনটি মাত্রায় উচ্চ সাময়িক এবং স্থানিক রেজোলিউশন সহ ভলিউমেট্রিক ইমেজিং অর্জনের জন্য ব্যবহৃত হয়। এটি কাঠামোগত আলোকসজ্জার মাইক্রোস্কোপির উচ্চ অক্ষীয় এবং স্থানিক রেজোলিউশনের বৈশিষ্ট্যের সাথে তুলনামূলকভাবে পুরু নমুনা জুড়ে স্থানিক রেজোলিউশন বজায় রাখার জন্য হালকা শীট মাইক্রোস্কোপির ক্ষমতাকে একত্রিত করে। এসআই-এলএসএম শত শত মাইক্রোমিটার পুরু জৈবিক নমুনায় 100 এনএম-এর নিচে পার্শ্বীয় রেজোলিউশন অর্জন করতে পারে। এস. আই-এল. এস. এম প্রায়শই জীবন্ত জৈবিক নমুনার ফ্লুরোসেন্ট ইমেজিংয়ের জন্য ব্যবহৃত হয়, যেমন কোষ কালচার। এটি অনুদৈর্ঘ্য অধ্যয়নের জন্য বিশেষভাবে কার্যকর, যেখানে নমুনার ক্ষতি না করে দীর্ঘ সময় ধরে উচ্চ-হারের ইমেজিং করা আবশ্যক। থ্রিডি নমুনার ফ্লুরোসেন্ট ইমেজিংয়ের জন্য সর্বাধিক ব্যবহৃত দুটি পদ্ধতি-কনফোকাল মাইক্রোস্কোপি এবং ওয়াইডফিল্ড মাইক্রোস্কোপি-উভয়েরই এই ধরনের প্রয়োগের জন্য উল্লেখযোগ্য ত্রুটি রয়েছে। ওয়াইডফিল্ড মাইক্রোস্কোপি-তে, আগ্রহের সমতল থেকে ইন-ফোকাস আলো এবং বাকি নমুনা থেকে আউট-অফ-ফোকাস আলো উভয়ই একসাথে অর্জিত হয়, যা "মিসিং শঙ্কু সমস্যা" তৈরি করে যা উচ্চ রেজোলিউশনের ইমেজিংকে কঠিন করে তোলে। যদিও কনফোকাল মাইক্রোস্কোপি মূলত ফোকাসবিহীন আলোকে অবরুদ্ধ করার জন্য একটি পিনহোল ব্যবহার করে এই সমস্যার সমাধান করে, তবে এই কৌশলটি অনিবার্যভাবে দরকারী সংকেতকেও অবরুদ্ধ করে, যা সংকেতটি ইতিমধ্যে খুব দুর্বল হলে ফ্লুরোসেন্ট ইমেজিংয়ে বিশেষভাবে ক্ষতিকারক। উপরন্তু, ওয়াইডফিল্ড এবং কনফোকাল মাইক্রোস্কোপি উভয়ই ইমেজিং জুড়ে নমুনার সম্পূর্ণতাকে আলোকিত করে, যা কিছু নমুনায় ফটোব্লিচিং এবং ফটোটক্সিসিটির সমস্যা সৃষ্টি করে। যদিও শুধুমাত্র লাইট-ফিল্ড মাইক্রোস্কোপি এই সমস্যাগুলির বেশিরভাগই সমাধান করতে পারে, তবে এর অর্জিত রেজোলিউশন এখনও আলোর বিচ্ছুরণ দ্বারা মৌলিকভাবে সীমাবদ্ধ এবং এটি সুপার-রেজোলিউশন অর্জন করতে অক্ষম। এস. আই-এল. এস. এম চিত্রায়িত ভলিউমের একটি একক সমতল আলোকিত করার জন্য অভিন্ন আলোর পাতার পরিবর্তে একটি প্যাটার্ন ব্যবহার করে কাজ করে। এইভাবে, এটি কাঠামোগত আলোকসজ্জার মাইক্রোস্কোপির উচ্চ রেজোলিউশন অর্জন করার সময় লাইট-শীট মাইক্রোস্কোপির অনেক সুবিধা বজায় রাখে। পটভূমি এবং তত্ত্ব এস. আই-এল. এস. এম-এর পিছনের তত্ত্বটি কাঠামোগত আলোকসজ্জা এবং লাইট শীট মাইক্রোস্কোপির পৃথক বিকাশ বিবেচনা করে সবচেয়ে ভালভাবে বোঝা যায়। স্ট্রাকচার্ড ইলুমিনেশন মাইক্রোস্কোপি স্ট্রাকচার্ড ইলুমিনেশন মাইক্রোস্কোপি (সিম) হল সুপার-রেজোলিউশন মাইক্রোস্কোপির একটি পদ্ধতি যা আলোকসজ্জার বিভিন্ন প্যাটার্নের অধীনে একই নমুনার একাধিক চিত্র অর্জন করে সঞ্চালিত হয়, তারপরে গণনামূলকভাবে এই চিত্রগুলিকে একত্রিত করে একটি একক পুনর্গঠন অর্জন করা হয় যা বিচ্ছিন্নতা সীমিত পার্শ্বীয় রেজোলিউশনের উপর 2x পর্যন্ত উন্নতি করে। এই তত্ত্বটি প্রথম 1995 সালে জন এম গুয়েরার একটি গবেষণাপত্রে প্রস্তাব করা হয়েছিল এবং প্রয়োগ করা হয়েছিল যেখানে 50 এনএম লাইন এবং স্পেস সহ একটি সিলিকন গ্রেটিং 650 এনএম তরঙ্গদৈর্ঘ্য (বাতাসে) আলোকসজ্জার সাথে সমাধান করা হয়েছিল যা একটি স্বচ্ছ প্রতিরূপ দ্বারা কাঠামোগত ছিল। "স্ট্রাকচার্ড ইলুমিনেশন মাইক্রোস্কোপি" নামটি 2000 সালে এম. জি. এল দ্বারা উদ্ভাবিত হয়েছিল। গুস্তাফসন। সিম "মোইরে এফেক্ট"-এর সুবিধা নেয়, যা ঘটে যখন দুটি প্যাটার্ন গুণিতকভাবে সুপারইম্পোজ করা হয়। সুপারইম্পোজিশনের ফলে "মোইরে ফ্রিঞ্জ" প্রদর্শিত হয়, যা মূল প্যাটার্নের তুলনায় কোর্সার তবে এখনও উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি প্যাটার্ন সম্পর্কে তথ্য রয়েছে যা অন্যথায় দৃশ্যমান হবে না। সিমের পিছনের তত্ত্বটি ফুরিয়ার বা ফ্রিকোয়েন্সি ডোমেনে সবচেয়ে ভালভাবে বোঝা যায়। সাধারণভাবে, ইমেজিং সিস্টেমগুলি শুধুমাত্র বিচ্ছুরণ সীমার নিচে ফ্রিকোয়েন্সি সমাধান করতে পারে। সুতরাং, ফুরিয়ার ডোমেনে, চিত্রায়িত নমুনা থেকে সমস্ত রেকর্ডকৃত ফ্রিকোয়েন্সি একটি নির্দিষ্ট ব্যাসার্ধের একটি বৃত্তের মধ্যে থাকবে। এই সীমার বাইরে কোনও ফ্রিকোয়েন্সি সমাধান করা যাবে না। যাইহোক, প্যাটার্নযুক্ত আলোকসজ্জার সাথে নমুনাটি ইমেজিং করে ফ্রিকোয়েন্সি বর্ণালী স্থানান্তরিত করা যেতে পারে। প্রায়শই, প্যাটার্নটি একটি 1ডি সাইনোসয়েডাল গ্রেডিয়েন্ট, যেমন উপরের ছবিতে মোইরে প্রান্ত তৈরি করতে ব্যবহৃত প্যাটার্ন। যেহেতু একটি সাইনোসয়েডের ফুরিয়ার রূপান্তর একটি স্থানান্তরিত ডেল্টা ফাংশন, তাই এই প্যাটার্নের রূপান্তর তিনটি ডেল্টা ফাংশন নিয়ে গঠিতঃ একটি শূন্য ফ্রিকোয়েন্সিতে এবং দুটি সাইনোসয়েডের ধনাত্মক ও ঋণাত্মক ফ্রিকোয়েন্সির উপাদানগুলির সাথে সম্পর্কিত (নীচের চিত্রটি দেখুন)। যখন লক্ষ্যটি এই প্যাটার্নটি ব্যবহার করে আলোকিত করা হয়, তখন লক্ষ্য এবং আলোকসজ্জার প্যাটার্নটি বহুগুণে সুপারইম্পোজ করা হয়, যার অর্থ ফলস্বরূপ চিত্রটির ফুরিয়ার রূপান্তরটি লক্ষ্য এবং আলোকসজ্জার প্যাটার্নের পৃথক রূপান্তরগুলির কনভোলিউশন। ডেল্টা ফাংশনের সাথে যে কোনও ফাংশনকে একত্রিত করার ফলে মূল ফাংশনের কেন্দ্রটি ডেল্টা ফাংশনের অবস্থানে স্থানান্তরিত হয়। সুতরাং, এই পরিস্থিতিতে, লক্ষ্যের ফ্রিকোয়েন্সি বর্ণালী স্থানান্তরিত হয় এবং যে ফ্রিকোয়েন্সিগুলি আগে সমাধান করা খুব বেশি ছিল তা এখন সমাধানযোগ্য ফ্রিকোয়েন্সিগুলির বৃত্তের মধ্যে রয়েছে। ফলস্বরূপ, সিমের মাধ্যমে একটি একক চিত্র অধিগ্রহণের জন্য, ফুরিয়ার ডোমেনের তিনটি পৃথক অঞ্চল থেকে ফ্রিকোয়েন্সি উপাদানগুলি (কেন্দ্রের সাথে সম্পর্কিত এবং ইতিবাচক এবং নেতিবাচক স্থানান্তর) সমস্ত একসাথে ধরা হয়। পরিশেষে, যেহেতু স্থানিক ডোমেনে ঘূর্ণনের ফলে ফুরিয়ার ডোমেনে একই ঘূর্ণন হয়, তাই আলোকসজ্জার প্যাটার্নটি ঘোরানোর মাধ্যমে পূর্ণ 360°-এর উপর উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি ধরা যেতে পারে। খ) নীচের ছবিতে দেখানো হয়েছে যে 4টি পৃথক চিত্র অর্জন করে এবং প্রতিটি অধিগ্রহণের মধ্যে 45° দ্বারা আলোকসজ্জার প্যাটার্নটি ঘোরানোর মাধ্যমে কোন ফ্রিকোয়েন্সি উপাদানগুলি ধরা হবে। একবার সমস্ত ছবি তোলা হয়ে গেলে, একটি একক চূড়ান্ত চিত্র গণনামূলকভাবে পুনর্গঠন করা যেতে পারে। এই কৌশলটি ব্যবহার করে, বিচ্ছুরণ সীমার উপর 2x পর্যন্ত রেজোলিউশন উন্নত করা যেতে পারে। এই 2x সীমা আরোপ করা হয়েছে কারণ আলোকসজ্জার প্যাটার্নটি এখনও বিচ্ছুরণ সীমিত। 2ডি সিমের পিছনের ধারণাগুলি 3ডি ভলিউমেট্রিক ইমেজিংয়ে প্রসারিত করা যেতে পারে। উত্তেজনা আলোর তিনটি পারস্পরিক সুসঙ্গত রশ্মি ব্যবহার করে, চিত্রের নমুনায় একাধিক ফ্রিকোয়েন্সি উপাদান সহ হস্তক্ষেপের নিদর্শন তৈরি করা যেতে পারে। এটি শেষ পর্যন্ত তিনটি অক্ষ বরাবর 2x পর্যন্ত উন্নত রেজোলিউশন সহ 3D পুনর্গঠন সম্পাদন করা সম্ভব করে তোলে। যাইহোক, জৈবিক টিস্যুগুলির শক্তিশালী বিচ্ছুরণ সহগের কারণে, এই তাত্ত্বিক রেজোলিউশন শুধুমাত্র প্রায় 10 ইউএম এর চেয়ে পাতলা নমুনায় অর্জন করা যেতে পারে। এর বাইরে, বিচ্ছুরণ অতিরিক্ত পটভূমি সংকেতের দিকে পরিচালিত করে যা সঠিক পুনর্গঠনকে অসম্ভব করে তোলে। হালকা শীট মাইক্রোস্কোপি হালকা শীট মাইক্রোস্কোপি (এলএসএম) শারীরিক বিভাগ বা ক্লিয়ারিংয়ের প্রয়োজন ছাড়াই পুরু জৈবিক নমুনার সূক্ষ্ম অপটিক্যাল বিভাগের অনুমতি দেওয়ার জন্য তৈরি করা হয়েছিল, যা সময়সাপেক্ষ এবং ইন-ভিভো ইমেজিংয়ের জন্য ক্ষতিকারক। বেশিরভাগ ফ্লুরোসেন্ট ইমেজিং কৌশলগুলি সারিবদ্ধ আলোকসজ্জা এবং সনাক্তকরণ অক্ষ ব্যবহার করে, এলএসএম অর্থোগোনাল অক্ষ ব্যবহার করে। পাশ থেকে নমুনাকে আলোকিত করার জন্য একটি ফোকাসড লাইট শীট ব্যবহার করা হয়, এবং উপর থেকে ফ্লুরোসেন্ট সংকেত সনাক্ত করা হয়। এটি উভয়ই ওয়াইডফিল্ড মাইক্রোস্কোপির "শঙ্কু সমস্যা" দূর করে সক্রিয়ভাবে চিত্রায়িত না হওয়া সমতল থেকে ফোকাসের বাইরে অবদানগুলি সরিয়ে দেয় এবং ফটোব্লিচিংয়ের প্রভাবকে হ্রাস করে কারণ পুরো নমুনাটি ইমেজিং জুড়ে আলোকিত হয় না। উপরন্তু, যেহেতু নমুনাটি পাশ থেকে আলোকিত করা হয়, তাই আলোকসজ্জার ফোকাস গভীরতার উপর নির্ভরশীল নয়, যা জৈবিক নমুনার ভলিউমেট্রিক ইমেজিংকে অনেক বেশি সম্ভব করে তোলে। এল. এস. এম-এ একটি প্রধান চলমান চ্যালেঞ্জ হল আলোর পাতার আকৃতি তৈরি করা। সাধারণভাবে, অপটিক্যাল অক্ষে আলোর পাতার পুরুত্ব (যা মূলত অক্ষীয় রেজোলিউশন নির্ধারণ করে) এবং ফিল্ড-অফ-ভিউ যার উপর আলোর পাত যথেষ্ট পুরুত্ব বজায় রাখে তার মধ্যে একটি বিনিময় রয়েছে। এস. আই-এল. এস. এম-এর যুক্ত সমাধানের মাধ্যমে এই সমস্যাটি আংশিকভাবে সমাধান করা যেতে পারে। কৌশল এস. আই-এল. এস. এম-কে দুটি প্রধান বিভাগে ভাগ করা যেতে পারে। অপটিক্যাল সেকশনিং এস. আই-এল. এস. এম হল সবচেয়ে সাধারণ পদ্ধতি এবং অ-কেন্দ্রিক পটভূমি সংকেতের প্রভাব আরও হ্রাস করে অক্ষীয় রেজোলিউশন উন্নত করে। সুপার-রেজোলিউশন এস. আই-এল. এস. এম 3ডি নমুনায় সুপার-রেজোলিউশন অর্জনের জন্য 2ডি সিমের আলোকসজ্জা এবং পুনর্গঠন কৌশল ব্যবহার করে। অপটিক্যাল সেকশনিং এস. আই-এল. এস. এম অপটিক্যাল সেকশনিং এস. আই-এল. এস. এম (ওএস-এস. আই-এল. এস. এম) প্রথম 1997 সালে এম. এ দ্বারা একটি গবেষণাপত্রে বর্ণনা করা হয়েছিল। নিল এবং অন্যান্য। সুপার-রেজোলিউশন অর্জনের পরিবর্তে, এই কৌশলটি অক্ষীয় রেজোলিউশন উন্নত করতে কাঠামোগত আলোকসজ্জার পিছনের ধারণাগুলি ব্যবহার করে যেখানে আলোকিত আলোর শীটটি সবচেয়ে বেশি ফোকাস করা হয় তার বাইরে স্তরগুলি থেকে পটভূমির কুয়াশা অপসারণ করে। যদিও এটি অর্জনের জন্য বেশ কয়েকটি পদ্ধতি রয়েছে, তবে সবচেয়ে সাধারণ পদ্ধতিটি "থ্রি-ফেজ" সিম নামে পরিচিত, যা এখানে বর্ণনা করা হবে। নীল কাগজে দেখানো হয়েছে যে, একটি গ্রিড আলোকসজ্জার প্যাটার্ন দিয়ে একটি লক্ষ্যের ইমেজিং দ্বারা অর্জিত সংকেতটি নিম্নলিখিত সমীকরণ দ্বারা প্রতিনিধিত্ব করা যেতে পারেঃ এখানে, ব্যাকগ্রাউন্ড সংকেত, এবং গ্রিডের কোসাইন এবং সাইন উপাদান দ্বারা আলোকিত লক্ষ্যের অঞ্চল থেকে সংকেত। এটিও দেখানো হয়েছে যে আগ্রহের সমতলের একটি ইন-ফোকাস চিত্র সমীকরণটি ব্যবহার করে পুনর্গঠন করা যেতে পারেঃ গ্রিড আলোকসজ্জার অবস্থার অধীনে তিনটি পৃথক চিত্র অর্জন করে, প্রতিটি অধিগ্রহণের মধ্যে গ্রিডকে 60° ঘোরানোর মাধ্যমে এটি অর্জন করা যেতে পারে। পছন্দসই 2ডি চিত্রটি সমীকরণটি ব্যবহার করে পুনর্গঠন করা যেতে পারেঃ এটি একটি 2ডি চিত্র তৈরি করে যা কেবল গ্রিড আলোকসজ্জার প্যাটার্নের সর্বাধিক কেন্দ্রীভূত অঞ্চল থেকে তথ্য ধারণ করে। যদি এই প্যাটার্নটি একটি হালকা শীট ব্যবহার করে তৈরি করা হয়, তবে একটি নমুনার সম্পূর্ণ 3D পুনর্গঠন তৈরি করতে শীটটি অক্ষীয় দিকে স্ক্যান করা যেতে পারে। পটভূমি সংকেত হ্রাস করার জন্য এই পদ্ধতিটি ব্যবহার করার প্রাথমিক ত্রুটি হল যে এটি শেষ পর্যন্ত দুটি ছবির মধ্যে ভাগ করা পটভূমি সংকেতটি বাদ দেওয়ার উপর নির্ভর করে। কিছু ইন-ফোকাস সংকেত অনিবার্যভাবে পটভূমির কুয়াশার পাশাপাশি বিয়োগ করা হবে। এর ফলে সংকেতের সামগ্রিক হ্রাস ঘটবে, যা লো-সিগন্যাল ফ্লুরোসেন্ট ইমেজিংয়ে ক্ষতিকারক হতে পারে। তা সত্ত্বেও, এই কৌশলটি এস. আই-এল. এস. এম-এর সবচেয়ে সাধারণ ব্যবহার এবং শুধুমাত্র এল. এস. এম-এর উপর উন্নত অক্ষীয় রেজোলিউশন দেখিয়েছে। সুপার-রেজোলিউশন এস. আই-এল. এস. এম সুপার-রেজোলিউশন এস. আই-এল. এস. এম (এস. আর-এস. আই-এল. এস. এম) এল. এস. এম-এর গভীরতা স্বাধীন ইমেজিং এবং কম ফটোব্লিচিংয়ের পাশাপাশি সিমের স্থানিক রেজোলিউশন অর্জনের জন্য আলোকসজ্জার উৎস হিসাবে আলোর শীট ব্যবহার করার সময় 2ডি বা 3ডি সিম থেকে কৌশলগুলি ব্যবহার করে। সবচেয়ে সাধারণ প্রয়োগে, 3ডি লক্ষ্য নমুনার একক সমতলে একটি 1ডি সাইনোসয়েডাল প্যাটার্ন তৈরি করতে একটি হালকা শীট ব্যবহার করা হয়। উচ্চ রেজোলিউশনের 2ডি পুনর্গঠনের জন্য পর্যাপ্ত চিত্র অর্জনের জন্য এই একক সমতলে প্যাটার্নটি একাধিকবার ঘোরানো হয়। অক্ষীয় রেজোলিউশনে আলো স্ক্যান করা হয় এবং সম্পূর্ণ 3ডি পুনর্গঠনের জন্য পর্যাপ্ত 2ডি চিত্র না হওয়া পর্যন্ত প্রক্রিয়াটি পুনরাবৃত্তি করা হয়। সাধারণভাবে, এই পদ্ধতিটি কেবল উন্নত রেজোলিউশনই নয়, ওএস-এসআই-এলএসএম-এর উপর উন্নত এসএনআরও প্রদর্শন করে, কারণ পুনর্গঠনে কোনও তথ্য বাতিল করা হয় না। উপরন্তু, যদিও এস. আর-এস. আই-এল. এস. এম-এর তাত্ত্বিক রেজোলিউশন 3ডি সিমের তুলনায় সামান্য কম, গভীরতা> 10 ইউ. এম-এ এই কৌশলটি এল. এস. এম-এর আলোকসজ্জার বৈশিষ্ট্যের গভীরতা-স্বাধীন ফোকাসের কারণে 3ডি সিমের উপর উন্নত কর্মক্ষমতা দেখায়। বাস্তবায়ন এস. আই-এল. এস. এম-এর একটি বড় চ্যালেঞ্জ হল ইঞ্জিনিয়ারিং সিস্টেম যা আলোর শীটে কাঠামোগত নিদর্শন তৈরি করতে শারীরিকভাবে সক্ষম। এটি সম্পন্ন করার জন্য তিনটি প্রধান পদ্ধতি হল ইন্টারফেরিং লাইট শীট, ডিজিটাল এলএসএম এবং স্পেসিয়াল লাইট মড্যুলেটর ব্যবহার করা। হস্তক্ষেপকারী লাইট শিটের সাথে, দুটি সুসঙ্গত পাল্টা প্রচারকারী শীট নমুনার মধ্যে পাঠানো হয়। এই শীটগুলির মধ্যে হস্তক্ষেপের প্যাটার্নটি পছন্দসই আলোকসজ্জার প্যাটার্ন তৈরি করে, যা শীটগুলিকে বিপথগামী করার জন্য ঘূর্ণায়মান আয়না ব্যবহার করে ঘোরানো এবং স্ক্যান করা যেতে পারে। আলোকসজ্জার নিদর্শন তৈরি করতে ডিজিটাল লাইট-শীট মাইক্রোস্কোপি ব্যবহার করে অতিরিক্ত নমনীয়তা যোগ করা যেতে পারে। ডিজিটাল এল. এস. এম-এ, নমুনার মাধ্যমে একটি লেজার রশ্মি দ্রুত স্ক্যান করে আলোর শীট তৈরি করা হয়। এটি স্ক্যান করার সময় লেজারের তীব্রতা সংশোধন করে নির্দিষ্ট আলোকসজ্জার প্যাটার্নের উপর সূক্ষ্ম নিয়ন্ত্রণের অনুমতি দেয়। এই কৌশলটি এস. আই-এল. এস. এম ছাড়াও একাধিক ধরনের লাইট শীট মাইক্রোস্কোপি করতে সক্ষম সিস্টেম তৈরি করতে ব্যবহৃত হয়েছে। পরিশেষে, স্থানিক আলোর মড্যুলেটরগুলি আলোর নিদর্শনগুলিকে বৈদ্যুতিনভাবে নিয়ন্ত্রণ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে, যা নিদর্শনগুলির মধ্যে খুব সূক্ষ্ম নিয়ন্ত্রণ এবং দ্রুত পরিবর্তনের অনুমতি দেওয়ার সুবিধা রয়েছে। উপরন্তু, এস. আই-এল. এস. এম-এর সাম্প্রতিক কাজের বেশিরভাগই জৈবিক টিস্যুতে গভীর ইমেজিংয়ের জন্য অন্যান্য কৌশলগুলির সাথে পদ্ধতির সংমিশ্রণে মনোনিবেশ করে। উদাহরণস্বরূপ, 2021 সালের একটি গবেষণাপত্রে এন. আই. আর-2 আলোকসজ্জার সাথে এস. আই-এল. এস. এম-এর ব্যবহার দেখানো হয়েছে যাতে ট্রান্সক্র্যানিয়াল মাউস মস্তিষ্কের ইমেজিং-এর রেজোলিউশন ~ 1.7x দ্বারা ~ 750 ইউ. এম-এর অনুপ্রবেশ গভীরতার সাথে উন্নত করা যায় এবং সিগন্যাল টু ব্যাকগ্রাউন্ড অনুপাতে প্রায় 16x উন্নতি হয়। অন্যান্য আশাব্যঞ্জক দিকগুলির মধ্যে রয়েছে এল. এস. এম-এ লাইট শিটগুলি গঠনের জন্য অন্যান্য কৌশলগুলির সাথে সিমের সংমিশ্রণ, দুই-ফোটন উত্তেজনার সাথে এস. আই-এল. এস. এম-এর সংমিশ্রণ, বা রেজোলিউশনের সীমা আরও বাড়ানোর জন্য অ-রৈখিক ফ্লুরোসেন্স ব্যবহার করা। তথ্যসূত্র মাইক্রোস্কোপি অপটিক্যাল ইমেজিং ভলিউমেট্রিক যন্ত্র