Electron magnetic circular dichroism
ইলেক্ট্রন চৌম্বকীয় বৃত্তাকার ডাইক্রোইজম (ই. এম. সি. ডি) (ইলেক্ট্রন শক্তি-ক্ষতি চৌম্বকীয় কাইরাল ডাইক্রোইজম নামেও পরিচিত) হল এক্স. এম. সি. ডি-র সমতুল্য ই. ই. এল. এস। এই প্রভাবটি প্রথম 2003 সালে প্রস্তাব করা হয়েছিল এবং 2006 সালে ভিয়েনা ইউনিভার্সিটি অফ টেকনোলজির অধ্যাপক পিটার স্ক্যাটশ্নাইডারের দল দ্বারা পরীক্ষামূলকভাবে নিশ্চিত করা হয়েছিল। একইভাবে এক্স. এম. সি. ডি-র ক্ষেত্রে, ই. এম. সি. ডি হল দুটি ই. ই. এল. এস বর্ণালীর একটি পার্থক্য বর্ণালী যা বিপরীত হেলিসিটি সহ চৌম্বক ক্ষেত্রে নেওয়া হয়। উপযুক্ত বিচ্ছুরণ পরিস্থিতিতে নির্দিষ্ট বৃত্তাকার মেরুকরণ সহ ভার্চুয়াল ফোটনগুলি শোষিত হতে পারে, যা বর্ণালী পার্থক্যের জন্ম দেয়। বাম বৃত্তাকার মেরুকরণ সহ একটি ভার্চুয়াল ফোটন এবং ডান বৃত্তাকার মেরুকরণ সহ একটি ফোটনের মধ্যে সবচেয়ে বড় পার্থক্য প্রত্যাশিত। ই. এম. সি. ডি বর্ণালীর পার্থক্য নিবিড়ভাবে বিশ্লেষণ করে, পরমাণুর চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্য সম্পর্কে তথ্য পাওয়া যেতে পারে, যেমন তার ঘূর্ণন এবং কক্ষীয় চৌম্বকীয় মুহূর্ত। লোহা, কোবাল্ট এবং নিকেলের মতো রূপান্তরিত ধাতুগুলির ক্ষেত্রে, ই. এম. সি. ডি-র জন্য শোষণ বর্ণালী সাধারণত এল-প্রান্তে পরিমাপ করা হয়। এটি আয়নীকরণ শক্তি সরবরাহকারী একটি ভার্চুয়াল ফোটনের শোষণ দ্বারা একটি 2p ইলেক্ট্রনের 3d অবস্থায় উত্তেজনার সাথে মিলে যায়। এই শোষণ ইলেকট্রন শক্তি হ্রাস বর্ণালীতে (ই. ই. এল. এস) একটি বর্ণালী বৈশিষ্ট্য হিসাবে দৃশ্যমান। যেহেতু 3ডি ইলেক্ট্রন অবস্থা উপাদানগুলির চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্যের উৎস, তাই বর্ণালীতে চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্য সম্পর্কিত তথ্য থাকে। উপরন্তু, যেহেতু প্রতিটি রূপান্তরের শক্তি পারমাণবিক সংখ্যার উপর নির্ভর করে, তাই প্রাপ্ত তথ্য নির্দিষ্ট উপাদান, অর্থাৎ, ই. এম. সি. ডি বর্ণালীকে তার বৈশিষ্ট্য শক্তিতে (লোহার জন্য 708 ই. ভি) পরীক্ষা করে প্রদত্ত উপাদানটির চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্যগুলি আলাদা করা সম্ভব। যেহেতু ই. এম. সি. ডি এবং এক্স. এম. সি. ডি উভয় ক্ষেত্রেই একই বৈদ্যুতিন রূপান্তর পরীক্ষা করা হয়, তাই প্রাপ্ত তথ্য একই। তবে ই. এম. সি. ডি-র এক্স-রে প্রতিরূপের তুলনায় উচ্চতর স্থানিক রেজোলিউশন এবং গভীরতার সংবেদনশীলতা রয়েছে। উপরন্তু, ই. এম. সি. ডি একটি ই. ই. এল. এস ডিটেক্টর দিয়ে সজ্জিত যে কোনও টি. ই. এম-এ পরিমাপ করা যেতে পারে, যেখানে এক্স. এম. সি. ডি সাধারণত শুধুমাত্র ডেডিকেটেড সিনক্রোট্রন বিমলাইনে পরিমাপ করা হয়। ই. এম. সি. ডি-র মূল অবতারে একটি অসুবিধা হল এর পুরুত্ব এবং অভিযোজন সহ স্ফটিকাকার পদার্থের প্রয়োজনীয়তা যা সঠিকভাবে ই. এম. সি. ডি-র জন্য প্রয়োজনীয় সঠিক 90 ডিগ্রি ফেজ শিফট দেয়। যাইহোক, একটি নতুন পদ্ধতি সম্প্রতি দেখিয়েছে যে ইলেক্ট্রন ভোর্টেক্স বিমগুলি মূল পদ্ধতির জ্যামিতিক সীমাবদ্ধতা ছাড়াই ই. এম. সি. ডি পরিমাপ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। আরও দেখুন চৌম্বকীয় বৃত্তাকার ডাইক্রোইজম ফ্যারাডে প্রভাব এক্সএমসিডি রেফারেন্স স্পেকট্রোস্কোপি