Electron backscatter diffraction
ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার ডিফ্রাকশন (ই. বি. এস. ডি) হল একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (এস. ই. এম) কৌশল যা পদার্থের স্ফটিকগত কাঠামো অধ্যয়ন করতে ব্যবহৃত হয়। ই. বি. এস. ডি একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে সঞ্চালিত হয় যা একটি ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টর দিয়ে সজ্জিত থাকে যাতে কমপক্ষে একটি ফসফোরেসেন্ট স্ক্রিন, একটি কমপ্যাক্ট লেন্স এবং একটি কম-আলো ক্যামেরা থাকে। এই বিন্যাসে, এস. ই. এম আপতিত রশ্মি হেলানো নমুনায় আঘাত করে। ব্যাকস্ক্যাটারড ইলেকট্রনগুলি নমুনা ছেড়ে যাওয়ার সাথে সাথে তারা স্ফটিকের পর্যায়ক্রমিক পারমাণবিক জাল সমতলের সাথে মিথস্ক্রিয়া করে এবং কিকুচি প্যাটার্ন (ইবিএসপি) গঠন করে ফসফর স্ক্রিনে পৌঁছানোর আগে বিভিন্ন বিচ্ছুরণ কোণে ব্র্যাগের আইন অনুসারে বিচ্ছুরিত হয়। ইবিএসডি স্থানিক রেজোলিউশন অধ্যয়নরত উপাদানের প্রকৃতি এবং নমুনা প্রস্তুতি সহ অনেক কারণের উপর নির্ভর করে। এইভাবে, ই. বি. এস. পি-গুলি ক্ষুদ্র-মাত্রায় উপাদানটির শস্য কাঠামো, শস্যের অভিযোজন এবং পর্যায় সম্পর্কে তথ্য প্রদানের জন্য সূচীভুক্ত করা যেতে পারে। ই. বি. এস. ডি অশুচিতা এবং ত্রুটি অধ্যয়ন, প্লাস্টিক বিকৃতি এবং গড় ভুল অভিমুখ, শস্যের আকার এবং স্ফটিকগত গঠনের জন্য পরিসংখ্যানগত বিশ্লেষণের জন্য প্রয়োগ করা হয়। উন্নত পর্যায় শনাক্তকরণ এবং উপকরণ আবিষ্কারের জন্য ই. বি. এস. ডি-কে শক্তি-বিচ্ছুরিত এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপি (ই. ডি. এস), ক্যাথোডোলুমিনেসেন্স (সি. এল) এবং তরঙ্গদৈর্ঘ্য-বিচ্ছুরিত এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপি (ডব্লিউ. ডি. এস)-এর সঙ্গেও যুক্ত করা যেতে পারে। ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার প্যাটার্নের পরিবর্তন এবং অবক্ষয় (ই. বি. এস. পি) বিচ্ছুরিত আয়তনে জাল বিকৃতি সম্পর্কে তথ্য প্রদান করে। প্যাটার্ন অবক্ষয় (অর্থাৎ, বিচ্ছুরিত গুণমান) প্লাস্টিকের মাত্রা মূল্যায়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। অবশিষ্ট চাপ এবং ছোট জাল ঘূর্ণন পরিমাপ করতে ই. বি. এস. পি অঞ্চল অক্ষের অবস্থানের পরিবর্তনগুলি ব্যবহার করা যেতে পারে। ই. বি. এস. ডি জ্যামিতিকভাবে প্রয়োজনীয় ডিসলোকেশন (জি. এন. ডি)-এর ঘনত্ব সম্পর্কেও তথ্য প্রদান করতে পারে। তবে, জালের বিকৃতি একটি রেফারেন্স প্যাটার্নের (ইবিএসপি0) সাপেক্ষে পরিমাপ করা হয়। রেফারেন্স প্যাটার্নের পছন্দ পরিমাপের নির্ভুলতাকে প্রভাবিত করে; উদাহরণস্বরূপ, টেনশনে বিকৃত একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন সরাসরি উচ্চ-রেজোলিউশন মানচিত্র থেকে প্রাপ্ত প্রসার্য স্ট্রেনের মাত্রা হ্রাস করবে এবং পরোক্ষভাবে অন্যান্য উপাদানগুলির মাত্রা এবং স্ট্রেনের স্থানিক বিতরণকে প্রভাবিত করবে। উপরন্তু, ই. বি. এস. পি0-এর পছন্দ জি. এন. ডি ঘনত্ব বিতরণ এবং মাত্রাকে সামান্য প্রভাবিত করে। প্যাটার্ন গঠন এবং সংগ্রহ সেটআপ জ্যামিতি এবং প্যাটার্ন গঠন ইলেক্ট্রন ব্যাকস্কেটারিং ডিফ্রাকশন মাইক্রোস্কোপির জন্য, একটি সমতল পালিশ স্ফটিকের নমুনা সাধারণত মাইক্রোস্কোপ চেম্বারের ভিতরে স্থাপন করা হয়। নমুনাটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপ (এস. ই. এম) ফ্ল্যাট নমুনা অবস্থান থেকে ~ 70° এবং ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার ডিফ্রাকশন (ই. বি. এস. ডি) ডিটেক্টরে 110° ঝুঁকে থাকে। নমুনাটি টিল্ট করলে টিল্ট অক্ষের সাথে লম্বভাবে মিথস্ক্রিয়ার আয়তন প্রসারিত হয়, যা স্থিতিস্থাপক বিচ্ছুরণের কারণে আরও বেশি ইলেকট্রনকে নমুনা ছেড়ে যেতে দেয়, যা আরও ভাল বৈসাদৃশ্য প্রদান করে। উচ্চ-শক্তির ইলেক্ট্রন রশ্মি (সাধারণত 20 কেভি) একটি ছোট আয়তনের উপর কেন্দ্রীভূত থাকে এবং নমুনা পৃষ্ঠে ~ 20 এনএম এর স্থানিক রেজোলিউশনে ছড়িয়ে পড়ে। বিম শক্তি, কৌণিক প্রস্থ, মিথস্ক্রিয়া আয়তন, অধ্যয়নরত উপাদানের প্রকৃতি এবং নমুনা পুরুত্বের সাথে সম্প্রচারে কিকুচি বিচ্ছুরণ (টি. কে. ডি) এর সাথে স্থানিক রেজোলিউশন পরিবর্তিত হয়; এইভাবে, বিম শক্তি বৃদ্ধি মিথস্ক্রিয়া আয়তন বৃদ্ধি করে এবং স্থানিক রেজোলিউশন হ্রাস করে। ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টরটি পোল পিসের প্রায় 90° কোণে এস. ই. এম-এর নমুনা চেম্বারের মধ্যে অবস্থিত। ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টর সাধারণত একটি ফসফর পর্দা দিয়ে তৈরি যা ব্যাকস্ক্যাটার ইলেকট্রন দ্বারা উত্তেজিত হয়। স্ক্রিনটি লেন্সের সাথে যুক্ত থাকে যা ফসফর স্ক্রিন থেকে চার্জ-কাপল্ড ডিভাইস (সিসিডি) বা কমপ্লিমেন্টারি মেটাল-অক্সাইড-সেমিকন্ডাক্টর (সিএমওএস) ক্যামেরায় চিত্রটিকে ফোকাস করে। এই বিন্যাসে, এই ব্যাকস্ক্যাটার ইলেকট্রনগুলি নমুনা ছেড়ে যাওয়ার সাথে সাথে তারা স্ফটিকের পর্যায়ক্রমিক পারমাণবিক জাল সমতলের সাথে মিথস্ক্রিয়া করে এবং ব্র্যাগের আইন অনুসারে বিচ্ছুরণ কোণের (θhkl) পরিসরে বিচ্ছুরিত হয়। ব্যাকস্ক্যাটার ইলেকট্রনগুলি কিকুচি লাইন গঠন করে-বিভিন্ন তীব্রতা সহ-একটি ইলেক্ট্রন-সংবেদনশীল ফ্ল্যাট ফিল্ম/স্ক্রিনে (সাধারণত ফসফর), একটি কিকুচি ব্যান্ড গঠনের জন্য একত্রিত হয়। এই কিকুচি রেখাগুলি ফসফর স্ক্রিনের সমতলের সাথে কসেল শঙ্কুগুলির ছেদ দ্বারা গঠিত একটি হাইপারবোলার চিহ্ন। একটি কিকুচি ব্যান্ডের প্রস্থ বিচ্ছুরণ কোণের সাথে সম্পর্কিত এবং এইভাবে, মিলার সূচক এইচ, কে এবং এল সহ জাল সমতলগুলির মধ্যে দূরত্ব ডিএইচকেএল। এই কিকুচি রেখা এবং নিদর্শনগুলি সেইশি কিকুচির নামে নামকরণ করা হয়েছিল, যিনি 1928 সালে ট্রান্সমিশন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (টিইএম) ব্যবহার করে প্রথম এই বিচ্ছুরণ প্যাটার্নটি লক্ষ্য করেছিলেন যা জ্যামিতিতে এক্স-রে কসেল প্যাটার্নের অনুরূপ। পদ্ধতিগতভাবে সাজানো কিকুচি ব্যান্ডগুলি, যা তাদের প্রস্থ বরাবর তীব্রতার একটি পরিসীমা রয়েছে, অনুসন্ধানকৃত ভলিউম স্ফটিকবিদ্যার বর্ণনা দিয়ে আগ্রহের অঞ্চলগুলির (আরওআই) কেন্দ্রের চারপাশে ছেদ করে। এই ব্যান্ডগুলি এবং তাদের ছেদগুলি কিকুচি প্যাটার্ন বা ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার প্যাটার্ন (ইবিএসপি) নামে পরিচিত। বৈসাদৃশ্য উন্নত করতে, স্থির পটভূমি সংশোধন বা গতিশীল পটভূমি সংশোধন ব্যবহার করে অ্যানিসোট্রপিক/স্থিতিস্থাপক বিচ্ছুরণ অপসারণ করে নিদর্শনগুলির পটভূমি সংশোধন করা হয়। ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টর ই. বি. এস. ডি কমপক্ষে একটি ফসফর স্ক্রিন, কমপ্যাক্ট লেন্স এবং কম আলো চার্জ-কাপল্ড ডিভাইস (সি. সি. ডি) বা পরিপূরক ধাতু-অক্সাইড-অর্ধপরিবাহী (সি. এম. ও. এস) ক্যামেরা সম্বলিত একটি ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টর দিয়ে সজ্জিত একটি এস. ই. এম ব্যবহার করে পরিচালিত হয়। বাণিজ্যিকভাবে উপলব্ধ ইবিএসডি সিস্টেমগুলি সাধারণত দুটি ভিন্ন সিসিডি ক্যামেরার মধ্যে একটির সাথে আসেঃ দ্রুত পরিমাপের জন্য, সিসিডি চিপের নেটিভ রেজোলিউশন 640x480 পিক্সেল; ধীর এবং আরও সংবেদনশীল পরিমাপের জন্য, সিসিডি চিপ রেজোলিউশন 1600x1200 পিক্সেল পর্যন্ত যেতে পারে। উচ্চ-রেজোলিউশন ডিটেক্টরগুলির সবচেয়ে বড় সুবিধা হল তাদের উচ্চ সংবেদনশীলতা, এবং তাই প্রতিটি বিচ্ছুরণ প্যাটার্নের মধ্যে তথ্য আরও বিস্তারিতভাবে বিশ্লেষণ করা যেতে পারে। গঠন এবং অভিযোজন পরিমাপের জন্য, বিচ্ছুরণ নিদর্শনগুলি তাদের আকার এবং গণনার সময় কমাতে বিন করা হয়। আধুনিক সিসিডি-ভিত্তিক ইবিএসডি সিস্টেমগুলি 1800 প্যাটার্ন/সেকেন্ডের গতিতে সূচক প্যাটার্ন তৈরি করতে পারে। এটি দ্রুত এবং সমৃদ্ধ মাইক্রোস্ট্রাকচারাল মানচিত্র তৈরি করতে সক্ষম করে। নমুনা প্রস্তুতি নমুনাটি ভ্যাকুয়াম স্থিতিশীল হওয়া উচিত। এটি সাধারণত একটি পরিবাহী যৌগ ব্যবহার করে বসানো হয় (যেমন। কিউ দিয়ে ভরা একটি ইপোক্সি থার্মোসেট), যা ইলেক্ট্রন রশ্মি বিকিরণের অধীনে চিত্র প্রবাহ এবং নমুনা চার্জিংকে হ্রাস করে। ই. বি. এস. পি-র গুণমান পৃষ্ঠ প্রস্তুতির প্রতি সংবেদনশীল। সাধারণত নমুনাটি 240 থেকে 4000 গ্রিট পর্যন্ত এসআইসি কাগজ ব্যবহার করে গুঁড়ো করা হয় এবং ডায়মন্ড পেস্ট (9 থেকে 1 মাইক্রোমিটার) ব্যবহার করে পালিশ করা হয় এবং তারপর 50 এনএম কলয়েডাল সিলিকা ব্যবহার করা হয়। পরে, এটি ইথানলে পরিষ্কার করা হয়, ডিওনাইজড জল দিয়ে ধুয়ে ফেলা হয় এবং একটি গরম এয়ার ব্লোয়ার দিয়ে শুকানো হয়। এর পরে চূড়ান্ত পৃষ্ঠ প্রস্তুতির জন্য আয়ন বিম পলিশিং করা যেতে পারে। এস. ই. এম-এর অভ্যন্তরে, পরিমাপ এলাকার আকার স্থানীয় রেজোলিউশন এবং পরিমাপের সময় নির্ধারণ করে। উচ্চমানের ই. বি. এস. পি-র জন্য সাধারণ সেটিংস হল 15 এন. এ কারেন্ট, 20 কে. ভি বিম শক্তি, 18 মিমি কাজের দূরত্ব, দীর্ঘ এক্সপোজার সময় এবং ন্যূনতম সিসিডি পিক্সেল বাইনিং। ই. বি. এস. ডি ফসফর স্ক্রিনটি 18 মিমি কাজের দূরত্বে সেট করা হয় এবং স্ট্রেন এবং ডিসলোকেশন ঘনত্ব বিশ্লেষণের জন্য একটি মানচিত্রের ধাপের আকার 0.5 মাইক্রোমিটারের কম। অণুবীক্ষণ যন্ত্রের ভিতরে ইলেক্ট্রন রশ্মি দ্বারা বায়বীয় হাইড্রোকার্বনের পচন কার্বন নিক্ষেপণের ফলস্বরূপ, যা অধিগ্রহণ উইন্ডোর বাইরের ই. বি. এস. পি-র তুলনায় পরীক্ষিত এলাকার ভিতরে ই. বি. এস. পি-র গুণমানকে হ্রাস করে। প্যাটার্ন অবক্ষয়ের গ্রেডিয়েন্ট জমা হওয়া কার্বনের আপাত সঞ্চয়ের সাথে প্রোবেড জোনের অভ্যন্তরে অগ্রসর হয়। বিম ইনস্ট্যান্ট-ইনডিউসড কার্বন ডিপোজিশন থেকে কালো দাগগুলি অবিলম্বে ডিপোজিশনকেও হাইলাইট করে, যদিও এগ্লোমারেশন ঘটেনি। গভীরতার সমাধান গভীরতার সমাধানের সংজ্ঞা সম্পর্কে কোনও চুক্তি নেই। উদাহরণস্বরূপ, এটি এমন গভীরতা হিসাবে সংজ্ঞায়িত করা যেতে পারে যেখানে সংকেতের ~92% উৎপন্ন হয়, বা প্যাটার্নের গুণমান দ্বারা সংজ্ঞায়িত করা হয়, বা "যেখানে দরকারী তথ্য পাওয়া যায়" এর মতো অস্পষ্ট হতে পারে। এমনকি একটি প্রদত্ত সংজ্ঞার জন্যও, গভীরতার রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন শক্তির সাথে বৃদ্ধি পায় এবং অধ্যয়ন করা উপাদানগুলির গড় পারমাণবিক ভরের সাথে হ্রাস পায়ঃ উদাহরণস্বরূপ, 20 কেভি শক্তিতে এটি সি-এর জন্য 40 এনএম এবং নি-এর জন্য 10 এনএম হিসাবে অনুমান করা হয়েছিল। এমন উপকরণগুলির জন্য অস্বাভাবিকভাবে ছোট মানগুলি রিপোর্ট করা হয়েছিল যার কাঠামো এবং গঠন পুরুত্বের সাথে পরিবর্তিত হয়। উদাহরণস্বরূপ, কয়েক এনএম নিরাকার ক্রোমিয়ামের সাথে একবর্ণ সিলিকন লেপ 15 কেভি শক্তিতে গভীরতার রেজোলিউশনকে কয়েক এনএম-এ হ্রাস করে। এর বিপরীতে, ইসাবেল এবং ডেভিড এই সিদ্ধান্তে উপনীত হন যে, স্থিতিস্থাপক বিচ্ছুরণের (স্পর্শক স্মেয়ারিং এবং চ্যানেলিং প্রভাব সহ) কারণে সমজাতীয় স্ফটিকের গভীরতার রেজোলিউশন 1 মাইক্রোমিটার পর্যন্ত প্রসারিত হতে পারে। ইবিএসডি গভীরতার রেজোলিউশনের প্রতিবেদনের মধ্যে সাম্প্রতিক তুলনা, কোকো এবং অন্যান্যরা ইঙ্গিত দিয়েছেন যে বেশিরভাগ প্রকাশনা গভীরতার রেজোলিউশনের সংজ্ঞার জন্য কোনও যৌক্তিকতা উপস্থাপন করে না, তবে মরীচিটির আকার, টিল্ট অ্যাঙ্গেল, বিম-টু-স্যাম্পেল এবং নমুনা-টু-ডিটেক্টর দূরত্ব সম্পর্কিত তথ্য অন্তর্ভুক্ত করে না। গভীরতার রেজোলিউশন নির্ধারণ বা অনুকরণের জন্য এগুলি গুরুত্বপূর্ণ পরামিতি। বিম কারেন্ট সাধারণত পরীক্ষা বা সিমুলেশনে গভীরতার রেজোলিউশনকে প্রভাবিত করে বলে মনে করা হয় না। যাইহোক, এটি বিম স্পট আকার এবং সংকেত-থেকে-শব্দ অনুপাতকে প্রভাবিত করে এবং তাই পরোক্ষভাবে, প্যাটার্নের বিশদ এবং এর গভীরতার তথ্যকে প্রভাবিত করে। মন্টে কার্লো সিমুলেশনগুলি ইবিএসপি গঠনের জন্য গভীরতার রেজোলিউশনের পরিমাণ নির্ধারণের জন্য একটি বিকল্প পদ্ধতি প্রদান করে, যা ব্লক তরঙ্গ তত্ত্ব ব্যবহার করে অনুমান করা যেতে পারে, যেখানে ব্যাকস্ক্যাটারড প্রাথমিক ইলেকট্রনগুলি-স্ফটিক জালের সাথে মিথস্ক্রিয়া করার পরে-পৃষ্ঠ থেকে বেরিয়ে আসে, ইলেকট্রনগুলির সাথে মিথস্ক্রিয়া করা আয়তনের স্ফটিকত্ব সম্পর্কে তথ্য বহন করে। ব্যাকস্ক্যাটারড ইলেকট্রন (বিএসই) শক্তি বন্টন উপাদানটির বৈশিষ্ট্য এবং মরীচি অবস্থার উপর নির্ভর করে। এই বিএসই তরঙ্গ ক্ষেত্রটি তাপীয় বিচ্ছুরণ বিচ্ছুরণ প্রক্রিয়া দ্বারাও প্রভাবিত হয় যা ব্র্যাগ বিচ্ছুরণ ঘটনার পরে অসঙ্গত এবং অস্থিতিশীল (শক্তি হ্রাস) বিচ্ছুরণ ঘটায়-যার এখনও একটি সম্পূর্ণ শারীরিক বিবরণ নেই যা প্রক্রিয়াগুলির সাথে সম্পর্কিত হতে পারে যা ইবিএসপি গভীরতার রেজোলিউশন গঠন করে। ইবিএসডি পরীক্ষা এবং সিমুলেশন উভয়ই সাধারণত দুটি অনুমান করেঃ যে পৃষ্ঠটি আদিম এবং একটি সমজাতীয় গভীরতার রেজোলিউশন রয়েছে; তবে, তাদের কোনওটিই বিকৃত নমুনার জন্য বৈধ নয়। ওরিয়েন্টেশন এবং ফেজ ম্যাপিং প্যাটার্ন ইনডেক্সিং যদি সেটআপ জ্যামিতি ভালভাবে বর্ণনা করা হয়, তবে বিচ্ছুরণ প্যাটার্নে উপস্থিত ব্যান্ডগুলিকে ইলেক্ট্রন মিথস্ক্রিয়া ভলিউমের মধ্যে উপাদানটির অন্তর্নিহিত স্ফটিক এবং স্ফটিকগত অভিযোজনের সাথে সম্পর্কিত করা সম্ভব। প্রতিটি ব্যান্ডকে পৃথকভাবে ডিফ্র্যাক্টিং প্লেনের মিলার সূচক দ্বারা সূচীভুক্ত করা যেতে পারে যা এটি গঠন করেছিল। বেশিরভাগ পদার্থে, শুধুমাত্র তিনটি ব্যান্ড/প্লেন ছেদ করে এবং স্ফটিক অভিযোজনের একটি অনন্য সমাধান বর্ণনা করতে হয় (তাদের আন্তঃপ্ল্যানার কোণের উপর ভিত্তি করে)। বেশিরভাগ বাণিজ্যিক ব্যবস্থা সূচকে আন্তর্জাতিক স্ফটিক ডাটাবেস সহ লুক-আপ টেবিল ব্যবহার করে। এই স্ফটিক অভিযোজন প্রতিটি নমুনা বিন্দুর অভিযোজনকে একটি রেফারেন্স স্ফটিক অভিযোজনের সাথে সম্পর্কিত করে। প্যাটার্ন সংগ্রহের পরে সূচক নির্ধারণ প্রায়শই ইবিএসডি প্রক্রিয়ার প্রথম পদক্ষেপ। এটি নমুনার একক আয়তনে স্ফটিক অভিযোজন সনাক্ত করার অনুমতি দেয় যেখান থেকে প্যাটার্নটি সংগ্রহ করা হয়েছিল। ইবিএসডি সফ্টওয়্যারের সাহায্যে, প্যাটার্ন ব্যান্ডগুলি সাধারণত একটি গাণিতিক রুটিনের মাধ্যমে একটি পরিবর্তিত হফ ট্রান্সফর্ম ব্যবহার করে সনাক্ত করা হয়, যেখানে হফ স্পেসের প্রতিটি পিক্সেল ইবিএসপি-তে একটি অনন্য লাইন/ব্যান্ডকে নির্দেশ করে। হফ ট্রান্সফর্ম ব্যান্ড সনাক্তকরণ সক্ষম করে, যা মূল ইবিএসপি-তে কম্পিউটার দ্বারা সনাক্ত করা কঠিন। একবার ব্যান্ডের অবস্থানগুলি সনাক্ত হয়ে গেলে, এই অবস্থানগুলিকে অন্তর্নিহিত স্ফটিক অভিযোজনের সাথে সম্পর্কিত করা সম্ভব, কারণ ব্যান্ডগুলির মধ্যে কোণগুলি জাল সমতলগুলির মধ্যে কোণগুলি উপস্থাপন করে। সুতরাং, একটি অভিযোজন সমাধান নির্ধারণ করা যেতে পারে যখন তিনটি ব্যান্ডের মধ্যে অবস্থান/কোণ জানা যায়। অত্যন্ত প্রতিসম উপকরণগুলিতে, সাধারণত অভিযোজন পরিমাপ পেতে এবং যাচাই করতে তিনটিরও বেশি ব্যান্ড ব্যবহার করা হয়। ডিফ্রাকশন প্যাটার্নটি শব্দ অপসারণ, ডিটেক্টর বিকৃতিগুলির জন্য সঠিক এবং তীব্রতা স্বাভাবিক করার জন্য প্রাক-প্রক্রিয়াজাত করা হয়। তারপর, প্রাক-প্রক্রিয়াজাত বিচ্ছুরণ প্যাটার্নটি অধ্যয়নরত উপাদানগুলির জন্য রেফারেন্স প্যাটার্নের একটি লাইব্রেরির সাথে তুলনা করা হয়। রেফারেন্স প্যাটার্নগুলি উপাদানটির পরিচিত স্ফটিক কাঠামো এবং স্ফটিক জালের অভিযোজনের উপর ভিত্তি করে তৈরি করা হয়। স্ফটিক জালের অভিযোজন যা পরিমাপ করা প্যাটার্নের সাথে সর্বোত্তম মিল তৈরি করবে তা বিভিন্ন অ্যালগরিদম ব্যবহার করে নির্ধারণ করা হয়। সূচকের তিনটি প্রধান পদ্ধতি রয়েছে যা বেশিরভাগ বাণিজ্যিক ইবিএসডি সফ্টওয়্যার দ্বারা সঞ্চালিত হয়ঃ তিনগুণ ভোটিং; পরীক্ষামূলক প্যাটার্ন এবং গণনামূলকভাবে নির্ধারিত অভিযোজনের মধ্যে 'ফিট' হ্রাস করা, এবং/এবং প্রতিবেশী প্যাটার্ন গড় এবং পুনঃসূচনা, এনপিএআর)। সূচকটি তখন একক স্ফটিক অভিমুখীকরণের একটি অনন্য সমাধান দেয় যা ফিল্ড-অফ-ভিউর মধ্যে অন্যান্য স্ফটিক অভিমুখীকরণের সাথে সম্পর্কিত। ট্রিপল ভোটিং-এ স্ফটিক অভিমুখীকরণের বিভিন্ন সমাধানের সাথে যুক্ত একাধিক 'ট্রিপল' চিহ্নিত করা জড়িত; প্রতিটি ট্রিপল থেকে নির্ধারিত প্রতিটি স্ফটিক অভিমুখীকরণ একটি করে ভোট পায়। চারটি ব্যান্ড যদি একই স্ফটিক অভিমুখ চিহ্নিত করে, তাহলে চারটি (চারটি তিনটি বেছে নেয়, অর্থাৎ) সেই নির্দিষ্ট সমাধানের জন্য ভোট দেওয়া হবে। সুতরাং সর্বাধিক সংখ্যক ভোট সহ প্রার্থী অভিমুখীকরণ উপস্থিত অন্তর্নিহিত স্ফটিক অভিমুখীকরণের সবচেয়ে সম্ভাব্য সমাধান হবে। মোট ভোটের সংখ্যার তুলনায় নির্বাচিত সমাধানের জন্য ভোটের সংখ্যা অন্তর্নিহিত সমাধানের প্রতি আস্থাকে বর্ণনা করে। এই 'কনফিডেন্স ইনডেক্স' ব্যাখ্যার ক্ষেত্রে অবশ্যই যত্ন নিতে হবে কারণ কিছু ছদ্ম-প্রতিসম অভিমুখের ফলে একটি প্রার্থী সমাধান বনাম অন্যটির জন্য কম আত্মবিশ্বাস হতে পারে। ফিটকে ন্যূনতম করার সাথে একটি ত্রয়ী জন্য সমস্ত সম্ভাব্য অভিযোজন দিয়ে শুরু করা জড়িত। আরও ব্যান্ড অন্তর্ভুক্ত করা হয়েছে, যা প্রার্থী অভিমুখীকরণের সংখ্যা হ্রাস করে। ব্যান্ডগুলির সংখ্যা বাড়ার সাথে সাথে সম্ভাব্য অভিমুখের সংখ্যা শেষ পর্যন্ত একটি সমাধানে একত্রিত হয়। পরিমাপ করা অভিযোজন এবং ক্যাপচার করা প্যাটার্নের মধ্যে 'ফিট' নির্ধারণ করা যেতে পারে। সামগ্রিকভাবে, ই. বি. এস. ডি-তে সূচক বিচ্ছুরণ নিদর্শনগুলিতে অ্যালগরিদম এবং গণনার একটি জটিল সেট জড়িত থাকে, তবে একটি উচ্চ স্থানিক রেজোলিউশনে পদার্থের স্ফটিকগত কাঠামো এবং অভিযোজন নির্ধারণের জন্য এটি প্রয়োজনীয়। সূচীকরণ প্রক্রিয়াটি ক্রমাগত বিকশিত হচ্ছে, প্রক্রিয়াটির নির্ভুলতা এবং গতি উন্নত করার জন্য নতুন অ্যালগরিদম এবং কৌশলগুলি তৈরি করা হচ্ছে। পরে, সূচকের ফলাফলের গুণমান নির্ধারণের জন্য একটি আত্মবিশ্বাস সূচক গণনা করা হয়। কনফিডেন্স ইনডেক্স পরিমাপ করা এবং রেফারেন্স প্যাটার্নের মধ্যে মিলনের মানের উপর ভিত্তি করে। উপরন্তু, এটি শব্দের মাত্রা, ডিটেক্টর রেজোলিউশন এবং নমুনার মানের মতো বিষয়গুলি বিবেচনা করে। যদিও ব্র্যাগ অবস্থা ব্যবহার করে গতিবিদ্যার সমাধানের সাথে সম্পর্কিত এই জ্যামিতিক বিবরণটি খুব শক্তিশালী এবং অভিযোজন এবং গঠন বিশ্লেষণের জন্য দরকারী, এটি কেবল স্ফটিক জালের জ্যামিতি বর্ণনা করে। এটি বিচ্ছুরণকারী উপাদানের মধ্যে জড়িত অনেক শারীরিক প্রক্রিয়াকে উপেক্ষা করে। ইলেক্ট্রন বিম বিক্ষেপণ প্যাটার্নের (ই. বি. এস. পি) মধ্যে সূক্ষ্ম বৈশিষ্ট্যগুলি পর্যাপ্তভাবে বর্ণনা করার জন্য, একজনকে অবশ্যই একটি বহু-বিম গতিশীল মডেল ব্যবহার করতে হবে (যেমন। একটি পরীক্ষামূলক প্যাটার্নে ব্যান্ড তীব্রতার বৈচিত্র্য স্ট্রাকচার ফ্যাক্টর সম্পর্কিত কাইনেমেটিক সমাধানের সাথে খাপ খায় না)। প্যাটার্ন সেন্টার একটি স্ফটিকের অভিযোজন সম্পর্কিত করতে, অনেকটা এক্স-রে বিচ্ছুরণের (এক্সআরডি) মতো, সিস্টেমের জ্যামিতি অবশ্যই জানতে হবে। বিশেষত, প্যাটার্ন কেন্দ্রটি ডিটেক্টরের সাথে মিথস্ক্রিয়া আয়তনের দূরত্ব এবং ফসফর স্ক্রিনে ফসফর এবং নমুনার মধ্যে নিকটতম বিন্দুর অবস্থান বর্ণনা করে। প্রাথমিক কাজগুলিতে এস. ই. এম চেম্বারে পরিচিত অভিযোজনের একটি একক স্ফটিক ব্যবহার করা হয়েছিল এবং ই. বি. এস. পি-র একটি নির্দিষ্ট বৈশিষ্ট্য প্যাটার্ন কেন্দ্রের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ বলে জানা যায়। পরবর্তী উন্নয়নগুলি একটি ইবিএসপি প্রজন্ম এবং চেম্বার জ্যামিতি (ছায়া ঢালাই এবং ফসফর আন্দোলন) এর মধ্যে বিভিন্ন জ্যামিতিক সম্পর্ককে কাজে লাগানোর সাথে জড়িত। দুর্ভাগ্যবশত, এই পদ্ধতিগুলির প্রত্যেকটি জটিল এবং একটি সাধারণ অপারেটরের জন্য কিছু পদ্ধতিগত ত্রুটির প্রবণতা হতে পারে। সাধারণত এগুলি একাধিক নির্দিষ্ট ব্যবহার সহ আধুনিক এস. ই. এম-এ সহজেই ব্যবহার করা যায় না। সুতরাং, বেশিরভাগ বাণিজ্যিক ইবিএসডি সিস্টেমগুলি ক্রিস্টাল অভিযোজন এবং প্রস্তাবিত প্যাটার্ন কেন্দ্রের অবস্থানের একটি পুনরাবৃত্তিমূলক আন্দোলনের সাথে মিলিত সূচক অ্যালগরিদম ব্যবহার করে। পরীক্ষামূলক প্যাটার্নের মধ্যে অবস্থিত ব্যান্ড এবং লুক-আপ টেবিলে থাকা ব্যান্ডগুলির মধ্যে মাপকে কমিয়ে আনার ফলে প্যাটার্নের কেন্দ্রের অবস্থান প্যাটার্নের প্রস্থের ~ 0.5-1% নির্ভুলতার সাথে একত্রিত হয়। অ্যাস্ট্রোইবিএসডি এবং পিসি গ্লোবাল, ওপেন-সোর্স ম্যাটল্যাব কোডগুলির সাম্প্রতিক বিকাশ, প্যাটার্ন সেন্টার (পিসি) নির্ধারণের নির্ভুলতা বৃদ্ধি করেছে এবং ফলস্বরূপ-একটি প্যাটার্ন ম্যাচিং পদ্ধতি ব্যবহার করে স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন যা ইএমএসফ্ট ব্যবহার করে প্যাটার্নটি অনুকরণ করে। ই. বি. এস. ডি ম্যাপিং সূচকের ফলাফলগুলি অধ্যয়নরত পৃষ্ঠের প্রতিটি বিন্দুতে স্ফটিকগত অভিযোজনের একটি মানচিত্র তৈরি করতে ব্যবহৃত হয়। সুতরাং, একটি নির্ধারিত পদ্ধতিতে ইলেক্ট্রন রশ্মি স্ক্যান করার ফলে (সাধারণত একটি বর্গক্ষেত্র বা ষড়ভুজাকার গ্রিডে, নমুনা টিল্টের কারণে চিত্রের পূর্বাভাসের জন্য সংশোধন করা) অনেক সমৃদ্ধ মাইক্রোস্ট্রাকচারাল মানচিত্র পাওয়া যায়। এই মানচিত্রগুলি জিজ্ঞাসাবাদ করা হচ্ছে এমন উপাদানের স্ফটিক অভিমুখকে স্থানিকভাবে বর্ণনা করতে পারে এবং মাইক্রোটেক্সচার এবং নমুনা অঙ্গসংস্থান পরীক্ষা করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। কিছু মানচিত্র শস্যের অভিযোজন, সীমানা এবং বিচ্ছুরণ প্যাটার্ন (চিত্র) গুণমান বর্ণনা করে। বিভিন্ন পরিসংখ্যানগত সরঞ্জাম গড় ভুল অভিমুখীকরণ, শস্যের আকার এবং স্ফটিকগত গঠন পরিমাপ করতে পারে। এই ডেটাসেট থেকে অসংখ্য মানচিত্র, চার্ট এবং প্লট তৈরি করা যেতে পারে। রঙ-কোডিং, কনট্যুর লাইন এবং মেরু চিত্র সহ বিভিন্ন কৌশল ব্যবহার করে অভিযোজন তথ্য দৃশ্যমান করা যেতে পারে। মাইক্রোস্কোপের ভুল বিন্যাস, ইমেজ শিফট, স্ক্যান বিকৃতি যা বিবর্ধন হ্রাসের সাথে বৃদ্ধি পায়, নমুনা পৃষ্ঠের রুক্ষতা এবং দূষণ, সীমানা সূচক ব্যর্থতা এবং ডিটেক্টরের গুণমান স্ফটিক অভিযোজন নির্ধারণে অনিশ্চয়তার সৃষ্টি করতে পারে। ই. বি. এস. ডি সংকেত-থেকে-শব্দের অনুপাত উপাদানের উপর নির্ভর করে এবং অত্যধিক অধিগ্রহণ গতি এবং মরীচি স্রোতে হ্রাস পায়, যার ফলে পরিমাপের কৌণিক রেজোলিউশন প্রভাবিত হয়। স্ট্রেন পরিমাপ পূর্ণ-ক্ষেত্র স্থানচ্যুতি, স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন এবং জি. এন. ডি ঘনত্ব মাইক্রোস্কেলে উপাদানটির স্থিতিস্থাপক এবং প্লাস্টিকের আচরণ সম্পর্কে পরিমাণগত তথ্য প্রদান করে। মাইক্রোস্কেলে স্ট্রেন পরিমাপের জন্য দৈর্ঘ্য/আকৃতির পরিবর্তন (যেমন, স্থানীয় গঠন, পৃথক শস্য অভিমুখীকরণ) ছাড়াও অন্যান্য মূল বিবরণগুলি যত্ন সহকারে বিবেচনা করা প্রয়োজন। এই মাইক্রো-স্কেল বৈশিষ্ট্যগুলি বিভিন্ন কৌশল ব্যবহার করে পরিমাপ করা যেতে পারে, যেমন, হোল ড্রিলিং, একবর্ণ বা বহুবর্ণ শক্তি-বিচ্ছুরিত এক্স-রে বিচ্ছুরণ বা নিউট্রন বিচ্ছুরণ (এনডি)। ই. বি. এস. ডি-র একটি উচ্চ স্থানিক রেজোলিউশন রয়েছে এবং অন্যান্য কৌশলগুলির তুলনায় এটি তুলনামূলকভাবে সংবেদনশীল এবং ব্যবহার করা সহজ। ই. বি. এস. ডি ব্যবহার করে স্ট্রেন পরিমাপ একটি উচ্চ স্থানিক রেজোলিউশনে করা যেতে পারে, যা গবেষকদের একটি উপাদানের মধ্যে স্ট্রেনের স্থানীয় বৈচিত্র্য অধ্যয়ন করতে দেয়। এই তথ্যগুলি উপকরণগুলির বিকৃতি এবং যান্ত্রিক আচরণ অধ্যয়ন করতে, বিভিন্ন লোডিং অবস্থার অধীনে উপাদান আচরণের মডেলগুলি বিকাশ করতে এবং উপকরণগুলির প্রক্রিয়াকরণ এবং কার্যকারিতা অনুকূল করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। সামগ্রিকভাবে, ই. বি. এস. ডি ব্যবহার করে স্ট্রেন পরিমাপ উপকরণের বিকৃতি এবং যান্ত্রিক আচরণ অধ্যয়নের জন্য একটি শক্তিশালী হাতিয়ার, এবং উপকরণ বিজ্ঞান এবং প্রকৌশল গবেষণা ও বিকাশে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। পূর্ববর্তী পরীক্ষাগুলি ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার প্যাটার্নের পরিবর্তন এবং অবক্ষয় (ই. বি. এস. পি) বিচ্ছুরিত আয়তন সম্পর্কে তথ্য প্রদান করে। প্যাটার্ন অবক্ষয় (অর্থাৎ, বিচ্ছুরিত গুণমান) প্যাটার্ন/চিত্রের গুণমান (আইকিউ)-এর মাধ্যমে প্লাস্টিকের মাত্রা মূল্যায়নের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে, যেখানে প্রচলিত হফ রূপান্তর ব্যবহার করার সময় সনাক্ত করা শিখরগুলির সমষ্টি থেকে আইকিউ গণনা করা হয়। উইলকিনসন প্রথমে স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন নির্ধারণের জন্য উচ্চ-ক্রমের কিকুচি লাইনের অবস্থানের পরিবর্তনগুলি ব্যবহার করেছিলেন, যদিও কম নির্ভুলতার সাথে (0.3% থেকে 1%); তবে, এই পদ্ধতিটি ধাতুগুলিতে অবশিষ্ট স্থিতিস্থাপক স্ট্রেনকে চিহ্নিত করার জন্য ব্যবহার করা যায় না কারণ ফলন বিন্দুতে স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন সাধারণত প্রায় 0.2% হয়। উচ্চ-ক্রমের কিকুচি লাইনের পরিবর্তন অনুসরণ করে স্ট্রেন পরিমাপ করা ব্যবহারিক যখন স্ট্রেনটি ছোট হয়, কারণ ব্যান্ডের অবস্থান জালের পরামিতিগুলির পরিবর্তনের প্রতি সংবেদনশীল। 1990-এর দশকের গোড়ার দিকে, ট্রুস্ট এবং অন্যান্যরা। এবং উইলকিনসন ও অন্যান্যরা। 0.02% নির্ভুলতার সাথে অবশিষ্ট স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন এবং ছোট জালের ঘূর্ণন পরিমাপ করতে অঞ্চল অক্ষের অবস্থানে প্যাটার্ন অবক্ষয় এবং পরিবর্তন ব্যবহার করা হয়। উচ্চ-রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার বিচ্ছুরণ (এইচআর-ইবিএসডি) ক্রস-কোরিলেশন-ভিত্তিক, উচ্চ কৌণিক রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার বিচ্ছুরণ (এইচআর-ইবিএসডি)-উইলকিনসন এট আল দ্বারা প্রবর্তিত। - একটি এস. ই. এম-ভিত্তিক কৌশল যা আপেক্ষিক স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন এবং ঘূর্ণনের মানচিত্র তৈরি করে এবং স্ফটিক পদার্থে জ্যামিতিকভাবে প্রয়োজনীয় স্থানচ্যুতি (জি. এন. ডি) ঘনত্ব অনুমান করে। এইচআর-ইবিএসডি পদ্ধতি উপ-পিক্সেল নির্ভুলতার সাথে বিভিন্ন ইলেক্ট্রন ব্যাকস্ক্যাটার ডিফ্রাকশন প্যাটার্নে (ইবিএসপি) আগ্রহের অঞ্চলগুলির (আরওআই) মধ্যে প্যাটার্ন স্থানান্তর পরিমাপ করতে চিত্র ক্রস-কোরিলেশন ব্যবহার করে। ফলস্বরূপ, একটি স্ফটিকের দুটি বিন্দুর মধ্যে আপেক্ষিক জাল বিকৃতি কমপক্ষে চারটি অ-কোলিনিয়ার আরওআই থেকে প্যাটার্ন স্থানান্তর ব্যবহার করে গণনা করা যেতে পারে। বাস্তবে, প্যাটার্ন শিফটগুলি প্রতি ই. বি. এস. পি-তে 20 টিরও বেশি আর. ও. আই-তে পরিমাপ করা হয় যাতে বিকৃতি গ্রেডিয়েন্ট টেনসরের সর্বোত্তম উপযুক্ত সমাধান খুঁজে পাওয়া যায়, যা আপেক্ষিক জাল বিকৃতি উপস্থাপন করে। স্থানচ্যুতি গ্রেডিয়েন্ট টেনসর () (বা স্থানীয় জাল বিকৃতি) সংগৃহীত বিন্দু () এবং সহযোগী (অ-কোপলানার) ভেক্টর (), এবং রেফারেন্স পয়েন্ট () প্যাটার্ন এবং সহযোগী ভেক্টর () এর মধ্যে প্যাটার্নে পরিমাপ করা জ্যামিতিক পরিবর্তনের সাথে সম্পর্কিত। সুতরাং, (প্যাটার্ন শিফট) ভেক্টর () নীচের সমীকরণের মতো লেখা যেতে পারে, যেখানে এবং যথাক্রমে তম দিকে দিক এবং স্থানচ্যুতি। স্থানান্তরগুলি ফসফর (ডিটেক্টর) সমতলে পরিমাপ করা হয় এবং সম্পর্কটি সরলীকৃত হয়; এইভাবে, নয়টি স্থানচ্যুতি গ্রেডিয়েন্ট টেনসর উপাদানের মধ্যে আটটি ইবিএসপি-তে চারটি স্বতন্ত্র, ব্যাপকভাবে ব্যবধানযুক্ত অঞ্চলে স্থানান্তর পরিমাপ করে গণনা করা যেতে পারে। এই স্থানান্তরটি তারপর নমুনা ফ্রেমে সংশোধন করা হয় (ওয়াই-অক্ষের চারপাশে উল্টানো) কারণ ইবিএসপি ফসফর স্ক্রিনে রেকর্ড করা হয় এবং আয়নার মতো উল্টানো হয়। তারপরে এগুলি এক্স-অক্ষের চারপাশে 24° দ্বারা সংশোধন করা হয় (অর্থাৎ, 20° নমুনা টিল্ট প্লাস ≈ 4° ক্যামেরা টিল্ট এবং বিম চলাচল থেকে কোনও কৌণিক প্রভাব ধরে নেওয়া হয় না)। অসীম স্ট্রেন তত্ত্ব ব্যবহার করে, বিকৃতি গ্রেডিয়েন্ট তারপর স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন (প্রতিসম অংশ, যেখানে), এবং জাল ঘূর্ণন (অসমমিত অংশ, যেখানে) বিভক্ত করা হয়। এই পরিমাপগুলি ভলিউমেট্রিক/হাইড্রোস্ট্যাটিক স্ট্রেন টেনসর সম্পর্কে তথ্য সরবরাহ করে না। একটি সীমানা শর্ত আরোপ করে যে পৃষ্ঠের স্বাভাবিক চাপ () শূন্য (অর্থাৎ, ট্র্যাকশন-মুক্ত পৃষ্ঠ), এবং অ্যানিসোট্রপিক ইলাস্টিক স্টিফনেস ধ্রুবক সহ হুকের আইন ব্যবহার করে, একটি অরৈখিক সমাধানকারী ব্যবহার করে এই সীমাবদ্ধ মিনিমাইজেশন সমস্যায় অনুপস্থিত নবম ডিগ্রি স্বাধীনতা অনুমান করা যেতে পারে। স্ফটিক অ্যানিসোট্রপিক কঠোরতা টেনসর কোথায়? এই দুটি সমীকরণ অনুপস্থিত নবম (গোলাকার) স্ট্রেন টেনসর সহ পরিশোধিত স্থিতিস্থাপক বিচ্যুত স্ট্রেন () পুনরায় গণনা করার জন্য সমাধান করা হয়। একটি বিকল্প পদ্ধতি যা সম্পূর্ণ বিবেচনা করে পাওয়া যেতে পারে। পরিশেষে, স্ট্রেস এবং স্ট্রেন টেনসরগুলি ক্রিস্টাল অ্যানিসোট্রপিক স্টিফনেস টেনসর () ব্যবহার করে এবং স্ট্রেস টেনসর ()-এর প্রতিসাম্যের সাথে আইনস্টাইনের সমষ্টি কনভেনশন ব্যবহার করে সংযুক্ত করা হয়। সমস্ত আর. ও. আই-এর পারস্পরিক সম্পর্কের তীব্রতা/শিখরের জ্যামিতিক গড় নিয়ে উৎপাদিত তথ্যের গুণমান মূল্যায়ন করা যেতে পারে। 0. 25-এর কম মান ই. বি. এস. পি-র গুণমান নিয়ে সমস্যা নির্দেশ করবে। উপরন্তু, জ্যামিতিকভাবে প্রয়োজনীয় স্থানচ্যুতি (জি. এন. ডি) ঘনত্ব অনুমান করা যেতে পারে এইচ. আর-ই. বি. এস. ডি পরিমাপ করা জাল ঘূর্ণন থেকে ঘূর্ণন অক্ষ এবং প্রতিবেশী মানচিত্রের পয়েন্টগুলির মধ্যে কোণকে নাইয়ের টেনসর ব্যবহার করে কোনও উপাদানের স্থানচ্যুতি প্রকার এবং ঘনত্বের সাথে সম্পর্কিত করে। নির্ভুলতা এবং বিকাশ এইচআর-ইবিএসডি পদ্ধতি ± 0.05 পিক্সেলের প্যাটার্ন ইমেজ রেজোলিউশনে শিফটগুলি পরিমাপ করে স্থানচ্যুতি গ্রেডিয়েন্ট টেনসরের উপাদানগুলিতে (অর্থাৎ রেডিয়ানগুলিতে স্ট্রেন এবং ঘূর্ণন) ± 10−4 এর নির্ভুলতা অর্জন করতে পারে। এটি ছোট স্ট্রেন এবং ঘূর্ণনের (> 1.5°) মধ্যে সীমাবদ্ধ ছিল যতক্ষণ না ব্রিটেন এবং উইলকিনসন একটি পুনঃ-ম্যাপিং কৌশল ব্যবহার করে ঘূর্ণন সীমা 11°-এ উন্নীত করেন যা প্রথম ক্রস-কোরিলেশন পুনরাবৃত্তি থেকে গণনা করা ঘূর্ণন ম্যাট্রিক্স () দিয়ে নিদর্শনগুলিকে রূপান্তরিত করার পরে স্ট্রেনটিকে পুনরায় গণনা করে। যাইহোক, আরও জাল ঘূর্ণন, সাধারণত গুরুতর প্লাস্টিক বিকৃতি দ্বারা সৃষ্ট, স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন গণনায় ত্রুটি তৈরি করে। এই সমস্যা সমাধানের জন্য, রাগলস এবং অন্যান্যরা। ক্রস-কোরিলেশনের পরিবর্তে বিপরীত কম্পোজিশনাল গাউস-নিউটন-ভিত্তিক (আই. সি. জি. এন) পদ্ধতি ব্যবহার করে এইচ. আর-ই. বি. এস. ডি-র নির্ভুলতা উন্নত করা হয়েছে, এমনকি 12° জাল ঘূর্ণনেও। ভার্মেইজ এবং হোফনাগেলস এমন একটি পদ্ধতিও প্রতিষ্ঠা করেছিলেন যা ইবিএসপিগুলিকে ছোট আরওআই-তে বিভক্ত করার পরিবর্তে একটি পূর্ণ-ক্ষেত্র সমন্বিত ডিজিটাল ইমেজ কোরিলেশন (আইডিআইসি) কাঠামো ব্যবহার করে স্থানচ্যুতি গ্রেডিয়েন্ট উপাদানগুলিতে ±10−5 এর নির্ভুলতা অর্জন করে। আই. ডি. আই. সি-তে প্যাটার্নগুলি বিকৃতি-সংশোধন করা হয় যাতে ~ 14° পর্যন্ত পুনরায় ম্যাপিংয়ের প্রয়োজনীয়তা অস্বীকার করা যায়। এই পরিমাপগুলি হাইড্রোস্ট্যাটিক বা ভলিউমেট্রিক স্ট্রেন সম্পর্কে তথ্য সরবরাহ করে না, কারণ জাল সমতলের (স্ফটিকগত দিকনির্দেশ) দিকনির্দেশনায় কোনও পরিবর্তন হয় না, তবে কেবল কিকুচি ব্যান্ডের অবস্থান এবং প্রস্থের পরিবর্তন হয়। রেফারেন্স প্যাটার্ন সমস্যা যাইহোক, এইচআর-ইবিএসডি বিশ্লেষণে, জাল বিকৃতি ক্ষেত্রটি এখনও মানচিত্রে প্রতি শস্যের একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন বা পয়েন্টের (ইবিএসপি0) সাপেক্ষে গণনা করা হয় এবং বিন্দুতে জাল বিকৃতিটির উপর নির্ভরশীল। প্রতিটি শস্যের জাল বিকৃতি ক্ষেত্র এই বিন্দুর সাপেক্ষে পরিমাপ করা হয়; অতএব, রেফারেন্স বিন্দুতে পরম জাল বিকৃতি (অপ্রতিরোধ্য স্ফটিকের তুলনায়) এইচআর-ইবিএসডি স্থিতিস্থাপক স্ট্রেন এবং ঘূর্ণন মানচিত্র থেকে বাদ দেওয়া হয়। এই 'রেফারেন্স প্যাটার্ন সমস্যা' এক্স-রে বিচ্ছুরণে 'ডি0 সমস্যার' অনুরূপ এবং এইচআর-ইবিএসডি চাপ ক্ষেত্রের নামমাত্র মাত্রাকে প্রভাবিত করে। যাইহোক, রেফারেন্স প্যাটার্ন (ই. বি. এস. পি0) নির্বাচন একটি গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা পালন করে, কারণ গুরুতরভাবে বিকৃত ই. বি. এস. পি0 মানচিত্রের মানগুলিতে ফ্যান্টম ল্যাটিস বিকৃতি যোগ করে, এইভাবে পরিমাপের নির্ভুলতা হ্রাস করে। ই. বি. এস. পি. 0-তে স্থানীয় জাল বিকৃতি ফলস্বরূপ এইচ. আর-ই. বি. এস. ডি মানচিত্রকে প্রভাবিত করে, উদাহরণস্বরূপ, টেনশনে বিকৃত একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন সরাসরি এইচ. আর-ই. বি. এস. ডি মানচিত্রের প্রসারের মাত্রা হ্রাস করবে এবং পরোক্ষভাবে অন্যান্য উপাদানের মাত্রা এবং স্ট্রেনের স্থানিক বিতরণকে প্রভাবিত করবে। উপরন্তু, ই. বি. এস. পি. 0-এর পছন্দ জি. এন. ডি ঘনত্ব বিতরণ এবং মাত্রাকে সামান্য প্রভাবিত করে এবং উচ্চতর জি. এন. ডি ঘনত্বের সাথে একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন বেছে নেওয়ার ফলে আন্তঃসম্পর্কের গুণমান হ্রাস পায়, স্থানিক বিতরণ পরিবর্তন হয় এবং উচ্চ জাল বিকৃতি সহ একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন বেছে নেওয়ার চেয়ে বেশি ত্রুটি প্ররোচিত করে। উপরন্তু, ইবিএসপি0-এর আইকিউ এবং ইবিএসপি0-এর স্থানীয় জাল বিকৃতির মধ্যে কোনও আপাত সংযোগ নেই। নিখুঁত স্ট্রেন পরিমাপের জন্য সিমুলেটেড রেফারেন্স প্যাটার্নের ব্যবহার এখনও গবেষণা এবং তদন্তের একটি সক্রিয় ক্ষেত্র কারণ গভীরতার সাথে স্থিতিস্থাপক ইলেক্ট্রন বিচ্ছুরণের বৈচিত্র্য থেকে সমস্যা দেখা দেয় যা গতিশীল বিচ্ছুরণ সিমুলেশন মডেলগুলির নির্ভুলতাকে সীমাবদ্ধ করে এবং প্যাটার্ন কেন্দ্রের অস্পষ্ট নির্ধারণ যা ফ্যান্টম স্ট্রেন উপাদানগুলির দিকে পরিচালিত করে যা পরীক্ষামূলকভাবে অর্জিত রেফারেন্স প্যাটার্নগুলি ব্যবহার করার সময় বাতিল হয়ে যায়। অন্যান্য পদ্ধতিগুলি ধরে নিয়েছিল যে ক্রিস্টাল প্লাস্টিসিটি ফাইনাইট-এলিমেন্ট (সি. পি. এফ. ই) সিমুলেশন ব্যবহার করে ই. বি. এস. পি0-তে পরম স্ট্রেন নির্ধারণ করা যেতে পারে, যা তারপর এইচ. আর-ই. বি. এস. ডি তথ্যের সাথে মিলিত করা যেতে পারে (যেমন, রৈখিক 'টপ-আপ' পদ্ধতি বা স্থানচ্যুতি সংহতকরণ ব্যবহার করে) পরম জাল বিকৃতি গণনা করতে। উপরন্তু, জি. এন. ডি ঘনত্ব অনুমান ই. বি. এস. পি0 পছন্দের প্রতি নামমাত্র অসংবেদনশীল (বা নগণ্যভাবে নির্ভরশীল), কারণ জি. এন. ডি ঘনত্ব গণনার জন্য জাল ঘূর্ণন মানচিত্রে শুধুমাত্র প্রতিবেশী পয়েন্ট-টু-পয়েন্ট পার্থক্য ব্যবহার করা হয়। যাইহোক, এটি ধরে নেয় যে EBSP0-এর পরম জাল বিকৃতি শুধুমাত্র আপেক্ষিক জাল ঘূর্ণন মানচিত্রের উপাদানগুলিকে একটি ধ্রুবক মান দ্বারা পরিবর্তন করে যা ডেরিভেটিভ ক্রিয়াকলাপের সময় অদৃশ্য হয়ে যায়, অর্থাৎ, জাল বিকৃতি বিতরণ EBSP0 পছন্দের প্রতি সংবেদনশীল নয়। ই. বি. এস. পি. 0 নির্বাচনের জন্য একটি রেফারেন্স প্যাটার্ন মানদণ্ড নির্বাচন করা এক বা এর মিশ্রণ হতে পারেঃ নিম্ন জি. এন. ডি ঘনত্ব বা নিম্ন কার্নেল গড় ভুল অভিমুখীকরণ (কে. এ. এম) সহ পয়েন্টগুলি থেকে নির্বাচন করা যা হফ পরিমাপ করা স্থানীয় শস্যের ভুল অভিমুখীকরণের উপর ভিত্তি করে; উচ্চ চিত্রের গুণমান (আই. কিউ) সহ পয়েন্টগুলি থেকে নির্বাচন করা, যার ইলেক্ট্রন মিথস্ক্রিয়া ভলিউমের মধ্যে কম ত্রুটির ঘনত্ব থাকতে পারে, তাই এটি একটি পলিক্রিস্টালাইন উপাদানের একটি নিম্ন-চাপযুক্ত অঞ্চল বলে মনে করা হয়। যাইহোক, আইকিউ একটি স্পষ্ট শারীরিক অর্থ বহন করে না, এবং পরিমাপ করা আপেক্ষিক জাল বিকৃতিটির মাত্রা ইবিএসপি0-এর আইকিউ-এর প্রতি সংবেদনশীল নয়; ইবিএসপি0-কে সম্ভাব্য চাপের ঘনত্ব যেমন শস্যের সীমানা, অন্তর্ভুক্তি বা বিষয়গত মানদণ্ড ব্যবহার করে ফাটল থেকে দূরে থাকার জন্য ম্যানুয়ালি নির্বাচন করা যেতে পারে; ক্রস-কোরিলেশন প্যারামিটার এবং কৌণিক ত্রুটির মধ্যে অভিজ্ঞতাগত সম্পর্ক পরীক্ষা করার পরে একটি ইবিএসপি0 নির্বাচন করা, যা এইচআর-ইবিএসডি-র নির্ভুলতা সর্বাধিক করে এমন সর্বোত্তম রেফারেন্স প্যাটার্ন সনাক্ত করতে একটি পুনরাবৃত্তিমূলক অ্যালগরিদমে ব্যবহৃত হয়। এই মানদণ্ডগুলি ধরে নেয় যে এই পরামিতিগুলি রেফারেন্স পয়েন্টে স্ট্রেনের অবস্থা নির্দেশ করতে পারে, যা 3.2x10−4 পর্যন্ত স্থিতিস্থাপক স্ট্রেনের সঠিক পরিমাপ তৈরি করতে পারে। যাইহোক, পরীক্ষামূলক পরিমাপগুলি সমতলের বাইরে শিয়ার স্ট্রেন উপাদানগুলির বিতরণ এবং মাত্রা নির্ধারণে এইচআর-ইবিএসডি-র ভুলতার দিকে ইঙ্গিত করে। অ্যাপ্লিকেশন ইবিএসডি উপকরণ বিজ্ঞান ও প্রকৌশল, ভূতত্ত্ব এবং জৈবিক গবেষণা সহ বিস্তৃত প্রয়োগগুলিতে ব্যবহৃত হয়। উপাদান বিজ্ঞান এবং প্রকৌশল ক্ষেত্রে, ই. বি. এস. ডি ধাতু, সিরামিক এবং পলিমারের ক্ষুদ্র কাঠামো অধ্যয়ন করতে এবং উপাদান আচরণের মডেল বিকাশ করতে ব্যবহৃত হয়। ভূতত্ত্বের ক্ষেত্রে, খনিজ এবং পাথরের স্ফটিকগত কাঠামো অধ্যয়নের জন্য ই. বি. এস. ডি ব্যবহার করা হয়। জৈবিক গবেষণায়, ই. বি. এস. ডি জৈবিক টিস্যুগুলির মাইক্রোস্ট্রাকচার অধ্যয়ন করতে এবং হাড় ও দাঁতের মতো জৈবিক পদার্থের কাঠামো তদন্ত করতে ব্যবহৃত হয়। বিক্ষিপ্ত ইলেক্ট্রন ইমেজিং ই. বি. এস. ডি ডিটেক্টরগুলির নীচে, মাঝখানে (এম. এস. ডি) এবং ডিটেক্টরের শীর্ষে সামনের দিকে বিক্ষিপ্ত ইলেক্ট্রন ডায়োড (এফ. এস. ডি) থাকতে পারে। ফরওয়ার্ড-স্ক্যাটারড ইলেক্ট্রন (এফ. এস. ই) ইমেজিং একটি নমুনার পৃষ্ঠ থেকে ছোট কোণে ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকা ইলেকট্রন সংগ্রহ করে, যা পৃষ্ঠের ভূসংস্থান এবং গঠন সম্পর্কে তথ্য সরবরাহ করে। এফ. এস. ই সংকেতটি নমুনার স্ফটিকগত অভিযোজনের প্রতিও সংবেদনশীল। এফ. এস. ই সিগন্যালের তীব্রতা এবং বৈসাদৃশ্য বিশ্লেষণ করে গবেষকরা ছবির প্রতিটি পিক্সেলের স্ফটিকগত অভিমুখ নির্ধারণ করতে পারেন। এফ. এস. ই সংকেত সাধারণত ই. বি. এস. ডি বিশ্লেষণে বি. এস. ই সংকেতের সাথে একযোগে সংগ্রহ করা হয়। বিএসই সংকেতটি নমুনার গড় পারমাণবিক সংখ্যার প্রতি সংবেদনশীল এবং পৃষ্ঠের ভূসংস্থান এবং গঠনের একটি চিত্র তৈরি করতে ব্যবহৃত হয়। ক্রিস্টালোগ্রাফিক অভিযোজন সম্পর্কে তথ্য প্রদানের জন্য বিএসই ইমেজের উপর এফ. এস. ই সিগন্যাল বসানো হয়। ইমেজিং ডিভাইস হিসাবে ইবিএসডি ডিটেক্টর ব্যবহার করার সময় ইমেজ জেনারেশনের অনেক স্বাধীনতা থাকে। ডায়োডের সংমিশ্রণ ব্যবহার করে তৈরি একটি চিত্রকে ভার্চ্যুয়াল বা ভিএফএসডি বলা হয়। ই. বি. এস. ডি. সি. সি. ডি ক্যামেরার অত্যধিক বিনস দ্বারা এস. ই. এম-এ ধীর স্ক্যান ইমেজিংয়ের মতো হারে চিত্র অর্জন করা সম্ভব। একই সঙ্গে ধারণ করা ছবি থেকে যৌগিক চিত্র তৈরি করে আগ্রহের বৈপরীত্যকে দমন বা বিচ্ছিন্ন করা সম্ভব, যা বিভিন্ন মাইক্রোস্ট্রাকচার বৈশিষ্ট্য মূল্যায়নের জন্য বিস্তৃত সংমিশ্রণ সরবরাহ করে। তবুও, ভিএফএসডি চিত্রগুলিতে ঐতিহ্যবাহী ইবিএসডি মানচিত্রের অন্তর্নিহিত পরিমাণগত তথ্য অন্তর্ভুক্ত থাকে না; তারা কেবল ক্ষুদ্র কাঠামোর উপস্থাপনা প্রদান করে। সমন্বিত ই. বি. এস. ডি/ই. ডি. এস ম্যাপিং যখন একযোগে ই. ডি. এস/ই. বি. এস. ডি সংগ্রহ করা যায়, তখন উভয় কৌশলের ক্ষমতা বাড়ানো যেতে পারে। এমন কিছু প্রয়োগ রয়েছে যেখানে নমুনা রসায়ন বা পর্যায়কে শুধুমাত্র ই. ডি. এস-এর মাধ্যমে একই ধরনের গঠনের কারণে আলাদা করা যায় না এবং দ্ব্যর্থহীন কাঠামোর সমাধানের কারণে শুধুমাত্র ই. বি. এস. ডি দিয়ে কাঠামো সমাধান করা যায় না। সমন্বিত ম্যাপিং সম্পন্ন করার জন্য, বিশ্লেষণ এলাকাটি স্ক্যান করা হয় এবং প্রতিটি বিন্দুতে, হফ পিকস এবং ই. ডি. এস অঞ্চল-অফ-ইন্টারেস্ট গণনা সংরক্ষণ করা হয়। পর্যায়গুলির অবস্থানগুলি এক্স-রে মানচিত্রে নির্ধারিত হয় এবং প্রতিটি উপাদানের পরিমাপ করা ইডিএস তীব্রতা চার্টে দেওয়া হয়। শস্য নির্বাচন করার জন্য প্রতিটি পর্যায়ের জন্য রাসায়নিক তীব্রতার পরিসীমা নির্ধারণ করা হয়। সমস্ত নিদর্শনগুলি তারপর অফ-লাইনে পুনরায় সূচীভুক্ত করা হয়। নথিভুক্ত রসায়ন নির্ধারণ করে যে প্রতিটি বিন্দুকে সূচীভুক্ত করতে কোন পর্যায়/স্ফটিক-কাঠামো ফাইল ব্যবহার করা হয়। প্রতিটি প্যাটার্ন শুধুমাত্র একটি পর্যায় দ্বারা সূচীভুক্ত করা হয় এবং বিশিষ্ট পর্যায়গুলি প্রদর্শনকারী মানচিত্র তৈরি করা হয়। ই. ডি. এস এবং ই. বি. এস. ডি-র জন্য মিথস্ক্রিয়ার পরিমাণ উল্লেখযোগ্যভাবে ভিন্ন (দশ ন্যানোমিটারের তুলনায় মাইক্রোমিটারের ক্রমে), এবং একটি অত্যন্ত হেলানো নমুনা ব্যবহার করে এই আয়তনের আকৃতি পর্যায় বৈষম্যের জন্য অ্যালগরিদমের উপর প্রভাব ফেলতে পারে। ইবিএসডি, যখন ক্যাথোডোলুমিনেসেন্স (সিএল), তরঙ্গদৈর্ঘ্য বিচ্ছুরণ এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপি (ডাব্লুডিএস) এবং/অথবা ইডিএস-এর মতো অন্যান্য ইন-এসইএম কৌশলগুলির সাথে একসাথে ব্যবহার করা হয় তখন নমুনার বৈশিষ্ট্যগুলি সম্পর্কে গভীর অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করতে পারে এবং পর্যায় সনাক্তকরণকে উন্নত করতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, খনিজ ক্যালসাইট (চুনাপাথর) এবং আরাগোনাইট (খোল)-এর একই রাসায়নিক গঠন রয়েছে-ক্যালসিয়াম কার্বনেট (সি. এ. সি. ও 3) তাই ই. ডি. এস/ডব্লিউ. ডি. এস তাদের আলাদা করতে পারে না, তবে তাদের বিভিন্ন মাইক্রোক্রিস্টালাইন কাঠামো রয়েছে যাতে ই. বি. এস. ডি তাদের মধ্যে পার্থক্য করতে পারে। সমন্বিত ই. বি. এস. ডি/ডি. আই. সি ম্যাপিং ই. বি. এস. ডি এবং ডিজিটাল ইমেজ কোরিলেশন (ডি. আই. সি) উপকরণের ক্ষুদ্র কাঠামো এবং বিকৃতি আচরণ বিশ্লেষণ করতে একসাথে ব্যবহার করা যেতে পারে। ডিআইসি এমন একটি পদ্ধতি যা উপকরণগুলিতে বিকৃতি এবং স্ট্রেন ক্ষেত্রগুলি পরিমাপ করতে ডিজিটাল চিত্র প্রক্রিয়াকরণ কৌশল ব্যবহার করে। ই. বি. এস. ডি এবং ডি. আই. সি-কে একত্রিত করে গবেষকরা একই সঙ্গে কোনও উপাদান সম্পর্কে স্ফটিকগত এবং যান্ত্রিক উভয় তথ্যই পেতে পারেন। এটি ক্ষুদ্র কাঠামো এবং যান্ত্রিক আচরণের মধ্যে সম্পর্ক সম্পর্কে আরও ব্যাপক বোঝার অনুমতি দেয়, যা উপকরণ বিজ্ঞান এবং প্রকৌশলের মতো ক্ষেত্রে বিশেষভাবে কার্যকর। ডিআইসি একটি উপাদানের স্ট্রেন স্থানীয়করণের অঞ্চলগুলি সনাক্ত করতে পারে, অন্যদিকে ইবিএসডি এই অঞ্চলগুলির মাইক্রোস্ট্রাকচার সম্পর্কে তথ্য সরবরাহ করতে পারে। এই কৌশলগুলিকে একত্রিত করে, গবেষকরা পর্যবেক্ষিত স্ট্রেন স্থানীয়করণের জন্য দায়ী প্রক্রিয়াগুলির অন্তর্দৃষ্টি অর্জন করতে পারেন। উদাহরণস্বরূপ, বিকৃতি হওয়ার আগে এবং পরে শস্য অভিমুখীকরণ এবং সীমানা ভুল অভিমুখীকরণ নির্ধারণ করতে ই. বি. এস. ডি ব্যবহার করা যেতে পারে। বিপরীতে, বিকৃতি চলাকালীন উপাদানের স্ট্রেন ক্ষেত্রগুলি পরিমাপ করতে ডি. আই. সি ব্যবহার করা যেতে পারে। অথবা বিকৃতি চলাকালীন বিভিন্ন স্লিপ সিস্টেমের সক্রিয়করণ সনাক্ত করতে ইবিএসডি ব্যবহার করা যেতে পারে, অন্যদিকে ডিআইসি সম্পর্কিত স্ট্রেন ক্ষেত্রগুলি পরিমাপ করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। এই তথ্যগুলি পরস্পর সম্পর্কিত করে গবেষকরা উপাদানটির যান্ত্রিক আচরণে বিভিন্ন বিকৃতি প্রক্রিয়ার ভূমিকা আরও ভালভাবে বুঝতে পারেন। সামগ্রিকভাবে, ই. বি. এস. ডি এবং ডি. আই. সি-র সংমিশ্রণ উপকরণের ক্ষুদ্র কাঠামো এবং বিকৃতি আচরণ তদন্তের জন্য একটি শক্তিশালী হাতিয়ার প্রদান করে। এই পদ্ধতিটি বিস্তৃত উপকরণ এবং বিকৃতি পরিস্থিতিতে প্রয়োগ করা যেতে পারে এবং যান্ত্রিক আচরণের অন্তর্নিহিত মৌলিক প্রক্রিয়াগুলির অন্তর্দৃষ্টি দেওয়ার সম্ভাবনা রয়েছে। 3ডি ই. বি. এস. ডি 3ডি ই. বি. এস. ডি একটি উপাদানের স্ফটিকগত কাঠামোর ত্রিমাত্রিক মানচিত্র তৈরি করতে সিরিয়াল বিভাগ পদ্ধতিগুলির সাথে ই. বি. এস. ডি-কে একত্রিত করে। কৌশলটিতে একটি নমুনাকে ধারাবাহিকভাবে পাতলা টুকরো করে ভাগ করা হয় এবং তারপরে প্রতিটি টুকরোটির স্ফটিকগত অভিযোজন ম্যাপ করতে ইবিএসডি ব্যবহার করা হয়। ফলস্বরূপ অভিযোজন মানচিত্রগুলি তারপর উপাদানটির স্ফটিকগত কাঠামোর একটি 3D মানচিত্র তৈরি করতে একত্রিত করা হয়। মেকানিক্যাল পলিশিং, ফোকাসড আয়ন বিম (এফ. আই. বি) মিলিং বা আল্ট্রামাইক্রোটমি সহ বিভিন্ন পদ্ধতি ব্যবহার করে সিরিয়াল সেকশন করা যেতে পারে। বিভাগকরণ পদ্ধতির পছন্দ নির্ভর করে নমুনার আকার এবং আকৃতি, তার রাসায়নিক গঠন, প্রতিক্রিয়াশীলতা এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যের পাশাপাশি 3ডি মানচিত্রের কাঙ্ক্ষিত রেজোলিউশন এবং নির্ভুলতার উপর। ঐতিহ্যবাহী 2ডি ই. বি. এস. ডি-র তুলনায় 3ডি ই. বি. এস. ডি-র বেশ কিছু সুবিধা রয়েছে। প্রথমত, এটি একটি উপাদানের স্ফটিকগত কাঠামোর একটি সম্পূর্ণ চিত্র প্রদান করে, যা ক্ষুদ্র কাঠামোর আরও সঠিক এবং বিস্তারিত বিশ্লেষণের অনুমতি দেয়। দ্বিতীয়ত, এটি জটিল ক্ষুদ্র কাঠামো অধ্যয়নের জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে, যেমন যৌগিক উপকরণ বা বহু-পর্যায়ের মিশ্র ধাতুতে পাওয়া যায়। তৃতীয়ত, এটি সময়ের সাথে সাথে মাইক্রোস্ট্রাকচারের বিবর্তন অধ্যয়ন করতে ব্যবহার করা যেতে পারে, যেমন বিকৃতি বা তাপ চিকিত্সার সময়। তবে, থ্রিডি ইবিএসডিরও কিছু সীমাবদ্ধতা রয়েছে। এর জন্য ব্যাপক তথ্য অধিগ্রহণ এবং প্রক্রিয়াকরণ, টুকরোগুলির মধ্যে সঠিক সারিবদ্ধকরণ প্রয়োজন এবং এটি সময়সাপেক্ষ এবং গণনামূলকভাবে নিবিড় হতে পারে। উপরন্তু, থ্রিডি মানচিত্রের গুণমান পৃথক ইবিএসডি মানচিত্রের গুণমানের উপর নির্ভর করে, যা নমুনা প্রস্তুতি, তথ্য অধিগ্রহণ পরামিতি এবং বিশ্লেষণ পদ্ধতির মতো কারণগুলির দ্বারা প্রভাবিত হতে পারে। সামগ্রিকভাবে, থ্রিডি ইবিএসডি তিনটি মাত্রায় উপকরণের স্ফটিকগত কাঠামো অধ্যয়নের জন্য একটি শক্তিশালী কৌশল, এবং এটি উপকরণ বিজ্ঞান এবং প্রকৌশল গবেষণা ও বিকাশে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। উদ্ধৃতি আরও পড়া বাহ্যিক লিঙ্ক কোড ভিডিও বিচ্ছুরণ বৈজ্ঞানিক কৌশল স্পেকট্রোস্কোপি