Common-path interferometer
একটি সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার হল ইন্টারফেরোমিটারের একটি শ্রেণী যেখানে রেফারেন্স বিম এবং নমুনা বিম একই পথে ভ্রমণ করে। উদাহরণগুলির মধ্যে রয়েছে স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটার, জারনিক ফেজ-কনট্রাস্ট ইন্টারফেরোমিটার এবং পয়েন্ট ডিফ্রাকশন ইন্টারফেরোমিটার। মাইকেলসন ইন্টারফেরোমিটার বা ম্যাক-জেন্ডার ইন্টারফেরোমিটারের মতো "ডাবল-পাথ ইন্টারফেরোমিটার"-এর তুলনায় একটি সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার সাধারণত পরিবেশগত কম্পনের জন্য বেশি শক্তিশালী। যদিও একই পথ ধরে ভ্রমণ করে, রেফারেন্স এবং নমুনা রশ্মিগুলি বিপরীত দিকে ভ্রমণ করতে পারে, অথবা তারা একই দিকে ভ্রমণ করতে পারে তবে একই বা ভিন্ন মেরুকরণের সাথে। ডাবল-পাথ ইন্টারফেরোমিটারগুলি ফেজ শিফট বা রেফারেন্স এবং নমুনা বাহুর মধ্যে দৈর্ঘ্যের পরিবর্তনের জন্য অত্যন্ত সংবেদনশীল। এই কারণে, ডাবল-পাথ ইন্টারফেরোমিটারগুলি বিজ্ঞান ও শিল্পে ছোট স্থানচ্যুতি, প্রতিসরাঙ্ক পরিবর্তন, পৃষ্ঠের অনিয়ম এবং এই জাতীয় পরিমাপের জন্য ব্যাপক ব্যবহার খুঁজে পেয়েছে। তবে, এমন কিছু প্রয়োগ রয়েছে যেখানে আপেক্ষিক স্থানচ্যুতি বা রেফারেন্স এবং নমুনা পথের মধ্যে প্রতিসরাঙ্কের পার্থক্যের প্রতি সংবেদনশীলতা কাম্য নয়; বিকল্পভাবে, কেউ অন্য কোনও বৈশিষ্ট্যের পরিমাপে আগ্রহী হতে পারে। নির্বাচিত উদাহরণ স্যাগনাক স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটার দৈর্ঘ্য বা দৈর্ঘ্যের পরিবর্তন পরিমাপের জন্য সম্পূর্ণ অনুপযুক্ত। একটি স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারে, বিমস্প্লিটার থেকে উদ্ভূত উভয় রশ্মি একই সাথে একটি আয়তক্ষেত্রের চারদিকে বিপরীত দিকে যায় এবং মূল বিমস্প্লিটারে পুনরায় মিলিত হয়। ফলস্বরূপ, একটি স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটার, প্রথম ক্রমে, তার আলোকীয় উপাদানগুলির যে কোনও গতিবিধির প্রতি সম্পূর্ণ অসংবেদনশীল। প্রকৃতপক্ষে, পর্যায় পরিবর্তন পরিমাপের জন্য স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারকে কার্যকর করার জন্য, ইন্টারফেরোমিটারের মরীচিগুলিকে সামান্য আলাদা করতে হবে যাতে তারা আর পুরোপুরি সাধারণ পথ অনুসরণ না করে। এমনকি সামান্য মরীচি পৃথকীকরণের ক্ষেত্রেও, স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারগুলি চমৎকার বৈসাদৃশ্য এবং প্রান্ত স্থিতিশীলতা প্রদান করে। স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারের দুটি মৌলিক টপোলজি সম্ভব, প্রতিটি পথে জোড় বা বিজোড় সংখ্যক প্রতিফলন রয়েছে কিনা তার মধ্যে পার্থক্য রয়েছে। একটি স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারে বিজোড় সংখ্যক প্রতিফলন সহ, যেমন একটি সচিত্র, বিপরীতভাবে ভ্রমণকারী বিমের তরঙ্গমুখগুলি বেশিরভাগ আলোর পথে একে অপরের সাপেক্ষে পার্শ্বীয়ভাবে উল্টানো হয়, তাই টপোলজি কঠোরভাবে সাধারণ-পথ নয়। স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারের সর্বাধিক পরিচিত ব্যবহার ঘূর্ণনের প্রতি সংবেদনশীলতার মধ্যে রয়েছে। ইন্টারফেরোমিটারের এই রূপের উপর ঘূর্ণনের প্রভাবের প্রথম বিবরণ 1913 সালে জর্জেস স্যাগনাক প্রকাশ করেছিলেন, যিনি ভুল করে বিশ্বাস করেছিলেন যে তাঁর "ইথারের ঘূর্ণন" সনাক্ত করার ক্ষমতা আপেক্ষিকতা তত্ত্বকে অস্বীকার করেছে। বর্তমানের স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারগুলির সংবেদনশীলতা স্যাগনাকের মূল বিন্যাসের চেয়ে অনেক বেশি। ঘূর্ণনের প্রতি সংবেদনশীলতা পাল্টা ঘূর্ণায়মান রশ্মি দ্বারা পরিবেষ্টিত এলাকার সাথে আনুপাতিক, এবং ফাইবার অপটিক জাইরোস্কোপ, স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারের বর্তমান বংশধর, আয়নার পরিবর্তে হাজার হাজার অপটিক্যাল ফাইবারের লুপ ব্যবহার করে, যেমন ছোট থেকে মাঝারি আকারের ইউনিটগুলিও সহজেই পৃথিবীর ঘূর্ণন সনাক্ত করে। রিং লেজার জাইরোস্কোপগুলি (সচিত্র নয়) স্যাগনাক ঘূর্ণন সংবেদকের আরেকটি রূপ যার জড়তা নির্দেশিকা ব্যবস্থায় গুরুত্বপূর্ণ প্রয়োগ রয়েছে। তাদের ব্যতিক্রমী বৈপরীত্য এবং প্রান্তিক স্থায়িত্বের কারণে, স্যাগনাক কনফিগারেশন ব্যবহার করে ইন্টারফেরোমিটারগুলি আইনস্টাইনের বিশেষ আপেক্ষিকতা আবিষ্কারের দিকে পরিচালিত পরীক্ষায় এবং তাত্ত্বিক ও পরীক্ষামূলক চ্যালেঞ্জগুলির বিরুদ্ধে আপেক্ষিকতার পরবর্তী প্রতিরক্ষায় গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা পালন করেছিল। উদাহরণস্বরূপ, 1887 সালের তাদের বিখ্যাত পরীক্ষার এক বছর আগে, মাইকেলসন এবং মর্লি (1886) 1851 সালের ফিজো পরীক্ষার পুনরাবৃত্তি করেছিলেন, ফিজো-এর সেটআপকে এমন উচ্চ স্থিতিশীলতার একটি জোড়-প্রতিফলন স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটার দিয়ে প্রতিস্থাপন করেছিলেন, যে এমনকি হালকা পথে একটি আলোকিত ম্যাচ স্থাপন করাও কৃত্রিম প্রান্তের স্থানচ্যুতি ঘটায়নি। 1935 সালে, গুস্তাফ উইলহেলম হ্যামার বিশেষ আপেক্ষিকতার একটি তাত্ত্বিক চ্যালেঞ্জকে অস্বীকার করেছিলেন যা একটি বিজোড়-প্রতিফলন স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটার ব্যবহার করে মাইকেলসন-মর্লি-ধরনের পরীক্ষার শূন্য ফলাফলগুলিকে ইথার-ড্র্যাগিংয়ের নিছক নিদর্শন হিসাবে ব্যাখ্যা করার চেষ্টা করেছিল। তিনি এই ইন্টারফেরোমিটারটি খোলা জায়গায়, কোনও তাপমাত্রা নিয়ন্ত্রণ ছাড়াই একটি উঁচু পাহাড়ের চূড়ায় পরিচালনা করতে পারতেন, তবুও 1/10 প্রান্তের নির্ভুলতার রিডিং অর্জন করতে পারতেন। বিন্দু বিচ্ছুরণ লেন্স পরীক্ষা এবং তরল প্রবাহ নির্ণয়ের ক্ষেত্রে দরকারী আরেকটি সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার হল বিন্দু বিচ্ছুরণ ইন্টারফেরোমিটার (পি. ডি. আই), যা 1933 সালে লিনিক আবিষ্কার করেছিলেন। রেফারেন্স বিমটি একটি সেমিট্রান্সপারেন্ট প্লেটে একটি ছোট পিনহোল থেকে বিচ্ছুরণ দ্বারা উত্পন্ন হয়, যা এয়ার ডিস্কের ব্যাসের প্রায় অর্ধেক। চিত্র. 1 পিনহোলের উপর দৃষ্টি নিবদ্ধ করা একটি বিপথগামী তরঙ্গমুখকে চিত্রিত করে। বিচ্ছুরিত রেফারেন্স বিম এবং প্রেরিত পরীক্ষার তরঙ্গ বাধা সৃষ্টি করতে হস্তক্ষেপ করে। পি. ডি. আই-এর সাধারণ পথের নকশা এটির জন্য বেশ কয়েকটি গুরুত্বপূর্ণ সুবিধা নিয়ে আসে। (1) ম্যাক-জেন্ডার বা মাইকেলসন নকশার জন্য প্রয়োজনীয় দুটি পথের পরিবর্তে শুধুমাত্র একটি একক লেজার পথের প্রয়োজন হয়। এই সুবিধাটি বড় ইন্টারফেরোমেট্রিক সেটআপগুলিতে যেমন বায়ু সুড়ঙ্গগুলিতে খুব গুরুত্বপূর্ণ হতে পারে যার অশান্ত মাধ্যমের মাধ্যমে দীর্ঘ আলোকীয় পথ রয়েছে। (2) সাধারণ-পথের নকশায় দ্বৈত পথের নকশার তুলনায় কম আলোকীয় উপাদান ব্যবহার করা হয়, যা সারিবদ্ধকরণকে অনেক সহজ করে তোলে, পাশাপাশি ব্যয়, আকার এবং ওজন হ্রাস করে, বিশেষ করে বড় সেটআপের জন্য। (3) ডাবল পাথ ডিজাইনের নির্ভুলতা নির্ভর করে রেফারেন্স উপাদানটি যে নির্ভুলতার সাথে চিহ্নিত করা হয়েছে তার উপর, সতর্ক নকশা পি. ডি. আই-এর উত্পন্ন রেফারেন্স বিমকে নিশ্চিত নির্ভুলতার হতে সক্ষম করে। একটি অসুবিধা হল যে পিনহোলের মধ্য দিয়ে আলোর পরিমাণ নির্ভর করে যে আলোটি পিনহোলের উপর কতটা ভালভাবে কেন্দ্রীভূত হতে পারে। যদি আপতিত তরঙ্গমুখটি মারাত্মকভাবে বিকৃত হয়, তবে খুব কম আলো প্রবেশ করতে পারে। পি. ডি. আই বিভিন্ন অভিযোজিত আলোকবিদ্যার প্রয়োগগুলিতে ব্যবহার করা হয়েছে। পার্শ্বীয় শিয়ারিং পার্শ্বীয় শিয়ারিং ইন্টারফেরোমেট্রি হল তরঙ্গমুখ সংবেদনশীলতার একটি স্ব-রেফারেন্সিং পদ্ধতি। একটি তরঙ্গমুখকে একটি পৃথক পথ রেফারেন্স তরঙ্গমুখের সাথে তুলনা করার পরিবর্তে, পার্শ্বীয় শিয়ারিং ইন্টারফেরোমেট্রি একটি তরঙ্গমুখকে নিজের একটি স্থানান্তরিত সংস্করণের সাথে হস্তক্ষেপ করে। ফলস্বরূপ, এটি তরঙ্গমুখের ঢালের প্রতি সংবেদনশীল, তরঙ্গমুখের আকৃতির প্রতি নয়। সচিত্র সমতল সমান্তরাল প্লেট ইন্টারফেরোমিটারের পরীক্ষা এবং রেফারেন্স বিমের জন্য অসম পথের দৈর্ঘ্য রয়েছে; এই কারণে, এটি অত্যন্ত একবর্ণ (লেজার) আলোর সাথে ব্যবহার করা আবশ্যক। এটি সাধারণত উভয় পৃষ্ঠে কোনও আবরণ ছাড়াই ব্যবহৃত হয়, যাতে ভূতের প্রতিফলন হ্রাস করা যায়। পরীক্ষার অধীনে একটি লেন্স থেকে একটি বিচ্যুত তরঙ্গমুখ প্লেটের সামনে এবং পিছন থেকে প্রতিফলিত হয়ে হস্তক্ষেপ প্যাটার্ন তৈরি করে। এই মৌলিক নকশার বৈচিত্রগুলি আয়নার পরীক্ষার অনুমতি দেয়। জ্যামিন, মাইকেলসন, ম্যাক-জেন্ডার এবং অন্যান্য ইন্টারফেরোমিটার নকশার উপর ভিত্তি করে পার্শ্বীয় শিয়ারিং ইন্টারফেরোমিটারের অন্যান্য রূপগুলির ক্ষতিপূরণমূলক পথ রয়েছে এবং সাদা আলো দিয়ে ব্যবহার করা যেতে পারে। অপটিক্যাল টেস্টিং ছাড়াও, ল্যাটারাল শিয়ারিং ইন্টারফেরোমেট্রি প্রয়োগের মধ্যে রয়েছে পাতলা ফিল্ম বিশ্লেষণ, স্বচ্ছ পদার্থে ভর এবং তাপীয় বিস্তার, প্রতিসরাঙ্ক এবং প্রতিসরাঙ্ক পরিমাপের গ্রেডিয়েন্ট, কলিমেশন টেস্টিং এবং অভিযোজিত অপটিক্স। শিয়ারিং ইন্টারফেরোমিটার, একটি সাধারণ কাঠামো যার মধ্যে রয়েছে পার্শ্বীয় শিয়ারিং, হার্টম্যান, শ্যাক-হার্টম্যান, ঘূর্ণনশীল শিয়ারিং, ভাঁজ করা শিয়ারিং এবং অ্যাপারচার মাস্কিং ইন্টারফেরোমিটার, শিল্পোন্নতভাবে বিকশিত বেশিরভাগ ওয়েভফ্রন্ট সেন্সরগুলিতে ব্যবহৃত হয়। আধুনিক দৃষ্টিকোণ থেকে, ইয়ং-এর ডাবল স্লিট পরীক্ষার ফলাফল (চিত্র দেখুন। 2) স্পষ্টভাবে আলোর তরঙ্গ প্রকৃতির দিকে ইঙ্গিত করে, তবে 1800-এর দশকের গোড়ার দিকে এমনটি ছিল না। সর্বোপরি, নিউটন পর্যবেক্ষণ করেছিলেন যা এখন বিচ্ছুরণ ঘটনা হিসাবে স্বীকৃত, এবং তাঁর তৃতীয় আলোকবিজ্ঞান বইয়ে আলোর কর্পাসকুলার তত্ত্বের পরিপ্রেক্ষিতে তাদের ব্যাখ্যা করেছিলেন। ইয়ং-এর সমসাময়িকরা আপত্তি তুলেছিলেন যে তাঁর ফলাফলগুলি কেবল ছিদ্রের প্রান্ত থেকে বিচ্ছুরণ প্রভাবের প্রতিনিধিত্ব করতে পারে, নীতিগতভাবে নিউটন পূর্বে যে প্রান্তগুলি পর্যবেক্ষণ করেছিলেন তার থেকে আলাদা নয়। অগাস্টিন ফ্রেন্সেল, যিনি তরঙ্গ তত্ত্বকে সমর্থন করেছিলেন, হস্তক্ষেপের প্রভাবগুলি প্রদর্শনের জন্য একাধিক পরীক্ষা-নিরীক্ষা করেছিলেন যা প্রান্ত বিচ্ছুরণের ফলাফল হিসাবে সহজভাবে ব্যাখ্যা করা যায় না। এগুলির মধ্যে সবচেয়ে উল্লেখযোগ্য ছিল প্রতিসরণের মাধ্যমে দুটি ভার্চুয়াল হস্তক্ষেপকারী উৎস তৈরি করার জন্য তাঁর দ্বৈতবাদের ব্যবহার। ফ্রেন্সেল বাইপ্রিজমের একটি ইলেক্ট্রন সংস্করণ ইলেক্ট্রন হলোগ্রাফিতে ব্যবহৃত হয়, একটি ইমেজিং কৌশল যা কোনও বস্তুর ইলেক্ট্রন হস্তক্ষেপ প্যাটার্নকে ফটোগ্রাফিকভাবে রেকর্ড করে। হলোগ্রামটি তখন একটি লেজার দ্বারা আলোকিত করা যেতে পারে যার ফলে মূল বস্তুর একটি ব্যাপক বিবর্ধিত চিত্র তৈরি হয়, যদিও বর্তমান অগ্রাধিকার হল হোলোগ্রামগুলির সংখ্যাসূচক পুনর্গঠনের জন্য। প্রচলিত ইমেজিং কৌশল ব্যবহার করে ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি-তে যতটা সম্ভব তার চেয়ে বেশি রেজোলিউশন সক্ষম করার জন্য এই কৌশলটি তৈরি করা হয়েছিল। প্রচলিত ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপির রেজোলিউশন ইলেক্ট্রন তরঙ্গদৈর্ঘ্য দ্বারা সীমাবদ্ধ নয়, বরং ইলেক্ট্রন লেন্সের বড় বিচ্যুতি দ্বারা সীমাবদ্ধ। চিত্র. 3 একটি হস্তক্ষেপ ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের মৌলিক বিন্যাস দেখায়। ইলেকট্রন বাইপ্রিজম একটি সূক্ষ্ম, ধনাত্মক চার্জযুক্ত বৈদ্যুতিক ফিলামেন্ট (চিত্রে একটি বিন্দু হিসাবে উপস্থাপিত) নিয়ে গঠিত যা স্থল সম্ভাব্যতায় দুটি প্লেট বিদ্যুদ্বাহক দ্বারা বন্ধনীযুক্ত। ফিলামেন্ট, সাধারণত 1 মাইক্রোমিটার ব্যাসের বেশি নয়, সাধারণত একটি স্বর্ণ-লেপা কোয়ার্টজ ফাইবার। ইলেকট্রন রশ্মির মধ্যে নমুনা অফ-অ্যাক্সিস স্থাপন করে, বিচ্ছুরিত নমুনা তরঙ্গমুখ এবং রেফারেন্স তরঙ্গমুখ একত্রিত হয়ে হলোগ্রাম তৈরি করে। জিরো-এরিয়া স্যাগনাক লেজার ইন্টারফেরোমিটার গ্র্যাভিটেশনাল-ওয়েভ অবজারভেটরি (এল. আই. জি. ও) দুটি 4-কিলোমিটার মাইকেলসন-ফ্যাব্রি-পেরোট ইন্টারফেরোমিটার নিয়ে গঠিত এবং বিম স্প্লিটারে প্রায় 100 ওয়াট লেজার শক্তির শক্তি স্তরে পরিচালিত হয়। বর্তমানে উন্নত এল. আই. জি. ও-তে চলমান উন্নতির জন্য কয়েক কিলোওয়াট লেজার শক্তির প্রয়োজন হবে এবং বিজ্ঞানীদের তাপীয় বিকৃতি, লেজারের ফ্রিকোয়েন্সি বৈচিত্র্য, আয়না স্থানচ্যুতি এবং তাপীয়ভাবে প্ররোচিত বায়ারফ্রিনজেন্সের সাথে লড়াই করতে হবে। উন্নত এল. আই. জি. ও-র বাইরে তৃতীয় প্রজন্মের উন্নতির জন্য বিভিন্ন প্রতিযোগিতামূলক অপটিক্যাল সিস্টেম অন্বেষণ করা হচ্ছে। এই প্রতিযোগিতামূলক টপোলজিগুলির মধ্যে একটি হল শূন্য-ক্ষেত্রের স্যাগনাক নকশা। উপরে উল্লিখিত হিসাবে, স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারগুলি, প্রথম ক্রমে, তাদের অপটিক্যাল উপাদানগুলির কোনও স্থির বা নিম্ন-ফ্রিকোয়েন্সি স্থানচ্যুতির প্রতি সংবেদনশীল নয়, না প্রান্তগুলি লেজার বা বায়ারফ্রিঞ্জেন্সের সামান্য ফ্রিকোয়েন্সি বৈচিত্র্য দ্বারা প্রভাবিত হয়। তৃতীয় প্রজন্মের লিগোর জন্য স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারের একটি শূন্য-ক্ষেত্রের বৈকল্পিক প্রস্তাব করা হয়েছে। চিত্র. 1 দেখায় কিভাবে বিপরীত ইন্দ্রিয়ের দুটি লুপ মাধ্যমে আলো নির্দেশ করে, শূন্য একটি কার্যকর এলাকা প্রাপ্ত হয়। স্যাগনাক ইন্টারফেরোমিটারের এই রূপটি অতএব তার আলোকীয় উপাদানগুলির ঘূর্ণন বা কম ফ্রিকোয়েন্সি প্রবাহের প্রতি সংবেদনশীল নয়, যখন জ্যোতির্বিজ্ঞানের আগ্রহের ক্ষণস্থায়ী ঘটনাগুলির প্রতি উচ্চ সংবেদনশীলতা বজায় রাখে। যাইহোক, একটি অপটিক্যাল সিস্টেমের পছন্দের সাথে অনেক বিবেচনা জড়িত, এবং নির্দিষ্ট কিছু ক্ষেত্রে শূন্য-অঞ্চল স্যাগনাকের শ্রেষ্ঠত্ব সত্ত্বেও, তৃতীয় প্রজন্মের এল. আই. জি. ও-র জন্য অপটিক্যাল সিস্টেমের কোনও সর্বসম্মত পছন্দ এখনও নেই। স্ক্যাটারপ্লেট টুইম্যান-গ্রিন ইন্টারফেরোমিটারের একটি সাধারণ বিকল্প হল স্ক্যাটারপ্লেট ইন্টারফেরোমিটার, যা জে. এম. দ্বারা উদ্ভাবিত। 1953 সালে কেনা। টুইম্যান-গ্রিন ইন্টারফেরোমিটার, একটি ডাবল পাথ ইন্টারফেরোমিটার, মাইকেলসন ইন্টারফেরোমিটারের একটি রূপ যা সাধারণত অপটিক্যাল পৃষ্ঠ এবং লেন্সের নির্ভুলতা পরীক্ষা করতে ব্যবহৃত হয়। যেহেতু রেফারেন্স এবং নমুনা পথগুলি ভিন্ন, তাই ইন্টারফেরোমিটারের এই রূপটি আলোর পথে কম্পন এবং বায়ুমণ্ডলীয় অশান্তির প্রতি অত্যন্ত সংবেদনশীল, যা উভয়ই আলোকীয় পরিমাপে হস্তক্ষেপ করে। একটি আলোকীয় পৃষ্ঠের নির্ভুল পরিমাপও সহায়ক আলোকবিজ্ঞানের মানের উপর অত্যন্ত নির্ভরশীল। যেহেতু স্ক্যাটারপ্লেট ইন্টারফেরোমিটার একটি সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার, তাই রেফারেন্স এবং পরীক্ষার পথগুলি স্বয়ংক্রিয়ভাবে মিলে যায় যাতে সাদা আলোতেও শূন্য ক্রমের প্রান্ত সহজেই পাওয়া যায়। এটি কম্পন এবং অশান্তির প্রতি তুলনামূলকভাবে সংবেদনশীল নয় এবং সহায়ক আলোকবিজ্ঞানের গুণমান টুইম্যান-গ্রিন সেটআপের মতো গুরুত্বপূর্ণ নয়। তবে, ফ্রিঞ্জ কনট্রাস্ট কম, এবং একটি বৈশিষ্ট্যপূর্ণ হটস্পট স্ক্যাটারপ্লেট ইন্টারফেরোমিটারকে বিভিন্ন উদ্দেশ্যে অনুপযুক্ত করে তুলতে পারে। অপটিক্যাল পরীক্ষার জন্য দরকারী অন্যান্য বিভিন্ন সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার বর্ণনা করা হয়েছে। চিত্র. 1 একটি গোলাকার আয়না পরীক্ষা করার জন্য স্থাপন করা ইন্টারফেরোমিটার দেখায়। পরীক্ষার অধীনে আয়নার বক্রতার কেন্দ্রের কাছে একটি স্ক্যাটারপ্লেট স্থাপন করা হয়। এই প্লেটটিতে ক্ষুদ্র অস্বচ্ছ প্যাচগুলির একটি প্যাটার্ন রয়েছে যা প্লেটের উপর বিপরীত প্রতিসাম্য সহ সাজানো থাকে তবে অন্যথায় আকৃতি এবং বিতরণে এলোমেলো হয়। (1) আলোর একটি নির্দিষ্ট ভগ্নাংশ সরাসরি স্ক্যাটারপ্লেটের মধ্য দিয়ে যায়, আয়না দ্বারা প্রতিফলিত হয়, তবে দ্বিতীয়বারের মতো স্ক্যাটারপ্লেটের মুখোমুখি হওয়ার সাথে সাথে এটি ছড়িয়ে পড়ে। এই সরাসরি ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকা আলো রেফারেন্স বিম গঠন করে। (2) আলোর একটি নির্দিষ্ট ভগ্নাংশ বিক্ষিপ্ত হয় যখন এটি বিচ্ছুরিত প্লেটের মধ্য দিয়ে যায়, আয়না দ্বারা প্রতিফলিত হয়, কিন্তু তারপর দ্বিতীয়বার বিচ্ছুরিত প্লেটের মুখোমুখি হওয়ার সাথে সাথে সরাসরি বিচ্ছুরিত প্লেটের মধ্য দিয়ে যায়। এই বিক্ষিপ্ত-সরাসরি আলো টেস্ট বিম গঠন করে, যা রেফারেন্স বিমের সাথে মিলিত হয়ে ইন্টারফেরেন্স ফ্রিঞ্জ গঠন করে। (3) আলোর একটি নির্দিষ্ট ভগ্নাংশ স্ক্যাটারপ্লেটের উভয় মুখোমুখি সরাসরি অতিক্রম করে। এই সরাসরি-সরাসরি আলো একটি ছোট, অবাঞ্ছিত হটস্পট তৈরি করে। (4) আলোর একটি নির্দিষ্ট ভগ্নাংশ স্ক্যাটারপ্লেটের সাথে উভয় মুখোমুখি ছড়িয়ে ছিটিয়ে থাকে। এই বিক্ষিপ্ত-বিক্ষিপ্ত আলো হস্তক্ষেপ প্যাটার্নের সামগ্রিক বৈপরীত্যকে হ্রাস করে। বাথ ইন্টারফেরোমিটার বাথ ইন্টারফেরোমিটার (চিত্র। 4) টেলিস্কোপ আয়না পরীক্ষা করতে ব্যবহার করা যেতে পারে। এটি সাধারণত একটি বিম স্প্লিটার, একটি অপটিক্যাল ফ্ল্যাট, স্বল্প ফোকাল দৈর্ঘ্যের একটি বাইকোনভেক্স ডাইভারজার এবং সেমিকন্ডাক্টর লেজারের মতো একটি আলোর উৎস নিয়ে গঠিত। অন্যান্য বিন্যাস সাহিত্যে অন্যান্য সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটার বিন্যাস বর্ণনা করা হয়েছে, যেমন ডাবল-ফোকাস ইন্টারফেরোমিটার এবং সন্ডার্স প্রিজম ইন্টারফেরোমিটার এবং আরও অনেক কিছু। সাধারণ-পথ ইন্টারফেরোমিটারগুলি অপটিক্যাল কোহেরেন্স টমোগ্রাফি, ডিজিটাল হলোগ্রাফি এবং পর্যায় বিলম্ব পরিমাপ সহ বিভিন্ন ধরনের প্রয়োগে কার্যকর প্রমাণিত হয়েছে। পরিবেশগত কম্পনের প্রতি তাদের আপেক্ষিক স্থিতিস্থাপকতা একটি সাধারণ অসামান্য বৈশিষ্ট্য, এবং কখনও কখনও কোনও রেফারেন্স বিম উপলব্ধ না থাকলে এগুলি ব্যবহার করা যেতে পারে; তবে, তাদের টপোলজির উপর নির্ভর করে, ডাবল পাথ ইন্টারফেরোমিটার দ্বারা উত্পন্নগুলির তুলনায় তাদের হস্তক্ষেপের নিদর্শনগুলি ব্যাখ্যা করা আরও জটিল হতে পারে। আরও দেখুন ডাবল-পাথ ইন্টারফেরোমিটার রেফারেন্স ইন্টারফেরোমিটার