SEM-XRF
এসইএম-এক্সআরএফ একটি স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে (এসইএম) একটি (সাধারণত মাইক্রো-ফোকাস) এক্স-রে জেনারেটর (এক্স-রে উৎস) যোগ করার জন্য একটি প্রতিষ্ঠিত প্রযুক্তিগত শব্দ। ছোট-স্পট লো-পাওয়ার এক্স-রে টিউব এবং পলিকেপিলারি এক্স-রে অপটিক্সের ক্ষেত্রে প্রযুক্তিগত অগ্রগতি কমপ্যাক্ট মাইক্রো-ফোকাস এক্স-রে উত্সগুলির বিকাশকে সক্ষম করেছে যা শক্তি-বিচ্ছুরিত এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপি (ইডিএস, ইডিএক্স, ইডিএক্সএস বা এক্সইডিএস) এর জন্য সজ্জিত একটি এসইএম-এর সাথে সংযুক্ত করা যেতে পারে। ডানদিকে ছবিতে যেমন দেখানো হয়েছে, যখন মাইক্রো-ফোকাস এক্স-রে ফ্লুরোসেন্স (মাইক্রোএক্সআরএফ) একটি এসইএম দিয়ে সঞ্চালিত হয়, তখন যোগ্যতার মৌলিক বিশ্লেষণ বিশ্লেষণাত্মক পরিসংখ্যানগুলি এমন বিন্দুতে প্রসারিত করা হয় যেখানে ট্রেস স্তরের পরিমাণ এবং বাল্ক বিশ্লেষণ সম্ভব। ইলেকট্রন এবং ফোটনের সাথে যথাক্রমে উত্তেজিত এক্স-রে বর্ণালী থেকে প্রাপ্ত বিশ্লেষণাত্মক তথ্য একত্রিত করে, নিম্ন এবং উচ্চ পারমাণবিক সংখ্যার প্রধান উপাদানগুলির পাশাপাশি ট্রেস উপাদানগুলি বিশ্লেষণ করা যেতে পারে-যদিও বিভিন্ন স্থানিক রেজোলিউশনের সাথে। 1986 সালে, স্যান্ডিয়া এবং লরেন্স লিভারমোর ন্যাশনাল ল্যাবস এক্স-রে মাইক্রো-ফ্লুরোসেন্সকে প্রভাবিত করে এমন পরামিতি সম্পর্কে একটি গবেষণাপত্র (কেভেক্স কর্পোরেশনের সাথে) সহ-রচনা করেছিলেন। 1988 সালে একটি ফলোআপ হিসাবে, ক্রস অ্যান্ড ভেরি একটি এক্স-রে মাইক্রো-ফ্লুরোসেন্স বিশ্লেষক বর্ণনা করেছেন যা এক্স-রে ফ্লুরোসেন্সের অ-ধ্বংসাত্মক বিশ্লেষণাত্মক পদ্ধতিকে তুলনামূলকভাবে ছোট স্থানিক বৈষম্যের (50 মাইক্রোমিটারের কম) সাথে একত্রিত করে যাতে রচনা (রসায়ন), পুরুত্ব এবং মাইক্রো-স্ট্রাকচারাল পরিমাপ কয়েক সেকেন্ডের মধ্যে বিভিন্ন বৈচিত্র্যময় উপকরণের উপর তৈরি করা যেতে পারে। এটি দেখানো হয়েছিল যে, একটি এক্স-ওয়াই পর্যায় সহ নমুনাগুলি স্ক্যান করে, পরিমাণগত বা গুণগত মাইক্রো-স্ট্রাকচারাল তথ্য সংগ্রহ করা যেতে পারে। এই দুটি গবেষণাপত্রই এস. ই. এম-এর সঙ্গে মাইক্রো-এক্স-রে ফ্লুরোসেন্সের আসন্ন সংহতকরণের একটি পূর্বরূপ প্রদান করেছে। 1991 সালের মধ্যে, পোজ্সগাই এসইএম প্রেক্ষাপটে এক্স-রে মাইক্রো-ফ্লুরোসেন্স বিশ্লেষণ চালানোর সম্ভাবনার বিশদ বিবরণ দিয়ে একটি পর্যালোচনা নিবন্ধ প্রকাশ করেছিলেন। প্রধান পদ্ধতির মধ্যে ছিল একটি ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের ইলেক্ট্রন অপটিক্যাল কলামকে ট্রান্সমিশন এক্স-রে টিউবে রূপান্তর করা, মাইক্রো-ফোকাসিং এক্স-রে টিউব ব্যবহার করা, এক্স-রে টিউবগুলিকে ক্যাপিলারি কৌশলগুলির সাথে একত্রিত করা, পাশাপাশি এক্স-রে টিউবগুলিকে একবর্ণের সাথে একত্রিত করা এবং সিনক্রোট্রন বিকিরণ প্রয়োগ করা। SEM-XRF 2005 সালের মার্চ মাসে IXRF সিস্টেমস (অস্টিন, TX) দ্বারা প্রথম বাণিজ্যিকীকরণ করা হয়েছিল। ব্রুকার কর্পোরেশন (বিলেরিকা, এমএ) আগস্ট 2013 সালে অনুসরণ করে। রেফারেন্সগুলি একটি এসইএম-এ ইডি-ইপিএমএ, ডাব্লুডি-ইপিএমএ এবং এমইউ-এক্সআরএফ-এর সাথে উন্নত মৌলিক বিশ্লেষণকে বাহ্যিক লিঙ্ক করে। ভি. ডি. হোডোরোবা এবং অন্যান্যরা। মাইক্রোস্কোপি এবং মাইক্রোঅ্যানালাইসিস 17:600-601, জুলাই 2011। এস. ই. এম-ই. ডি. এস এবং মাইক্রো-এক্স. আর. এফ-এস. ই. এম দ্বারা কার্বন-লেপা শেরডে লোহা-ভিত্তিক মৃৎশিল্প রঞ্জক সনাক্তকরণের তুলনা করা হচ্ছে। মাইকেল পেন্ডলটন এবং অন্যান্যরা। ইয়েল জার্নাল অফ বায়োলজি অ্যান্ড মেডিসিন। 87 (1): 15-20, মার্চ 2014। একটি এসইএম-এ মাইক্রো-এক্সআরএফ উত্তেজনা। এম. হ্যাশকে, এফ. এগার্ট এবং ডব্লিউ. টি. এলাম। এক্স-রে স্পেকট্রোমেট্রি। খণ্ড। 36, নং। 4, পৃ. 254-259 (2007)। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপে মাইক্রো-এক্স. আর. এফ। মাইকেল হ্যাশকে এবং স্টিফেন বোহেম। ইমেজিং এবং ইলেক্ট্রন পদার্থবিজ্ঞানে অগ্রগতি। খণ্ড। 199, পি 1-60, (2017)। পরীক্ষাগার উৎস সহ কোণ-সমাধান এক্স-রে ফ্লুরোসেন্স স্পেকট্রোমেট্রি জন্য একটি নমনীয় সেটআপ। এম. স্প্যানিয়ার, সি. হার্জগ, ডি. গ্রটজশ, এফ. ক্র্যামার, আই. মান্টোভালু, জে. লুবেক, জে. ওয়েসার, সি. স্ট্রিক, ডব্লিউ. মালজার, বি. বেখফ, বি. কানগিয়ের। রিভিউ অফ সায়েন্টিফিক ইন্সট্রুমেন্টস, খণ্ড 87, নং 3, (035108), (2016)। মাইকেল হ্যাশকে, ল্যাবরেটরি মাইক্রো-এক্স-রে ফ্লুরোসেন্স স্পেকট্রোস্কোপি, খণ্ড। 55 (2014)। মাইক্রোস্কোপিক এক্স-রে ফ্লুরোসেন্স ব্যবহার করে পরিবেশ বিজ্ঞানের প্রবণতা। উরসুলা এলিজাবেথ অ্যাড্রিয়েন ফিটচেন এবং জেরাল্ড ফালকেনবার্গ। স্পেকট্রোচিমিকা অ্যাক্টা পার্ট বিঃ অ্যাটমিক স্পেকট্রোস্কোপি, খণ্ড 66, নং 8, পি 567-580 (2011)। বিচ্ছুরিত বর্ণালী গণনার সাথে সংযুক্ত পরিমাপের মাধ্যমে এস. ই. এম-এ মাইক্রো-ফোকাস এক্স. আর. এফ-এর জন্য একটি এক্স-রে লেন্সের প্রকৃত সংক্রমণ নির্ধারণ। ভি-ডি। হোডোরোবা অ্যান্ড এম. প্রোকপ। এক্স-রে স্পেকট্রোমেট্রি, খণ্ড 38, নং 3, পি 216-221, (2009)। এসইএম প্রোকপ, ম্যাথিয়াস এবং অন্যান্যদের সাথে এক্সআরএফ বিশ্লেষণের জন্য একটি মাইক্রো-ফোকাস এক্স-রে উৎসের কম-শক্তির কার্যকারিতার উন্নতি। এক্স-রে স্পেকট্রোমেট্রিঃ অ্যান ইন্টারন্যাশনাল জার্নাল 38.4 (2009): 308-311। এসইএম-এ উন্নত ইডিএস এবং এক্সআরএফ বিশ্লেষণের জন্য একটি মাইক্রোফোকাস এক্স-রে উৎস। প্রোকপ, ম্যাথিয়াস, ভ্যাসিলে-ড্যান হোডোরোবা এবং ভেনেসা র্যাকউইটস। মাইক্রোস্কোপি এবং বিশ্লেষণ/ইউরোপীয় সংস্করণ। পি 10-13 (মে, 2011)। স্ক্যানিং ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপের জন্য একটি অতিরিক্ত বিশ্লেষণাত্মক পদ্ধতি হিসাবে এক্স-রে ফ্লুরোসেন্স। প্রোকোপ, এম., হোডোরোবা, ভি. মাইক্রোচিম অ্যাক্টা খণ্ড 161, পি 413-419 (2008)। এক্স. আর. এফ বিশ্লেষণে কম্পটন-থেকে-রেলে তীব্রতার অনুপাত ব্যবহার করে উন্নত রাসায়নিক গঠন অর্জন করা। হোডোরোবা, ভাসিল-ড্যান এবং ভেনেসা র্যাকউইটস। বিশ্লেষণাত্মক রসায়ন 86.14 (2014): 6858-6864। পেন্ডলটন, এম. ডব্লিউ., এবং অন্যান্য। এসইএম-ইডিএস এবং মাইক্রো-এক্সআরএফ-এসইএম দ্বারা রুথেনিয়াম-লেপা প্রত্নতাত্ত্বিক মৃৎশিল্পে লোহা-ভিত্তিক রঞ্জক সনাক্ত করা। মাইক্রোস্কোপি এবং মাইক্রোঅ্যানালাইসিস 20.S3 (2014): 2030-2031। র্যাকউইটস, ভেনেসা এবং অন্যান্যরা। রোএইচএস প্রাসঙ্গিক উপাদানগুলির উদাহরণ-পরিমাপ, অপ্টিমাইজেশন এবং সনাক্তকরণ সীমার পূর্বাভাসের উপর ট্রেস বিশ্লেষণের জন্য এসইএম/ইডিএস-এর সাথে এমইউ-এক্সআরএফ-এর কার্যকারিতা। জার্নাল অফ অ্যানালিটিক্যাল অ্যাটমিক স্পেকট্রোমেট্রি 28.9 (2013): 1466-1474। সিবার, জন আর. এবং অ্যাডাম মর্টেনসেন। "উচ্চ-নির্ভরযোগ্য অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে সোল্ডারের জন্য এক্স. আর. এফ এবং এস. ই. এম-ই. ডি. এস মৌলিক বিশ্লেষণ ফলাফলের বৈধতা এবং সনাক্তকরণ।" এক্স-রে স্পেকট্রোমেট্রি 43.5 (2014): 259-268। মাইক্রো এক্স. আর. এফ এলিমেন্ট ম্যাপ হল ইলেকট্রন বিম উৎপাদিত করোলারির চেয়ে কম ঘনত্বে উপাদানগুলি সনাক্ত করার একটি নতুন পদ্ধতিঃ একটি গার্নেট শিস্ট উদাহরণ। "মাইক্রোস্কোপি এবং মাইক্রোঅ্যানালাইসিস 15.S2 (2009): 34-35। বাণিজ্যিক সংযোগ দুটি বাণিজ্যিক বিক্রেতা এই প্রযুক্তি প্রদান করেঃ এক্সবি মাইক্রো-এক্সআরএফ কোয়ান্ট্যাক্স মাইক্রো-এক্সআরএফ ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি কৌশল