高分子结晶
大多数测定结晶度的方法都假定材料是结晶和非结晶高分子的完美混合物，过渡区域占比例很低，可以忽略。测量方法包括密度法、差示扫描量热法（DSC）、X射线衍射（XRD）、红外光谱学和核磁共振（NMR）。不同的测量方法，测定的具体数值会有不同，因此需要综合运用多种方法测定结晶度。
薄膜
沉积时的量测膜厚有使用分光学反射与折射率来计算与以水晶震动分子的沉积材料的振动数变化来测量膜厚等方法。光学薄膜（眼镜与镜片的反射防止膜、特殊镜子等）、磁带（录音、录像带等）、构成显示器的电极・半导体膜・绝缘膜等（电浆电视与有机EL、液晶显示器）、手机、PDA的荧幕表面・装饰表面用的涂层、电子零件(电容、半导体集积回路等）、食品包装材料（装饼干糖果用的袋子有的沉积上一层铝膜）、以至于新颖材料与建材、各式各样范围广泛接可使用此加工法。电子显微镜的标本在制作时也使用此加工法。