高分子结晶
大多数测定结晶度的方法都假定材料是结晶和非结晶高分子的完美混合物，过渡区域占比例很低，可以忽略。测量方法包括密度法、差示扫描量热法（DSC）、X射线衍射（XRD）、红外光谱学和核磁共振（NMR）。不同的测量方法，测定的具体数值会有不同，因此需要综合运用多种方法测定结晶度。
总离子强度调节缓冲溶液
总离子强度缓冲溶液最常见的应用，见于用对氟离子的电位法测定之中。氟离子选择性电极由（常用）、内充液（一定浓度的氟化钠与氯化钠混合溶液）与氟化镧-{晶片}-（掺有氟化钙和氟化铕，以提高导电性）组成。其中最核心的部件就是氟化镧-{晶片}-（这种-{晶片}-很薄，又称为晶体膜）。将电极插入到待测离子的溶液时，溶液中的离子会被-{晶片}-吸附。而且，由于晶体缺陷的存在，还会发生离子的交换，从而在晶体膜表面建立了双电层结构，并产生膜电位： formula_2表示膜电位，formula_3为理想气体常数，formula_4为热力学温度，formula_5为法拉第常数，formula_6表示氟离子的活度。由膜电位产生的机理可见，有多种因素对氟离子浓度测定的准确度存在影响，包括总离子强度，pH，溶液中共存的其它离子等。为此，一种总离子强度缓冲溶液的配制方法如下：