Indeks bias
Jika seberkas cahaya datang dan membentuk sudut terhadap permukaan, maka berkas cahaya tersebut ada yang dibelokkan sewaktu memasuki medium baru tersebut, di mana pembelokan itu disebut dengan "pembiasan". Alat yang di gunakan untuk mengukur indeks bias adalah "refractometer"
Optika sinar-X
Optika sinar-X atau X-ray optik adalah cabang optik yang memanipulasi sinar X-bukan cahaya tampak. Sementara lensa untuk cahaya tampak terbuat dari bahan transparan yang dapat memiliki indeks bias substansial lebih besar dari 1, untuk sinar-X indeks bias sedikit lebih kecil dari kesatuan. Metode utama untuk memanipulasi sinar-X karena itu oleh refleksi, difraksi dan interferensi. Contoh aplikasi termasuk mikroskop X-ray dan teleskop sinar-X.