en gl gl it lt it gl gl gl gl gl gl gl gl gl pt lo gl la gl en gl nds es en es pt en en pt pt gl de gl gl gl lt gl gl gl gl lt it gl pt gl gl gl gl gl gl gl gl gl lo gl la gl en gl nds es en es pt en en pt pt gl de gl gl lt gl gl gl gl pt en gl gl lt gl gl de mr gl es gl gl gl gl gl gl gl gl gl gl es gl gl gl gl gl gl gl gl gl de nl gl es gl gl gl gl gl fr es en es gl pt es es es gl gl gl pt de pt gl es gl gl gl gl gl pt gl gl gl gl de nl gl gl gl gl gl it gl gl gl gl gl gl lt gl gl gl gl gl fr de gl es oc oc ms gl pt gl gl gl gl fr gl gl es it gl es en de gl gl
Cookies na web dos SAI. Utilizamos cookies para ofrecer a mellor experiencia na nosa web. Por favor, acepte o uso de cookies premendo o botón.
Servizos de Apoio á Investigación
MEV Microscopia electrónica de varrido
Microscopio Electrónico de Varrido (Scanning Electron Microscope, SEM)
O microscopio electrónico de varrido permite obter imaxes da superficie das mostras baseándose nas diferentes interaccións electrón-materia. Para iso utiliza un feixe de electróns que percorre a superficie da mostra que se vai analizar, da interacción entre os electróns incidentes cos átomos que compoñen a mostra xéranse diversos sinais, os cales son captadas por detectores específicos e proporcionan diferente información:
Detector de electróns secundarios: proporcionan unha imaxe da morfoloxía superficial da mostra
Detector de electróns retrodispersados: proporcionan imaxes de contraste por número atómico e contraste topográfico
Detector de raios X: proporciona información sobre a composición elemental da mostra.
O equipo do que dispomos na unidade é un JEOL JSM-6400, de fácil manexo, que dispón dun canón de electróns termoiónico con filamento de tungsteno e de detectores tanto de electróns secundarios (a 25kV, resolución de 3.5nm a 8mm  de distancia de traballo; 10nm a 39 mm de distancia de traballo) como de electróns retrodispersados (resolución de 10nm a 8mm de distancia de traballo). Así mesmo, conta cun detector de raios X para a análise elemental cualitativa.
Este microscopio está especialmente indicado para observar a superficie de materiais (xeolóxicos, metálicos, plásticos, cerámicos…) e biolóxicos, coa posibilidade de realizar análises semicuantitativas para obter unha aproximación da composición dos materiais. Pódese obter, mediante o emprego de electróns retrodispersados, a distribución de elementos e de fases no estudo de materiais.
A unidade conta tamén cos equipos necesarios para unha correcta preparación de mostras:
• sistema de deshidratación en punto crítico Bal-Tec CPD 030
• equipo de pulverización catódico con ouro Bal-Tec SCD 004
• unidade de recubrimento de mostras con carbón Bal-Tec CEA 035
Microscopio Electrónico de Varrido de Emisión de Campo (Field Emission Scanning Electron Microscope, FESEM)
A unidade dispón dun Jeol JSM-7200F, un microscopio electrónico de varrido de emisión de campo analítico altamente versátil, ideal para imaxes e análises de nanoestruturas e para determinar a composición química da mostra a través de espectroscopía de raios X. Ao combinar grandes correntes de feixe cun pequeno tamaño de sonda a calquera voltaxe de aceleración, o JEOL JSM-7200F aumenta a resolución analítica a escalas inferiores a 100 nm.
Ademais, este equipo pode operar en condicións de baixo baleiro (JSM-7200F / LV), adecuadas para mostras non condutoras e para imaxes de alta resolución de nanoestruturas , o estudo da superficie de mostras e mostras magnéticas.
A lente híbrida de que dispón non introduce campos magnéticos na zona da mostra, o que o converte no equipo ideal para a formación de imaxes de alta resolución de materiais magnéticos.
A combinación desta lente con detectores de electróns in lens con filtro de enerxía permite obter imaxes topográficas, contraste composicional ou unha combinación de ambas.
Dispón ademais dun modo de desaceleración de feixe de electróns (Gentel Beam Mode) que diminúe a carga en mostras non condutoras como cerámicas, semicondutores e polímeros, o que lles proporciona unha alta resolución ás voltaxes de aceleración máis baixas.
A unidade dispón dos equipos necesarios para unha correcta preparación de mostras:
• equipo de pulverización catódico con bomba turbo molecular Cressintong 208HR provisto dunha unidade de medidor de grosor (thickness monitor MTM-10)
• unidade de recubrimento de mostras con carbono con bomba turbo molecular Cressintong 208 provisto dunha unidade de medidor de grosor (thickness monitor MTM-10)
MET Microscopia electrónica de transmisión
Microscopia electrónica de transmisión
Microscopio Electrónico de Transmisión (Transmission Electron Microscope, TEM)
O microscopio electrónico de transmisión permite obter imaxes da ultraestrutura das mostras baseándose nos electróns transmitidos a través destas. Para isto utiliza un fino feixe de electróns acelerados que, ao impactar coa mostra, xera unha serie de sinais relacionados coa súa estrutura.
O equipo do que dispoñemos na unidade é un JEOL JEM-1010, de fácil manexo, que dispón dun canón de electróns termoiónico con filamento de tungsteno cunha voltaxe de aceleración de 100KV, que permite obter imaxes de transmisión convencionais, de campo escuro e campo claro, cunha resolución entre puntos de 0.35 nm.
Está dotado dunha cámara Megaview II para a captación de imaxes.
Este microscopio permite o estudo da ultraestrutura celular e grazas a técnicas de tinguidura negativa, a observación de virus, bacterias ou outras biomoléculas. Así mesmo, permite estudar a morfoloxía de mostras de diversos materiais de características nanométricas, que revelan a súa estrutura interna, tamaño e dispersión de partículas, así como o estudo da ultraestrutura de polímeros e materiais compostos.
A unidade conta cos equipos necesarios para a obtención de seccións ultrafinas necesarias, tanto en mostras biolóxicas como de materiais:
• Talladeira de bloques Leica AG Reichert Ultra-TRIM 702601
• Ultramicrótomo Leica AG Reichert Ultracut E 701704
• Ultracriomicrótomo Power Tome PC Boeckeler Instruments
• Cortadora de precisión Accutom-50 de Struers
• Cortadora de discos Gatan modelo 601
• Pulidora manual Gatan modelo 623
• Pulidora cóncava Gatan modelo 656
• Adelgazador iónico Gatan modelo 691
Microscopio Electrónico de Transmisión de Alta Resolución (High Resolution Transmission Electron Microscope, HRTEM)
O microscopio electrónico de transmisión de alta resolución utiliza un fino feixe de electróns acelerados que, ao impactar coa mostra, xera unha serie de sinais directamente relacionados coa estrutura atómica do obxecto investigado. Estas sinais selecciónanse por separado para xerar distintos tipos de imaxes e obter datos analíticos. Os electróns transmitidos con e sen dispersión utilízanse para crear imaxes de transmisión convencionais, de campo escuro e alta resolución, que revelan a estrutura interna das mostras, o tamaño e a distribución de partículas, a súa rede cristalina, as interfaces e os defectos puntuais da rede atómica etc. Os raios X xerados son utilizados para estudar a composición química da mostra, para poder analizar illadamente zonas de moi poucas micras e incluso nanométricas. Finalmente, mediante a difracción de electróns (electróns dispersados elasticamente) pódese facer un estudo cristalográfico detallado do material investigado.
O equipo dispoñible na unidade é un JEOL JEM 2010HR, que dispón dun canón de electróns termoiónico de LaB6, que cunha voltaxe de aceleración de 200kV alcanza unha resolución entre puntos de 0.25 nm.  Incorpora unha unidade de semiSTEM, cámara CCD 780-AJ08HA de Gatan e un sistema de microanálise de Raios X (Oxford INCA Energy 200).
Disponse, así mesmo, dun brazo de dobre inclinación e controlador Accutroller model 902 de Gatan e dun brazo frío e controlador de temperatura Smart  Set Model 900 de Gatan.
Confocal Microscopia confocal biolóxica e de materiais
Microscopia confocal biolóxica e de materiais
O microscopio láser confocal é un microscopio óptico que permite eliminar a interferencia que produce a luz que chega dos diferentes campos ópticos de todo o grosor da mostra que se observa, conseguindo que o enfoque se realice sobre un único plano (confocal). Isto permite obter imaxes de maior resolución, contraste e nitidez que con microscopia convencional, o que posibilita a observación e caracterización morfolóxica de todo tipo de mostras orgánicas, inorgánicas e biolóxicas que incorporen substancias fluorescentes.
O equipo dispoñible na unidade é un Microscopio Confocal A1R (Nikon) acoplado a un microscopio invertido modelo Eclipse Ti-E (Nikon). Dispón de catro láseres de excitación (Láser díodo 405nm, láser ión argon multiliña 457-514nm, láser díodo 561nm e láser díodo 638nm) e dun detector espectral de 32 canles que abarca un amplo espectro (400-800nm).
O seu cabezal de escaneo híbrido galvanométrico e resoante permite a captura de imaxes confocais de elevada calidade a unha velocidade ultraelevada cunha gran sensibilidade. Posúe tamén un sistema de mantemento de enfoque, moi útil para mostras in vivo (Perfect Focus System (PFS)) que permite manter a mostra enfocada en todo momento.
Posúe tamén unha platina piezoeléctrica que aumenta a velocidade de captación de imaxes, así como unha minicámara de perfusión (RC-30HV) cun controlador de temperatura para a observación de células vivas.
O microscopio invertido de campo claro e epifluorescencia  ten como accesorio unha cámara dixital (DS-FI1) de alta resolución para a captación de imaxes en todas as modalidades que dispón o microscopio (campo claro, Nomarski e fluorescencia).
Microscopio Confocal de Materiais
O microscopio confocal de materiais é un perfilómetro óptico que utiliza o estudo da interferencia da luz branca para medir e analizar de forma non invasiva o perfil das estruturas micro-nano que caracterizan a superficie dos distintos materiais (xeolóxicos, metálicos, plásticos, cerámicos etc.).
Na nosa unidade dispoñemos dun perfilómetro óptico de tecnoloxía dual (confocal e interferométrica) para a inspección e medición tridimensional de superficies Sensofar Plu 2300, que mide a altura de superficies con textura moi variable (desde superficies moi rugosas até superficies pulidas) ao varrer a mostra verticalmente por etapas, de maneira que cada punto da superficie pasa a través do foco, o que mellora a resolución lateral dos perfilómetros clásicos.
De doado manexo, o equipo dispón dun completo software que facilita non só a adquisición de datos, senón tamén a súa posterior análise.
AFM Microscopio de Forza Atómica
Microscopio de Forza Atómica
O microscopio de forza atómica é un instrumento mecano-óptico capaz de realizar medicións tridimensionais a escala nanométrica. Grazas á interacción dunha punta coa superficie da mostra obtéñense medidas superficiais sen ningún tratamento previo da mostra que se vai medir, e sen a necesidade de empregar o baleiro. Do mesmo xeito pódense medir diferentes propiedades dos materiais (distribución de fases cristalinas e amorfas, propiedades magnéticas, eléctricas etc.)
O AFM MFP-3D (Asylum Research)  está deseñado para ser flexible e expandible, cunha ampla gama de opcións que permiten aplicacións en numerosas áreas científicas, incluídas a física, a ciencia dos materiais, polímeros, química, nanolitografía, biociencia e medicións cuantitativas a nanoescala.
Este equipo en concreto dispón, ademais, do módulo necesario para realizar Medidas de Microscopia de Piezorresposta (PFM).
Dispón, así mesmo, dun completo software que facilita non só a adquisición de datos, senón tamén a súa análise posterior.
• Asesoramento sobre as distintas técnicas de  Microscopia dispoñibles, tanto no que respecta á de preparación de mostras como no relativo ás condicións óptimas de observación
• Observacións a nivel micro e  nanométrico da morfoloxía e o relevo das superficies, así como da súa  ultraestrutura, tanto para mostras biolóxicas como de materiais.
• Realización de  microanálises químicas cualitativas ou  semicuantitativas puntuais por enerxía de raios X dispersados sen alteración da mostra e asociados a zonas concretas da mesma.
• Observación e caracterización morfolóxica de todo tipo de mostras orgánicas, inorgánicas e biolóxicas que incorporen substancias fluorescentes mediante  Microscopia  Confocal. Adquisición de series  multidimensionais (área de imaxe, altura, tempo, lonxitude de onda).
• Caracterización de perfís, áreas, volumes e rugosidades de materiais mediante  Microscopia  Confocal de Materiais.
• Realización de medidas  tridimensionais a escala  namométrica mediante  Microscopia de Forza Atómica asociadas ás propiedades eléctricas, mecánicas etc. dos materiais
Tarifa A para persoal investigador pertencente a Universidade da Coruña. Estas tarifas teñen unha bonificación respecto a tarifa B
Tarifa B para universidades e organismos públicos de investigación (Prezos sen IVE)
Tarifa C para empresas e outros organismos privados de investigación (Prezos sen IVE)
Estas tarifas foron revisadas pola Comisión de Usuarios dos Servizos de Apoio á Investigación na súa reunión do 29/11/2021 e aprobadas polo Consello Social da Universidade o 17/12/2021.
Dra. Catalina Sueiro López saium@udc.es
tel: 881 012 614
tel: 881 012 087
fax: 981 167 068
Dra. Catalina Sueiro López
Dra. Ada Castro Couceiro
Ver mapa máis grande
Servizos de Apoio á Investigación
Vicerreitoría de Política Científica, Investigación e Transferencia
Tel.: +34 981 167 067 (ext.: 2072 usuarios internos UDC)
Fax: +34 981 167 068 (ext.: 2129 usuarios internos UDC)
8º 24' 42,53" W (-8.411816)
43º 19' 51,54" N (43.330984)
Ver en Google Maps
Este contido é só accesible desde a rede da universidade