مطيافية تشتت الطاقة بالأشعة السينية
[[ملف:Atom model for EDX-ar.png|تصغير|نموذج ذرّي لتوضيح تكوّن الأشعّة السينيّة المشتّتة للطاقة.]]
'''مطيافية تشتت الطاقة بالأشعة السينية''' <ref>[http://www.unodc.org/documents/scientific/FDE_Guide_A_ebook.pdf تقرير للأمم المتحدة] {{Webarchive|url=https://web.archive.org/web/20150518095849/http://www.unodc.org/documents/scientific/FDE_Guide_A_ebook.pdf |date=18 مايو 2015}}</ref> (والتي يرمز لها EDS أو EDX وذلك من Energy-dispersive X-ray spectroscopy) هي تقنيّة [[كيمياء تحليلية|تحليليّة]] تستخدم من أجل تحليل العناصر لمعرفة الخصائص الكيميائيّة للعيّنات، وهي أحد أنواع [[مطيافية الأشعة السينية]].

== مبدأ العمل ==
يعتمد مبدأ هذه التقنيّة على كون [[أشعة سينية|الأشعّة السينيّة]]، والتي تنتج عن التأثير المتبادل بين جسيمات مشحونة مثل حزمة من الإلكترونات مع مادّة العيّنة، مميّزة للعناصر الموافقة في العيّنة، بذلك يمكن معرفة التركيب.<ref name="Joseph Goldstein 2003">{{استشهاد بكتاب|مؤلف=Joseph Goldstein|عنوان=Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis|مسار=http://books.google.com/books?id=ruF9DQxCDLQC|تاريخ الوصول=26 May 2012|سنة=2003|ناشر=Springer|ردمك=978-0-306-47292-3| مسار أرشيف = https://web.archive.org/web/20170214213056/https://books.google.com/books?id=ruF9DQxCDLQC | تاريخ أرشيف = 14 فبراير 2017 }}</ref> بتعبير آخر، بما أن لكلّ عنصر بنيته الذرّيّة المميّزة، فإنّ له مجموعة قمم مميّزة في طيف الأشعّة السينيّة.<ref name="Joseph Goldstein 2003"/>

للحصول على الأشعّة السينيّة المميّزة للمادّة ينبغي تهييج الذرّات في الأوّل. يحدث ذلك بقذف المادة بحزمة من [[إلكترون|الإلكترونات]] كما في [[مجهر إلكتروني ماسح|المجهر الإلكتروني الماسح]] أو بحزمة من الأشعّة السينيّة كما في [[تألق الأشعة السينية]]. نتيجة لذلك يصدر إلكترون من المدارات الذرّيّة الداخليّة، وتحدث عمليّة تهييج وحالة عدم استقرار نتيجة حدوث شاغر إلكتروني، والتي تملأ من مدارات ذرّيّة أعلى. عندما تنتقل الإلكترونات من المدارات الذرّيّة الأعلى إلى الأخفض، فإنّها تصدر بذلك أشعّة سينية لها طاقة موافقة لفرق الطاقة بين المدارات الذرّيّة. هذا الفرق في الطاقة هو مميّز لكل عنصر كيميائي.

لكل عنصر هناك عدد من الانتقالات المسموحة بين المدارات الذرّيّة، وذلك حسب المدار الذرّي للإلكترون الذي سبّب الشاغر وللإلكترون الذي سدّ ذاك الشاغر. هذه الانتقالات، والتي توصف بأنّها انتقالات كمومية (من [[كيمياء الكم]])، يرمز لها K<sub>α</sub> و K<sub>β</sub> و L<sub>α</sub> وهكذا..

== آلية عمل المكشاف ==
[[ملف:EDS - Rimicaris exoculata.png|400px|تصغير|يسار|طيف الأشعة السينية المشتتة للطاقة لعيّنة من قشرة معدنية لأحد أنواع الجمبري.<ref>{{استشهاد بدورية محكمة|doi=10.5194/bg-5-1295-2008|عنوان=Iron oxide deposits associated with the ectosymbiotic bacteria in the hydrothermal vent shrimp Rimicaris exoculata|صحيفة=Biogeosciences|المجلد=5|صفحات=1295–1310|سنة=2008|مسار=https://archimer.ifremer.fr/doc/2008/publication-4702.pdf|مؤلف=Corbari, L ''et al.''| مسار أرشيف = https://web.archive.org/web/20200516195507/http://archimer.ifremer.fr/doc/2008/publication-4702.pdf | تاريخ أرشيف = 16 مايو 2020 }}</ref>]]
يقوم المكشاف بقياس طاقة [[فوتون]]ات الأشعّة السينيّة الناتجة. عندما يمتص المكشاف الفوتون ضمن المنطقة الحساسة، ينتج عن ذلك عدد متناسب من الإلكترونات، تحدث عملية تضخيم لها بحيث نحصل على معيار كمّي يستخدم مؤشّرًا ليعطي قيمة تظهر كقيمة طاقة وذلك على محور السينات في الطيف الناتج. تتراوح قيمة دقة المكشاف بين 120–140 [[إلكترون فولت]].<ref name="Gauglitz"/>

تصنع مادة المكشاف من عدّة أنواع من [[مكشاف شبه الموصلات|شبه الموصلات]]، مثل [[سيليكون|السيليكون]] أو [[جرمانيوم|الجرمانيوم]].<ref name="Gauglitz">{{Literatur | Herausgeber = Günter Gauglitz, Tuan Vo-Dinh | Titel = Handbook of Spectroscopy | Auflage = 1. Auflage | Verlag = Wiley-VCH | Jahr = 2003 | ISBN = 3527297820 | Seiten = 386–387}}</ref>

== المراجع ==
{{مراجع}}

{{روابط شقيقة|commons=Energy-dispersive X-ray spectroscopy}}
{{شريط بوابات|الكيمياء|كيمياء فيزيائية|الفيزياء|علم المواد}}

{{لا للتصنيف المعادل}}

[[تصنيف:أشعة سينية]]
[[تصنيف:مطيافيات]]
مطيافية تشتت الطاقة بالأشعة السينية تقرير للأمم المتحدة  (والتي يرمز لها EDS أو EDX وذلك من Energy-dispersive X-ray spectroscopy) هي تقنيّة تحليليّة تستخدم من أجل تحليل العناصر لمعرفة الخصائص الكيميائيّة للعيّنات، وهي أحد أنواع مطيافية الأشعة السينية.

 مبدأ العمل 
يعتمد مبدأ هذه التقنيّة على كون الأشعّة السينيّة، والتي تنتج عن التأثير المتبادل بين جسيمات مشحونة مثل حزمة من الإلكترونات مع مادّة العيّنة، مميّزة للعناصر الموافقة في العيّنة، بذلك يمكن معرفة التركيب. بتعبير آخر، بما أن لكلّ عنصر بنيته الذرّيّة المميّزة، فإنّ له مجموعة قمم مميّزة في طيف الأشعّة السينيّة.

للحصول على الأشعّة السينيّة المميّزة للمادّة ينبغي تهييج الذرّات في الأوّل. يحدث ذلك بقذف المادة بحزمة من الإلكترونات كما في المجهر الإلكتروني الماسح أو بحزمة من الأشعّة السينيّة كما في تألق الأشعة السينية. نتيجة لذلك يصدر إلكترون من المدارات الذرّيّة الداخليّة، وتحدث عمليّة تهييج وحالة عدم استقرار نتيجة حدوث شاغر إلكتروني، والتي تملأ من مدارات ذرّيّة أعلى. عندما تنتقل الإلكترونات من المدارات الذرّيّة الأعلى إلى الأخفض، فإنّها تصدر بذلك أشعّة سينية لها طاقة موافقة لفرق الطاقة بين المدارات الذرّيّة. هذا الفرق في الطاقة هو مميّز لكل عنصر كيميائي.

لكل عنصر هناك عدد من الانتقالات المسموحة بين المدارات الذرّيّة، وذلك حسب المدار الذرّي للإلكترون الذي سبّب الشاغر وللإلكترون الذي سدّ ذاك الشاغر. هذه الانتقالات، والتي توصف بأنّها انتقالات كمومية (من كيمياء الكم)، يرمز لها Kα و Kβ و Lα وهكذا..

 آلية عمل المكشاف 
400px|تصغير|يسار|طيف الأشعة السينية المشتتة للطاقة لعيّنة من قشرة معدنية لأحد أنواع الجمبري.
يقوم المكشاف بقياس طاقة فوتونات الأشعّة السينيّة الناتجة. عندما يمتص المكشاف الفوتون ضمن المنطقة الحساسة، ينتج عن ذلك عدد متناسب من الإلكترونات، تحدث عملية تضخيم لها بحيث نحصل على معيار كمّي يستخدم مؤشّرًا ليعطي قيمة تظهر كقيمة طاقة وذلك على محور السينات في الطيف الناتج. تتراوح قيمة دقة المكشاف بين 120–140 إلكترون فولت.

تصنع مادة المكشاف من عدّة أنواع من شبه الموصلات، مثل السيليكون أو الجرمانيوم.

 المراجع 

تصنيف:أشعة سينية
تصنيف:مطيافيات