b"\n_START_ARTICLE_\nMicroscopi electr\xc3\xb2nic\n_START_PARAGRAPH_\nEl microscopi electr\xc3\xb2nic \xc3\xa9s un aparell que permet fer observacions de la mat\xc3\xa8ria a nivells molt m\xc3\xa9s petits que la microsc\xc3\xb2pia \xc3\xb2ptica. Es diferencia dels microscopis \xc3\xb2ptics perqu\xc3\xa8 utilitzen electrons en comptes de fotons. _NEWLINE_En tractar-se de part\xc3\xadcules amb comportament dual, que actuen alhora com a part\xc3\xadcula i com a ona, actuen com una ona electromagn\xc3\xa8tica amb una longitud d'ona molt m\xc3\xa9s petita que la dels fotons, fet que permet obtenir una major resoluci\xc3\xb3 de les imatges. El flux primari d'electrons pot controlar-se amb l'\xc3\xbas de lents electromagn\xc3\xa8tiques, que se situen sobre el can\xc3\xb3. Ernst Ruska va ser el primer a construir un microscopi electr\xc3\xb2nic l'any 1931. i el primer microscopi electr\xc3\xb2nic comercial va ser posat al mercat per Siemens a la d\xc3\xa8cada del 1930.\n_START_SECTION_\nFonaments\n_START_PARAGRAPH_\nLa microsc\xc3\xb2pia electr\xc3\xb2nica es basa en la creaci\xc3\xb3 d'un flux d'electrons, els quals s\xc3\xb3n accelerats i canalitzats en un flux. Quan impacten en la mostra, es reflecteixen i es difracten en funci\xc3\xb3 de la composici\xc3\xb3 de la mat\xc3\xa8ria sobre la qual impacten. Arran d'aquest fet, es generen electrons secundaris, els quals donen lloc a les imatges observades.\n_START_SECTION_\nTipus de microscopis electr\xc3\xb2nics\n_START_PARAGRAPH_\nEn funci\xc3\xb3 del tipus de comportament dels electrons secundaris es poden classificar en: microscopis electr\xc3\xb2nics de transmissi\xc3\xb3 (TEM, acr\xc3\xb2nim angl\xc3\xa8s de transmision electron microscope) i microscopis electr\xc3\xb2nics de rastreig (SEM, acr\xc3\xb2nim angl\xc3\xa8s de scanning electron microscope)._NEWLINE_En els microscopis electr\xc3\xb2nics de transmissi\xc3\xb3, els electrons secundaris s'originen per desviaci\xc3\xb3 o per despla\xc3\xa7ament d'electrons de la mostra travessada, que pr\xc3\xa8viament ha estat fixada i tenyida amb materials electrodensos. La placa on els electrons secundaris impacten i generen la imatge \xc3\xb2ptica est\xc3\xa0 sota la mostra._NEWLINE_En els microscopis electr\xc3\xb2nics de rastreig, els electrons secundaris s'originen per despla\xc3\xa7ament d'electrons de la superf\xc3\xadcie de la mostra. Els receptors estan situats a la base del can\xc3\xb3 per sobre de la platina. La imatge generada \xc3\xa9s tridimensional, talment com una fotografia, podent-se observar diferents aspectes de la mostra segons l'orientaci\xc3\xb3 que es doni a la platina, en contraposici\xc3\xb3 al TEM, en qu\xc3\xa8 les mostres s\xc3\xb3n sempre l\xc3\xa0mines fines de material._NEWLINE_En aquest cas darrer cas, es poden treballar a augments similars a la microsc\xc3\xb2pia \xc3\xb2ptica, per\xc3\xb2 eliminant-ne els efectes de difracci\xc3\xb3 que provoquen els fotons."