b'\n_START_ARTICLE_\nJanusz Rajski\n_START_PARAGRAPH_\nJanusz Rajski (ur. 1950 w Szczecinie) \xe2\x80\x93 elektronik i informatyk, prof. dr in\xc5\xbc., chief scientist oraz director of engineering w firmie Mentor Graphics Corporation (Wilsonville, OR, USA), doktor honoris causa Politechniki Pozna\xc5\x84skiej (2013).\n_START_SECTION_\n\xc5\xbbyciorys\n_START_PARAGRAPH_\nStudia magisterskie rozpocz\xc4\x85\xc5\x82 na Wydziale Elektrycznym Politechniki Pozna\xc5\x84skiej w 1968 roku, a od 1969 roku kontynuowa\xc5\x82 je na Wydziale Elektroniki Politechniki Gda\xc5\x84skiej, gdzie w 1973 roku otrzyma\xc5\x82 tytu\xc5\x82 zawodowy magistra in\xc5\xbcyniera ze specjalno\xc5\x9bci\xc4\x85 automatyka i maszyny cyfrowe. W dniu 25 maja 1982 roku obroni\xc5\x82 prac\xc4\x99 doktorsk\xc4\x85 na Wydziale Elektrycznym Politechniki Pozna\xc5\x84skiej. W 1984 roku rozpocz\xc4\x85\xc5\x82 prac\xc4\x99 w Department of Electrical Engineering Uniwersytetu McGilla w Montrealu, gdzie od roku 1989 by\xc5\x82 zatrudniony jako associate professor with tenure. Na Uniwersytecie McGilla prowadzi\xc5\x82 wyk\xc5\x82ady z projektowania uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w i system\xc3\xb3w cyfrowych, organizacji maszyn cyfrowych oraz testowania uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w cyfrowych wielkiej skali integracji, a tak\xc5\xbce wsp\xc3\xb3\xc5\x82pracowa\xc5\x82 z Bell Northern Research (BNR), Bell Canada, IBM, Canadian Microelectronics Corporation i Centre de Recherche Informatique de Montr\xc3\xa9al. W latach 1992-1994 dodatkowo profesor wizytuj\xc4\x85cy na politechnice w Lozannie._NEWLINE_Od 1995 zatrudniony w firmie Mentor Graphics Corporation, USA. Jest odpowiedzialny za opracowywanie i wdra\xc5\xbcanie nowych technologii testowania uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w scalonych. W 2003 roku prezydent Rzeczypospolitej Polskiej nada\xc5\x82 mu tytu\xc5\x82 profesora nauk technicznych. Jest cz\xc5\x82onkiem Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) w randze Fellow of IEEE._NEWLINE_Na jego dorobek naukowy sk\xc5\x82adaj\xc4\x85 si\xc4\x99 mi\xc4\x99dzy innymi wsp\xc3\xb3\xc5\x82autorska monografia, blisko 250 opublikowanych artyku\xc5\x82\xc3\xb3w i referat\xc3\xb3w po\xc5\x9bwi\xc4\x99conych problematyce testowania uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w cyfrowych, oraz blisko 100 patent\xc3\xb3w USA i Unii Europejskiej. Liczba cytowa\xc5\x84 prac prof. Rajskiego obejmuje ponad 7500 pozycji (2013). Dwukrotny laureat nagrody im. Donalda O. Pedersona (1993, 2005) przyznanej przez IEEE Circuits and Systems Society za artyku\xc5\x82y opublikowane w czasopi\xc5\x9bmie IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, oraz laureat nagrody im. Stephena Swerlinga przyznanej za opracowanie i wdro\xc5\xbcenie technologii kompresji danych testowych._NEWLINE_Zainteresowania naukowo-badawcze obejmuj\xc4\x85 zagadnienia dotycz\xc4\x85ce komputerowo wspomaganego projektowania i testowania scalonych uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w cyfrowych wielkiej skali integracji i dotycz\xc4\x85 takich dziedzin jak automatyczna generacja test\xc3\xb3w, kompresja danych testowych, symulacja uszkodze\xc5\x84, projektowanie uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w \xc5\x82atwo testowalnych, autotestowanie, modelowanie uszkodze\xc5\x84, oraz synteza logiczna system\xc3\xb3w cyfrowych._NEWLINE_Tw\xc3\xb3rca pierwszej w \xc5\x9bwiecie metody kompresji danych testowych, znanej pod rynkow\xc4\x85 nazw\xc4\x85 TestKompress, przeznaczonej do wykrywania uszkodze\xc5\x84 w z\xc5\x82o\xc5\xbconych systemach cyfrowych wielkiej skali integracji. Technologia TestKompress ma potwierdzone zastosowania w uk\xc5\x82adach wytwarzanych przez wi\xc4\x99kszo\xc5\x9b\xc4\x87 \xc5\x9bwiatowych producent\xc3\xb3w system\xc3\xb3w cyfrowych \xe2\x80\x93 ponad 50% rocznej \xc5\x9bwiatowej produkcji cyfrowych uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w scalonych klasy ASIC, w tym ponad 90% mikroprocesor\xc3\xb3w wykorzystuje t\xc4\x99 technologi\xc4\x99 powszechnie uznawan\xc4\x85 za jedno z najbardziej znacz\xc4\x85cych i wp\xc5\x82ywowych dokona\xc5\x84 w dziedzinie testowania uk\xc5\x82ad\xc3\xb3w scalonych w ostatnich czterdziestu latach._NEWLINE_By\xc5\x82 on w latach 1996-2000 cz\xc5\x82onkiem grupy roboczej IEEE powo\xc5\x82anej dla opracowania standardu IEEE P1500 obowi\xc4\x85zuj\xc4\x85cego w testowaniu system\xc3\xb3w jednouk\xc5\x82adowych. Jest cz\xc5\x82onkiem zespo\xc5\x82u International Technology Roadmap for Semiconductors. W latach 1993-1997 uczestniczy\xc5\x82 w pracach kanadyjskiej federalnej agencji grantowej Natural Sciences and Engineering Research Council. By\xc5\x82 lub jest wieloletnim aktywnym cz\xc5\x82onkiem komitet\xc3\xb3w programowych mi\xc4\x99dzynarodowych konferencji naukowych oraz cz\xc5\x82onkiem komitet\xc3\xb3w redakcyjnych wielu czasopism naukowych. Promotor lub wsp\xc3\xb3\xc5\x82promotor w 18 przewodach doktorskich na Uniwersytecie McGilla w Montrealu oraz na Wydziale Elektroniki i Telekomunikacji Politechniki Pozna\xc5\x84skiej. Z jego inicjatywy w 2008 roku otwarto w Poznaniu, drugi po Katowicach, oddzia\xc5\x82 badawczo-wdro\xc5\xbceniowy firmy Mentor Graphics w Polsce.'