b'\n_START_ARTICLE_\nSkaningowy mikroskop tunelowy\n_START_PARAGRAPH_\nSkaningowy mikroskop tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscope, STM) \xe2\x80\x93 rodzaj mikroskopu z sond\xc4\x85 skanuj\xc4\x85c\xc4\x85 (ang. Scanning Probe Microscope), kt\xc3\xb3ry umo\xc5\xbcliwia uzyskanie obrazu powierzchni dzi\xc4\x99ki wykorzystaniu zjawiska tunelowego, od kt\xc3\xb3rego przyrz\xc4\x85d ten wzi\xc4\x85\xc5\x82 swoj\xc4\x85 nazw\xc4\x99. W rzeczywisto\xc5\x9bci STM nie rejestruje fizycznej topografii pr\xc3\xb3bki, ale dokonuje pomiaru obsadzonych i nieobsadzonych stan\xc3\xb3w elektronowych blisko powierzchni Fermiego. Ten sam skr\xc3\xb3t u\xc5\xbcywany jest do okre\xc5\x9blenia ga\xc5\x82\xc4\x99zi mikroskopii \xe2\x80\x93 STM (ang. Scanning Tunneling Microscopy). Umo\xc5\xbcliwia uzyskanie obrazu powierzchni materia\xc5\x82\xc3\xb3w przewodz\xc4\x85cych ze zdolno\xc5\x9bci\xc4\x85 rozdzielcz\xc4\x85 rz\xc4\x99du pojedynczego atomu.\n_START_SECTION_\nHistoria wynalezienia\n_START_PARAGRAPH_\nMikroskop STM zosta\xc5\x82 po raz pierwszy skonstruowany przez Gerda Binniga oraz Heinricha Rohrera. Obaj naukowcy pod koniec 1978 roku rozpocz\xc4\x99li badania proces\xc3\xb3w wzrostu, struktury i w\xc5\x82asno\xc5\x9bci elektrycznych bardzo cienkich warstw tlenk\xc3\xb3w. Aby m\xc3\xb3c kontynuowa\xc4\x87 badania w tej dziedzinie, potrzebne by\xc5\x82o urz\xc4\x85dzenie daj\xc4\x85ce mo\xc5\xbcliwo\xc5\x9b\xc4\x87 obserwacji powierzchni w skali u\xc5\x82amk\xc3\xb3w nanometra. Poniewa\xc5\xbc do tej pory nie by\xc5\x82o przyrz\xc4\x85d\xc3\xb3w, kt\xc3\xb3re by to umo\xc5\xbcliwia\xc5\x82y, Binnig i Rohrer skonstruowali w 1982 roku sw\xc3\xb3j w\xc5\x82asny przyrz\xc4\x85d \xe2\x80\x93 skaningowy mikroskop tunelowy. Obaj naukowcy dokonali swojego wynalazku w Szwajcarii, podczas prac w laboratoriach firmy IBM, mieszcz\xc4\x85cych si\xc4\x99 w Zurychu, za co w roku 1986 otrzymali Nagrod\xc4\x99 Nobla w dziedzinie fizyki. W tym samym roku G. Binning, C.F Quate i Ch. Gerber skonstruowali mikroskop si\xc5\x82 atomowych (ang. Atomic Force Microscope \xe2\x80\x93 AFM)._NEWLINE_Mo\xc5\xbcliwo\xc5\x9bci STM w zakresie obrazowania zapocz\xc4\x85tkowa\xc5\x82y burzliwy rozw\xc3\xb3j nowej dziedziny zwanej mikroskopi\xc4\x85 sond skanuj\xc4\x85cych (inna nazwa to skaningowa mikroskopia bliskich oddzia\xc5\x82ywa\xc5\x84). Skonstruowano r\xc3\xb3\xc5\xbcne odmiany mikroskop\xc3\xb3w STM i AFM, spo\xc5\x9br\xc3\xb3d kt\xc3\xb3rych najbardziej znane to: mikroskop si\xc5\x82 tarcia (ang. Friction Force Microscope \xe2\x80\x93 FFM), mikroskop optyczny bliskiego pola (ang. Scanning Near-field Optical Microscope \xe2\x80\x93 SNOM lub NSOM), mikroskop si\xc5\x82 magnetycznych (ang. Magnetic Force Microscope \xe2\x80\x93 MFM) i mikroskop si\xc5\x82 elektrostatycznych (ang. Electrostatic Force Microscope \xe2\x80\x93 EFM).\n_START_SECTION_\nZastosowanie\n_START_PARAGRAPH_\nPoza obrazowaniem struktury atomowej i profilu powierzchni skanowanej pr\xc3\xb3bki, skaningowy mikroskop tunelowy znajduje te\xc5\xbc inne zastosowania. Eksperymenty z mikroskopem STM doprowadzi\xc5\x82y do wa\xc5\xbcnego odkrycia. Je\xc5\xbceli do ig\xc5\x82y przy\xc5\x82o\xc5\xbcy si\xc4\x99 wi\xc4\x99ksze napi\xc4\x99cie ni\xc5\xbc przy skanowaniu, to mo\xc5\xbce ona oderwa\xc4\x87 pojedynczy atom z powierzchni pr\xc3\xb3bki i prze\xc5\x82o\xc5\xbcy\xc4\x87 go w inne miejsce. W ten spos\xc3\xb3b mo\xc5\xbcliwa jest obr\xc3\xb3bka materia\xc5\x82u na poziomie atomowym. Mikroskop STM sta\xc5\x82 si\xc4\x99 pierwszym prawdziwym narz\xc4\x99dziem nanotechnologii._NEWLINE_Uzyskuj\xc4\x85c zale\xc5\xbcno\xc5\x9b\xc4\x87 pr\xc4\x85du tunelowego od napi\xc4\x99cia polaryzacji ostrze-pr\xc3\xb3bka, mo\xc5\xbcna wiele powiedzie\xc4\x87 o lokalnych w\xc5\x82asno\xc5\x9bciach elektronowych powierzchni pr\xc3\xb3bki, przyk\xc5\x82adowo mo\xc5\xbcna wyznaczy\xc4\x87 lokaln\xc4\x85 g\xc4\x99sto\xc5\x9b\xc4\x87 stan\xc3\xb3w, kt\xc3\xb3ra pomaga zrozumie\xc4\x87 wiele zjawisk powierzchniowych, takich jak adhezja, kohezja, tarcie i wiele zjawisk biologicznych. Skonstruowanie skaningowego mikroskopu tunelowego da\xc5\x82o pocz\xc4\x85tek nowej metodzie badawczej nazwanej skaningow\xc4\x85 spektroskopi\xc4\x85 tunelow\xc4\x85.'