Solid fragments of specimens were mounted in resin for characterization by scanning electron microscopy MEB Philips XL30ESEM coupled with energy dispersive spectroscopy, EDS at an acceleration voltage of 20 ekV.
Adicionalmente, se seleccionaron fragmentos sólidos y se montaron en resina para caracterización mediante microscopía electrónica de barrido MEB Philips XL30ESEM acoplado con espectroscopía por dispersión de energía, EDS con un voltaje de aceleración de 20 keV.
Adicionalmente, selecionaram fragmentos sólidos e montaram em resina para caracterização mediante microscopia eletrônica de barrido MEB Philips XL30ESEM acoplado com espectroscopia por dispersão de energia, EDS com uma voltagem de aceleração de 20 keV.