Cependant, les CI avec des dispositifs à l'échelle du nanomètre ne sont pas sans problèmes, dont le principal est le courant de fuite -LRB- voir la fuite sous le seuil pour une discussion de ce -RRB-, bien que ces problèmes ne soient pas insurmontables et seront probablement résolus ou du moins améliorés par l'introduction de la diélectrique à haute valeur k.
Introduction