Отражающий электронный микроскоп (REM) В отражающем электронном микроскопе (REM), как и в TEM, электронный луч падает на поверхность, но вместо использования пропускания (TEM) или вторичных электронов (SEM) отраженный луч упруго рассеянных электроны обнаружены.
Отражающий электронный микроскоп (REM) Электроны высокого напряжения направляются к образцу.