В отражательном электронном микроскопе (REM), как и в TEM, электронный луч падает на поверхность, но вместо использования пропускания (TEM) или вторичных электронов (SEM) обнаруживается отраженный луч упруго рассеянных электронов.
Подобно просвечивающему электронному микроскопу, но обнаруживаются отраженные электроны.