Нарушение единичного события (SEU) - это изменение состояния, вызванное ионами или электромагнитным излучением, поражающим чувствительный узел в микроэлектронном устройстве, таком как микропроцессор, полупроводниковая память или силовые транзисторы.
Нарушение единичного события (SEU) - это изменение состояния, вызванное низкоэнергетическими ионами, электромагнитным или ядерным излучением или любыми другими помехами, которые могут достичь (так называемого «удара») чувствительного узла в микро- электронное устройство, такое как микропроцессор, полупроводниковая память или силовые транзисторы.