Сканирующий электронный микроскоп (SEM) - это тип электронного микроскопа, который отображает образец путем сканирования его высокоэнергетическим пучком электронов в растровом шаблоне сканирования.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - это тип электронного микроскопа, который делает изображение путем перемещения узкого электронного луча по поверхности образца.