Verwys na die gedeelte hieronder en beantwoord dan die vraag daarna in dieselfde taal as die gedeelte:  Passage: Atoomkragmikroskopie (AFM) of skandeerkragmikroskopie (SFM) is 'n baie hoë-resolusie tipe skandeersonde-mikroskopie (SPM), met 'n gedemonstreerde resolusie van die orde van breuke van 'n nanometer, meer as 1000 keer beter as die optiese diffraksie limiet.  Vraag: Wat is AFM?
'n baie hoë-resolusie tipe skandeer sonde mikroskoop