Verwys na die onderstaande gedeelte en beantwoord dan die vraag daarna in dieselfde taal as die gedeelte: Passage: Atomic force microscopy (AFM) of scanning force microscopy (SFM) is 'n baie hoë-resolusie tipe skandering sonde mikroskoop (SPM), met gedemonstreerde resolusie op die orde van breuke van 'n nanometer, meer as 1000 keer beter as die optiese diffraksiegrens. Vraag: Wat is AFM?
'n baie hoë-resolusie tipe skandeer sonde mikroskoop