Geniş yelpazedeki elektronik cihazlar, genelde bu sebepten bozuluyor ve hurdaya çıkan cihazlar, elektronik atığa katkı yapan ana unsurlardan birini oluşturuyor. Küresel çapta her yıl on milyonlarca ton bozuk elektrik cihaz çöpe atılıyor. Şimdiyse Sidney Üniversitesi Havacılık, Makine ve Mekatronik Mühendisliği Fakültesi’nde çalışan araştırmacılar, ileri yerinde (in-situ) elektron mikroskobisi kullanarak ferroelektrik yorgunluğun oluşumunu gözlemlemeyi başarmışlar.
Gen  i ş yelpaz ed ek i elekt ronik ci ha zlar, ge nel de b  u s eb e pten bozulu y o r v   e h ur daya çıka  n ci hazl ar, ele k troNik a tı ğa katk   ı y apan an a Unsurlar dan bi rini oluştu ruyor. Küre s e l ç ap t a h  er yı  l o  n mily  on larca to n b   ozuk ele kt rik ciha z çö pe atılıyo r . Şim diyse Si d n ey Üni versi  tesi Hava   cılık, Makin e v   e Mekatron  ik Mühendisliğ i Fakültesi’ nde çA l ışan ar aştır ma cılar, il e r i yer inde (in- situ) ele k tro n mi kros kobisi kul lanara k ferr oe lekt rik yorgunluğu  n olu şu  munu gözleml emeyi başar mışlar.